CMMI管理指南階段缺陷清除率指南

1、4&磁;二蚊:2 ¥ Sr<WQ；越愿邇；'j0H99喪1CMMI理指南階段缺陷淸除卒指甫!爲(wèi)、：,L集團文件發(fā)布號：（9816-UABWUNTNNULDQQTY文檔信息:版本：VI. 0.0類別：指南密級：內(nèi)部狀態(tài)：非受控銀行階段缺陷清除率指南修訂記錄:日期版本修訂描述作者修訂內(nèi)容:版本修訂內(nèi)容V0. 1.0根據(jù)內(nèi)部評審意見對指南進行了修改VI. 0.0對文檔內(nèi)的內(nèi)容及相關(guān)文檔之間的內(nèi)容進行一致性、完整性 的檢查和修改；對文檔參照命名規(guī)范和模板要求進行規(guī)范性 方面的檢查和修改目錄1. 引言目的預(yù)期讀者參考資料2, 階段缺陷清除率(DRE)模型基本數(shù)學(xué)定義3.

2、階段缺陷清除率(DRE)應(yīng)用示例L引言LI.目的本文檔目的是為理解階段缺陷清除率的數(shù)學(xué)定義及計算提供指引°1.2.預(yù)期讀者K軟件開發(fā)中心及總行相關(guān)部門領(lǐng)導(dǎo)和主管2. EPG全體成員3.項目組全體成員 13術(shù)語表14.參考資料2.階段缺陷清除率（DRE）模型基本數(shù)學(xué)定義缺陷注入活動（或階段）活動活動活動 活動 活動合計1231ra活動1DnD»i活動2D12DuD.：活動3D33D*3 D»j-i活動jDi.D,D訂D.3 活動nDh片入D»,合計Di*D>D訐Dm缺陷清除活動計算階段缺陷清除率(Phase DRE)的步驟:考察開發(fā)過程中哪些活動會為

3、產(chǎn)品注入缺陷 考察開發(fā)過程中哪些活動會從產(chǎn)品中清除缺陷一般的，注入缺陷的活動執(zhí)行結(jié)束后，會相應(yīng)地發(fā)起缺陷清除活動。如果活動與生命周期階段一致，可以認為是階段的缺陷注入和清除。當(dāng)考察階段缺陷注入和清除率時，需要注意一個階段可能包含多個缺陷注入活動和多個缺陷清除活動。執(zhí)行完缺陷清除活動j之后，分析發(fā)現(xiàn)的缺陷，按照這些缺陷的注入原因分別統(tǒng)計缺陷數(shù)，并填入上表中相應(yīng)的位置如上表：清除活動j 一共發(fā)現(xiàn)了 "個缺陷，注入活動1到i分別注入了 D小D小九個缺陷。項目執(zhí)行完成時，注入和清除活動都被執(zhí)行，上表就被填寫完畢可計算缺陷清除活動j的清除率:分子很顯然，是這個清除活動j發(fā)現(xiàn)的缺陷總數(shù) 分母實際

4、上是在進入清除活動j的入口處產(chǎn)品中還遺留的缺陷數(shù)，它 是:清除活動j之前執(zhí)行的所有注入活動注入的缺陷總數(shù)清除活動j之前執(zhí)行的所有清除活動發(fā)現(xiàn)的缺陷總數(shù)兩者之間的差值。注意:理論上，產(chǎn)品中的缺陷個數(shù)是無法得知的，因此缺陷清除率模型有個假設(shè)前提:忽略產(chǎn)品中那些沒有被發(fā)現(xiàn)的缺陷3.階段缺陷清除率（DRE）應(yīng)用示例假定一個項目有4個主要的活動能夠注入缺陷，分別是:需求定義 概要設(shè)計 詳細設(shè)計 編碼項目生命周期也有同名的4個階段。同時，開發(fā)過程有6個主要的活動能夠清除缺陷，分別是:需求評審（需求定義之后、概要設(shè)計之前） 概要設(shè)計評市（概要設(shè)計之后、詳細設(shè)計之前） 詳細設(shè)計評市（詳細設(shè)計之后、編碼之前）單

5、元測試（編碼之后） 代碼評市（編碼之后） 系統(tǒng)測試（編碼之后）并且項目在交付后進行缺陷對應(yīng)期間也記錄、統(tǒng)計了交付后發(fā)現(xiàn)的缺 陷。項目執(zhí)行完畢后統(tǒng)計到的缺陷數(shù)按照注入和清除活動劃分，得下表:缺陷注入活動（或階段）需求定義概要設(shè)計詳細設(shè)計編碼合計需求評審3535概要設(shè)計評審46468詳細設(shè)計評審61282100單元測試1025256124415缺陷清除活動代碼評市0458168230系統(tǒng)測試12188679195交付后缺陷對應(yīng)261S2248合計691295003931091于是:詳細設(shè)計評市的 DRE = 100 / (69+129+500) - (35+68) * 100% = 17%系統(tǒng)測試

6、的 DRE = 195 / (69+129+500+393) - (35+68+100+415+230) * 100% = 80%考察編碼階段的缺陷清除率時，這個階段包含了兩個缺陷清除活動：單 元測試和代碼評審。于是，單獨考察其中一個活動的缺陷清除率就意義 不大了，因為我們認為只要兩個活動合起來能夠盡可能多的清除缺陷就 可以了，單一活動清除率的高低并不重要。因此將單元測試和代碼評審 合起來作為對編碼階段結(jié)束的一個檢查點，那么編碼階段的缺陷清除率 應(yīng)該是:(415+230) / (69+129+500+393) - (35+68+100) * 100% = 73%當(dāng)然，單獨考察一個活動的缺陷清除率也可以。還可以計算某個缺陷清除活動之前所有清除