第9章厚度與寬度測量

1、第9章厚度與寬度測量9.1 9.1 板帶寬度測量板帶寬度測量 板帶寬度通常是在帶鋼連軋機(jī)粗軋機(jī)組和精軋機(jī)組的末架軋機(jī)出口側(cè)板帶寬度通常是在帶鋼連軋機(jī)粗軋機(jī)組和精軋機(jī)組的末架軋機(jī)出口側(cè)安裝光電測寬儀。它通過光學(xué)系統(tǒng)對運動著的帶鋼寬度和帶鋼對于工作輥安裝光電測寬儀。它通過光學(xué)系統(tǒng)對運動著的帶鋼寬度和帶鋼對于工作輥的橫向位移進(jìn)行非接觸、連續(xù)地測量，并指示和記錄其偏差值，同時向計的橫向位移進(jìn)行非接觸、連續(xù)地測量，并指示和記錄其偏差值，同時向計算機(jī)送出測量信號。算機(jī)送出測量信號。 熱軋帶鋼車間使用光電測寬儀，冷軋車間使用伺服式冷軋測寬儀和熱軋帶鋼車間使用光電測寬儀，冷軋車間使用伺服式冷軋測寬儀和CCD測

2、寬儀。測寬儀。 光電測寬儀有兩種光電測寬儀有兩種，一種是帶鋼溫度較高，一種是帶鋼溫度較高( (約約900 900 以上以上) )的情況。的情況。如粗軋時，使用在長波區(qū)域具有光譜靈敏度的光電倍增管，直接利用如粗軋時，使用在長波區(qū)域具有光譜靈敏度的光電倍增管，直接利用從被測物體射來的紅外線進(jìn)行寬度測量。另一種是帶鋼溫度較低的情從被測物體射來的紅外線進(jìn)行寬度測量。另一種是帶鋼溫度較低的情況。如精軋時，因帶鋼薄，其邊緣附近的溫度顯著下降則放置光源，況。如精軋時，因帶鋼薄，其邊緣附近的溫度顯著下降則放置光源，由帶鋼的影子來測量。由帶鋼的影子來測量。 一、光電測寬儀一、光電測寬儀圖圖9-1 9-1 光電測

3、寬儀的原理光電測寬儀的原理1-1-光電管；光電管；2-2-左側(cè)掃描器；左側(cè)掃描器；3-3-右側(cè)掃描器；右側(cè)掃描器；4-4-下部光源下部光源5-5-帶鋼；帶鋼；6-6-自整角機(jī)；自整角機(jī)；7-7-標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)寬度給定；寬度給定；8-8-測定部分測定部分( (放大、檢波、調(diào)放大、檢波、調(diào)制制) )；9-9-寬度指示儀；寬度指示儀；10-10-偏差指示儀：偏差指示儀：11-11-電動機(jī)電動機(jī)圖圖9-29-2掃描器工作原理圖掃描器工作原理圖圖圖9-3 9-3 矩形脈沖波矩形脈沖波 工作原理如圖工作原理如圖9-19-1所示所示。測量時先把兩個掃描器之間的距離按帶鋼的規(guī)。測量時先把兩個掃描器之間的距離按帶鋼的

4、規(guī)格來給定。在帶鋼放置下部光源發(fā)出的光線通過窄縫到達(dá)光電倍增管，使格來給定。在帶鋼放置下部光源發(fā)出的光線通過窄縫到達(dá)光電倍增管，使其產(chǎn)生光電流，當(dāng)窄縫作恒速轉(zhuǎn)動時在光電倍增管上將獲得一個矩形的脈其產(chǎn)生光電流，當(dāng)窄縫作恒速轉(zhuǎn)動時在光電倍增管上將獲得一個矩形的脈沖波如圖沖波如圖7-37-3所示。這樣，光電倍增管的輸出矩形波的寬度的變化，就所示。這樣，光電倍增管的輸出矩形波的寬度的變化，就反映了帶鋼的寬度變化。反映了帶鋼的寬度變化。 帶鋼的寬度測量：用加法器把兩側(cè)獲得的直流電壓相加，當(dāng)被測帶鋼帶鋼的寬度測量：用加法器把兩側(cè)獲得的直流電壓相加，當(dāng)被測帶鋼的寬度等于給定值時，加法器輸出為零。表示帶鋼的寬

5、度與給定值的偏差的寬度等于給定值時，加法器輸出為零。表示帶鋼的寬度與給定值的偏差值為零。若此時發(fā)生橫向平移則一側(cè)的掃描器的像的明區(qū)加大值為零。若此時發(fā)生橫向平移則一側(cè)的掃描器的像的明區(qū)加大( (輸出電輸出電壓加大壓加大) )，而另一側(cè)的暗區(qū)加大，而另一側(cè)的暗區(qū)加大( (輸出電壓減小輸出電壓減小) )。因此加法器相加后相互。因此加法器相加后相互抵消而使偏差值輸出電壓不變。抵消而使偏差值輸出電壓不變。 帶鋼心線與軋機(jī)中心線之間的橫向平移量測量：在控制器中設(shè)有一減帶鋼心線與軋機(jī)中心線之間的橫向平移量測量：在控制器中設(shè)有一減法器，把兩側(cè)的掃描器所獲得的電壓相減，其差值反映了帶鋼心線與軋機(jī)法器，把兩側(cè)的

6、掃描器所獲得的電壓相減，其差值反映了帶鋼心線與軋機(jī)中心線之間的橫向平移量的大小。如果帶鋼中心線與軋機(jī)中心線不重合，中心線之間的橫向平移量的大小。如果帶鋼中心線與軋機(jī)中心線不重合，兩側(cè)的掃描器將有不相等的輸出電壓則相減的結(jié)果不為零。此時輸出的兩側(cè)的掃描器將有不相等的輸出電壓則相減的結(jié)果不為零。此時輸出的信號稱為橫向平移量，用指示儀表的信號稱為橫向平移量，用指示儀表的+ +，- -來表示帶鋼的平移方向。來表示帶鋼的平移方向。二、二、 線型線型CCDCCD測寬儀測寬儀 線型線型CCDCCD測寬儀與光電測寬儀的原理相同，但測寬儀與光電測寬儀的原理相同，但CCDCCD圖像傳感器本身圖像傳感器本身是線狀分

7、布。因此與光電測寬儀相比，該傳感器的特點是不使用移動是線狀分布。因此與光電測寬儀相比，該傳感器的特點是不使用移動機(jī)械。機(jī)械。圖圖9-59-5板材寬度測定示意圖板材寬度測定示意圖圖9-4 CCD單元結(jié)構(gòu)9.29.2板帶厚度測量板帶厚度測量厚度測量有厚度測量有間接測厚和直接測厚兩種方式間接測厚和直接測厚兩種方式。間接測厚的方法有間接測厚的方法有：工作輥開口度測量法、軋制力測量法、軸承座位移測：工作輥開口度測量法、軋制力測量法、軸承座位移測量法和軋輥位移測量法等。量法和軋輥位移測量法等。直接測厚按測量頭與被測材料之間的關(guān)系，可分為接觸式測厚儀和非接觸直接測厚按測量頭與被測材料之間的關(guān)系，可分為接觸式

8、測厚儀和非接觸式測厚儀式測厚儀非接觸式測厚儀的種類很多，目前，在軋制生產(chǎn)中比較常用和成熟的是核非接觸式測厚儀的種類很多，目前，在軋制生產(chǎn)中比較常用和成熟的是核輻射線測厚儀和輻射線測厚儀和x x射線測厚儀，它們統(tǒng)稱射線測厚儀。此外還有：激光測射線測厚儀，它們統(tǒng)稱射線測厚儀。此外還有：激光測厚儀、微波測厚儀、渦流測厚儀、光學(xué)測厚儀、氣動測厚儀以及紅外線測厚儀、微波測厚儀、渦流測厚儀、光學(xué)測厚儀、氣動測厚儀以及紅外線測厚儀等。厚儀等。射線測厚儀主要特點：射線測厚儀主要特點： (1)(1)可進(jìn)行連續(xù)和不接觸地測量；可進(jìn)行連續(xù)和不接觸地測量； (2)(2)測量精度較高；測量精度較高； (3)(3)反應(yīng)速

9、度較快：反應(yīng)速度較快： (4)(4)能夠給出供顯示、記錄與控制的電信號。能夠給出供顯示、記錄與控制的電信號。 一、概述一、概述二、射線測厚儀二、射線測厚儀 射線測厚儀按射線源的種類可射線測厚儀按射線源的種類可分為分為x x射線測厚儀與核輻射線測厚儀射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩兩類，而后者又可分為類，而后者又可分為射線測厚儀與射線測厚儀與射線測厚儀。按射線與被測板材的射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式，又可分為穿透式和反射式。作用方式，又可分為穿透式和反射式。1 1、 穿穿透透式測厚儀式測厚儀 穿透式測厚儀的射線源和檢測器分別置于被測帶材的上、下方，其工穿透式測厚儀的射線源和檢測器分別置于被

10、測帶材的上、下方，其工作原理如圖作原理如圖7-67-6所示。當(dāng)射線穿過被測材料時，一部分射線被材料吸收；所示。當(dāng)射線穿過被測材料時，一部分射線被材料吸收；另一部分則透過被測材料進(jìn)入檢測器為檢測器所接受另一部分則透過被測材料進(jìn)入檢測器為檢測器所接受。 圖圖9-6 9-6 穿透式測厚儀原理圖穿透式測厚儀原理圖射線穿透被測材料以后，射線強(qiáng)度的衰減規(guī)律，可用下式表示：射線穿透被測材料以后，射線強(qiáng)度的衰減規(guī)律，可用下式表示：利用檢測器來檢測實透過來的射線，將其轉(zhuǎn)換為電流量，經(jīng)過放大后利用檢測器來檢測實透過來的射線，將其轉(zhuǎn)換為電流量，經(jīng)過放大后用專用儀表指示。用專用儀表指示。按檢測器對射線源的測量方法的不

11、同，穿透式測厚儀可以按檢測器對射線源的測量方法的不同，穿透式測厚儀可以分為直接測量、分為直接測量、比較測量和補(bǔ)償測量三種情況。比較測量和補(bǔ)償測量三種情況。(1)(1)直接測量直接測量直接測量是穿透式測厚儀中最簡單的一種方法，如圖直接測量是穿透式測厚儀中最簡單的一種方法，如圖7676所示。由檢所示。由檢測器檢測出來的信號，通過測量線路進(jìn)行放大、變換與運算之后，再測器檢測出來的信號，通過測量線路進(jìn)行放大、變換與運算之后，再顯示出來。顯示出來。97 97 穿透式測厚儀原理圖穿透式測厚儀原理圖(2)(2)比較測量。比較測量。它需要有兩個檢測器：測量用檢測器用于測量由射線源通過被測帶材吸收以后剩它需要有

12、兩個檢測器：測量用檢測器用于測量由射線源通過被測帶材吸收以后剩余的射線強(qiáng)度，比較用檢測器則是測量由射線源通過補(bǔ)償楔吸收以后而剩余的射余的射線強(qiáng)度，比較用檢測器則是測量由射線源通過補(bǔ)償楔吸收以后而剩余的射線強(qiáng)度。補(bǔ)償楔為一厚度不等的斜面錐體，當(dāng)被測帶材的厚度變化時，則應(yīng)相應(yīng)線強(qiáng)度。補(bǔ)償楔為一厚度不等的斜面錐體，當(dāng)被測帶材的厚度變化時，則應(yīng)相應(yīng)地改變補(bǔ)償楔的位置，使射線通過補(bǔ)償楔的變化與通過被測帶材的變化相同。這地改變補(bǔ)償楔的位置，使射線通過補(bǔ)償楔的變化與通過被測帶材的變化相同。這種測量用檢測器和比較用的檢測器所測得的信號相等，符號相反，這樣就使得測種測量用檢測器和比較用的檢測器所測得的信號相等，

13、符號相反，這樣就使得測量線路處于平衡狀態(tài)。因此這種測量法和直接測量相比，可以消除或減弱放射量線路處于平衡狀態(tài)。因此這種測量法和直接測量相比，可以消除或減弱放射源不穩(wěn)定性和兩路檢測系統(tǒng)共同不穩(wěn)定因素而引起的零點漂移。缺點是兩路檢測源不穩(wěn)定性和兩路檢測系統(tǒng)共同不穩(wěn)定因素而引起的零點漂移。缺點是兩路檢測系統(tǒng)的特性變化不同將會引起誤差；射線源的不穩(wěn)定雖對零點漂移影響不大，但系統(tǒng)的特性變化不同將會引起誤差；射線源的不穩(wěn)定雖對零點漂移影響不大，但會帶來儀表靈敏度的變化，增大統(tǒng)計誤差。會帶來儀表靈敏度的變化，增大統(tǒng)計誤差。 圖圖9-8 9-8 比較測量原理圖比較測量原理圖(3)(3)補(bǔ)償測量。補(bǔ)償測量。補(bǔ)償

14、測量與比較測量不同的地方是又增加一個射線源，叫輔助射線源。補(bǔ)償測量與比較測量不同的地方是又增加一個射線源，叫輔助射線源。補(bǔ)償測量原理如圖補(bǔ)償測量原理如圖7-87-8所示：主射線源的射線強(qiáng)度通過被測帶材吸收以所示：主射線源的射線強(qiáng)度通過被測帶材吸收以后，為測量用檢測器進(jìn)行測量；輔助射線源的射線強(qiáng)度則通過補(bǔ)償楔后，為測量用檢測器進(jìn)行測量；輔助射線源的射線強(qiáng)度則通過補(bǔ)償楔或基準(zhǔn)板，由補(bǔ)償用檢測器進(jìn)行測量。通過改變補(bǔ)償楔的位置而使得或基準(zhǔn)板，由補(bǔ)償用檢測器進(jìn)行測量。通過改變補(bǔ)償楔的位置而使得由兩個檢測器所得到的檢測信號大小相等，符號相反，從而使測量系由兩個檢測器所得到的檢測信號大小相等，符號相反，從而

15、使測量系統(tǒng)處于平衡狀態(tài)：基準(zhǔn)板是作為?；椿驑?biāo)定儀表時使用：統(tǒng)處于平衡狀態(tài)：基準(zhǔn)板是作為?；椿驑?biāo)定儀表時使用：圖圖9-9 9-9 補(bǔ)償測量原理補(bǔ)償測量原理補(bǔ)償測量法的優(yōu)點，是能夠消補(bǔ)償測量法的優(yōu)點，是能夠消除或減弱由于放射性同位素源除或減弱由于放射性同位素源的衰減及外界環(huán)境使檢測器和的衰減及外界環(huán)境使檢測器和測量系統(tǒng)靈敏度發(fā)生變化而引測量系統(tǒng)靈敏度發(fā)生變化而引起的零點漂移其缺點是各種不起的零點漂移其缺點是各種不穩(wěn)定因素雖不影響零點漂移，穩(wěn)定因素雖不影響零點漂移，但卻會給儀表的靈敏度帶來變但卻會給儀表的靈敏度帶來變化，其統(tǒng)計誤差也較大?；?，其統(tǒng)計誤差也較大。 2 2、反射式測厚儀、反射式測厚儀 反

16、射式測厚儀的射線源和檢測器置于被測材料的同一方，其工作原理反射式測厚儀的射線源和檢測器置于被測材料的同一方，其工作原理如圖如圖7-97-9所示。當(dāng)射線與被測物質(zhì)相互作用，使得其中的一部分射線被反所示。當(dāng)射線與被測物質(zhì)相互作用，使得其中的一部分射線被反向散射而折回，并進(jìn)入檢測器。射入檢測器的反向散射射線強(qiáng)度，與射線向散射而折回，并進(jìn)入檢測器。射入檢測器的反向散射射線強(qiáng)度，與射線源能量及其強(qiáng)度、放射源至被測物質(zhì)之間的距離、被測物質(zhì)的成分、厚度、源能量及其強(qiáng)度、放射源至被測物質(zhì)之間的距離、被測物質(zhì)的成分、厚度、密度以及表面狀態(tài)等因素有關(guān)，因此當(dāng)其他各量確定不變時，檢測到的密度以及表面狀態(tài)等因素有關(guān)，

17、因此當(dāng)其他各量確定不變時，檢測到的反射線強(qiáng)度就僅與厚度量有關(guān)。反射線強(qiáng)度就僅與厚度量有關(guān)。 這種檢測方法適用于不便于采用這種檢測方法適用于不便于采用穿透式測厚儀的場合，用來進(jìn)行單穿透式測厚儀的場合，用來進(jìn)行單面檢測材料厚度、覆蓋層或徐層的面檢測材料厚度、覆蓋層或徐層的厚度。例如，鋼管管壁厚度測量，厚度。例如，鋼管管壁厚度測量，鍍鋅線和鍍錫線上的鍍層厚度檢測鍍鋅線和鍍錫線上的鍍層厚度檢測等等，都廣泛采用反射式測厚儀。等等，都廣泛采用反射式測厚儀。圖圖9-10 9-10 反射式測厚儀原理圖反射式測厚儀原理圖1)1)射線源射線源射線能量最弱，幾乎穿不透一張紙，所以，在軋制生產(chǎn)上不能作為測射線能量最弱

18、，幾乎穿不透一張紙，所以，在軋制生產(chǎn)上不能作為測厚儀的射線源。厚儀的射線源。射線只能穿過厚度為幾十微米至一千微米的帶鋼，故射線只能穿過厚度為幾十微米至一千微米的帶鋼，故射線測厚儀常用于薄帶鋼的測量。射線測厚儀常用于薄帶鋼的測量。 射線源可測到射線源可測到1.21.5mm1.21.5mm的帶的帶鋼，鋼，射線能量較強(qiáng)，可測帶鋼厚度范圍較寬，可測量幾毫米至幾百毫射線能量較強(qiáng)，可測帶鋼厚度范圍較寬，可測量幾毫米至幾百毫米厚的鋼板，適于中厚板厚度的連續(xù)測量。米厚的鋼板，適于中厚板厚度的連續(xù)測量。 x x射線和射線和射線一樣，射線一樣， 均屬電磁波。從產(chǎn)生機(jī)構(gòu)上來說，均屬電磁波。從產(chǎn)生機(jī)構(gòu)上來說， 射線射

19、線是原子核內(nèi)部變化后放后放射出來的射線，而是原子核內(nèi)部變化后放后放射出來的射線，而x x射線則是由原子核外射線則是由原子核外產(chǎn)生的。產(chǎn)生的。x x射線強(qiáng)度的大小可以靠改變加在射線強(qiáng)度的大小可以靠改變加在x x射線管上的高壓電壓來射線管上的高壓電壓來選擇。所以選擇。所以x x射線可以測量厚度較厚的帶鋼，而且射線可以測量厚度較厚的帶鋼，而且x x射線的防射線的防護(hù)問題要比護(hù)問題要比射線簡單得多。射線簡單得多。表表7-1 7-1 穿透式射線測厚儀的一般特征和使用范圍穿透式射線測厚儀的一般特征和使用范圍 2)2)檢測器。在射線測厚儀上用的檢測器，主要有電離室、閃爍計數(shù)器和蓋格檢測器。在射線測厚儀上用的

20、檢測器，主要有電離室、閃爍計數(shù)器和蓋格計數(shù)管。計數(shù)管。電離室：電離室的工作原理如圖電離室：電離室的工作原理如圖9-119-11所示。它是由一對平行板組成的氣體所示。它是由一對平行板組成的氣體電容器，其中充滿氫、氮、空氣等。對電容器兩個極板加上幾百伏的電壓，電容器，其中充滿氫、氮、空氣等。對電容器兩個極板加上幾百伏的電壓，因此在電容器的極板間產(chǎn)生電場：達(dá)時如果有某射線照射兩極板之間的空氣，因此在電容器的極板間產(chǎn)生電場：達(dá)時如果有某射線照射兩極板之間的空氣，將使空氣分子電離，產(chǎn)生正離子和電子。它們在極板間的電場作用下，正離將使空氣分子電離，產(chǎn)生正離子和電子。它們在極板間的電場作用下，正離子趨向負(fù)極

21、。與負(fù)極上的負(fù)電荷中和。而電子趨向正極，與正極上的正電荷子趨向負(fù)極。與負(fù)極上的負(fù)電荷中和。而電子趨向正極，與正極上的正電荷中和。由于正負(fù)極上的正負(fù)電荷被中和因而正負(fù)電荷減少，這時電源上的中和。由于正負(fù)極上的正負(fù)電荷被中和因而正負(fù)電荷減少，這時電源上的正負(fù)電荷就跑去補(bǔ)充，于是在電阻正負(fù)電荷就跑去補(bǔ)充，于是在電阻R R上出現(xiàn)電流，這個電流叫做電離電流。上出現(xiàn)電流，這個電流叫做電離電流。電離室主要用來探測能夠使氣體電離的帶電粒子，電離室主要用來探測能夠使氣體電離的帶電粒子，例如。例如。粒子或粒子或粒子。粒子。光子是不帶電的中性光子是不帶電的中性粒子，不能使氣體電離，因此不能探測。目前采粒子，不能使氣

22、體電離，因此不能探測。目前采用的射線源只有兩種，即用的射線源只有兩種，即射線和射線和射線射線源：射線射線源：電離室主要用于探測電離室主要用于探測粒子。粒子。圖圖9-11 9-11 電離室工作原理電離室工作原理閃爍計數(shù)器。閃爍計數(shù)器由閃光體閃爍計數(shù)器。閃爍計數(shù)器由閃光體( (熒光體熒光體) )、光電倍增管和電子線路組成。、光電倍增管和電子線路組成。其工作原理如圖其工作原理如圖7-127-12所示，當(dāng)射線射到閃爍體時，閃爍體的原子受激發(fā)出閃所示，當(dāng)射線射到閃爍體時，閃爍體的原子受激發(fā)出閃光它透過閃爍體射到光電倍增管的陰極上，使陰極發(fā)出光電子。光電倍增光它透過閃爍體射到光電倍增管的陰極上，使陰極發(fā)出

23、光電子。光電倍增管把這些光電子放大幾十萬倍后，最后在陽極上形成光電流。它通過電阻管把這些光電子放大幾十萬倍后，最后在陽極上形成光電流。它通過電阻R R后，就在后，就在R R上產(chǎn)生電壓降，經(jīng)過放大器放大后作為信號輸出。再通過甄別器、上產(chǎn)生電壓降，經(jīng)過放大器放大后作為信號輸出。再通過甄別器、計數(shù)器記錄下來。計數(shù)器記錄下來。閃爍計數(shù)器不僅能探測閃爍計數(shù)器不僅能探測射線，也能探測各種帶電和不帶電的粒子。它不射線，也能探測各種帶電和不帶電的粒子。它不僅能探測它們的存在，而且能鑒別其能量大小。閃爍計數(shù)器與電離室比較，僅能探測它們的存在，而且能鑒別其能量大小。閃爍計數(shù)器與電離室比較，其特點是效率高和分辨時間

24、短。因此它作為同位素檢測器被廣泛地用于各其特點是效率高和分辨時間短。因此它作為同位素檢測器被廣泛地用于各種檢測儀表中。種檢測儀表中。圖圖9-12 9-12 閃爍計數(shù)器原理圖閃爍計數(shù)器原理圖 蓋格彌勒計數(shù)管。蓋格彌勒計數(shù)管。蓋格蓋格彌勒計數(shù)管的構(gòu)造如圖彌勒計數(shù)管的構(gòu)造如圖9-139-13所示。它有一個圓柱形銅管作成陰極，所示。它有一個圓柱形銅管作成陰極，中間有一根細(xì)鎢絲作為陽極，陰極和陽極被封在玻璃管內(nèi)，管子的兩頭中間有一根細(xì)鎢絲作為陽極，陰極和陽極被封在玻璃管內(nèi)，管子的兩頭為電極引出端。管內(nèi)以情性氣體和少量多原子分子為電極引出端。管內(nèi)以情性氣體和少量多原子分子( (如乙醚、乙醇等如乙醚、乙醇等

25、) )的的蒸汽。蒸汽。 蓋格蓋格彌勒計數(shù)管的工作原理為，在陰極和陽極之間加入一定電壓，彌勒計數(shù)管的工作原理為，在陰極和陽極之間加入一定電壓，則在兩者之間形成一個電場。當(dāng)射線穿入計數(shù)管中引起惰性氣體電離，則在兩者之間形成一個電場。當(dāng)射線穿入計數(shù)管中引起惰性氣體電離，產(chǎn)牛正離子和電子，電子被吸引向中心鎢絲。在正離子到達(dá)陰極時，計產(chǎn)牛正離子和電子，電子被吸引向中心鎢絲。在正離子到達(dá)陰極時，計數(shù)管外電阻數(shù)管外電阻R R上有電流通過形成一個電壓脈沖。上有電流通過形成一個電壓脈沖。蓋格蓋格彌勒計數(shù)管只能用來計數(shù)彌勒計數(shù)管只能用來計數(shù)粒子和粒子和光子。目前都用閃爍計數(shù)光子。目前都用閃爍計數(shù)器來探測器來探測粒

26、子。粒子。圖圖9-13蓋格蓋格-彌勒計數(shù)彌勒計數(shù)管管 (2)(2)射線測厚儀的類型。射線測厚儀的類型。 1)x1)x射線測厚儀。射線測厚儀。x x射線測厚儀都是穿透式的，用來測量板材的厚度。射線測厚儀都是穿透式的，用來測量板材的厚度。它的檢測系統(tǒng)的核心是它的檢測系統(tǒng)的核心是x x射線源與射線源與X X射線檢測器。射線檢測器。 x x射線測厚儀主要由檢測系統(tǒng)、電氣線路及機(jī)械裝置三部分構(gòu)成。射線測厚儀主要由檢測系統(tǒng)、電氣線路及機(jī)械裝置三部分構(gòu)成。 2)2)射線測厚儀。射線測厚儀。射線測厚儀用于檢測薄帶和鍍層厚度。當(dāng)用射線測厚儀用于檢測薄帶和鍍層厚度。當(dāng)用于檢測鍍層厚度時都是反射式的。于檢測鍍層厚度時都是反射式的。 3)3)射線測厚儀。當(dāng)測量的帶鋼厚度較大時，不能采用射線測厚儀。當(dāng)測量的帶鋼厚度較大時，不能采用射線測厚射線測厚儀，而要用穿透能力較強(qiáng)的儀，而要用穿透能力較強(qiáng)的x x射線和射線和射線。目前，在熱軋廠測量較厚射線。目前，在熱軋廠測量較厚的熱軋帶鋼厚度時就必須選用穿透能力較強(qiáng)的的熱軋帶鋼厚度時就必須選用穿透能力較強(qiáng)的射線穿透式測厚儀。射線穿透式測厚儀。 電子轉(zhuǎn)換部分包括主放大器、甄別器、分頻器、成形器、跟隨器和對電子轉(zhuǎn)換部