無(wú)損檢測(cè)綜合知識(shí)介紹

1、（一）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的內(nèi)涵（一）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的內(nèi)涵 無(wú)損檢測(cè)是指以不損及其將來使用和使用可靠性無(wú)損檢測(cè)是指以不損及其將來使用和使用可靠性的方式，對(duì)材料或制件或此兩者進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)，的方式，對(duì)材料或制件或此兩者進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)，幾何特性測(cè)量，化學(xué)成分、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化幾何特性測(cè)量，化學(xué)成分、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的評(píng)價(jià)，并進(jìn)而就材料或制件對(duì)特定應(yīng)用的適用性進(jìn)的評(píng)價(jià)，并進(jìn)而就材料或制件對(duì)特定應(yīng)用的適用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的一門學(xué)科。行評(píng)價(jià)的一門學(xué)科。 具體地完成三方面的工作：具體地完成三方面的工作： (1)檢驗(yàn)檢驗(yàn)(檢驗(yàn)，定位，測(cè)量，評(píng)定檢驗(yàn)，定位，測(cè)量，評(píng)定)材料或工件中的材料或工件中的缺陷；缺陷；

2、 (2)評(píng)定材料或工件的完整性、性能和組成；評(píng)定材料或工件的完整性、性能和組成； (3)測(cè)定材料或工件的幾何特性。測(cè)定材料或工件的幾何特性。（二）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)體系（二）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)體系 1 、無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展階段、無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展階段20世紀(jì)二十年代世紀(jì)二十年代進(jìn)入工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)入工業(yè)領(lǐng)域五十年代以前五十年代以前常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)五十年代至七十年代五十年代至七十年代 完善、改進(jìn)、研究完善、改進(jìn)、研究七十年代以后七十年代以后 探索新無(wú)損檢測(cè)技術(shù)探索新無(wú)損檢測(cè)技術(shù) 九十年代以后九十年代以后 數(shù)字化技術(shù)時(shí)代數(shù)字化技術(shù)時(shí)代 2 、主要的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)、主要的無(wú)損檢測(cè)技術(shù) 射線檢測(cè)技術(shù)、超聲

3、檢測(cè)技術(shù)、電磁檢測(cè)技術(shù)射線檢測(cè)技術(shù)、超聲檢測(cè)技術(shù)、電磁檢測(cè)技術(shù)（磁粉和渦流檢驗(yàn)技術(shù)）、滲透檢驗(yàn)技術(shù)、激光檢測(cè)技（磁粉和渦流檢驗(yàn)技術(shù)）、滲透檢驗(yàn)技術(shù)、激光檢測(cè)技術(shù)、紅外檢測(cè)技術(shù)、微波檢測(cè)技術(shù)、聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)等。術(shù)、紅外檢測(cè)技術(shù)、微波檢測(cè)技術(shù)、聲發(fā)射檢測(cè)技術(shù)等。 射線照相檢驗(yàn)技術(shù)、超聲探傷技術(shù)、磁粉探傷技射線照相檢驗(yàn)技術(shù)、超聲探傷技術(shù)、磁粉探傷技術(shù)、滲透探傷技術(shù)和渦流檢驗(yàn)技術(shù)稱為五大常規(guī)探傷技術(shù)、滲透探傷技術(shù)和渦流檢驗(yàn)技術(shù)稱為五大常規(guī)探傷技術(shù)。術(shù)。 通常設(shè)計(jì)在對(duì)產(chǎn)品提出需要進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，籠統(tǒng)的通常設(shè)計(jì)在對(duì)產(chǎn)品提出需要進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，籠統(tǒng)的說進(jìn)行無(wú)損探傷，其實(shí)是不正確的！說進(jìn)行無(wú)損探傷，其實(shí)是不正確的！3

4、、無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn) （1）常規(guī)探傷技術(shù)中的射線照相檢驗(yàn)技術(shù)、磁）常規(guī)探傷技術(shù)中的射線照相檢驗(yàn)技術(shù)、磁粉探傷技術(shù)、滲透探傷技術(shù)、超聲探傷技術(shù)，具有粉探傷技術(shù)、滲透探傷技術(shù)、超聲探傷技術(shù)，具有的一個(gè)特殊性是，需要從檢測(cè)結(jié)果對(duì)缺陷性質(zhì)作出的一個(gè)特殊性是，需要從檢測(cè)結(jié)果對(duì)缺陷性質(zhì)作出正確的判斷，而正確的判斷，而這種判斷與檢驗(yàn)人員的主觀因素這種判斷與檢驗(yàn)人員的主觀因素（實(shí)際經(jīng)驗(yàn)，理論水平等）密切相關(guān)。（實(shí)際經(jīng)驗(yàn)，理論水平等）密切相關(guān)。 （2）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的另外一些技術(shù)，不具有上述）無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的另外一些技術(shù)，不具有上述技術(shù)的特殊性。這類技術(shù)的結(jié)果是一個(gè)客觀的指示值，技術(shù)的特殊性。這類

5、技術(shù)的結(jié)果是一個(gè)客觀的指示值，質(zhì)量結(jié)論從這個(gè)指示值判定，與檢驗(yàn)人員的主觀因素質(zhì)量結(jié)論從這個(gè)指示值判定，與檢驗(yàn)人員的主觀因素不相關(guān)。不相關(guān)。 在評(píng)價(jià)某個(gè)無(wú)損檢測(cè)結(jié)論的可靠性時(shí)，必須注意在評(píng)價(jià)某個(gè)無(wú)損檢測(cè)結(jié)論的可靠性時(shí)，必須注意無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的上述特點(diǎn)！即，對(duì)某些無(wú)損檢測(cè)技術(shù)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的上述特點(diǎn)！即，對(duì)某些無(wú)損檢測(cè)技術(shù)必須考慮檢驗(yàn)人員的技術(shù)資格。必須考慮檢驗(yàn)人員的技術(shù)資格。 （一）射線檢測(cè)技術(shù)（一）射線檢測(cè)技術(shù) 1、射線檢測(cè)技術(shù)原理 當(dāng)強(qiáng)度均勻的射線束透照物體時(shí)，如果物體的局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異，它將改變物體對(duì)射線的衰減，使得不同部位透射射線強(qiáng)度不同，采用一定的檢測(cè)器（例如膠片）檢測(cè)透射射

6、線強(qiáng)度，就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布。圖1 射線檢測(cè)的基本原理 X射射線線探探傷傷機(jī)機(jī) 2、射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用及特點(diǎn)、射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用及特點(diǎn) 射線檢測(cè)技術(shù)在工業(yè)方面的主要應(yīng)用可歸納為下射線檢測(cè)技術(shù)在工業(yè)方面的主要應(yīng)用可歸納為下列三個(gè)方面：列三個(gè)方面： （1）制造工藝缺陷與服役缺陷檢驗(yàn)；）制造工藝缺陷與服役缺陷檢驗(yàn)； （2）密度、尺寸、厚度等的測(cè)量；）密度、尺寸、厚度等的測(cè)量； （3）結(jié)構(gòu)、裝配質(zhì)量檢測(cè)。）結(jié)構(gòu)、裝配質(zhì)量檢測(cè)。 特點(diǎn)：特點(diǎn)： （1）檢測(cè)結(jié)果有直接記錄）檢測(cè)結(jié)果有直接記錄底片底片 由于底片上記錄的信息十分豐富，且可以長(zhǎng)期保存，從而使射線照由于底片上記錄的信息十分豐富，且可以長(zhǎng)期

7、保存，從而使射線照相法成為各種無(wú)損檢測(cè)方法記錄最真實(shí)、最直觀、最全面、追蹤性最好相法成為各種無(wú)損檢測(cè)方法記錄最真實(shí)、最直觀、最全面、追蹤性最好的檢測(cè)方法。的檢測(cè)方法。 （2）可以獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn)確可以獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn)確 各種無(wú)損檢測(cè)方法中，射線照相相對(duì)缺陷定性定量是最準(zhǔn)的。在定各種無(wú)損檢測(cè)方法中，射線照相相對(duì)缺陷定性定量是最準(zhǔn)的。在定量方面，對(duì)體積型缺陷（氣孔、夾渣類）的長(zhǎng)度、寬尺寸的確定也很準(zhǔn)，量方面，對(duì)體積型缺陷（氣孔、夾渣類）的長(zhǎng)度、寬尺寸的確定也很準(zhǔn)，其誤差大致在零點(diǎn)幾毫米。但對(duì)面積型缺陷（如裂紋、未熔合類），如其誤差大致在零點(diǎn)幾毫米。但對(duì)面積型缺陷

8、（如裂紋、未熔合類），如缺陷端部尺寸（高度和張口寬度）很小，則底片上影像尖端延伸可能辨缺陷端部尺寸（高度和張口寬度）很小，則底片上影像尖端延伸可能辨別不清，此時(shí)定量數(shù)據(jù)會(huì)偏小。別不清，此時(shí)定量數(shù)據(jù)會(huì)偏小。 （3）體積型缺陷檢出率很高，而面積型缺陷的檢出率受到多）體積型缺陷檢出率很高，而面積型缺陷的檢出率受到多種因素影響種因素影響 體積型缺陷一般情況下，直徑在試件厚度的體積型缺陷一般情況下，直徑在試件厚度的1%以上的體積型以上的體積型缺陷可以檢出。在薄試件中，可檢出缺陷的最小尺寸受人眼分辨缺陷可以檢出。在薄試件中，可檢出缺陷的最小尺寸受人眼分辨率的限制，可達(dá)率的限制，可達(dá)0.5mm或更小。面積型

9、缺陷其檢出率的影響因素或更小。面積型缺陷其檢出率的影響因素包括缺陷形態(tài)尺寸、透照厚度、透照角度、透照幾何條件、源和包括缺陷形態(tài)尺寸、透照厚度、透照角度、透照幾何條件、源和膠片種類、像質(zhì)計(jì)靈敏度等。雖然如此，一般可以說厚試件中的膠片種類、像質(zhì)計(jì)靈敏度等。雖然如此，一般可以說厚試件中的裂紋檢出率較低，但對(duì)薄試件，除非裂紋或未熔合的高度和張口裂紋檢出率較低，但對(duì)薄試件，除非裂紋或未熔合的高度和張口寬度極小，否則只要照相角度適當(dāng)，底片靈敏度符合要求，裂紋寬度極小，否則只要照相角度適當(dāng)，底片靈敏度符合要求，裂紋檢出率還是足夠高的。檢出率還是足夠高的。 （4）適宜檢驗(yàn)厚度較薄的工件而不適宜檢驗(yàn)較厚工件）適

10、宜檢驗(yàn)厚度較薄的工件而不適宜檢驗(yàn)較厚工件 因?yàn)闄z驗(yàn)厚工因?yàn)闄z驗(yàn)厚工件件需要高能量的射線探傷設(shè)備。需要高能量的射線探傷設(shè)備。300kV便攜式便攜式X射線機(jī)透照厚度一般小于射線機(jī)透照厚度一般小于42mm，420kV移動(dòng)式移動(dòng)式X射線機(jī)和射線機(jī)和Ir192 射線機(jī)透照厚度均小于射線機(jī)透照厚度均小于100mm，對(duì)厚度大于對(duì)厚度大于100mm的工的工件件照相照相需使用加速器或需使用加速器或Co60，因此是比較困難的。此外，板厚增大，射，因此是比較困難的。此外，板厚增大，射線照相絕對(duì)靈敏度是下降的，也就是說對(duì)厚工線照相絕對(duì)靈敏度是下降的，也就是說對(duì)厚工件件采用射線照相，采用射線照相，小尺寸缺陷以及一些面積

11、型缺陷漏檢的可能性增大。小尺寸缺陷以及一些面積型缺陷漏檢的可能性增大。 （5）適宜檢測(cè)對(duì)接焊縫，檢測(cè)角焊縫效果較差，不適宜檢測(cè)板材、）適宜檢測(cè)對(duì)接焊縫，檢測(cè)角焊縫效果較差，不適宜檢測(cè)板材、楱材、鍛件楱材、鍛件 檢測(cè)角焊縫的布置比較困難，底片的黑度變化大，成像質(zhì)量不夠檢測(cè)角焊縫的布置比較困難，底片的黑度變化大，成像質(zhì)量不夠好。不適宜檢驗(yàn)板材、楱材、鍛件的原因是板材、鍛件中的大部分缺陷好。不適宜檢驗(yàn)板材、楱材、鍛件的原因是板材、鍛件中的大部分缺陷與板平行，射線照相無(wú)法檢出。此外楱材、鍛件厚度較大，射線穿透比與板平行，射線照相無(wú)法檢出。此外楱材、鍛件厚度較大，射線穿透比較困難，效果也不好。較困難，效

12、果也不好。 （6）有些試件結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場(chǎng)條件不適合射線照相）有些試件結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場(chǎng)條件不適合射線照相 由于是穿透法檢驗(yàn)，檢測(cè)時(shí)需要接近工由于是穿透法檢驗(yàn)，檢測(cè)時(shí)需要接近工件件的兩面，因此結(jié)構(gòu)和現(xiàn)的兩面，因此結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場(chǎng)條件有時(shí)會(huì)限制檢測(cè)的進(jìn)行。例如有內(nèi)件的容器場(chǎng)條件有時(shí)會(huì)限制檢測(cè)的進(jìn)行。例如有內(nèi)件的容器、有厚保溫層的容器有厚保溫層的容器、內(nèi)部液態(tài)或內(nèi)部液態(tài)或液液態(tài)介質(zhì)未排空的容器等均無(wú)法檢測(cè)。此外態(tài)介質(zhì)未排空的容器等均無(wú)法檢測(cè)。此外一些搭接在厚度一些搭接在厚度較大的端框上面的鎖底電子束焊縫或者插接焊縫均無(wú)法檢測(cè)較大的端框上面的鎖底電子束焊縫或者插接焊縫均無(wú)法檢測(cè)。 （7）對(duì)缺陷在工作中厚度方向的位置、尺

13、寸（高度）的確定）對(duì)缺陷在工作中厚度方向的位置、尺寸（高度）的確定比較困難比較困難 除了一些根部缺陷可結(jié)合焊接知識(shí)和規(guī)律來確定其在工作中除了一些根部缺陷可結(jié)合焊接知識(shí)和規(guī)律來確定其在工作中厚度方向的位置，很多缺陷無(wú)法用底片提供的信息定位。缺陷高厚度方向的位置，很多缺陷無(wú)法用底片提供的信息定位。缺陷高度可通過黑度對(duì)比的方法作出判斷，但精確度不高，尤其是對(duì)影度可通過黑度對(duì)比的方法作出判斷，但精確度不高，尤其是對(duì)影像細(xì)小的裂紋類缺陷，其黑度測(cè)不準(zhǔn)，測(cè)定缺陷高度的誤差較大。像細(xì)小的裂紋類缺陷，其黑度測(cè)不準(zhǔn)，測(cè)定缺陷高度的誤差較大。 （8）檢測(cè)成本高）檢測(cè)成本高 設(shè)備成本高、人員成本高、輔助耗材成本高。

14、設(shè)備成本高、人員成本高、輔助耗材成本高。 （9）射線照相檢測(cè)速度慢）射線照相檢測(cè)速度慢 一般情況下定向一般情況下定向X射線機(jī)一次透照長(zhǎng)度不超過射線機(jī)一次透照長(zhǎng)度不超過300mm，拍一，拍一張片子需張片子需10min，射線源的曝光時(shí)間一般更長(zhǎng)。射線照相從透照射線源的曝光時(shí)間一般更長(zhǎng)。射線照相從透照開始到評(píng)定出結(jié)果需數(shù)小時(shí)。與其他無(wú)損檢測(cè)方法相比，射線照開始到評(píng)定出結(jié)果需數(shù)小時(shí)。與其他無(wú)損檢測(cè)方法相比，射線照相的檢測(cè)速度很慢，效率低很。相的檢測(cè)速度很慢，效率低很。 （10）射線對(duì)人體有傷害）射線對(duì)人體有傷害 射線會(huì)對(duì)人體組織造成多種操作，因此對(duì)職業(yè)放射性工作人射線會(huì)對(duì)人體組織造成多種操作，因此對(duì)職

15、業(yè)放射性工作人員劑量當(dāng)量規(guī)定了限值。要求在保證完成射線探傷任務(wù)的同時(shí)，員劑量當(dāng)量規(guī)定了限值。要求在保證完成射線探傷任務(wù)的同時(shí)，使操作人員接受的劑量當(dāng)量不超過限值，并且應(yīng)盡可能的降低操使操作人員接受的劑量當(dāng)量不超過限值，并且應(yīng)盡可能的降低操作人員和其他人員的吸收劑量。防護(hù)的主要措施有屏蔽防護(hù)、距作人員和其他人員的吸收劑量。防護(hù)的主要措施有屏蔽防護(hù)、距離防護(hù)和時(shí)間防護(hù)。離防護(hù)和時(shí)間防護(hù)。 （二）超聲檢測(cè)技術(shù)（二）超聲檢測(cè)技術(shù) 1、超聲檢測(cè)技術(shù)原理、超聲檢測(cè)技術(shù)原理 超聲檢測(cè)的基本原理是基于超聲波傳播到聲阻抗不超聲檢測(cè)的基本原理是基于超聲波傳播到聲阻抗不 同的界面時(shí)，將按一定規(guī)律發(fā)生反射與折射。由于

16、在聲同的界面時(shí)，將按一定規(guī)律發(fā)生反射與折射。由于在聲阻抗不同的界面發(fā)生的反射與折射，將形成界面的反射阻抗不同的界面發(fā)生的反射與折射，將形成界面的反射波，從而使透射的超聲波強(qiáng)度發(fā)生衰減。波，從而使透射的超聲波強(qiáng)度發(fā)生衰減。 圖圖2 超聲檢測(cè)原理超聲檢測(cè)原理超聲檢測(cè)設(shè)備超聲檢測(cè)設(shè)備 2、超聲檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用與特點(diǎn)、超聲檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用與特點(diǎn) 超聲檢測(cè)技術(shù)是鍛件、型材（板材、管材、棒材）的基本檢驗(yàn)技超聲檢測(cè)技術(shù)是鍛件、型材（板材、管材、棒材）的基本檢驗(yàn)技術(shù)，是焊接件、膠接質(zhì)量、蜂窩夾層結(jié)構(gòu)、大型鑄件常用的檢驗(yàn)技術(shù)。術(shù)，是焊接件、膠接質(zhì)量、蜂窩夾層結(jié)構(gòu)、大型鑄件常用的檢驗(yàn)技術(shù)。 超聲檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)：超聲檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)

17、： （1）適用于金屬、非金屬、復(fù)合材料等多種材料制件的無(wú)損評(píng)價(jià)；）適用于金屬、非金屬、復(fù)合材料等多種材料制件的無(wú)損評(píng)價(jià)； （2）穿透力強(qiáng)，可對(duì)較大厚度范圍的試件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)，可）穿透力強(qiáng)，可對(duì)較大厚度范圍的試件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)，可以檢測(cè)幾米厚的鋼鍛件，適合于檢測(cè)方向性強(qiáng)的缺陷；以檢測(cè)幾米厚的鋼鍛件，適合于檢測(cè)方向性強(qiáng)的缺陷； （3）可較準(zhǔn)確的測(cè)定缺陷的深度位置；）可較準(zhǔn)確的測(cè)定缺陷的深度位置； （4）對(duì)大多數(shù)超聲技術(shù)的應(yīng)用來說，僅需從一側(cè)接近試件；）對(duì)大多數(shù)超聲技術(shù)的應(yīng)用來說，僅需從一側(cè)接近試件； （5）設(shè)備輕便，對(duì)人體無(wú)傷害。）設(shè)備輕便，對(duì)人體無(wú)傷害。 超聲檢測(cè)技術(shù)的主要局限性：超聲檢測(cè)

18、技術(shù)的主要局限性： （1）由于縱波脈沖反射法存在盲區(qū)，和缺陷取向?qū)z測(cè)靈）由于縱波脈沖反射法存在盲區(qū)，和缺陷取向?qū)z測(cè)靈敏度的影響，對(duì)位于表面和非常接近表面的某些缺陷很難檢測(cè)；敏度的影響，對(duì)位于表面和非常接近表面的某些缺陷很難檢測(cè)； （2）試件形狀的復(fù)雜性對(duì)超聲檢測(cè)的可實(shí)施性有較大影響；）試件形狀的復(fù)雜性對(duì)超聲檢測(cè)的可實(shí)施性有較大影響； （3）材料的某些內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶粒度、相組成、非均勻性、）材料的某些內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶粒度、相組成、非均勻性、非致密性等，對(duì)超聲檢測(cè)的可實(shí)施性有較大影響；非致密性等，對(duì)超聲檢測(cè)的可實(shí)施性有較大影響； （4）很難對(duì)材料及制件中的缺陷作定性和定量表征；）很難對(duì)材料及制件

19、中的缺陷作定性和定量表征； （5）為使超聲波有效的進(jìn)入試件，一般需要耦合劑。）為使超聲波有效的進(jìn)入試件，一般需要耦合劑。（三）磁粉檢測(cè)技術(shù)（三）磁粉檢測(cè)技術(shù)1、磁粉檢測(cè)技術(shù)原理、磁粉檢測(cè)技術(shù)原理 磁粉檢測(cè)的基礎(chǔ)是缺陷處磁粉檢測(cè)的基礎(chǔ)是缺陷處漏磁場(chǎng)和磁粉漏磁場(chǎng)和磁粉間的相互作用。間的相互作用。在在鐵磁性工件鐵磁性工件被磁化后，由于材料不連續(xù)性的存在，使工件被磁化后，由于材料不連續(xù)性的存在，使工件表面和近表面的表面和近表面的磁力線在材料不連續(xù)性處發(fā)生局部畸變而產(chǎn)磁力線在材料不連續(xù)性處發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，吸附施加在工件表面的磁粉，形成了在合適光照形成了在合適光

20、照下目視可見的磁痕下目視可見的磁痕，從而顯示出材料不連續(xù)性的位置、形狀，從而顯示出材料不連續(xù)性的位置、形狀和大小，通過對(duì)這些磁痕的觀察和分析，就能得出對(duì)影響制和大小，通過對(duì)這些磁痕的觀察和分析，就能得出對(duì)影響制品使用性能的缺陷的評(píng)價(jià)。品使用性能的缺陷的評(píng)價(jià)。 磁粉檢測(cè)有三個(gè)必要步驟：磁粉檢測(cè)有三個(gè)必要步驟： （1）被檢驗(yàn)的工件必須得到磁化；）被檢驗(yàn)的工件必須得到磁化； （2）必須在磁化的工件上施加合適的磁粉；）必須在磁化的工件上施加合適的磁粉； （3）對(duì)任何磁粉的堆積必須加以觀察和解釋。）對(duì)任何磁粉的堆積必須加以觀察和解釋。圖圖3 磁粉檢測(cè)原理磁粉檢測(cè)原理 磁磁粉粉探探傷傷機(jī)機(jī) 2、磁粉檢測(cè)技

21、術(shù)特點(diǎn)、磁粉檢測(cè)技術(shù)特點(diǎn) 磁粉檢測(cè)技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn)：磁粉檢測(cè)技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn)： （1）是一種表面和近表面缺陷檢驗(yàn)技術(shù)，主要是用于）是一種表面和近表面缺陷檢驗(yàn)技術(shù)，主要是用于檢驗(yàn)表面和近表面區(qū)的裂紋、發(fā)紋、白點(diǎn)、折迭、夾雜、冷檢驗(yàn)表面和近表面區(qū)的裂紋、發(fā)紋、白點(diǎn)、折迭、夾雜、冷隔和疏松等缺陷；隔和疏松等缺陷； （2）具有很高的檢驗(yàn)靈敏度；）具有很高的檢驗(yàn)靈敏度； （3） 能直觀地顯示缺陷的位置、形狀和尺寸，從顯示能直觀地顯示缺陷的位置、形狀和尺寸，從顯示的磁粉痕跡能對(duì)缺陷性質(zhì)作出判斷的磁粉痕跡能對(duì)缺陷性質(zhì)作出判斷 ； （4）檢驗(yàn)幾乎不受工件的大小和形狀的限制。）檢驗(yàn)幾乎不受工件的大小和形狀的限制

22、。 磁粉檢測(cè)的局限性是：磁粉檢測(cè)的局限性是： （1）只能適用于鐵磁性材料，而且只能檢查出工）只能適用于鐵磁性材料，而且只能檢查出工件表面和近表面的缺陷，一般深度不超過件表面和近表面的缺陷，一般深度不超過12mm； （2）如果工件表面有覆蓋層、涂層、噴丸層等，）如果工件表面有覆蓋層、涂層、噴丸層等，將對(duì)磁粉檢測(cè)靈敏度起不良影響。覆蓋層越厚，這將對(duì)磁粉檢測(cè)靈敏度起不良影響。覆蓋層越厚，這種影響越大；種影響越大； （3）磁化后一些具有較大剩磁的工件還要進(jìn)行）磁化后一些具有較大剩磁的工件還要進(jìn)行退磁。退磁。（四）（四） 滲透檢測(cè)技術(shù)滲透檢測(cè)技術(shù) 1、滲透檢測(cè)技術(shù)原理、滲透檢測(cè)技術(shù)原理 滲透檢測(cè)是一種以

23、滲透檢測(cè)是一種以毛細(xì)作用毛細(xì)作用原理為基礎(chǔ)用于檢測(cè)非疏孔性金屬和原理為基礎(chǔ)用于檢測(cè)非疏孔性金屬和非金屬試件非金屬試件表面開口缺陷表面開口缺陷的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。將溶有熒光染料或著色染的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。將溶有熒光染料或著色染料的滲透液施加于試件表面，由于毛細(xì)現(xiàn)象的作用，滲透液滲入到各料的滲透液施加于試件表面，由于毛細(xì)現(xiàn)象的作用，滲透液滲入到各類開口于表面的細(xì)小缺陷中，清除附著于試件表面上多余的滲透液，類開口于表面的細(xì)小缺陷中，清除附著于試件表面上多余的滲透液，經(jīng)干燥后再施加顯像劑，缺陷中的滲透液在毛細(xì)現(xiàn)象的作用下被重新經(jīng)干燥后再施加顯像劑，缺陷中的滲透液在毛細(xì)現(xiàn)象的作用下被重新回滲到零件表面上，形成放

24、大了的缺陷顯示，在黑光（熒光檢驗(yàn)法）回滲到零件表面上，形成放大了的缺陷顯示，在黑光（熒光檢驗(yàn)法）或白光（著色檢測(cè)法）觀察，缺陷處可分別對(duì)應(yīng)的發(fā)出黃綠色的熒光或白光（著色檢測(cè)法）觀察，缺陷處可分別對(duì)應(yīng)的發(fā)出黃綠色的熒光或呈現(xiàn)紅色顯示。用目視檢驗(yàn)，即可檢測(cè)出缺陷的形貌和分布狀態(tài)?；虺尸F(xiàn)紅色顯示。用目視檢驗(yàn)，即可檢測(cè)出缺陷的形貌和分布狀態(tài)。圖圖4 滲透檢測(cè)工藝過程滲透檢測(cè)工藝過程 2、滲透檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用與特點(diǎn)、滲透檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用與特點(diǎn) 液體滲透檢測(cè)法可用于檢驗(yàn)各種類型的裂紋、氣孔、分層、縮孔、液體滲透檢測(cè)法可用于檢驗(yàn)各種類型的裂紋、氣孔、分層、縮孔、疏松、冷隔、折疊及其他開口于表面的缺陷；廣泛用于檢驗(yàn)有

25、色金屬疏松、冷隔、折疊及其他開口于表面的缺陷；廣泛用于檢驗(yàn)有色金屬和黑色金屬的鑄件、鍛件、粉末冶金件、焊接件以及各種陶瓷、塑料和黑色金屬的鑄件、鍛件、粉末冶金件、焊接件以及各種陶瓷、塑料及玻璃制品。及玻璃制品。 液體滲透檢測(cè)法的優(yōu)點(diǎn)有：液體滲透檢測(cè)法的優(yōu)點(diǎn)有： （1）不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學(xué)成分和內(nèi)部組織）不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學(xué)成分和內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的限制，也不受缺陷方位的限制，一次操作可同時(shí)檢驗(yàn)開口于結(jié)構(gòu)的限制，也不受缺陷方位的限制，一次操作可同時(shí)檢驗(yàn)開口于表面的所有缺陷；表面的所有缺陷； （2）檢驗(yàn)的速度快，操作比較簡(jiǎn)便，大量的零件可以同時(shí)進(jìn)行）檢驗(yàn)的速度快，操作比較

26、簡(jiǎn)便，大量的零件可以同時(shí)進(jìn)行批量檢驗(yàn)；批量檢驗(yàn)； （3）缺陷顯示直觀，檢測(cè)靈敏度高。）缺陷顯示直觀，檢測(cè)靈敏度高。 滲透檢驗(yàn)的主要局限性有：滲透檢驗(yàn)的主要局限性有： （1）最主要的局限性是只能檢出試件開口于表）最主要的局限性是只能檢出試件開口于表面的缺陷，不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀面的缺陷，不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀和大??；和大??； （2）無(wú)法或難于檢查多孔的材料，表面粗糙時(shí)，）無(wú)法或難于檢查多孔的材料，表面粗糙時(shí)，也會(huì)使試件表面的本底顏色或熒光底色增大，掩蓋也會(huì)使試件表面的本底顏色或熒光底色增大，掩蓋了細(xì)小的、分散的缺陷；了細(xì)小的、分散的缺陷； （3）檢測(cè)結(jié)果受操作者的影響較大。）檢測(cè)結(jié)果受操作者的影響較大。（一）射線檢測(cè)（一）射線檢測(cè) 1、送交射線檢驗(yàn)的工件應(yīng)經(jīng)表面檢驗(yàn)合格；、送交射線檢驗(yàn)的工件應(yīng)經(jīng)表面檢驗(yàn)合格； 2、送檢前，應(yīng)清除妨礙檢驗(yàn)和影響底片上缺陷影、送檢前，應(yīng)清除妨礙檢驗(yàn)和影響底片上