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文檔簡介

1、硅片隱裂痕的粗淺分析-Choo 2008-05-07由共價鍵結合而成的硅是典型的脆性材料,其主解理面為111面,而S125和S156硅片大多為100晶面族,如果硅片在工藝過程中積累了過多的解理裂痕,則裂痕會產生擴展并脆斷,所以就有很多沿解理面或非解理面的穿晶斷裂出現。經觀察與粗略統(tǒng)計,大多數硅片的斷裂部位位于對角線約1/8處(如圖1.圖2.),所以不妨以1/8處碎片作為研究對象,而對那些潛在于工藝環(huán)節(jié)中的,可造成隱裂痕的,設備操作或人工操作方法進行分析。以下從公司現有設備角度和生產工具的使用角度著手,統(tǒng)計了整個電池片生產過程中幾乎所有可造成隱裂痕的工藝環(huán)節(jié)。圖1. 皇明碎片1 圖2.皇明碎片2

2、一. 從生產工具角度分析作為典型的脆性材料,常溫下,單晶硅的裂紋一旦形成,便會以極快的速度擴展,而厚度只有200微米左右的單晶硅片,其解理胚形成后,稍有應力集中裂痕便會擴展為裂紋從而發(fā)生斷裂,所以在這次分析過程中,凡是遇到與硅片接觸或對硅片產生力的作用的環(huán)節(jié)都將被視為隱患。,可能造成隱裂痕的工具為:1. 晶片盒:晶片盒是與硅片接觸最為頻繁的工具,其與硅片下方的接觸處雖然為點接觸,但是由于放硅片時,過早的松開鑷子或松手會導致的硅片自由落體式的墜落,這是使位于硅片外邊緣隱裂痕的擴大方法之一,同時也可能造成崩邊現象。如圖1.1、圖1.2.,(紅色圓圈處,硅片邊角已經斷裂;黃色圓圈處,硅片與晶片盒正常

3、接觸)圖1.1 硅片與晶片盒接觸圖 圖1.2 硅片與晶片盒接觸圖局部放大2. 鑷子:鑷子本身結構無可厚非,但是線上使用鑷子夾硅片的方法大多是:用鑷子夾住硅片的一角,這樣硅片的重量力矩完全集中在鑷子與硅片相接觸的一點或一條線,所以視為隱患。如圖1.3圖1.3 擴散上片時,鑷子的使用方法3. 吸筆:造成隱裂痕的道理與鑷子類似,也是習慣性的用吸筆吸住硅片的一角,圖1.4圖1.4 去PSG段吸筆的使用方法4. 石英舟:方形石英舟,造成隱裂痕的道理與晶片盒類似,但是石英舟的硬度更高,如果,插片時過早的松手,硅片墜落后會與石英舟產生互殘式的磕碰,不但能產生碎片或隱裂痕,而且會出現崩邊;菱形石英舟,其結構決

4、定了硅片只能以相鄰兩邊的四個點作為支撐,所以個人感覺當硅片在菱形舟上時,假如舟的凹槽不是跟硅片外邊緣平行,則硅片肯定會受到一個不垂直外邊緣的力,如果硅片跟石英舟之間有較大的震動或碰撞,而力的方向又是沿111方向,則硅片很容易缺角。見圖1.5 、1.6圖1.5 菱形石英舟與硅片 圖1.6 方形石英舟與硅片二. 從設備角度分析1. 板式PECVD的石墨板:每個小框里有八根金屬條,其中4個是鉤狀,作用是承載硅片,另外4個,是直條狀的,如圖2.1。硅片在上下板的過程中,存在與金屬條有刮擦和碰撞的可能性,可能的碰撞位置涵蓋硅片所有的4個角(沿1/8 對角線位置)。圖2.1 板式PECVD石墨板2. 印刷

5、機:整個印刷過程是動態(tài)的,所以硅片處在不斷運動的狀態(tài)中,而推進硅片進行運動的是印刷機上的黑色小塑料塊,如圖2.2,其與硅片的接觸為局部小范圍面接觸,而接觸位置也在硅片易斷裂處。以下分別對三道印刷中,設備與硅片的接觸進行羅列.圖2.2 印刷線中行走臂上的黑色小推進塊第一道印刷:隱患包括四爪吸盤(圖2.3)、黑色推進塊、白色的軌道修正爪手(圖2.4)、印刷臺上的吸盤、烘干箱里的白色爪手(圖2.5)圖2.3 四爪吸盤 圖2.4 白色的軌道修正爪手圖2.5烘干箱里的白色爪手圖2.6 印刷機至燒結爐的白色爪手從開始印刷至硅片從烘干箱出來,每個硅片要與四爪吸盤接觸1次、黑色推進塊接觸23次、白色軌道修正爪

6、手接觸2次、烘干箱里的白色爪手接觸2次,印刷臺上的吸盤接觸1次。第二道印刷,從開始印刷至硅片從烘干箱出來,每個硅片要與黑色推進塊接觸20次、白色軌道爪手接觸2次、烘干箱里的白色爪手接觸2次,印刷臺上的吸盤接觸1次。第三道印刷,每個硅片要與黑色推進塊接觸7次,印刷臺上的吸盤接觸1次、將硅片傳送到燒結爐的爪手接觸1次圖2.6。除去硅片在第1、2道烘箱里的托盤上待的時間,印刷幾分鐘內,每個硅片在印刷線上要與四爪吸盤接觸1次,與黑色推進塊接觸50次,與軌道爪手接觸4次,與白色爪手接觸5次,共計約為60次,而接觸部位均處在硅片的四個角周圍。但是,印刷金屬,尤其是第二道鋁漿的印刷會在硅片表面增加合金層,同

7、時也在起到加固硅片的作用,這樣,即使硅片上有隱蔽的裂痕,除非外界有很強烈的應力集中,否則隱裂痕也不會輕易擴展。在SE線,紅漿料印刷機與金屬印刷機類似,但是多了兩步推桿推硅片的運動,推桿與硅片接觸的點位于兩個邊角見圖2.7 。紅漿料印刷機與硅片接觸處包括兩次推桿、11次黑色小推塊和1次印刷臺吸盤。圖2.7 紅漿料印刷機推桿與i硅片接觸處3. 測試臺硅片從燒結爐里出來,首先會被四爪吸盤抓至測試臺,然后在分選之前,每個硅片會走過24個黑色推塊和測試時的探針+4個壓緊塑料塊,見圖2.8圖2.8 測試臺的測試部分三. 總結統(tǒng)計時只針對硅片邊/角有受力的情況,由以上可以粗略看出,從生產第一道工序起至分檔測試至,(只針對一次

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