TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

1、TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書V1關(guān)鍵詞：TYPEG數(shù)據(jù)線摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試規(guī)范?？s略語：1范圍標(biāo)準(zhǔn)適用于TYPEATOC數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPEC協(xié)會(huì)規(guī)范V1.1為準(zhǔn)。2編寫依據(jù)序號(hào)No.文件編號(hào)DocNo.文件名稱DocTitle1GJB1217電連接谷徉試驗(yàn)方法2MIL-STD-202GTestmethodstandardelectronicandelectricalcomponentparts3GB/T3048電線電纜電性能試驗(yàn)方法4GB4098射頻電纜試驗(yàn)方法5EIA-364-101AttenuationTestProcedureforElectrica

2、lConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems6EIA-364-106StandingWaveRatio(SWR)TestProcedureforElectricalConnectors7EIA-364-108Impedance,ReflectionCoefficient,ReturnLoss,andVSWRMeasuredintheTimeandFrequencyDomainTestProcedureforElectricalConnectors,CableAssembliesorInterconnectionSyste

3、ms8GB5441.2工作電容試驗(yàn)-電橋法9EIA-364-103PropagationDelayTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems10IEC68-2-1基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:寒冷11GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法12IEC68-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:干熱13GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法14IEC68-2-10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉0020的

4、15GB/T2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長霉16ASTMG21StandardPracticeforDeterminingResistanceofSyntheticPolymericMaterialstoFungi17IEC61587-1MechanicalstructuresforelectronicequipmentTestsforIEC60917andIEC60297Part1Climaticmechanicaltestsandsafetyaspectsforcabinetsrackssubracksandchassis18GR487GenericR

5、equirementsforElectronicEquipmentCabinets19IEC68-2-30基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db及導(dǎo)則：朽濕熱（12+12h循環(huán)）序號(hào)No.文件編號(hào)DocNo.文件名稱DocTitle20GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法21IEC68-2-52電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變（氯化鈉溶液）22GB/T2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變（氯化鈉溶液）23IEC529Degreesofprotectionprovidedbyenclosure(IPcode)24GB4

6、208外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）25EIA-364-38BCablepull-outtestprocedureforelectricalconnectors26EIA-364-41CCableflexingtestprocedureforelectricalconnectors27IEC60950Safetyofinformationtechnologyequipment28EN60950Safetyofinformationtechnologyequipment29UL60950Safetyofinformationtechnologyequipment30GB4943信息技術(shù)設(shè)備的安全31I

7、EC60332Testsonelectriccabiesunderfireconditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗(yàn)33UL1581Referencestandardforelecticalwires,cables,andflexiblecords34GR1217Genericrequirementsforseparableelectricalconnectorsusedintelecommunicationshardware35GR950GenericRequirementsforOpticalNetworkUnit(ONU)Closures36USBType-CC

8、ableandConnectorSpecificationV1.13數(shù)據(jù)線正常工作和存儲(chǔ)條件3.1數(shù)據(jù)線應(yīng)能在下列條件下正常工作：3.1.1工作環(huán)境溫度：-20C+55C;（僅作單體驗(yàn)證目的，與整機(jī)匹配時(shí)以整機(jī)試驗(yàn)環(huán)境為準(zhǔn)）3.1.2 相對(duì)濕度：5%95%;3.1.3 大氣壓力：86kPa106kPa;3.1.4數(shù)據(jù)線的存儲(chǔ)溫度：-40C+85C；4數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細(xì)尺寸以及工藝要求以3D圖檔為準(zhǔn)1、typeC金屬插頭，要求必須是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不接受接縫；2、金屬插頭部分，要求做不銹鋼原色，表面噴砂處理：50u”150u”MATTNICKELPLATINGO

9、VERALL3、保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)格（BOM清單，包括端子圖紙2D&可拆解版本的3D）要有確認(rèn)才能認(rèn)可（認(rèn)證時(shí)必須提供以上文件）。4.2線材主體信息:4.2.1外觀5V/3AAplugTOCplug,cover式，白色半霧面，素材細(xì)咬花處理，MT110064.2.2主體結(jié)構(gòu)項(xiàng)目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部分顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold&Cable&Housing&其他輔料NON-PVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質(zhì)添加：漠系阻燃劑BrominatedFlameRetardants氯系阻燃劑ChlorinatedFlameRet

10、ardants聚氯乙烯PolyvinylChloride(PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化鐐AntimonyTrioxide皺及其化合物Beryllium(Be)anditscompounds接口USB卬BreceptacletoTYPECplug滿足5V3A其他應(yīng)符合5.2節(jié)測試標(biāo)準(zhǔn)VoltageRating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下:材質(zhì)：鍍錫銅SignalNameWireGauge(AWG)VBUS/GND端到端阻抗不大于80mQ絕緣材質(zhì)NON-PVC，須滿足5.2章節(jié)測試性能要求4.2.3關(guān)鍵尺寸4.2.3.1USB2.0Bplug參考協(xié)會(huì)規(guī)范4.2.3.2 TY

11、PECplug1. 紅圈標(biāo)示尺寸為重點(diǎn)尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會(huì)規(guī)范要求2. 各組件BOMLIST原材料信息需明確到具體牌號(hào)3. 應(yīng)滿足TYPEC2.0規(guī)格4.2.3.3 鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測試區(qū)域和方法：TYPEC/A:TYPEC/A產(chǎn)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域?yàn)镻IN針頭部觸點(diǎn)，因此鍍層工藝為考慮成本一般只覆蓋PIN針觸點(diǎn)位置，其他區(qū)域?yàn)閒lashAu,所以鍍層的量測范圍定義在PIN針觸點(diǎn)弧頂?shù)淖罡咛嶵able3-20USBType-CtoUSB2.0AMWiringUSBType-CPlugUSB2.0AMPinSignalNamePinSignalNameA1,B1,A12,B12GND4

12、GNDA4,B4,A9,B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D?ShellShieldShellShieldNotes:PinA5(CC)oftheUSBType-CplugshallbeconnectedtoVBus4.2.4線序2. ContactsB6andB7shouldnotbepresentintheUSBType-Cplug.3. AllVbuspinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.BypasscapacitorsarenotrequiredfortheVbuspinsatthiscable.4

13、. AllGroundreturnpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBType-Cplug.5. AllUSBType-Cplugpinsthatarenotlistedinthistableshallbeopen(notconnected).Table4-13DFPCCTermination(Rp)RequirementsDFPAdvertisementCurrentSourceto1.75.5VResistorpull-upto4.755.5VResistorpull-upto3.3V士5%DefaultUSBPower80A+20%56kQ士2

14、0%te1)36kQ士20%1.5A5V180頭A+8%22kQ+5%12kQ+5%3.0A5V330卬A+8%10kQ+5%4.7kQ土5%Notes:1.ForRpwhenimplementedintheUSBType-CplugonaUSBType-CtoUSB3.1Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Standard-ACableAssembly,aUSBType-CtoUSB2.0Micro-BReceptacleAdapterAssemblyoraUSBType-CcaptivecableconnectedtoaUSBhost,ava

15、lueof56kQ土s5%llbeused,inordertoprovidetolerancetoIRdroponVbusandGNDinthecableassembly.5.1.1 5技術(shù)要求線材外觀要求線材外觀要求如下:外觀金屬插頭/pin腳檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗(yàn)，線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型（型號(hào)）要求與樣品一致；2、插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；3、用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超出1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時(shí)，提交不合格電子流確認(rèn)】4、插頭上不允許有油漬；5、劃痕L<2mm,W<0.1mm,用手觸摸無

16、深度感，允收一條；6、USBA公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、USBA公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；8、金屬插頭（USBA公以及TYPEC公）與注塑部分匹配正常，不允許歪斜，夾角90°土2.5°標(biāo)簽檢查1、參照樣品和PDM圖紙檢驗(yàn)，標(biāo)簽上的印刷圖案和字體要求一致；2、標(biāo)簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USBA公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺膠、破損；2、合模線（毛邊）H<0.2mm；3、水口位（毛邊）在不刺手的前提下，H<1mm可接收；4、壓痕L<5mm,W<0.2mm,USBA公外膜

17、每面允收一條，DC外膜允收一條；5、點(diǎn)狀壓痕D<1.5mm,USBA公外膜每面允收一條，DC外膜允收一條；線材外觀1、線材不允許有破損、漏銅；2、線材上不允許有臟污；3、點(diǎn)狀壓痕D<2.5mmDS>25mm允收6個(gè)；4、線狀壓痕L<5mmW<1mmDS>25mm允收3條；扎帶下的壓痕允許；5、有感刮傷：L<5mmWw1mmDS>25mm允收2條；無感刮傷：L<30mmWv1mmDS>30mm允收3條；未盡事宜參考終端數(shù)據(jù)線檢驗(yàn)通用操作指導(dǎo)書5.2線材性能要求TestconditionTemperature：15Cto35CAirpre

18、ssure:86to106kPaRelativehumidity:25%to85%NOTestdescriptionTestprocedurePerformanceRelatedstandard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正常。測試前，測試后插拔力應(yīng)滿足要求，樣品外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常，允許端子接觸點(diǎn)表面有正常磨損，但不允許有物理損壞測試速度為12.5mm/分鐘以插入力和拔出力測試標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測試TYPEC端子插拔次數(shù)10000次(正反方向各5000次，每2500次換一個(gè)方向)做元25次插拔N后，插拔力變化不能超過33%A公插拔1500次測試

19、結(jié)束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364-092插入力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為12.5mm/分鐘3. 單位為N插拔耐久測試前后：TypeC:插入力520N;USBAM:35N(MAX)EIA364-133拔出力EIA364-131. 插拔力測試儀器2. 測試速度為12.5mm/分鐘3. 單位為N插拔耐久測試前后：TypeC:拔出力820NUSBAM:10N(Min)EIA364-134滾筒測試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一次，跌落速度參考值10-12次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置為準(zhǔn))測試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能正

20、應(yīng)常的5端子強(qiáng)度測試1.F1/F2(+/-Y)=50N，做到75N觀察損壞情況F3,F4(+/-X)=50NF5(+Z)=100NF1和F2方向的測試均米用新樣品測試，F(xiàn)3-F5方向視情況進(jìn)行互用施力點(diǎn)為接口到SR處15mm(從外殼平面量起15mm;如SR不足15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置)測試速度：5mm/min上下左右4個(gè)方向力重要求大于5.0Kg,插入方向要求大于10Kg,連接器不允許有失效，接口允許有可恢復(fù)的變形，數(shù)據(jù)線電氣性能正常；結(jié)構(gòu)無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型標(biāo)準(zhǔn)：公頭鐵殼上掛重10kgf，持續(xù)時(shí)間1分鐘兩端殼體都

21、需要測試抗進(jìn)料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：公頭鐵殼上掛重6kgf,持續(xù)時(shí)間1分鐘拉脫力，測試后兩端殼體不應(yīng)有脫落現(xiàn)象7端子強(qiáng)度耐久測試測試力：F1=F2=2kgf測試次數(shù)：2000次/方向；施力點(diǎn)為接口到SR處15mm（從靠近金屬頭尾部重起15mm如SR不足15mm以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性不足以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置）；測試速度：10-15次/min數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常，端于不應(yīng)有損壞或嚴(yán)重尖形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀。TypeC端/uB母座。取少樣品數(shù)重：每個(gè)端子3pcsTypeC/BplugPlatinggoldAu不小于30”,PlatingNi不小于80&qu

22、ot;9成品電阻測試1、CTOA測試2、屏蔽層測試殼對(duì)殼3、壽命前后均要滿足阻抗要求4、滿足協(xié)會(huì)規(guī)范1.1要求25C時(shí)實(shí)驗(yàn)室測試標(biāo)準(zhǔn)：Vbus:0.135Q最大GND0.135Q最大線材規(guī)格1M,電源22AWG10溫升測試TYPECVbus/GND通電5A（4對(duì)pin）,USBAM-VBUS/GN通電3ATYPEC/USBAM非電源pin腳通流0.25A;利用shield/GND回流，通流不低于3A25C時(shí)測試溫度穩(wěn)定30分鐘后測試針對(duì)plug單體和cable組件整體的兩項(xiàng)測試均需滿足任意點(diǎn)溫升不允許超過30度USBType-CCableandConnectorSpecification11接

23、觸阻抗LLCR是從REC焊接點(diǎn)的尾部到Plug焊點(diǎn)，包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的端子和PaddleCards*使用四線測試法*測試電壓20mV最大，電流100mA.VBUS/GNDW始接觸阻抗30mQ,其他pin初始接觸阻抗40mQMax最大,所有Pin環(huán)境測試后LCCFm大增量為10mQ連接器13耐壓測試兩兩pin之間打（含外殼）認(rèn)證測試：100VAC/60s/0.5mA產(chǎn)線測試：100VAC/0.1s/0.5mA14絕緣電阻兩兩pin之間打（含外殼）認(rèn)證測試:300VDC60s100MQ產(chǎn)線測試：300VDC/0.1s/10M?15高溫存儲(chǔ)轉(zhuǎn)接頭：部品外觀無損壞；（70土2）C,24H

24、完成后返回常溫停留24小時(shí)以上，進(jìn)行測試連接器：（105土2）C,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上，進(jìn)行測試線纜電氣性能正常16低溫存儲(chǔ)（-40土2）C,120H完成后返回常溫停留24小時(shí)以上，進(jìn)行測試樣品外觀無損壞；線纜電氣性能正常17溫度沖擊米用物箱法，低溫-40C,高溫70C,高低溫各停留不少于20分鐘，最大轉(zhuǎn)換時(shí)間為20秒，10個(gè)循環(huán)。測試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常18鹽霧測試5%NaCl,35C,連續(xù)噴霧48小時(shí)（針對(duì)pin針，uB鐵殼部分應(yīng)可承受至少24H連續(xù)噴霧），噴霧時(shí)接口需斜向下放置，確保鹽霧能進(jìn)入，但問時(shí)不能在接口中形成積水。然后移出進(jìn)行2小時(shí)

25、晾干。試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象。VBUS/GND©始接觸阻抗30mQ,其他pin初始接觸阻抗40mQMax最大，所有Pin環(huán)境測試后LCCFa大增量為10mQ（僅針對(duì)連接器）EIA36419局溫局濕試驗(yàn)溫度（70土2）C，濕度（85土3）%RH進(jìn)行168小時(shí)樣品外觀無損壞；主要考察膠料和線料20交變濕熱2555C,相對(duì)濕度(95±3)%,168小時(shí)測試后，樣品外觀、機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測試測試時(shí)間：7天，產(chǎn)品狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH30C,氣體種類：Cl2:10+/-3ppb,NO

26、2:200+/-50ppb,H2S:10+/-5ppb,SO2:100+/-20ppb試驗(yàn)后，樣品外觀應(yīng)無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象，功能應(yīng)正常。VBUS/GND©始接觸阻抗30mQ,其他pin初始接觸阻抗40mQMax最大，所有Pin環(huán)境測試后LCCFa大增量為10mQ（僅針對(duì)連接器）連接器22耐化學(xué)溶劑測試將家用化學(xué)物品（1.護(hù)手霜；2.防曬乳液；3.口紅；4.化妝粉底；5.驅(qū)蟲凍膠；6.食用油，所用化學(xué)用品型號(hào)線纜、SR殼體不會(huì)有明顯腐蝕、開裂或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)后用水清洗掉家用化學(xué)品再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查2.將以下溶劑（1.汽油；

27、2.酒精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用化學(xué)用品型號(hào)或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上。放置72小時(shí)（汽油放置24小時(shí)）后用水清洗掉溶劑再放置兩個(gè)小時(shí)后檢查23耐UV輻射測試耐UV輻照進(jìn)行1個(gè)循環(huán)為24小時(shí)的測試，具體為在干熱40C下，太陽輻射強(qiáng)度為1120W/m2,保持20小時(shí)，再關(guān)閉太陽輻射源4小時(shí)，試驗(yàn)持續(xù)循環(huán)96小時(shí)24EMC升終端產(chǎn)品USB數(shù)據(jù)線充電線可靠性測試規(guī)范V1.2EMCclassA標(biāo)準(zhǔn)CE/FCC25DifferentialImpedanceThistestensuresthattheD+/D?linesofthecableassemblyhavethep

28、roperimpedance.Fortheentirecableassembly.75ohmsminand105ohmsmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10826PropagationDelayThepurposeofthetestistoverifytheend-to-endpropagationoftheD+/D?linesofthecableassembly.20nsmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364-10327Intra-pairSkewThistestensuresthatthesignalonboththeD+andD?linesofcableassemblyarriveatthereceiveratthesametime.100psmax.400psrisetime(20%-80%).EIA364-103D+/D?PairAttenuationThistestensurestheD+/D?pairofacableas