光纜測試培訓(xùn)資料

1、光纜測試培訓(xùn)資料光纜測試培訓(xùn)資料目 錄OTDR介紹2下一步改進(jìn)措施4目前工程資料存在問題3 3光纜測試簡介3 1 單模光纜的傳輸損耗典型值約為 1310 nm傳輸損耗：0.36dB/km 1550 nm傳輸損耗：0.22dB/km 光纖傳輸損耗分為：固有損耗和非固有損耗。 固有損耗：是光纖中傳輸?shù)墓獠ǖ纳⑸渑c吸收所產(chǎn)生的損耗，是光 纖材料本身的特性決定。 非固有損耗：包括雜質(zhì)吸收損耗、散射損耗、光纖彎曲損耗和結(jié)構(gòu)不規(guī)則損耗。 光纖死接頭衰耗0.08dB，光纖活接頭衰耗0.5dB 光纜工程常用的測量儀表包括：光源、光功率計(jì)、光時(shí)域反射儀（OTDR）、接地電阻測試儀、金屬護(hù)套對地故障特測儀、誤碼分

2、析儀等。 光源、光功率計(jì)用于測量光纖的衰減，通過對光來檢測帶狀光纜是否反帶熔接。 工作原理：用于測量絕對光功率或通過一段光纖的光功率相對損耗。在光纖系統(tǒng)中，測量光功率是最基本的，非常像電子學(xué)中的萬用表。 光功率是指光在單位時(shí)間內(nèi)所做的功，單位通常用毫瓦（mw）及分貝（dbm），兩者之間的換算公式為： dbm = 10lgX，其中X是毫瓦。 lgX是一個(gè)以10為底的對數(shù)函數(shù)。 光功率計(jì)的動(dòng)態(tài)范圍：接收端能夠接收到的最小光功率稱為靈敏度，能接收的最大光功率減去靈敏度的值（單位db），稱為動(dòng)態(tài)范圍。測試時(shí)，實(shí)際的發(fā)光功率減去實(shí)際接收的值就是光纖的衰耗值（db）目 錄OTDR介紹2下一步改進(jìn)措施4目前

3、工程資料存在問題3 3光纜測試簡介3 1觀察整個(gè)光纖線路定位端點(diǎn)和斷點(diǎn)定位接頭點(diǎn) (“故障點(diǎn)”)測試接頭損耗測試端到端損耗測試反射值測試回波損耗建立事件點(diǎn)與地標(biāo)的相對關(guān)系建立光纖數(shù)據(jù)文件數(shù)據(jù)歸檔測試范圍是指距離 或顯示范圍。對這一參數(shù)的設(shè)置意味著告訴OTDR應(yīng)該在屏幕上顯示多長距離。為了顯示整個(gè)光纖曲線，設(shè)置時(shí)這一范圍必須大于被測光纖長度。 通常選擇的測試范圍應(yīng)比實(shí)際待測光纖長20% 。必須注意，測試范圍相對于被測光纖長度不要差異太大，否則將會影響到有效分辨率。同時(shí)，過大的測試范圍還將導(dǎo)致過大而無效的測試數(shù)據(jù)文件，造成存貯空間的浪費(fèi)。選擇164Km 測試范圍對于 7.6Km 的實(shí)際光纖來說是過

4、長了。文件尺寸: 9Km 范圍 = 2kbytes 164Km 范圍 = 10kbytes同時(shí)測試1310和1550納米兩個(gè)波長以便比較不同波長上的測試結(jié)果，判斷光纜是否受到應(yīng)力。對同一根光纖，不同波長下進(jìn)行的測試會得到不同的損耗結(jié)果。測試波長越長，對光纖彎曲越敏感。1550nm下測試的接頭損耗大于在1310nm處的測試值。下圖中，第一個(gè)熔接點(diǎn)存在彎曲問題，而另外的熔接點(diǎn)在兩個(gè)測試波長下狀態(tài)近似，這表明光纖未受力。平均(有時(shí)也稱為掃描) 可降低測試結(jié)果曲線的噪聲水平，提高判讀精度。測試時(shí)，可以設(shè)定掃描次數(shù)為快, 中, 慢等三擋或一個(gè)特定的時(shí)間長度。長的平均時(shí)間使你能夠獲得較好的結(jié)果曲線。如果使

5、用較短的測試脈寬或測試較長的光纜區(qū)段，就應(yīng)該選擇較長的平均時(shí)間。噪聲會導(dǎo)致曲線的變化，增加平均次數(shù)可降低噪聲電平。盤測是對到貨后但仍繞在纜盤上的光纜進(jìn)行的簡單驗(yàn)收測試，通過這一測試，用戶可以得知光纜的盤長、連續(xù)性、成纜過程中是否有缺陷以及整個(gè)纜的平均衰耗。短脈寬短脈寬 ：更為細(xì)致地觀察光纖的狀態(tài)更為細(xì)致地觀察光纖的狀態(tài)快速平均下的實(shí)時(shí)顯示快速平均下的實(shí)時(shí)顯示 ：縮短測試時(shí)間縮短測試時(shí)間固定光標(biāo)固定光標(biāo)：快速得到測試結(jié)果快速得到測試結(jié)果固定損耗測試模式固定損耗測試模式 ：dB/Km為了快速而精確地判斷斷點(diǎn)、既可讓儀器全自動(dòng)地設(shè)置測量也可手動(dòng)設(shè)置測試參數(shù) :在故障搶修期間，可能有必要觀察兩個(gè)很接近

6、的接頭點(diǎn)，間距甚至可能在幾十米之內(nèi)，此時(shí)你需要把故障點(diǎn)放大，同時(shí)用實(shí)時(shí)掃描觀察接頭操作，最后再完成整個(gè)測試得到接續(xù)損耗數(shù)據(jù)。正常曲線正常曲線 一般為正常曲線圖， A 為盲區(qū)， B 為測試末端反射峰。測試曲線為傾斜的，隨著距離的曾長，總損耗會越來越大。用總損耗（ dB ）除以總距離（ Km ）就是該段纖芯的平均損耗（ dB/Km ）。 光纖存在跳接點(diǎn)光纖存在跳接點(diǎn) 中間多了一個(gè)反射峰，很有可能中間是一個(gè)跳接點(diǎn)。 能夠出現(xiàn)反射峰，很多情況是因?yàn)槟┒说墓饫w端面是平整光滑的。端面越平整，反射峰越高。例如在一次中斷割接當(dāng)中，當(dāng)光纜砍斷以后，測試的曲線應(yīng)該如光路存在斷點(diǎn)圖所示，但當(dāng)再測試時(shí)，在原來的斷點(diǎn)位

7、置出現(xiàn)反射峰的話，那說明現(xiàn)場的搶修人員很有可能已經(jīng)把該纖芯的端面做好了。 異常情況異常情況 出現(xiàn)圖中這種情況，有可能是儀表的尾纖沒有插好，或者光脈沖根本打不出去，再有就是斷點(diǎn)位置比較進(jìn)，所使用的距離、脈沖設(shè)置又比較大，看起來就像光沒有打出去一樣。 出現(xiàn)這種情況，首先應(yīng)檢查尾纖連接情況，其次調(diào)整OTDR設(shè)置，把距離、脈沖調(diào)到最小。如果問題仍存在，則可以判斷：尾纖有問題；OTDR上的識配器問題；斷點(diǎn)十分近，OTDR 不足以測試出距離來。如果是尾纖問題，只要換一根尾纖就知道，不行的話就要試著擦洗識配器，或就近查看纖芯了。 非反射事件非反射事件 這種情況比較多見，曲線中間出現(xiàn)一個(gè)明顯的臺階，多數(shù)為該纖

8、芯打折，彎曲過小，受到外界損傷等因素。曲線中的這個(gè)臺階是比較大的一個(gè)損耗點(diǎn)，也可以稱為事件點(diǎn)，曲線在該點(diǎn)向下掉，稱為非反射事件，如果曲線在該點(diǎn)向上翹的話，那就是反射事件了，這時(shí)，該點(diǎn)的損耗點(diǎn)就成了負(fù)值，但并不是說他的損耗小了，這是一種偽增益現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的原因是由于接頭兩側(cè)光纖的背向散射系數(shù)不一樣，接頭后光纖背向散射系數(shù)大于前段光纖背向散射系數(shù)，而從另一端測則情況正好相反，折射率不同也有可能產(chǎn)生增益現(xiàn)象。所以要想避免這種情況，只要用雙向測試法就可以了。 光纖存在斷點(diǎn)光纖存在斷點(diǎn) 曲線在末端沒有任何反射峰就掉下去了，如果知道纖芯原來的距離，在沒有到達(dá)纖芯原來的距離，曲線就掉下去了，這說明光纖在曲線掉下去的地方斷了，或者也有可能是光纖在那里打了個(gè)折。 在線路上排障的時(shí)候，把不能確定的纖芯打折，然后測試人員利用 OTDR 打?qū)崟r(shí)監(jiān)測，按照圖中的這種情況來判斷纖芯。測試距離過長測試距離過長 這種情況是出現(xiàn)在測試長距離的纖芯時(shí)， OTDR 所不能打到的距離所產(chǎn)生的情況，或者是距離、脈沖設(shè)置過小所產(chǎn)生的情況。如果出現(xiàn)這種情況，OTDR 的距離、脈沖又比較小的話，就要把距離、脈沖調(diào)大，以達(dá)到全段測試的目的，稍微加長測試時(shí)間也是一種辦法。 目 錄OTDR介紹2下一步改進(jìn)措施4目前工程資料存在問題3 3光纜測試簡介3 1（一）測試資料不真實(shí)1、復(fù)制