目視和光學(xué)檢測(cè)VT

1、第十章 目視和光學(xué)檢測(cè) （VT）VT-1    對(duì)大多數(shù)人來(lái)說(shuō)，可見光的典型光譜范圍是：                          （  ）        A、300800 nm &

2、#160;                      B、380770 nm        C、400800 nm               

3、60;        D、250920 nmVT-2    眼睛的哪一部分起著與照相機(jī)照相平面一樣的作用？                      （  ）       

4、; A、視神經(jīng)            B、虹膜            C、角膜            D、視網(wǎng)膜VT-3    什么情況下，表面有漫反射？   

5、                                       （  ）        A、發(fā)現(xiàn)

6、光源反射模糊時(shí)            B、可看到光源有完好反射時(shí)        C、看不到光源有反射時(shí)            D、以上均非VT-4    人眼在距離約310mm（12in）時(shí)的分辨率為：   &

7、#160;                      （  ）        A、0.03 mm (0.001in)             

8、0;  B、0.08 mm (0.003in)            C、0.3  mm (0.010in)                D、 1.3 mm (0.050in)    VT-5    

9、;日常目視檢驗(yàn)，眼睛的觀察距離為：                                  （  ）A、1501520mm         

10、           B、250mm    C、310600mm                        D、600mmVT-6    眼睛相對(duì)于被檢表面垂線的視角

11、應(yīng)：                                  （  ）A、70°           

12、0;B、45°            C、5°            D、不必考慮VT-7    為檢出焊縫中的裂紋，推薦的最低照明條件是：             &#

13、160;            （  ）A、100     Lx            B、200 Lx            C、500Lx   &

14、#160;        D、2000LxVT-8    眼睛對(duì)暗環(huán)境的適應(yīng)狀態(tài)稱為：                                 

15、;         （  ）A、亮視覺            B、立體視覺        C、微光視覺        D、天然色視覺VT-9    人眼視覺的光譜范圍是：

16、                                              （  ）A、靜態(tài)的 

17、;                           B、取決于照明條件    C、波長(zhǎng)短于400 nm時(shí)最大            D、波長(zhǎng)大于750 nm時(shí)最大VT

18、-10    IES是指：                                            

19、60;                 （  ）A、國(guó)際眼睛學(xué)會(huì)                    B、工程科學(xué)研究所    C、照明和視力學(xué)會(huì)  

20、;                  D、照明工程學(xué)會(huì)VT-11    什么情況下，眼睛功能無(wú)異于盲人？                       

21、           （  ）A、黎明黃昏視覺狀態(tài)            B、眼睛在兩觀察點(diǎn)間移動(dòng)時(shí)    C、眼中有淚時(shí)               

22、0;        D、以上均非VT-12    觀察表面狀態(tài)時(shí)，照明角應(yīng)：                                 

23、0;        （  ）A、對(duì)法線偏斜5°45°            B、對(duì)法線偏斜20°60    °    C、對(duì)工件表面偏斜20°45°       

24、0;D、歸工件表面偏斜5°45°VT-13    何謂熒光？                                        

25、                      （  ）A、在暗中發(fā)出的光            B、吸收外來(lái)干涉輻射后所發(fā)出的不同波長(zhǎng)的光        C、吸收

26、外來(lái)干涉輻射后所發(fā)出的相同波長(zhǎng)的光        D、受核轟擊后所發(fā)射的光    VT-14    VT的有效性相關(guān)于什么因素？                          

27、                （  ）A、對(duì)缺陷成因的熟悉程度            B、對(duì)工件使用情況的熟悉程度    C、    欲清洗及環(huán)境因素（溫度、噪聲等）    &#

28、160;   D、以上均是VT-15    檢驗(yàn)飛機(jī)蒙皮時(shí)發(fā)現(xiàn)的枕形畸變通常是由什么造成的？                  （  ）A、將蒙皮附在骨架上的緊固件未對(duì)準(zhǔn)            B、 

29、   蒙皮下腐蝕物擴(kuò)展                C、蒙皮長(zhǎng)時(shí)受拉伸超過(guò)屈服點(diǎn)        D、機(jī)身在作急轉(zhuǎn)彎等動(dòng)作時(shí)產(chǎn)生扭曲        VT-16    怎樣在一對(duì)長(zhǎng)形熒光燈下檢驗(yàn)擠壓加工件的嚴(yán)重軋

30、痕？                  （  ）    A、最好使軋痕方向與熒光燈管平行    B、    最好使軋痕方向與燈管垂直    C、軋痕方向不受兩燈管漫射光的影響     

31、60;  D、用熒光燈照明未必能發(fā)現(xiàn)這種缺陷VT-17    用什么方法可在現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)高溫、高壓管材的蠕變失效？                  （  ）A、遠(yuǎn)紅外掃描技術(shù)              

32、      B、用管道內(nèi)窺鏡在管內(nèi)進(jìn)行掃描    C、熒光滲透檢漏                    D、放大的外形拷貝VT-18    用什么方法可觀察碳鋼焊縫熱影響區(qū)？       

33、             A、酸洗法增強(qiáng)微觀結(jié)構(gòu)可見性        B、高頻超聲顯微觀察法C、著色對(duì)比滲透液                    D、溫敏標(biāo)記陣列VT-19 &

34、#160;  用光干涉圖的檢驗(yàn)方法有：                                             &

35、#160;（  ）    A、全息照相、光學(xué)照相和光學(xué)顯微鏡法        B、剪應(yīng)力照相、望遠(yuǎn)鏡法和衍射成象        C、紋影照相、莫爾條紋成象和光學(xué)顯微鏡法        D、莫爾條紋成象、全息照相和干涉測(cè)量法    無(wú)損檢測(cè)試題5.1 鋼板缺陷的

36、主要分布方向是：(    )A.平行于或基本平行于鋼板表面 B.垂直于鋼板表面C.分布方向無(wú)傾向性 D.以上都可能5.2 鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：(    )A.縱波直探頭 B.表面波探頭C.橫波直探頭 D.聚焦探頭5.3 下面關(guān)于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：(    )A.若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B.無(wú)底波時(shí)，說(shuō)明鋼板無(wú)缺陷C.鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測(cè)定D.鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率5.4 鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當(dāng)水層厚度為15

37、mm時(shí)，則第三次底面回波顯示于(    )A.二次界面回波之前 B.二次界面回波之后C.一次界面回波之前 D.不一定5.5 復(fù)合材料探傷，由于兩介質(zhì)聲阻抗不同，在界面處有回波出現(xiàn)，為了檢第五章   一、是非題5.1 鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。 (    )5.2 當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”。 (    )5.3 厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大。 ( &#

38、160;  )5.4 較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說(shuō)明鋼板中缺陷尺寸一定很大。 (    )5.5 復(fù)合鋼板探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷。 (    )5.6 直探頭置于非重皮側(cè)的鋼板表面檢測(cè)，容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷。 (    )5.7 小徑管的主要缺陷是平行于管軸的徑向缺陷，一般利用橫波進(jìn)行軸向掃查探測(cè)。(    )5.8 小徑管水浸聚焦法探傷時(shí)，應(yīng)使探頭的焦點(diǎn)落在與聲

39、束軸線垂直的管心線上。    (    )5.9 鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。 (    )5.10 鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性。  (    )5.11 鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無(wú)缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。 (    )5.12 檢測(cè)厚鋼板中的小缺陷時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”。 ( 

40、60;  )是非題答案5.1 × 5.2 × 5.3 5.4 × 5.5 5.6 × 5.7 × 5.8 5.9 5.10 ×5.11 5.12   4.1 何謂耦合劑?簡(jiǎn)述影響耦合的因素有哪些?4.2 什么叫探傷靈敏度?常用的調(diào)節(jié)探傷靈敏度的方法有幾種?4.3 何謂缺陷定量?簡(jiǎn)述缺陷定量方法有幾種?4.4 什么是當(dāng)量尺寸?缺陷的當(dāng)量定量法有幾種?4.5 什么是缺陷的指示長(zhǎng)度?測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度的方法分為哪兩大類?4.6 超聲波探傷的分辨力與哪些因素有關(guān)?4.7 怎樣選擇超聲波探傷的頻率?4.8

41、超聲波探傷時(shí)，缺陷狀況對(duì)回波高度有哪些影響?4.9 怎樣選擇超聲波探傷的探頭?4.10 試比較橫波探傷幾種缺陷長(zhǎng)度測(cè)定方法的特點(diǎn)。4.11 分析缺陷性質(zhì)的基本原則是什么?4.12 什么是遲到波?遲到波是怎樣產(chǎn)生的?遲到波有何特點(diǎn)?4.13 什么是三角反射波?三角反射波有何特點(diǎn)?4.14 超聲波探傷中常見非缺陷信號(hào)回波有哪幾種?如何鑒別缺陷回波和非缺陷回波?問(wèn)答題參考答案4.1答：在探頭與工件表面之間施加的一層透聲介質(zhì)，稱為耦合劑。影響聲耦合的主要因素有：（1）耦合層厚度：厚度為/4的奇數(shù)倍時(shí)，透聲效果差。厚度為/2的整數(shù)倍或很薄時(shí)，透聲效果好,反射回波高。（2）表面粗糙度：一般要求工件表面粗糙

42、度不大于6.3µm。表面粗糙耦合效果差，表面光潔耦合效果好。（3）耦合劑聲阻抗：對(duì)于同一探測(cè)面,耦合劑聲阻抗大，耦合效果好。（4）工件表面形狀：平面耦合效果最好，凸曲面次之, 凹曲面最差。不同曲率半徑耦合效果也不相同，曲率半徑大，耦合效果好。4.2答：探傷靈敏度是指在確定的探測(cè)范圍的最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時(shí)也稱為起始靈敏度或評(píng)定靈敏度。通常以標(biāo)準(zhǔn)反射體的當(dāng)量尺寸表示。實(shí)際探傷中，常常將靈敏度適當(dāng)提高，后者則稱為搜索靈敏度或掃查靈敏度。調(diào)節(jié)探傷靈敏度常用的方法有試塊調(diào)節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標(biāo)準(zhǔn)反射體調(diào)節(jié)和以試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào)節(jié)法包括

43、計(jì)算法、AVG曲線法、底面回波高度法等多種方式。4.3答：超聲波探傷中，確定工件中缺陷的大小和數(shù)量，稱為缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面積和長(zhǎng)度。缺陷的定量方法很多，常用的有當(dāng)量法、底波高度法和測(cè)長(zhǎng)法。4.4答：將工件中自然缺陷的回波與同聲程的某種標(biāo)準(zhǔn)反射體的回波進(jìn)行比較，兩者的回波等高時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)反射體的尺寸就是該自然缺陷的當(dāng)量尺寸。當(dāng)量?jī)H表示反射體對(duì)聲波的反射能力相當(dāng)，并非尺寸相等。當(dāng)量法包括：（1）當(dāng)量試塊比較法：將工件中的自然缺陷回波與試塊上人工缺陷回波作比較對(duì)缺陷定量的方法。（2）當(dāng)量計(jì)算法：利用規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來(lái)確定缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。（3）當(dāng)量AVG曲線法：利

44、用通用AVG曲線或?qū)嵱肁VG曲線確定缺陷當(dāng)量尺寸的方法。4.5答：按規(guī)定的靈敏度基準(zhǔn)，根據(jù)探頭移動(dòng)距離測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度的方法分為相對(duì)靈敏度法、絕對(duì)靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。（1）相對(duì)靈敏度法：是以缺陷最高回波為相對(duì)基準(zhǔn)，沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降低一定的dB值的探頭位置作為缺陷邊界來(lái)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度的方法。（2）絕對(duì)靈敏度法：是沿缺陷長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭，以缺陷波幅降到規(guī)定的測(cè)長(zhǎng)靈敏度的探頭位置作為缺陷邊界來(lái)測(cè)定長(zhǎng)度的方法。（3）端點(diǎn)峰值法：是缺陷反射波峰起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),以缺陷兩端反射波極大值處的探頭位置作為缺陷邊界來(lái)測(cè)定長(zhǎng)度的方法。4.6答：超聲波探傷

45、分辨力可分為近場(chǎng)分辨力(盲區(qū))、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力、縱向分辨力、橫向分辨力。近場(chǎng)分辨力主要取決于始脈沖占寬和儀器阻塞效應(yīng)。縱向分辨力主要取決于脈沖寬度及探測(cè)靈敏度。橫向分辨力主要取決于聲束擴(kuò)散角、探測(cè)靈敏度、測(cè)試方法等。4.7答：超聲頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高、波長(zhǎng)短、聲束窄、擴(kuò)散角小，能量集中，因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，分辨力高，缺陷定位準(zhǔn)確；但缺點(diǎn)是在材料中衰減大，穿透能力差，對(duì)細(xì)晶粒材料，如鍛件、焊縫等，常用頻率為2.55MHz，只有在對(duì)很薄工件探傷，并對(duì)小缺陷檢出要求很高時(shí)，才使用10MHz頻率。對(duì)粗晶材料，為減少晶界反射，避免林狀回波，增大穿透能力，常使用低頻。另外，當(dāng)

46、試件表面粗糙度較大時(shí)，選擇低頻有助減少耦合時(shí)的側(cè)向散射。一般對(duì)鑄鋼、奧氏體不銹鋼焊縫，可采用0.51MHZ的頻率，對(duì)鑄鐵、非金屬材料，甚至使用幾十千Hz的低頻。4.8答：缺陷回波高度受缺陷的形狀、方位、大小、性質(zhì)等因素的影響。（1）形狀的影響：工作中實(shí)際缺陷的形狀是各種各樣的，通?？珊?jiǎn)化為圓片形、球形、圓柱形三種，回波高度H是缺陷直徑()、缺陷到聲源的距離x、波長(zhǎng)的函數(shù)；（2）方位的影響：聲波垂直入射到缺陷表面時(shí)，反射波最高，當(dāng)聲束與缺陷表面不垂直時(shí)，回波隨傾角的增大而急劇下降。例如，對(duì)光滑反射面，傾角2.5°時(shí)，波高降至垂直入射的1/10；傾角為12°時(shí)，波高降為1/10

47、00缺陷已不能檢出。（3）表面粗糙度的影響：缺陷表面凹凸1/3時(shí)，可認(rèn)為缺陷是光滑平面，當(dāng)表面凹凸度1/3時(shí)，是粗糙平面；垂直入射時(shí)，聲束被散亂反射，產(chǎn)生干涉，回波高度隨粗糙度增大而下降；傾斜入射時(shí)，缺陷回波隨粗糙度增大而增高；當(dāng)凹凸度接近波長(zhǎng)時(shí)，即使傾角較大，也能接受到一定高度的回波。（4）缺陷回波指向性的影響：當(dāng)缺陷直徑為波長(zhǎng)的3倍時(shí)，反射波具有較好的指向性，隨缺陷直徑的減小，指向性變差。當(dāng)缺陷直徑小于1/2時(shí)，反射波能量呈球形分布，強(qiáng)度降低，此時(shí)垂直入射和傾斜入射的反射特性大致相同。當(dāng)缺陷直徑大于3時(shí)，可視為鏡面反射，當(dāng)入射傾角大時(shí)就不易接收到缺陷回波。（5）缺陷性質(zhì)的影響：通常含氣體的

48、缺陷，如鋼中的白點(diǎn)、氣孔、裂紋、未焊透等，其界面聲阻抗差很大，可近似認(rèn)為聲波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金屬夾雜物的缺陷，界面聲阻抗差異小，透過(guò)部分聲能，反射回波相應(yīng)降低。4.9答：超聲波探頭種類很多，性能各異，應(yīng)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象，合理選擇探頭。（1）頻率選擇：對(duì)大厚工件、粗晶材料或探測(cè)表面粗糙的工件，應(yīng)選擇較低頻率；對(duì)薄工件、細(xì)晶粒材料或?qū)π∪毕輽z出要求高時(shí)，應(yīng)選擇較高頻率。應(yīng)注意的是：裂紋等面狀缺陷，有顯著的反射指向性，如果超聲波不是近似于垂直入射，在探頭方向上就不會(huì)產(chǎn)生足夠大的回波，頻率越高，這種現(xiàn)象越顯著，所以應(yīng)避免使用不必要的高頻。一般來(lái)說(shuō)，頻率上限由衰減和草狀回波信噪比決定，

49、下限由檢出靈敏度、脈沖寬度和指向性決定。（2）晶片尺寸選擇：晶片尺寸大，發(fā)射能量大，擴(kuò)散角小，遠(yuǎn)距離探測(cè)靈敏度高，適用于大型工件探傷；晶片尺寸小，近距離范圍聲束窄，有利于缺陷定位，對(duì)凹凸度大曲率半徑小的工件，宜采用尺寸較小的探頭。（3）探頭角度選擇：角度選擇原則是，盡量使聲束相對(duì)于缺陷垂直入射。鋼板、鍛件內(nèi)缺陷多平行于表面，常選用直探頭。焊縫中危險(xiǎn)性缺陷多垂直于表面，常選用斜探頭。（4）特殊探頭選擇：a.探測(cè)平行于探測(cè)面的近表面缺陷用雙晶直探頭。b.探測(cè)薄壁管焊縫根部缺陷用雙晶斜探頭。c.探測(cè)管材、棒材用水浸聚焦探頭。d.探測(cè)薄板(6mm)用板波探頭。e.用延時(shí)法檢測(cè)表面裂紋深度用表面波探頭。

50、f.探測(cè)奧氏體不銹鋼焊縫用縱波斜探頭。g.探測(cè)角焊縫近表面缺陷和層狀撕裂用爬波探頭。h.為實(shí)現(xiàn)聲能集中，有利于缺陷定位，用點(diǎn)聚焦或線聚焦探頭。4.10答：橫波探傷常用的測(cè)長(zhǎng)方法有絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法和相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法，后者包括6dB法、端點(diǎn)6dB法和20dB法等。應(yīng)用范圍和特點(diǎn)如下：（1）對(duì)小于聲束橫截面的缺陷，宜采用當(dāng)量法定量，如采用測(cè)長(zhǎng)法，所得結(jié)果一般比缺陷實(shí)際尺寸偏大。（2）對(duì)缺陷回波波高包絡(luò)線只是一個(gè)極大值的缺陷，應(yīng)采用6dB法定量。（3）對(duì)缺陷回波波高包絡(luò)線有數(shù)個(gè)極大值的缺陷，可采用端點(diǎn)6dB法。（4）對(duì)條形氣孔、未焊透等缺陷，6dB法和端點(diǎn)6dB法測(cè)得結(jié)果較為準(zhǔn)確；對(duì)裂紋，未熔合等細(xì)長(zhǎng)

51、條狀缺陷，6dB法和端點(diǎn)6dB法測(cè)得結(jié)果往往比實(shí)際尺寸偏小，此時(shí)可考慮采用絕對(duì)靈敏度法。（5）20dB法測(cè)量準(zhǔn)確性與其他方法不相上下，但使用時(shí)需進(jìn)行聲場(chǎng)尺寸修正，比較麻煩。4.11答：缺陷定性在實(shí)際工作中常常是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)結(jié)合工件的加工工藝、缺陷特征、缺陷波形和底波情況來(lái)分析缺陷的性質(zhì)。（1）根據(jù)加工工藝分析：工件中可形成的各種缺陷與加工工藝密切相關(guān)，在探傷前應(yīng)查閱有關(guān)工件的圖紙和資料，了解工件中的材料、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、幾何尺寸和加工工藝，這對(duì)于正確判定缺陷的性質(zhì)是十分有益的。（2）根據(jù)缺陷特征分析：缺陷特征是指缺陷的形狀、大小和密集程度。在不同方向上探測(cè)平面形、立體形、點(diǎn)狀及密集形缺陷，其缺陷回波的高

52、度及缺陷波的密集程度會(huì)發(fā)生不同的變化。（3）根據(jù)缺陷波形分析：缺陷波形分為靜態(tài)和動(dòng)態(tài)波形兩大類，靜態(tài)波形是指探頭不動(dòng)時(shí)缺陷波的高度、形狀和密集程度。動(dòng)態(tài)波形是指探頭在探測(cè)面上的移動(dòng)過(guò)程中，缺陷波的變化情況。（4）根據(jù)底波分析：工件內(nèi)存在不同缺陷時(shí)，超聲波被缺陷反射，使到達(dá)底面的聲能減少，底波高度降低，甚至消失，不同性質(zhì)的缺陷，反射面不同，底波高度也不一樣，因此在某些情況下，可以利用底波情況來(lái)分析缺陷的性質(zhì)。4.12答：當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)(或扁長(zhǎng))工件或試塊上時(shí)，擴(kuò)散縱波波束在側(cè)壁產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換為橫波，此橫波在另一側(cè)又轉(zhuǎn)換為縱波，最后經(jīng)底面反射回到探頭，被探頭接收，從而在示波屏上出現(xiàn)一個(gè)回

53、波，由于轉(zhuǎn)換橫波聲程長(zhǎng)、波速小、傳播時(shí)間較直接從底面反射的縱波長(zhǎng)，因此轉(zhuǎn)換后的波總出現(xiàn)在第一次底波B1之后，故稱為遲到波，又由于變型橫波可能在兩側(cè)壁產(chǎn)生多次反射，每反射一次就會(huì)出現(xiàn)一個(gè)遲到波，因此遲到波往往有很多個(gè)。由于遲到波總是位于B1之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此遲到波不會(huì)干擾缺陷波的判別。4.13答：當(dāng)縱波直探頭徑向探測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí)，由于探頭平面與柱面接觸面積小，使波束擴(kuò)散角增加，這樣擴(kuò)散波束就會(huì)在圓柱面上形成三角反射路徑，從而在示波屏上出現(xiàn)三角反射波，這種反射稱為三角反射。三角反射有不發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等邊三角形反射和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換的等腰三角形反射，其反射波總是位于第一次

54、底波B1之后，位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此三角反射波也不會(huì)干擾缺陷波的判別4.14答：超聲波探傷中，常見的非缺陷回波有始波、底波、遲到波、61°反射、三角反射，還可能有探頭雜波、工件輪廊回波，耦合劑反射波、幻象波、草狀回波及其它一些非缺陷回波。在超聲波探傷過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)各種各樣的非缺陷回波，干擾對(duì)缺陷波的判別，探傷人員應(yīng)注意用超聲波反射、折射和波型轉(zhuǎn)換理論，并計(jì)算相應(yīng)回波的聲程來(lái)分析判別示波屏上可能出現(xiàn)的各種非缺陷回波，從而達(dá)到正確探傷的目的，此外還可采用更換探頭來(lái)鑒別探頭雜波，用手指沾油觸摸法來(lái)鑒別輪廊界面回波。Re:超聲波4.1 采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度

55、?(    )A.直探頭探傷法 B.脈沖反射法C.斜探頭探傷法 D.穿透法4.2 超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用(    )A.較低頻探頭 B.較粘的耦合劑C.軟保護(hù)膜探頭 D.以上都對(duì)4.3 超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是(    )A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失 B.可減少材質(zhì)衰減損失C.輻射聲能大且能量集中 D.以上全部4.4 探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于(    )A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B.區(qū)分開相鄰的缺陷C

56、.改善聲束指向性 D.以上全部超聲波4.5 工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說(shuō)法中，哪點(diǎn)是正確的(    )A.平面效果最好 B.凹曲面效果居中C.凸曲面效果最差 D.以上全部4.6 缺陷反射聲能的大小，取決于(    )A.缺陷的尺寸 B.缺陷的類型C.缺陷的形狀和取向 D.以上全部4.7 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是： (    )A.反射波高隨粗糙度的增大而增加 B.無(wú)影響C.反射波高隨粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都

57、可能4.8 如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為，為使透聲效果好，耦合層厚度為(    )A./4的奇數(shù)倍 B./2整數(shù)倍C.小于/4且很薄 D.以上B和C4.9 表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表(    )A.缺陷深度 B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程 D.以上都可以4.10 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度11調(diào)掃描，下面哪種說(shuō)法正確(    )?A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際孤長(zhǎng)C.顯示值與實(shí)際值之差

58、，隨顯示值的增加而減小D.以上都正確4.11 采用底波高度法(F/B百分比法)對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說(shuō)法正確(    )?A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同 B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適用于對(duì)尺寸較小的缺陷定量 D.適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12 在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：(    )A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?B.橫波探傷雜波少C.橫波波長(zhǎng)短 D.橫波指向性好4.13 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：(  

59、  )MHz B.2.5MHz C.5MHz D.10MHz4.14 在用5MHz10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm，此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有：(    )A.10.7mm B.1.4mm C.16.3mm D.以上都不對(duì)4.15 使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：(    )A.小于實(shí)際尺寸 B.接近聲束寬度C.稍大于實(shí)際尺寸 D.等于晶片尺寸4.16 端點(diǎn)衍射波主要用于測(cè)定：(    )A.缺陷的長(zhǎng)度 B.缺陷

60、的性質(zhì)C.缺陷的位置 D.缺陷的高度4.17 從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過(guò)下列方法來(lái)進(jìn)行：(    )A.精確對(duì)缺陷定位 B.精確測(cè)定缺陷形狀C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形 D.以上方法須同時(shí)使用4.18 單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：(    )A.來(lái)自工件表面的雜波 B.來(lái)自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲4.19 確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：(    )A.脈沖波

61、峰 B.脈沖前沿C.脈沖后沿 D.以上都可以4.20 用實(shí)測(cè)折射角71°的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：(    )A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm4.21 用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓孤面時(shí)，示波屏上的回波位置(聲程調(diào)試)應(yīng)在：(    )4.22 能使K2斜探頭得到圖示深度11調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為(    )A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm題4.22圖4.

62、23 在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?(    )A.水平定位法 B.深度定位法C.聲程定位法 D.一次波法4.24 在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?(    )A.水平定位法 B.深度定位法C.聲程定位法 D.二次波法4.25 對(duì)圓柱形筒體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng)：(    )A.按平板對(duì)接焊縫方法 B.作曲面定位修正C.使用特殊探頭 D.視具體情況而定采用各種方法4.26 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)(r,R為筒體的內(nèi)、外半徑)

63、 ，斜探頭（為折射角）的臨界角應(yīng)滿足：(  A  )A.                         B. C.  D. 4.27 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.2

64、8 在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)：(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.29 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.30 在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.31 為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用( 

65、60;  )A.小K值探頭 B.大K值探頭C.軟保護(hù)膜探頭 D.高頻探頭4.32 在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：(    )A.側(cè)面反射波帶來(lái)干涉 B.探頭太大，無(wú)法移至邊緣C.頻率太高 D.以上都不是4.33 用斜探頭檢測(cè)厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：(    )A.提高探頭聲束指向性 B.校準(zhǔn)儀器掃描線性C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度 D.以上都對(duì)4.34 當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：(    )A.一定大 B.不一

66、定大C.一定不大 D.等于當(dāng)量尺寸4.35 當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：(    )A.一定小 B.不一定小C.一定不小 D.等于當(dāng)量尺寸4.36 在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：(    )A.大 B.小 C.無(wú)影響 D.不一定4.37 當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：(    )A.大 B.小 C.無(wú)影響 D.不一定4.38 焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高：(

67、60;   )A.探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B.裂紋表面不光潔對(duì)回波強(qiáng)度影響越大C.雜波太多D.AB都對(duì)4.39 厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165 ，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：(    )A.底面回波 B.底面二次回波C.缺陷回波 D.遲到回波4.40 直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行會(huì)產(chǎn)生：(    )A.底面回波降低或消失 B.底面回波正常C.底面回波變寬 D.底面回波變窄4.41 直探頭探測(cè)厚100m

68、m和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差為5dB，材質(zhì)衰減均為0.01dB/mm(雙程)，今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：(    )A.40% B.20% C.10% D.5%4.42 厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400/2靈敏度分別進(jìn)行探測(cè)，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：(    )A.兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同 B.材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C.材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小 D.以上都不對(duì)4.43 在

69、脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在?(    )A.缺陷回波 B.底波或參考回波的減弱或消失C.接收探頭接收到的能量的減弱 D.AB都對(duì)4.44 在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：(    )A.耦合不良 B.存在與聲束不垂直的平面缺陷C.存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷 D.以上都是4.45 在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：(    )A.與表面成較大角度的平面缺陷 B.反射條件很差的密集缺陷C.AB都對(duì) D.AB都不對(duì)4.

70、46 影響直接接觸法耦合損耗的原因有：(    )A.耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗B.探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗C.工件被探測(cè)面材料聲阻抗D.以上都對(duì)4.47 被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：(    )A.草狀回波增多； B.信噪比下降；C.底波次數(shù)減少； D.以上全部。4.48 為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗,通常采用以下方法：(    )A.使用高聲阻抗耦合劑 B.使用軟保護(hù)膜探頭C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸 D.以上都可以4.49 在平整光潔表面上

71、作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：(    )A.雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B.脈沖窄，探測(cè)靈敏度高C.探頭與儀器匹配較好D.以上都對(duì)4.50 應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：(    )A.作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B.為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D.提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51 下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：(   

72、0;)A.平底孔B.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽C.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔D.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口4.52 測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：(    )A.聲束擴(kuò)散損失 B.耦合損耗C.工件幾何形狀影響 D.以上都是4.53 沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程x的計(jì)算公式是：(    )A.   B.  C.   D.  4.54 換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：(   

73、; ) A.橫向分辨力降低 B.聲束擴(kuò)散角增大C.近場(chǎng)區(qū)增大 D.指向性變鈍4.55 在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋?    )A.只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B.只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C.只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D.人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)4.56 考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵?    )A.被檢工件厚度太大 B.工件底面與探測(cè)面不平行C.耦合劑有較大聲能損耗

74、D.工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異4.57 探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：(    )A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑 B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑 D.以上都不是4.58 超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：(    )A.波長(zhǎng)的一半 B.一個(gè)波長(zhǎng)C.四分之一波長(zhǎng) D.若干個(gè)波長(zhǎng)4.59 與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：(    )A.單斜探頭法 B.單直探頭法C.雙斜探頭前后串列法 D.分割式雙直探頭法4.60 探

75、測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高。(    )A.與探測(cè)面平行的大平底面B.R200的凹圓柱底面C.R200的凹球底面D.R200的凸圓柱底面4.61 鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于(    )A.工件中有大面積傾斜缺陷 B.工件材料晶粒粗大C.工件中有密集缺陷 D.以上全部4.62  直徑為d的鋼棒徑向探傷時(shí)，遲到波出現(xiàn)的位置是（  C  ）d和1.76d   

76、;  B.1.67d和1.76dC.1.3d和1.67d     D.以上都不是4.63 下面有關(guān)61°反射波的說(shuō)法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的?(    )A.產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角與橫波反射角之和為90°B.產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角為61°橫波反射角為29°C.產(chǎn)生61°反射時(shí)，橫波入射角為29°，縱波反射角為61°D.產(chǎn)生61°反射時(shí)，其聲程是恒定的4.64 長(zhǎng)軸類鍛件從端面作軸向探測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺

77、陷回波是(    )A.三角反射波 B.61°反射波C.輪廓回波 D.遲到波4.65 方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是(    )A.平行且靠近探測(cè)面 B.與聲束方向平行C.與探測(cè)面成較大角度 D.平行且靠近底面4.66 缺陷反射聲壓的大小取決于：(    )A.缺陷反射面大小 B.缺陷性質(zhì)C.缺陷取向 D.以上全部選擇題答案4.1 D 4.2 D 4.3 C 4.4 D 4.5 A4.6 D 4.7 C

78、4.8 D 4.9 B 4.10 A4.11 B 4.12 C 4.13 A 4.14 C 4.15 B4.16 D 4.17 D 4.18 B 4.19 B 4.20 D4.21 B 4.22 C 4.23 B 4.24 A 4.25 A4.26 B 4.27 B 4.28 A 4.29 A 4.30 B4.31 B 4.32 A 4.33 D 4.34 A 4.35 B4.36 B 4.37 B 4.38 D 4.39 C 4.40 A4.41 C 4.42 B 4.43 D 4.44 D 4.45 C4.46 D 4.47 D 4.48 D 4.49 B 4.50 A4.51 C 4.5

79、2 D 4.53 D 4.54 C 4.55 D4.56 D 4.57 C 4.58 A 4.59 C 4.60 C4.61 B 4.62 C 4.63 C 4.64 D 4.65 C4.66 D4.1 采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度?(    )A.直探頭探傷法 B.脈沖反射法C.斜探頭探傷法 D.穿透法4.2 超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用(    )A.較低頻探頭 B.較粘的耦合劑C.軟保護(hù)膜探頭 D.以上都對(duì)4.3 超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是(   

80、 )A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失 B.可減少材質(zhì)衰減損失C.輻射聲能大且能量集中 D.以上全部4.4 探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于(    )A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B.區(qū)分開相鄰的缺陷C.改善聲束指向性 D.以上全部4.5 工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說(shuō)法中，哪點(diǎn)是正確的(    )A.平面效果最好 B.凹曲面效果居中C.凸曲面效果最差 D.以上全部4.6 缺陷反射聲能的大小，取決于(    )A.缺陷的尺寸 B.缺陷的類型C.缺陷的形狀和取向 D.

81、以上全部4.7 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是： (    )A.反射波高隨粗糙度的增大而增加 B.無(wú)影響C.反射波高隨粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都可能4.8 如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為，為使透聲效果好，耦合層厚度為(    )A./4的奇數(shù)倍 B./2整數(shù)倍C.小于/4且很薄 D.以上B和C4.9 表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表(    )A.缺陷深度 B.缺陷至探頭前沿距離C.缺陷聲程 D.以上都可

82、以4.10 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度11調(diào)掃描，下面哪種說(shuō)法正確(    )?A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際孤長(zhǎng)C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D.以上都正確4.11 采用底波高度法(F/B百分比法)對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說(shuō)法正確(    )?A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同 B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適用于對(duì)尺寸較小的缺陷定量 D.適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12 在頻率一定和材料相同情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：(

83、60;   )A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?B.橫波探傷雜波少C.橫波波長(zhǎng)短 D.橫波指向性好4.13 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：(    )MHz B.2.5MHz C.5MHz D.10MHz4.14 在用5MHz10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm，此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有：(    )A.10.7mm B.1.4mm C.16.3mm D.以上都不對(duì)4.15 使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果

84、：(    )A.小于實(shí)際尺寸 B.接近聲束寬度C.稍大于實(shí)際尺寸 D.等于晶片尺寸4.16 端點(diǎn)衍射波主要用于測(cè)定：(    )A.缺陷的長(zhǎng)度 B.缺陷的性質(zhì)C.缺陷的位置 D.缺陷的高度4.17 從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過(guò)下列方法來(lái)進(jìn)行：(    )A.精確對(duì)缺陷定位 B.精確測(cè)定缺陷形狀C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形 D.以上方法須同時(shí)使用4.18 單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：(&#

85、160;   )A.來(lái)自工件表面的雜波 B.來(lái)自探頭的噪聲C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合劑噪聲4.19 確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：(    )A.脈沖波峰 B.脈沖前沿C.脈沖后沿 D.以上都可以4.20 用實(shí)測(cè)折射角71°的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：(    )A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm4.21 用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓孤面時(shí)，示波屏上的回波位置(聲程調(diào)試)應(yīng)在：(

86、60;   )題4.21圖4.22 能使K2斜探頭得到圖示深度11調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為(    )A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm題4.22圖4.23 在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線?(    )A.水平定位法 B.深度定位法C.聲程定位法 D.一次波法4.27 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)：(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.28 在筒

87、身內(nèi)壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)：(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.29 在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)(    )A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.30 在筒身內(nèi)壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)(    ) A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.32 在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：(   

88、 )A.側(cè)面反射波帶來(lái)干涉 B.探頭太大，無(wú)法移至邊緣C.頻率太高 D.以上都不是4.33 用斜探頭檢測(cè)厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：(    )A.提高探頭聲束指向性 B.校準(zhǔn)儀器掃描線性C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度 D.以上都對(duì)4.34 當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：(    )A.一定大 B.不一定大C.一定不大 D.等于當(dāng)量尺寸4.35 當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：(    )A.一定小 B.不一定小C.一定不小 D.等于當(dāng)量尺寸4.36 在超聲探傷時(shí)，

89、如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷表面越平滑反射回波越：(    )A.大 B.小 C.無(wú)影響 D.不一定4.37 當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：(    )A.大 B.小 C.無(wú)影響 D.不一定4.38 焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高：(    )A.探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B.裂紋表面不光潔對(duì)回波強(qiáng)度影響越大C.雜波太多D.AB都對(duì)4.39 厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為165 ，若縱波在鋁中聲速為6300m/s則此回波是：(    )A.底面回波 B.底面二次回波C.缺陷回波 D.遲到回波4.40 直探頭縱波探