電測(cè)試制程簡(jiǎn)介2

1、電測(cè)試制程簡(jiǎn)介電測(cè)試制程簡(jiǎn)介2電測(cè)試電測(cè)試飛針測(cè)試飛針測(cè)試簡(jiǎn)單測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)單測(cè)試機(jī)CCD測(cè)試機(jī)測(cè)試機(jī)電容法測(cè)試電容法測(cè)試 電阻法測(cè)試電阻法測(cè)試電阻法測(cè)試電阻法測(cè)試電阻法測(cè)試電阻法測(cè)試SPSMESPSMESP兩端式兩端式/四端式四端式 兩端式兩端式 兩端式兩端式兩端式兩端式/四端式四端式 復(fù)合治具復(fù)合治具 打扁針治具打扁針治具復(fù)合治具復(fù)合治具CCD治具治具31.飛針電測(cè)試機(jī)飛針電測(cè)試機(jī)一一.電測(cè)試電測(cè)試機(jī)類型機(jī)類型42.簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)電測(cè)試電測(cè)試機(jī)類型機(jī)類型53.CCD電測(cè)試機(jī)電測(cè)試機(jī)電測(cè)試電測(cè)試機(jī)類型機(jī)類型6二、二、電測(cè)試原理電測(cè)試原理+-線路紙金屬布電容正極介質(zhì)層電容負(fù)極1.飛針電測(cè)試

2、機(jī)飛針電測(cè)試機(jī)-電容法電容法7測(cè)試電容值：測(cè)試電容值：1=2=3=2=3，4=5=64=5=6電容測(cè)試原理說明電容測(cè)試原理說明電測(cè)試原理電測(cè)試原理8測(cè)試電容值：測(cè)試電容值：12=3 標(biāo)準(zhǔn)值的上限容差值，標(biāo)準(zhǔn)值的上限容差值，機(jī)器判定為機(jī)器判定為HIGHHIGH，短路，短路FAILA;FAILA;當(dāng)測(cè)試值當(dāng)測(cè)試值 標(biāo)準(zhǔn)值的下限容差標(biāo)準(zhǔn)值的下限容差值，機(jī)器判定為值，機(jī)器判定為LOWLOW，開路，開路FAILFAIL。電測(cè)試原理電測(cè)試原理11電測(cè)試原理電測(cè)試原理2.2.簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)-電阻法電阻法兩端式測(cè)試兩端式測(cè)試 在接觸式測(cè)試中兩端式測(cè)在接觸式測(cè)試中兩端式測(cè)試是目前普遍采用的一種方案，試

3、是目前普遍采用的一種方案，測(cè)試的精度雖然不高測(cè)試的精度雖然不高(1), (1), 但是用來判斷線路的開短路已但是用來判斷線路的開短路已經(jīng)能滿足絕大部分的線路板的經(jīng)能滿足絕大部分的線路板的需要。需要。兩端式測(cè)試等效電路圖12兩端式測(cè)試兩端式測(cè)試 VtVt為施加在測(cè)試兩端的電壓，通常在導(dǎo)通測(cè)試時(shí)小于為施加在測(cè)試兩端的電壓，通常在導(dǎo)通測(cè)試時(shí)小于15V15V，絕緣測(cè)試最高達(dá)絕緣測(cè)試最高達(dá)250250V V。I I為恒電流，保證測(cè)試時(shí)流過電路的最大為恒電流，保證測(cè)試時(shí)流過電路的最大保護(hù)電流，通常在導(dǎo)通測(cè)試時(shí)小于保護(hù)電流，通常在導(dǎo)通測(cè)試時(shí)小于100mA100mA。絕緣測(cè)試時(shí)為數(shù)十微。絕緣測(cè)試時(shí)為數(shù)十微安到

4、不超過安到不超過10mA10mA。KHKH為高電流端流入的開關(guān)，為高電流端流入的開關(guān)，KLKL為低電流端流入為低電流端流入的開關(guān)，開關(guān)矩陣可以由高壓晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管的開關(guān)，開關(guān)矩陣可以由高壓晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管(MOS-FET)(MOS-FET)配對(duì)配對(duì)組成，配對(duì)數(shù)則為測(cè)試機(jī)最大可測(cè)試點(diǎn)數(shù)；組成，配對(duì)數(shù)則為測(cè)試機(jī)最大可測(cè)試點(diǎn)數(shù)；V V為測(cè)量電路，在圖為測(cè)量電路，在圖中導(dǎo)通測(cè)試時(shí)中導(dǎo)通測(cè)試時(shí)A A、B B為同一回路中的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，則為同一回路中的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)，則RL + RS = VT RL + RS = VT / I / I 。RSRS為回路接觸電阻，實(shí)際測(cè)試時(shí)，則要減去（通常為經(jīng)驗(yàn)為回路接觸電阻，

5、實(shí)際測(cè)試時(shí)，則要減去（通常為經(jīng)驗(yàn)值）。所以此測(cè)量方法并不是很準(zhǔn)確，通常只能做到最小值）。所以此測(cè)量方法并不是很準(zhǔn)確，通常只能做到最小1010歐姆歐姆的最小導(dǎo)通閥值。絕緣測(cè)試時(shí)，的最小導(dǎo)通閥值。絕緣測(cè)試時(shí)，A A、B B分別為兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)端點(diǎn)，分別為兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)端點(diǎn)，V V在在實(shí)際測(cè)量時(shí)，要被放大實(shí)際測(cè)量時(shí)，要被放大100K100K倍左右才能測(cè)量出數(shù)十微安的漏電。倍左右才能測(cè)量出數(shù)十微安的漏電。RL = V / VT.A (ARL = V / VT.A (A為放大倍數(shù)為放大倍數(shù)) )電測(cè)試原理電測(cè)試原理13電測(cè)試原理電測(cè)試原理3.CCD3.CCD電測(cè)試機(jī)電測(cè)試機(jī)-電阻法電阻法a.a.兩端式測(cè)試兩端式測(cè)試

6、( (同簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)）同簡(jiǎn)單電測(cè)試機(jī)）b.b.四端式測(cè)試四端式測(cè)試 四端式測(cè)試等效電路圖14 四端式測(cè)試四端式測(cè)試 四線測(cè)量是將恒流源電流流入被測(cè)電阻四線測(cè)量是將恒流源電流流入被測(cè)電阻RpcbRpcb的兩根電流線和的兩根電流線和電壓測(cè)量端的兩根電壓線分離開，使得電壓測(cè)量端的電壓不再是電壓測(cè)量端的兩根電壓線分離開，使得電壓測(cè)量端的電壓不再是恒流源兩端的直接電壓。從圖中可以看出，四線測(cè)量法比通常的恒流源兩端的直接電壓。從圖中可以看出，四線測(cè)量法比通常的測(cè)量法多了兩根饋線，分開了電壓測(cè)量端與恒流源兩端連線。由測(cè)量法多了兩根饋線，分開了電壓測(cè)量端與恒流源兩端連線。由于電壓測(cè)量端與恒流源端斷開，恒流源與

7、被測(cè)電阻于電壓測(cè)量端與恒流源端斷開，恒流源與被測(cè)電阻RpcbRpcb、饋線、饋線RL1RL1、RL2RL2構(gòu)成一個(gè)回路。送至電壓測(cè)量端的電壓只有構(gòu)成一個(gè)回路。送至電壓測(cè)量端的電壓只有RpcbRpcb兩端的兩端的電壓，饋線電壓，饋線RL1RL1、RL2RL2電壓沒有送至電壓測(cè)量端。因此，饋線電阻電壓沒有送至電壓測(cè)量端。因此，饋線電阻RL1RL1和和RL2RL2對(duì)測(cè)量結(jié)果沒有影響。饋線電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果沒有影響。饋線電阻RL3RL3和和RL4RL4對(duì)測(cè)量有影響，對(duì)測(cè)量有影響，但影響很小，由于測(cè)試回路的輸入阻抗（但影響很小，由于測(cè)試回路的輸入阻抗（MM級(jí)）遠(yuǎn)大于饋線電級(jí)）遠(yuǎn)大于饋線電阻（阻（級(jí)），所以，

8、四線測(cè)量法測(cè)量小電阻的準(zhǔn)確度很高。這是級(jí)），所以，四線測(cè)量法測(cè)量小電阻的準(zhǔn)確度很高。這是對(duì)導(dǎo)通性能測(cè)試的最精確的方法，此方法測(cè)量精度可分辨到對(duì)導(dǎo)通性能測(cè)試的最精確的方法，此方法測(cè)量精度可分辨到10m10m，最適合高頻線路測(cè)試。，最適合高頻線路測(cè)試。相對(duì)兩端式，四端式測(cè)試比較昂相對(duì)兩端式，四端式測(cè)試比較昂貴。貴。電測(cè)試原理電測(cè)試原理15VR1RxR2Ix數(shù)位轉(zhuǎn)換器（ADC）電阻測(cè)試原理電阻測(cè)試原理電測(cè)試原理電測(cè)試原理16電阻測(cè)試原理說明電阻測(cè)試原理說明HVR1R2數(shù)位轉(zhuǎn)換器（ADC）IxRxW1W2電測(cè)試原理電測(cè)試原理17電阻法電阻法導(dǎo)通、絕緣測(cè)試流程導(dǎo)通、絕緣測(cè)試流程END顯示錯(cuò)誤資料低壓測(cè)試

9、顯示錯(cuò)誤資料高壓測(cè)試FAILFAILPASSPASS顯示“PASS”畫面START電測(cè)試原理電測(cè)試原理18項(xiàng)目項(xiàng)目一般能力一般能力可加工板尺寸可加工板尺寸Max:610mm510mm板厚板厚0.1-3.2mm最小測(cè)試最小測(cè)試pad尺寸尺寸50um最小測(cè)試中心距最小測(cè)試中心距50um測(cè)試位置精度測(cè)試位置精度50um三、三、飛針測(cè)試機(jī)能力飛針測(cè)試機(jī)能力19簡(jiǎn)單簡(jiǎn)單測(cè)試機(jī)能力測(cè)試機(jī)能力專用測(cè)試機(jī)最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)4096點(diǎn)可加工板尺寸可加工板尺寸Max:690mm478mm測(cè)試電壓測(cè)試電壓10-250volts導(dǎo)通測(cè)試阻抗導(dǎo)通測(cè)試阻抗10-20K絕緣測(cè)試阻抗絕緣測(cè)試阻抗1M-50M測(cè)試電流測(cè)試

10、電流20mA項(xiàng)目項(xiàng)目能力能力20簡(jiǎn)單簡(jiǎn)單測(cè)試機(jī)能力測(cè)試機(jī)能力打扁針治具能力普通治具能力項(xiàng)目項(xiàng)目能力能力最小的最小的PADPAD寬與寬與PADPAD長長度度0.15mm*0.15mm最小的最小的PADPAD直徑直徑0.15mm最小的最小的PADPAD中心距中心距(Pitch)(Pitch)0.25mm項(xiàng)目項(xiàng)目能力能力最小的最小的PADPAD寬與寬與PADPAD長長度度0.1mm*0.20mm最小的最小的PADPAD直徑直徑0.10mm最小的最小的PADPAD中心距中心距(Pitch)(Pitch)0.20mm21最小的最小的PADPAD直徑直徑45um最小的最小的PADPAD中心距中心距(Pitch)(Pitch)80um最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)不限可加工板尺寸可加工板尺寸50*50mm160*260mm可加工板厚可加工板厚0.1-3.2mm夾具布針面積夾具布針面積40*40mm-140*140mm項(xiàng)目項(xiàng)目能力能力CCD測(cè)試機(jī)能力測(cè)試機(jī)能