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文檔簡介
1、半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)Chapter 8. CMOS 器件設(shè)計與性能參數(shù)一、 CMOS 器件設(shè)計1.1 MOSFET的等比例縮小 光刻技術(shù):短溝道導(dǎo)致密度速度和功率的改進(jìn)離子注入:淺或陡峭的摻雜界面或低摻雜濃度的實現(xiàn)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(1)恒定場的等比例縮小 當(dāng)減小橫向尺寸時,等比例縮小器件的徑向尺寸,并等比例減小外加電壓,增加襯底的摻雜濃度,以使短溝道效應(yīng)得到控制。恒場等比例縮小的基本原則: 將器件工作電壓和器件尺寸包括(橫向和縱向)縮小相同的比例,以保證電場保持不變。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)泊松方程的不變:等比例增加摻雜濃度最大耗盡層寬度:等比例縮小所有電容:等比例
2、縮?。ㄕ扔诿娣e而反比于厚度)反型層電荷:保持不變速度飽和效應(yīng):保持不變(電場不變)addbisiDqNVW)(2恒場等比例縮小規(guī)則:恒場等比例縮小規(guī)則:SiaSiyxqNyExE半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)漂移電流: 等比例縮小(單位MOSFET寬度漂移電流不變)單位MOSFET寬度擴(kuò)散電流:等比例增加EQvQWIiidrift)(kdxdQdxdQqkTdxdQDWIiinindiffu等比例縮小對電路參數(shù)的影響等比例縮小對電路參數(shù)的影響 電路延遲等比例縮?。ㄕ扔赗C 或CV/I,假設(shè)溝道電阻保持不變,而寄生電阻可以忽略或保持不變)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)恒場等比例縮小的最重要結(jié)論: 當(dāng)器件尺寸
3、和工作電壓等比例縮小時,電路速度等比例增加,而單個器件的功耗減小k2倍。閾值電壓閾值電壓:一般認(rèn)為閾值電壓應(yīng)等比例縮小(因工作電壓降低)但對硅工藝,材料的相關(guān)參數(shù)并不變化,因此Vt一般并不縮小。可通過襯底正偏或溝道區(qū)非均勻摻雜來調(diào)制閾值電壓。oxbsBasiBfbtCVqNVV)2(22半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(2)常用的等比例縮?。河捎趤嗛撝堤匦缘姆潜壤兓约叭藗儾辉钙x上一代的標(biāo)準(zhǔn)電壓的考慮,工作電壓一般并不等比例的縮小。更通用的是讓電場在橫向與縱向保持相同倍數(shù)的增加以保持原有的電場形狀,因此2D效應(yīng),如短溝道效應(yīng)在等比例縮小時不致加劇。高場會導(dǎo)致對器件穩(wěn)定性的憂慮。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)
4、通用的等比例縮小規(guī)則:通用的等比例縮小規(guī)則:) 1(;1kSizekSizeEE半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)泊松方程的不變:增加摻雜濃度,避免短溝道效應(yīng)增強(qiáng)aasiaNkNqNkykkk)()/()/()/()/(2222速度飽和效應(yīng):對長溝道器件,載流子速度遠(yuǎn)離飽和,增加因子 漂移電流正比于Wqiv,增加因子: 2/k對短溝道器件,載流子速度已飽和,不再變化 漂移電流正比于Wqiv,增加因子: /k半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué) 電路延遲等比例縮小,比例因子:k 和k(依賴于飽和度) 單個器件的功耗增加2到3泊松方程:對耗盡層而不變,而對反型層可移動電荷則不成立。它是表面勢的指數(shù)函數(shù)
5、,而表面勢并不隨物理尺寸或電壓線性變化。同時并不是所有的邊界條件相應(yīng)地等比例的變化。(源結(jié)的能帶彎曲由并不隨電壓等比例變化的內(nèi)建勢給出。)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)特例:恒定電壓的等比例縮小特例:恒定電壓的等比例縮小電場的形狀僅當(dāng)=k才保持恒定電壓的等比例縮小。電場增加k,摻雜濃度增加k2,)()(2kqNVWaddbisiDdmmWLdsbibiteVmV2/)() 1( 8不變oxbsBasiBfbtCVqNVV)2(22半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)反型層電荷密度與電子濃度有關(guān)(k2):反型層厚度(Qi/qn(0))與LD= 均減小k倍。功率密度增加k3(k2),導(dǎo)致熱電子和氧化層的可靠性問題。實際
6、的CMOS的技術(shù)演變是恒電壓與恒電場的某種混合。aSiNqKT2)0(2kTnQsii半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(3) 非等比例縮小效應(yīng):主要的非等比例因數(shù):主要的非等比例因數(shù):熱電壓kT/q和硅的帶隙并不改變。前者導(dǎo)致亞閾值的非等比例變化,使閾值電壓不能如其它參數(shù)一樣等比例縮小。mkTqVoxeffdddsgdsteqkTmLWCVVVI/2)(1(), 0( 因電流與閾值電壓成指數(shù)關(guān)系,這使閾值電壓不可能等比例縮小,否則電流會大幅度增加。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)即使閾值電壓保持不變,其關(guān)斷電流也將隨物理尺寸的縮小而增加k倍(Cox),限制了閾值電壓的變化范圍.電路延遲隨Vt/Vdd快速增加,限制
7、器件工作電壓最低值。kT/q導(dǎo)致反型層厚度,反型層電荷密度以及相應(yīng)電流的非等比例變化。Eg導(dǎo)致內(nèi)建勢, 耗盡層寬度和短溝道效應(yīng)非等比例縮小。 內(nèi)建勢和最大表面勢并不隨器件的縮小而顯著的變化,而耗盡層寬度也不如其它線性尺度變化大。這將加劇短溝道效應(yīng)。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)要補(bǔ)償這一效應(yīng),摻雜濃度必須大于等比例縮小效應(yīng)的要求值。次要的非等比例因數(shù):次要的非等比例因數(shù):(1)遷移率隨等比例縮小而下降(電場增加),使電流和電路延遲的改進(jìn)較預(yù)計的小。 高場或高壓改進(jìn)器件性能(電流增益和延遲)的作用將減弱。(2)穩(wěn)定性與功率:功率密度增加2到3,穩(wěn)定性問題來源于高氧化電場,高溝道效應(yīng)和更高的電流密度。半導(dǎo)
8、體器件原理南京大學(xué)導(dǎo)致電遷移的加劇和柵氧化層更趨于擊穿,影響氧化層的完整性。為克服增加的氧化層電場,氧化層厚度的減小要小于器件尺寸的變化。溝道摻雜濃度必須大于等比例縮小的量,以控制住短溝道效應(yīng)。 最大的耗盡層寬度必須比柵氧化層厚度減小更多。這又會因引起另外一個非等比例效應(yīng),包括亞閾值斜率 和襯底的靈敏度 dVt/dVbs=m-1。dmoxWt31 半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)其它非等比例因素:其它非等比例因素:(1)柵和源漏的摻雜濃度,如果非適當(dāng)?shù)牡缺壤黾?,將?dǎo)致柵耗盡和源漏串聯(lián)電阻的問題。(2)工藝過程的容許偏差:VLSI技術(shù)的發(fā)展要保證工藝過程的容許偏差在溝道長度,氧化層厚度,閾值電壓等參數(shù)的
9、一定百分比以內(nèi)。)3(2/)(24oxdmtWLdsbibidmoxteVWtV半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)1.2 閾值電壓1) 閾值電壓的要求各種閾值電壓的定義各種閾值電壓的定義: s(inv)=2 B,非常廣泛并易被結(jié)合進(jìn)分析求解中,不能直接從CV測量中獲得。線性外推閾值電壓Von,易測量但由于反型層電容效應(yīng),使之大于2 B的閾值電壓3kT/q大小。由亞閾值電流決定,對一給定的恒定電流I0(如50nA/))/()(0LWIVVIsubtgds它能從硬件數(shù)據(jù)中獲得特別適合于大批量器件的自動測量。并且能直接計算出關(guān)斷電流。但在短溝道器件中存在問題,因為難以知道準(zhǔn)確的溝道長度。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)關(guān)
10、斷電流要求和最低閾值電壓關(guān)斷電流要求和最低閾值電壓低的閾值電壓和高的電流器件,開關(guān)速度快。但低的閾值電壓又要受到關(guān)斷電流的限制。必須考慮工藝的容許偏差,工作溫度以及偏壓條件的最差情況:即零偏電壓和最高工作溫度,如1000C。對給定的Ioff/W,Vtmin隨尺寸縮小而增加,與電源電壓的相應(yīng)變化趨勢相反。器件設(shè)計因此需要在關(guān)斷電流與性能之間取得平衡。2maxmaxmin)(1()()(ln(qkTmLWCVVIIVVIqmkTVoxefftgdsofftgdst半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)閾值電壓的容許偏差:閾值電壓的容許偏差:)%10(50)()2/(2 . 0)() 1(8)(7555.)()()
11、(.)()23(min2/22min0minttdmmWLdsbibitttttttVofmVprocessVmWLVeVmSCEVmVtempVprocessVSCEVtempVVCVdm m取1.3 Lmin/mWdm 過小會加劇SCE;過大則增加結(jié)電容或增大氧化層電場。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué) 閾值電壓的優(yōu)化閾值電壓的優(yōu)化閾值電壓和關(guān)斷電流難以取得平衡(Vt/Ids)閾值電壓與電源電壓及器件性能之間的矛盾(Vt/Vdd)閾值電壓與耗盡層厚度及體效應(yīng)系數(shù)之間的矛盾(Vt/Wdm/m)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)2) 非均勻摻雜 閾值電壓和關(guān)斷電流一般難以取得平衡,但非均勻溝道
12、摻雜使器件的設(shè)計增加了一個自由度,從而滿足兩方面要求:高低臺階摻雜高低臺階摻雜22222)(2)(22ssiasssisdsdsiassissNNqqNWorWqNqNmkTqVoxeffdddsgdsteqkTmLWCVVVI/2)(1(), 0(dWsisdxxxNq0)(半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)非均勻的表面摻雜通過高摻雜層的耗盡層電荷,從而減小耗盡層的厚度。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué))2)(2(2)()2)(2(21)()2)(21)(2022ssiasBsisdmoxsassisasBasioxsfbtoxsassisassasioxsfboxsdasssfboxssfbgNNqqNWCxN
13、NqNNqqNCVVCxNNqNNqqNCVCWqNqNVCQVV)()(sdassssissdsiassissWqNqNEQWqNqNE半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)耗盡層電容,亞閾值斜率,體效應(yīng)系數(shù)等與Wdm有關(guān)的表達(dá)式保持不變。1/1)2)(2 (221)2(002/ 12mCWdVdVCWNNqCqNddVmoxdmSibstoxdmSissiasBoxasiBssg半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)oxssiBfbtCEVVdxdE2圖形解釋圖形解釋l均勻摻雜均勻摻雜半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué))2)(2 (2)()2)(2 (21202ssiasBssidmoxsassisasBasioxsfbtNNqqN
14、WCxNNqNNqqNCVVl 非均勻摻雜非均勻摻雜: 如xs趨于表面,同時NS較大,可以增加Vt而幾乎不改變W0dm半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)l高斯分布高斯分布分布:注入劑量DI=(Ns-Na)xs,并以xc=xs/2為中心因為E(X)下的面積以及與Y軸的截距均不變。)22(2)2(212)2)(exp(2)(022sicIBasidmoxIsicIBasioxBfbtcIxqDqNWCqDqDqNCVVxxDxNDI=(Ns-Na)xs高斯分布:半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)對給定劑量的DI,閾值電壓的大小依賴于注入的位置xc。淺表面注入,xc=0,耗盡層寬
15、度沒有變化,閾值電壓的變化為QDI/COX。類似于硅氧化層的一層界面電荷。襯底靈敏度與亞閾值斜率不變。當(dāng)xc增加時,最大耗盡層寬度和閾值電壓的偏移均減小。但通過選擇低的背景摻雜濃度使Wdm恢復(fù)。以上討論對NsNa的情形同樣成立。(即倒退的溝道摻雜)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)3) 溝道剖面設(shè)計半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(1)CMOS設(shè)計的考慮工藝限制與系統(tǒng)兼容的要求,需要對電路參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化對一給定的技術(shù)水平,并沒有唯一的設(shè)計方法,而是給出器件參數(shù)選擇的總體思路。為控制短溝道效應(yīng),最大耗盡層寬度Wdm: Lmin/mWdm2亞閾值斜率2.3mkT/q及襯底靈敏度dVt/dVbs=m-1隨m增大而變差,并導(dǎo)
16、致低的飽和電流。m1.5氧化層電場Emax決定最小的氧化層厚度tox半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(2)電源電壓與閾值電壓的趨勢閾值電壓低限由關(guān)斷電流決定: Vt 0.4V,高限由電路延遲或性能決定:VtVdd/4如Vdd較大, 0.4V VtVdd/4,閾值電壓容易選擇當(dāng)短溝道尺寸變小電源電壓減小時,就需要在漏電流和器件速度之間選擇。導(dǎo)致Vdd并不隨L成比例縮小,而Vt也不隨Vdd等比例減小。高的Vdd/L使設(shè)計空間急劇變小。當(dāng)Vdd小于2V時,漏電流與器件延遲之間的平衡就非常必要。半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)LVmmtVEmWtLmmtLtWddoxddoxdmoxoxoxdm181/3815 . 2/3半導(dǎo)體器件原理南京大學(xué)(3)柵功函數(shù)的作用oxdBfbtCQVV2l對閾值電壓有較大的影響,對溝道的分布有主要的作用。l非均勻的高低結(jié)的溝道摻雜可以增加Qd和閾值電壓,而不顯著的改變柵的耗盡層寬度。同時導(dǎo)致表面電場的增加,減低了溝道遷移率。l功函數(shù)處于禁帶中央的柵可用來調(diào)節(jié)閾值電壓。
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