APQP培訓-文檔資料

1、1APQP先期產品質量策劃先期產品質量策劃234持續(xù)改進統(tǒng)計技術SPC批量生產PPAP提交生產控制計劃初始能力評估及過程確認SPCMSA研究試生產控制計劃過程設計及PFMEA樣機控制計劃產品設計及DFMEA可行性評審確定特殊特性產品先期策劃5APQP是什么？是什么？是一種結構化的方法，用來確定和制定確保產品使顧客滿意所需的步驟。APQP的目標是促進與所涉及每一個人的聯(lián)系，以確保所要求的步驟按時完成。6PPAP生產件批準程序生產件批準程序7FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析FMEA是一種用于確保在產品和過程開發(fā)中潛在問題都得到評估和闡述的風險分析方法。目的：找到能夠避免或減少這些潛在失

2、效的措施。墨菲定律：如果做某件事有兩條或多條途徑，并且其中一條會產生災難性的后果，然而總會有人會誤入這一條途徑。如果做某件事能導致錯誤，這種錯誤必將發(fā)生。8FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析失效模式是指過程可能發(fā)生的不能滿足過程或設計要求的狀況。是對某一作業(yè)可能發(fā)生的不符合性的描述。對于生產過程就是加工出不良品不良品。9FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析定性的風險定量化：嚴重度（S）x發(fā)生頻率（O）x不可探測度（D）=風險順序數（RPN）風險優(yōu)先系數評估綱要：1、檔RPN大于100時，必須采取措施降低2、當嚴重度大于8時，必須采取措施降低3、當1/2不滿足時，選取RPN前四

3、位采取措施降低。10FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析-嚴重度嚴重度11FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析-發(fā)生頻度發(fā)生頻度12FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析-不可探測度不可探測度13FMEA失效模式及影響分析失效模式及影響分析失效原因：人、機、法、環(huán)、測控制方法：防錯、SPC、檢驗14控制計劃控制計劃控制內容：人、機、料、法、環(huán)控制方法：防錯、SPC、檢驗15SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制過程控制的必要性：檢測容忍浪費預防避免浪費統(tǒng)計的基本原料？數據計算分析分布趨勢：有用的情報通過數據分析，找到變化規(guī)律16SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制過程能力指數用Z表示，

4、Z是指按標準偏差為單位描述的過程均值與規(guī)范界限的距離），（），（3-3-LSLXXUSLMINCPKLSLXXUSLMINZ17SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制計算：已知某零件尺寸要求200.02，抽取樣本通過控制圖計算得知X=19.995，=0.005，求此尺寸的過程能力CPK值。），（），（3-3-LSLXXUSLMINCPKLSLXXUSLMINZ1333005. 098.19-995.19CPKZ18SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制1個西格瑪 合格品率為68.27% 不合品率為317300PPM2個西格瑪 合格品率為95.45% 不合品率為45500PPM3個西格瑪 合格品率為99.73%

5、 不合品率為2700PPM4個西格瑪 合格品率為99.9937% 不合品率為63PPM5個西格瑪 合格品率為99.999943% 不合品率為0.57PPM6個西格瑪 合格品率為99.9999998% 不合品率為0.002PPM？，？，？，？，CPKCPKCPKCPK654319SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制普通原因：普通原因：在生產中始終存在的，人們無法控制或者難以控制的因素，如機器啟動時的輕微震動。在普通因素作用下，過程質量會產生經常性的波動，這種波動不可能在根本上消除。特殊原因：特殊原因：不是固有的，有時存在，有時不存在，一旦出現，過程輸出結果的規(guī)律性將被破壞，從而使過程失控。20SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制XbarR控制圖用途：1、分析用 a）監(jiān)控過程是否穩(wěn)定，消除特殊原因 b）過程能力是否足夠2、控制用 監(jiān)控新的特殊原因21SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控