SPC通識(shí)ppt課件

1、質(zhì)量管理的演進(jìn)AgendaSPC概論變異控制圖計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖控制準(zhǔn)那么制程才干分析繼續(xù)改善OverviewSPC概論What is SPC ？Statistical :數(shù)據(jù)之搜集、 呈現(xiàn)(圖，表)及分析Process : 指一系列作業(yè)活動(dòng)，每一活動(dòng)均是過(guò)程Control : 量測(cè)結(jié)果的控制 SPC S tatistical P rocess C ontrol SPC是一種方法論。對(duì)過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)展搜集，利用根本圖形、統(tǒng)計(jì)工具加以分析，從分析中發(fā)現(xiàn)影響過(guò)程的變異，經(jīng)過(guò)問(wèn)題分析找出異常緣由，立刻采取改善措施，使過(guò)程恢復(fù)正常。 并借助過(guò)程才干分析與規(guī)范化，不斷提升過(guò)程才干。 當(dāng)控制圖失

2、控時(shí)，不能指出為什么失控。 當(dāng)過(guò)程才干缺乏時(shí)，不能指出為什么缺乏。SPC的精神識(shí)別關(guān)鍵特性多搜集數(shù)據(jù)以了解制程情況分析特性了解其正常動(dòng)搖的范圍控制特性運(yùn)用控制界限來(lái)探測(cè)過(guò)程能否異常改良特性不斷改良過(guò)程的動(dòng)搖范圍SPC效果看清質(zhì)量情況 提早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題找出問(wèn)題根源 少花錢(qián)辦好事減少報(bào)表費(fèi)事 滿足客戶要求提升消費(fèi)效率 降低質(zhì)量本錢(qián)變異VariationTimeCase study-哪一種分布較好？變異 VariationsSPC主要就是要處置變異質(zhì)量特性資料制程機(jī)械環(huán)境人員量測(cè)組內(nèi)變異與組間變異產(chǎn)品變異大致上可分為 組內(nèi)變異 組間變異隨機(jī)變異與非隨機(jī)變異根據(jù)呵斥變異的緣由，通常分成普通緣由所呵斥之變異

3、隨機(jī)變異隨機(jī)性緣由- Common Cause特殊緣由所呵斥之變異非隨機(jī)變異非隨機(jī)性緣由- Special cause隨機(jī)變異普通緣由：制程中緣由，其所呵斥的分配與時(shí)間的關(guān)系是穩(wěn)定而可反復(fù)、可預(yù)測(cè)。如制程中之變異僅由普通緣由所呵斥，那么稱此制程是在統(tǒng)計(jì)的控制形狀中，其產(chǎn)品之特性有固定的分配。只需靠管理者才干處理之。采取必要措施，加強(qiáng)作業(yè)員的訓(xùn)練Re-design or Re-layout 任務(wù)站位置建立制程新方法，新程序普通緣由- common cause大量微小緣由呵斥原資料的微小變化機(jī)臺(tái)的微小變化實(shí)踐上要去除相當(dāng)困難次數(shù)多、影響小 假設(shè)制程中只需普通緣由之變異存在，那么其廢品將構(gòu)成一個(gè)很穩(wěn)

4、定的分布，而且是可預(yù)測(cè)結(jié)果。非隨機(jī)變異特殊緣由：制程中不常發(fā)生但呵斥制程的變異，其所呵斥的分配與時(shí)間的關(guān)系不穩(wěn)定且無(wú)法預(yù)期，故稱制程不是在統(tǒng)計(jì)的控制形狀下，因其產(chǎn)品之特性沒(méi)有固定的分配。無(wú)法預(yù)料或以不定期的方式發(fā)生。SPC之目的在于確認(rèn)此Causes，并加以修正之。難預(yù)測(cè) 假設(shè)制程中有特殊緣由之變異存在，那么其廢品將構(gòu)成不穩(wěn)定的分布，而且無(wú)法預(yù)測(cè)結(jié)果。特殊緣由-special cause一個(gè)或少數(shù)個(gè)大緣由呵斥原資料的不良機(jī)臺(tái)未復(fù)原新手操作應(yīng)該可以找出其緣由次數(shù)少、影響大時(shí)間Control chart控制圖Shewhart : 控制圖之開(kāi)創(chuàng)人控制圖是1924年由美國(guó)品管巨匠W.A. Shewha

5、rt博士發(fā)明。當(dāng)時(shí)稱為(Statistical Quality Control)。控制圖在英國(guó)及日本歷史英國(guó)在1932年，約請(qǐng)W.A. Shewhart博士到倫敦，主講統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制，而提高了英國(guó)人將統(tǒng)計(jì)方法運(yùn)用到工業(yè)方面之氣氛。就控制圖在工廠中實(shí)施來(lái)說(shuō)，英國(guó)比美國(guó)為早。日本在1950年由W.E. Deming博士引到日本。同年日本規(guī)格協(xié)會(huì)成立了質(zhì)量控制委員會(huì)，制定了相關(guān)的JIS規(guī)范。SPC&SQCProcess原料丈量結(jié)果Real Time Response針對(duì)原料所做的控制也可屬SPC針對(duì)產(chǎn)品所做的是在做SQC針對(duì)過(guò)程的重要制程參數(shù)所做的才是SPC控制圖的原理中央極限定理中央極限定理：設(shè)從平

6、均值為，變異數(shù)為2的一個(gè)恣意母體中抽出個(gè)數(shù)為n的樣本，當(dāng)n夠大時(shí)，樣本平均值的抽樣分布近似于平均值為、變異數(shù)為2/n的常態(tài)分布當(dāng)樣本數(shù)夠大時(shí)(n30) ，樣本平均值的抽樣分布會(huì)趨近于常態(tài)分布一個(gè)恣意分布的母體X中央極限定理正態(tài)分布特性控制圖的由來(lái)休華特博士Dr.W.A.Shewhart，在研討產(chǎn)品質(zhì)量特性之次數(shù)分布時(shí)發(fā)現(xiàn),正常的工程所消費(fèi)出來(lái)產(chǎn)品之質(zhì)量特性，其分配大都成正態(tài)分布，會(huì)超出三個(gè)規(guī)范差3的產(chǎn)品只需0.27?？刂茍D的構(gòu)造 1 Sigma2 Sigma3 Sigma1 Sigma2 Sigma3 Sigma68.26 %95.45 %99.73 % 數(shù)據(jù)點(diǎn)的百分比控制上限UCL ：Upp

7、er control limit控制下限LCL：Lower control limit丈量特性控制中心線CL：Central Line時(shí)間樣本數(shù)與控制界限自中央極限定理來(lái)看，樣本愈多時(shí)，其控制限愈狹窄。表示圖如下：型一誤差與型二誤差兩種錯(cuò)誤景象型一誤差 又稱為消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn) (正常產(chǎn)品無(wú)法出貨)型二誤差 又稱為消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn) (異常產(chǎn)品出給客戶)太過(guò)敏感+2-2Control limit 太寬+4-4型一誤差又稱為消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn)型二誤差又稱為消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn)總質(zhì)量本錢(qián)(控制界限)(高)損失(低) 1 2 3 4 5 左圖以經(jīng)濟(jì)平衡點(diǎn)(Break even point, BEP) 方法求得。最經(jīng)濟(jì)的control

8、 limit-三倍規(guī)范差控制圖的用途控制圖的用途覺(jué)察制程有特殊緣由所呵斥的變異制程穩(wěn)不穩(wěn)定確認(rèn)制程才干制程好不好假設(shè)無(wú)特殊緣由存在，那么可藉控制圖進(jìn)展制程分析判別制程能否符合規(guī)格要求利用資料進(jìn)展制程變卦利用資料進(jìn)展檢驗(yàn)變卦控制圖的建立SPC運(yùn)作流程N(yùn) 3.實(shí)施規(guī)范化 2.決議制程控制工程導(dǎo)入控制方案問(wèn)題分析 5.納入控制圖控制 Pp,Ppk 1.33 Pp,Ppk1.33 7.制程繼續(xù)控制Cp,Cpk1.33 由跨功能小組決議控制工程及選擇適當(dāng)統(tǒng)計(jì)工具(SPC)1.確定產(chǎn)品制造流程制程失效分析4-2.初期制程才干調(diào)查分析6.能否在控制形狀Cp,Cpk 1.334-1試做Y解析用控制圖控制用控制

9、圖1.確立制造過(guò)程輸入添加附加價(jià)值的活動(dòng)輸出訂單產(chǎn)品 /效力制造流程圖SPC運(yùn)作流程N(yùn) 3.實(shí)施規(guī)范化 2.決議制程控制工程導(dǎo)入控制方案問(wèn)題分析 5.納入控制圖控制 Pp,Ppk 1.33 Pp,Ppk1.33 7.制程繼續(xù)控制Cp,Cpk1.33 由跨功能小組決議控制工程及選擇適當(dāng)統(tǒng)計(jì)工具(SPC)1.確定產(chǎn)品制造流程制程失效分析4-2.初期制程才干調(diào)查分析6.能否在控制形狀Cp,Cpk 1.334-1試做Y解析用控制圖控制用控制圖2.決議控制工程從顧客聲音VOC 關(guān)鍵質(zhì)量特性平安特性關(guān)鍵特性主要特性從關(guān)鍵質(zhì)量特性CTQ 關(guān)鍵過(guò)程特性產(chǎn)品 / 效力KPCKPCKCCKCCKCCKCCKCCK

10、CCKPCKCCKCCKCCKPC : Key Product CharacteristicsKCC : Key Control CharacteristicsFMEAAUO特性分類： 1-6 為普通特性，不標(biāo)注符號(hào) 7-8 為重要特性 , 符號(hào)為 9-10 為嚴(yán)重特性, 符號(hào)為 Control PlanSPC運(yùn)作流程N(yùn) 3.實(shí)施規(guī)范化 2.決議制程控制工程導(dǎo)入控制方案問(wèn)題分析 5.納入控制圖控制 Pp,Ppk 1.33 Pp,Ppk1.33 7.制程繼續(xù)控制Cp,Cpk1.33 由跨功能小組決議控制工程及選擇適當(dāng)統(tǒng)計(jì)工具(SPC)1.確定產(chǎn)品制造流程制程失效分析4-2.初期制程才干調(diào)查分析6

11、.能否在控制形狀Cp,Cpk 1.334-1試做Y解析用控制圖控制用控制圖3.實(shí)施規(guī)范化合理子組確實(shí)定子組大小確實(shí)定抽樣頻率確實(shí)定子組數(shù)量確實(shí)定試消費(fèi)控制方案控制圖的選擇3.實(shí)施規(guī)范化-控制圖的選擇計(jì)量值控制圖：其所根據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)，均屬由量具實(shí)踐量測(cè)而得知，如：長(zhǎng)度、分量、成份等特性均為延續(xù)性者，最常用為以下四種：平均值與全距控制圖XR Chart平均值與規(guī)范差控制圖Xs Chart中位值與全距控制圖XR Chart個(gè)別值與挪動(dòng)全距控制圖XRM Chart計(jì)數(shù)值控制圖：其所根據(jù)之?dāng)?shù)據(jù)，均屬以單位計(jì)數(shù)者，如：不良數(shù)、缺陷數(shù)等延續(xù)數(shù)據(jù)均屬此類，最常用為以下四種：不良率控制圖P Chart 不良數(shù)控制圖

12、NP Chart 缺陷數(shù)控制圖C Chart 平均缺陷數(shù)控制圖U Chart 計(jì)量型數(shù)值控制圖優(yōu)缺陷優(yōu)點(diǎn)：1.很靈敏，容易調(diào)查緣由2.可及時(shí)反映不良，使質(zhì)量穩(wěn)定缺陷：1.抽樣頻率高，費(fèi)時(shí)2.數(shù)據(jù)需丈量和計(jì)算，運(yùn)用者需經(jīng)專門(mén)訓(xùn)練計(jì)數(shù)型數(shù)值控制圖優(yōu)缺陷優(yōu)點(diǎn)：1.所需數(shù)據(jù)可用簡(jiǎn)一方法獲得2.對(duì)整體質(zhì)量水準(zhǔn)了解方便缺陷：1.無(wú)法尋求不良緣由2.及時(shí)性缺乏，易延誤時(shí)機(jī)3.實(shí)施規(guī)范化-控制圖的選擇原那么 3.實(shí)施規(guī)范化-控制圖的選擇Case study：質(zhì)量特性樣本數(shù)可選用什么圖？長(zhǎng)度5重量10乙醇比重1電燈亮不亮100每一百平方米的臟點(diǎn)100平方米Xbar-RXbar-SX-RmP，NPU，C時(shí)間質(zhì)量特

13、性制程的變化時(shí)間質(zhì)量特性制程的變化3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定子組讓組內(nèi)變化只需隨機(jī)變異讓組間變化只需非隨機(jī)變異組內(nèi)變異小組間變異大時(shí)間質(zhì)量特性制程的變化3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定子組正確如此的取樣方式會(huì)呵斥無(wú)法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異，呵斥控制界限變寬，無(wú)法有效偵測(cè)制程變異。時(shí)間質(zhì)量特性制程的變化3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定子組錯(cuò)誤3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定抽樣頻率每天只抽一組來(lái)代表，能否能代表制程呢？每天假設(shè)抽三組的樣天性否更能代表制程？抽樣頻率必需思索以下方面： 過(guò)程歷史情況 經(jīng)常發(fā)生失控，就需求更頻繁的抽樣；假設(shè)班別切換會(huì)導(dǎo)致變卦，那么每班必需抽到；發(fā)生失控時(shí)，對(duì)質(zhì)量的影響程度抽樣的容易程度抽樣

14、和丈量樣本的費(fèi)用通常在量產(chǎn)時(shí)，抽樣頻率為每班或每天1-2次。3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定抽樣頻率3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定抽樣頻率初期不了解制程，制程不穩(wěn)定，存在組間變異穩(wěn)定期后，大部份只存在組內(nèi)變異，偶而出現(xiàn)組間變異快速而頻繁的取樣，才干掌握制程的情形，并將各項(xiàng)不穩(wěn)定的因子去除由于制程已相對(duì)穩(wěn)定，我們可以預(yù)測(cè)制程變化，所以抽樣頻率可較低，但仍應(yīng)要有代表性3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定抽樣頻率初期過(guò)程研討的抽樣頻率一個(gè)班次之內(nèi)取二十五組我們利用在一個(gè)班次當(dāng)中取二十五組，此時(shí)由于人、機(jī)料、法、環(huán)、測(cè)都比較固定，所以所估計(jì)出來(lái)的組內(nèi)變異會(huì)比較正確，相關(guān)的控制界限比較窄，可以有效地偵測(cè)出不同班別之間的變化，或那

15、么組間的變化，如資料變化、機(jī)器變化、參數(shù)變化等。3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定抽樣頻率長(zhǎng)期過(guò)程研討的抽樣頻率抽樣頻率依過(guò)程情況計(jì)算而定，可逐漸放寬抽樣頻率，但必需滿足才干要求。每2小時(shí)，抽一組；每4小時(shí)，抽一組；每個(gè)班，抽一組；每天抽一組；每周抽一組。3.實(shí)施規(guī)范化-如何確定子組數(shù)當(dāng)制程中心值偏向了二個(gè)規(guī)范差時(shí)，它在控制界限內(nèi)的概率為0.84，此時(shí) =0.84，他能接受嗎？當(dāng)制程中心值偏向了二個(gè)規(guī)范差時(shí)，它在控制界限內(nèi)的概率為0.84，那么延續(xù)10點(diǎn)在控制界限內(nèi)的概率為0.8410=0.174901，他能接受嗎？當(dāng)制程中心值偏向了二個(gè)規(guī)范差時(shí)，它在控制界限內(nèi)的概率為0.84，那么延續(xù)25點(diǎn)在控制界限

16、內(nèi)的概率為0.8410=0.0128，他能接受嗎？LCLUCLCL3.實(shí)施規(guī)范化-計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的抽樣子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖普通要求較大的子組容量(例如50200)以便檢驗(yàn)出性能的變化，普通希望每組內(nèi)能包括幾個(gè)不合格品，但樣本數(shù)假設(shè)太多也會(huì)有不利之處。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便協(xié)助分析和糾正發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。時(shí)間間隔短那么反響快，但也許與大的子組容量的要求矛盾子組數(shù)量：要大于等于25組以上，才干斷定其穩(wěn)定性。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的抽樣SPC運(yùn)作流程N(yùn) 3.實(shí)施規(guī)范化 2.決議制程控制工程導(dǎo)入控制方案問(wèn)題分析 5.納入控制圖控制 Pp,Ppk 1.33 Pp,Ppk1.33 7.制程繼續(xù)

17、控制Cp,Cpk1.33 由跨功能小組決議控制工程及選擇適當(dāng)統(tǒng)計(jì)工具(SPC)1.確定產(chǎn)品制造流程制程失效分析4-2.初期制程才干調(diào)查分析6.能否在控制形狀Cp,Cpk 1.334-1試做Y解析用控制圖控制用控制圖4-1.試作繪制原那么：資料搜集統(tǒng)計(jì)量計(jì)算x，s，R，P估算中心線(CL)x，R估算規(guī)范差計(jì)算控制限UCL=CL+3LCL=CL- 3定義量測(cè)單位，分組，抽樣的頻率.根據(jù)分組的資料，依次算出各組統(tǒng)計(jì)量根據(jù)各組統(tǒng)計(jì)量，求出平均水準(zhǔn)求出估計(jì)的(不含非隨機(jī)變異)利用上述得結(jié)果，查表算出控制界限4-2.初期制程才干分析過(guò)程穩(wěn)定性分析 -過(guò)程能否在控制內(nèi)？過(guò)程才干分析 -過(guò)程才干能否滿足Pp,

18、Ppk1.33？控制圖分析決策流程確認(rèn)一切點(diǎn)普通30個(gè)一切點(diǎn)都落在控制界限內(nèi)嗎？否能否只需1或2個(gè)點(diǎn)超出控制界限？是從控制圖中剔除該點(diǎn)重新計(jì)算控制界限統(tǒng)計(jì)量受控是是3個(gè)或3個(gè)以上點(diǎn)超出控制界限否統(tǒng)計(jì)量不在控制范圍消除變異緣由收據(jù)新數(shù)據(jù)重新計(jì)算控制界限否能否一切點(diǎn)落在控制界限內(nèi)控制形狀的判別_進(jìn)入控制用 可否延伸控制界限作為今后制程控制用的判別基準(zhǔn)： 延續(xù)25點(diǎn)以上出如今控制界限內(nèi)時(shí)延續(xù)35點(diǎn)中，出如今控制界限外的點(diǎn)不超越1點(diǎn)時(shí)。 延續(xù)100點(diǎn)中，出如今控制界限外的點(diǎn)不超越2點(diǎn)時(shí)。SPC運(yùn)作流程N(yùn) 3.實(shí)施規(guī)范化 2.決議制程控制工程導(dǎo)入控制方案問(wèn)題分析 5.納入控制圖控制 Pp,Ppk 1.3

19、3 Pp,Ppk1.33 7.制程繼續(xù)控制Cp,Cpk1.33 由跨功能小組決議控制工程及選擇適當(dāng)統(tǒng)計(jì)工具(SPC)1.確定產(chǎn)品制造流程制程失效分析4-2.初期制程才干調(diào)查分析6.能否在控制形狀Cp,Cpk 1.334-1試做Y解析用控制圖控制用控制圖7. 制程繼續(xù)控制當(dāng)初始過(guò)程穩(wěn)定并可接受時(shí)，即轉(zhuǎn)入量產(chǎn)的制程控制階段。此時(shí)所計(jì)算得到的CL、UCL、LCL必需作為控制基準(zhǔn)延伸運(yùn)用。控制界限的重新計(jì)算： 控制圖經(jīng)過(guò)運(yùn)用一定時(shí)期后, 消費(fèi)過(guò)程有了變化, 例如制程改動(dòng)、刀具改動(dòng)、設(shè)備改動(dòng)以及進(jìn)展了某種技術(shù)改革和管理改革措施后, 應(yīng)重新搜集最近期間的數(shù)據(jù), 以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖。 建議的

20、做法是：發(fā)生制程變卦時(shí)，重新計(jì)算控制界限；不發(fā)生制程變卦，一個(gè)月或一個(gè)季度評(píng)審一次以了解過(guò)程能否發(fā)生了漂移。7. 制程繼續(xù)控制時(shí)間表現(xiàn)在過(guò)程才干上的革新好的壞的3 Sigma (CpK = 1)6 Sigma (Cpk = 2)7. 制程繼續(xù)控制-過(guò)程改良1. 分層問(wèn)題2.及時(shí)呼應(yīng) 每班抽一組數(shù)據(jù)，三班延續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)，中夜班搜集的數(shù)據(jù)要等到第二天工程師上班才干分析。SPC 本卷須知復(fù)合Real Time Response計(jì)量型數(shù)值控制圖X-R 控制圖X chart：中心線 CL = X控制上限 UCL= X+A2R控制下限 LCL= X - A2RR chart：中心線 CL = R控制上限 UCL

21、= D4R控制下限 LCL= D3RnA2D4D3d221.8803.26701.12831.0232.57501.69340.7292.28202.05950.5772.11402.32660.4832.00402.53470.4191.9240.0762.70480.3731.8640.1362.84790.3371.8160.1842.970100.3081.7170.2233.078控制界限系數(shù)表ASTM STP-15DStep 1 搜集數(shù)據(jù)：進(jìn)展丈量系統(tǒng)分析- 確定子組樣本容量- 確定抽樣頻率- 確定子組數(shù)Step 2 計(jì)算各組的平均值及全距：Subgroup average : X

22、= (X1+ X2+ X3+ X4)/4Subgroup range : R= X3- X1X3X2X4X1Average=XR=RangeX-R 控制圖繪制步驟Step 3 計(jì)算總平均及平均全距Step 4 計(jì)算全距控制界限Step 5 繪制R ChartStep 6 判別全距能否都在控制界限內(nèi)Step 7 計(jì)算平均值控制界限Step 8 繪制X ChartStep 9 判別平均值能否都在控制界限內(nèi)Step 10 控制界限延續(xù)運(yùn)用確定全距在監(jiān)控下再求 X chartX-R 控制圖繪制步驟全距/規(guī)范差控制圖分析決策流程確認(rèn)一切全距/規(guī)范差的點(diǎn)一切點(diǎn)都落在控制界限內(nèi)嗎？否能否只需1或2個(gè)點(diǎn)超出控

23、制界限？是從控制圖中剔除該點(diǎn)重新計(jì)算控制界限全距/規(guī)范差受控是是3個(gè)或3個(gè)以上點(diǎn)超出控制界限否全距/規(guī)范差不在控制范圍消除變異緣由收據(jù)新數(shù)據(jù)重新計(jì)算全距/規(guī)范差控制界限否能否一切點(diǎn)落在控制界限內(nèi)平均值/中位數(shù)控制圖分析決策流程計(jì)算平均值/中位數(shù)控制圖的控制界限一切點(diǎn)都落在控制界限內(nèi)嗎？否能否只需1或2個(gè)點(diǎn)超出控制界限？是從控制圖中剔除該點(diǎn)重新計(jì)算控制界限能否一切點(diǎn)落在控制界限內(nèi)平均值/中位數(shù)受控是是3個(gè)或3個(gè)以上點(diǎn)超出控制界限否平均值/中位數(shù)不在控制范圍消除變異緣由收據(jù)新數(shù)據(jù)重新計(jì)算控制界限否運(yùn)用該控制圖進(jìn)展過(guò)程控制重返全距/規(guī)范差決策圖X-R 控制圖范例以下為某尺寸的cell gap量測(cè)值與

24、平均值、全距，共63pcs，每片量5點(diǎn)。CLR = Rbar=107 UCLR =D4*Rbar=2.114*107=226 LCLR =D3*Rbar=0*107=0X-R 控制圖范例CLR = Rbar=105 UCLR =D4*Rbar=2.114*105=221 LCLR =D3*Rbar=0*105=0Rbar = 105 CLX = X =664UCLX = X+ A2R =664+0.577*105 = 724LCLX = X - A2R =664 - 0.577*105 = 603X-R 控制圖范例Next - 查找異常緣由，消除變異，再重新搜集數(shù)據(jù)。X-R 控制圖范例再搜集該

25、尺寸的cell gap量測(cè)值50pcs,每片量5點(diǎn), 計(jì)算平均值、全距.CLR = Rbar=101 UCLR =D4*Rbar=2.114*101=214 LCLR =D3*Rbar=0*101=0X-R 控制圖范例CLX = X =692 UCLX =X+A2R =692+0.577*101 = 750 LCLX= X A2R =692 0.577*101 = 635X-R 控制圖范例Rbar = 102 CLX = X =696 UCLX =X+A2R =696+0.577*102 = 755 LCLR = X - A2R =696 - 0.577*102 = 637平均值都在控制界限內(nèi)

26、，控制界限延續(xù)運(yùn)用X-R 控制圖范例CLX = X =664 UCLX =X+A2R =664+0.577*105 = 724 CLX = X - A2R =664 - 0.577*105 = 603匯整改善前后：CLX= X=696 UCLX= X+A2R =696+0.577*102 = 755 CLX = X -A2R =696-0.577*102 = 637s chart：中心線 CL = s控制上限 UCL= B4s控制下限 LCL= B3sX chart：中心線 CL = X控制上限 UCL= X+A3s控制下限 LCL= X A3sX-s 控制圖控制界限系數(shù)表nA3B4B3C42

27、2.663.27*0.8031.952.57*0.8941.632.27*0.9251.432.09*0.9461.291.970.030.9571.181.880.120.9682.101.820.190.9791.031.760.240.97100.981.720.280.97SC4X-s 控制圖繪制步驟Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算各組的平均值與規(guī)范差Step 3 計(jì)算總平均值及平均規(guī)范差Step 4 決議規(guī)范差控制界限Step 5 繪制s ChartStep 6 判別規(guī)范差能否都在控制界限內(nèi)Step 7 計(jì)算平均值控制界限Step 8 繪制X ChartStep 9 判別平均

28、值能否都在控制界限內(nèi)Step 10 控制界限延續(xù)運(yùn)用X-s 控制圖范例以下為某尺寸的cell gap量測(cè)值與平均值、規(guī)范值，共25pcs，每片量10點(diǎn)。CLs = sbar=0.017 UCLs =B4*sbar=1.716*0.017=0.0292 LCLs =B3*sbar=0.284*0.017=0.0048X-s 控制圖范例CLs = sbar=0.0157 UCLs =B4*sbar =1.716*0.0157=0.0269 LCLs =B3*sbar =0.284*0.0157=0.0045sbar = 0.0157 CLX = X = 4.849UCLX = X + A3s =4

29、.849 + 0.975*0.0157 = 4.864LCLs = X A3s =4.849 0.975*0.0157 = 4.834X-s 控制圖范例Next - 查找異常緣由，消除變異，再重新搜集數(shù)據(jù)。R chart：中心線 CL = R控制上限 UCL= D4R控制下限 LCL= D3RX chart：中心線 CL = X控制上限 UCL= X+A2R控制下限 LCL= X A2R控制界限系數(shù)表X-R 控制圖1.781.821.861.922.002.112.282.573.27D40.220.36100.180.4190.140.4380.080.517*0.556*0.695*0.8

30、04*1.193*1.882D3A2nStep 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算各組的中位數(shù)與全距Step 3 計(jì)算中位數(shù)平均值及平均全距Step 4 決議全距控制界限Step 5 繪制R ChartStep 6 判別全距能否都在控制界限內(nèi)Step 7 計(jì)算中位數(shù)控制界限Step 8 繪制X ChartStep 9 判別中位數(shù)能否都在控制界限內(nèi)Step 10 控制界限延續(xù)運(yùn)用X-R 控制圖繪制步驟X-R控制圖范例以下為某尺寸的cell gap量測(cè)值與中位數(shù)、全距，共50pcs，每片量5點(diǎn)。X-R控制圖范例CLR = Rbar=101 UCLR =D4*Rbar=2.114*101=214 LCL

31、R =D3*Rbar=0*101=0CLX = X =693 UCLX =X+A2R =693+0.69*101 =763 LCLR = X - A2R =693 - 0.69*101 =623X-R控制圖范例CLX = X =697UCLX =X+A2R =697+0.69*101 =767LCLR = X - A2R =697 - 0.69*101 =627中位數(shù)都在控制界限內(nèi)，控制界限延續(xù)運(yùn)用R chart：中心線 CL = R控制上限 UCL= D4R控制下限 LCL= D3RX chart：中心線 CL = X控制上限 UCL= X+E2R控制下限 LCL= X E2R控制界限系數(shù)表

32、KE2D3D422.66*3.2731.77*2.5741.46*2.2851.29*2.1161.18*2.0071.110.081.9281.050.141.8691.010.181.82100.980.221.78X-Rm 控制圖Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算全距a. 兩相鄰數(shù)據(jù)間的差別 Rm= Xi-Xi-1b. K個(gè)相鄰數(shù)據(jù)間的差別 K常取2或3Rm=MaxXi，Xi+1，,Xi+k-Min Xi，Xi+1，,Xi+kStep 3 計(jì)算總平均值及平均全距Step 4 決議全距控制界限Step 5 繪制Rm ChartStep 6 判別全距能否都在控制界限內(nèi)Step 7 計(jì)算

33、單值控制界限Step 8 繪制X ChartStep 9 判別單值能否都在控制界限內(nèi)Step 10 控制界限延續(xù)運(yùn)用X-Rm控制圖繪制步驟運(yùn)用較多！X-Rm控制圖范例某電子廠對(duì)每批芯片的研磨制程進(jìn)展控制，其厚度規(guī)格為3+/-0.1u，希望建立控制圖，以在量產(chǎn)時(shí)對(duì)制程上的厚度進(jìn)展有效的控制。因同一批差別很小，所以每一批次取一個(gè)樣本，量測(cè)記錄與挪動(dòng)全距值如下：X-Rm控制圖范例CLR = Rbar=0.0341 UCLR =D4*Rbar=3.27*0.0341=0.1116 LCLR=D3*Rbar=0*0.0341=0CLX= X =2.9997 UCLX=X+E2R=2.9997+2.66*

34、0.0341=3.0905 LCLR=X -E2R=2.9997 2.66*0.0341 =2.9089單值都在控制界限內(nèi)，控制界限延續(xù)運(yùn)用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖P chart：中心線 CL =控制上限 UCL=控制下限 LCL=P 控制圖備注：當(dāng)n相差=20%時(shí)用各自樣本數(shù)，此時(shí)控制界限不再是恒定值，而是不同的子組有不同的控制界限。P 控制圖繪制步驟Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算平均不良率與平均樣本數(shù)Step 3 判別每次樣本數(shù)的變化范圍能否在平均樣本數(shù)的20%內(nèi)Step 4 計(jì)算控制界限Step 5 繪制P ChartStep 6 判別數(shù)據(jù)點(diǎn)能否都在控制界限內(nèi)Step 7 控制界限延續(xù)

35、運(yùn)用控制圖分析決策流程確認(rèn)一切數(shù)據(jù)點(diǎn)一切點(diǎn)都落在控制界限內(nèi)嗎？否能否只需1或2個(gè)點(diǎn)超出控制界限？是從控制圖中剔除該點(diǎn)重新計(jì)算控制界限控制對(duì)象受控是是3個(gè)或3個(gè)以上點(diǎn)超出控制界限否控制對(duì)象不在控制范圍消除變異緣由收據(jù)新數(shù)據(jù)重新計(jì)算控制界限否能否一切點(diǎn)落在控制界限內(nèi)P 控制圖范例樣本數(shù)一樣時(shí) 欲建立某PCB來(lái)料質(zhì)量情況的SPC，IQC每次抽樣150pcs進(jìn)展檢查，共抽30次，不良數(shù)與不良率如下，據(jù)此建立控制圖。CL= p = 0.023 n =150UCL= =0.060 LCL= =-0.014- 0P 控制圖范例樣本數(shù)一樣時(shí)CL= p = 0.0189 n =150UCL= =0.052 LC

36、L= =-0.0145- 0Next - 查找異常緣由，消除變異，再重新搜集數(shù)據(jù)。P 控制圖范例樣本數(shù)相差小于20%時(shí) 欲建立某PCB來(lái)料質(zhì)量情況的SPC，IQC對(duì)每批次進(jìn)展抽樣檢查，共抽30次，不良數(shù)與不良率如下，據(jù)此建立控制圖。MAXn=215 MINn=180 n =198 n*1+20%= 237 n*1-20%= 158 ，可以 n 替代 niP 控制圖范例樣本數(shù)相差小于20%時(shí)不良率都在控制界限內(nèi)，控制界限延續(xù)運(yùn)用CL= p = 0.021 UCL= =0.052 LCL= =-0.009-0 欲建立某PCB來(lái)料質(zhì)量情況的SPC，IQC對(duì)每批次進(jìn)展抽樣檢查，共抽30次，不良數(shù)與不良

37、率如下，據(jù)此建立控制圖。P 控制圖范例樣本數(shù)相差大于20%時(shí)MAXn=315 MINn=100 n =187 n*1+20%= 224 n*1-20%= 149 ，所以不可以 n 替代 niCL= p = 0.019 UCL= LCL=計(jì)算UCL、CL 、LCL如表。因不良率不能夠?yàn)樨?fù)數(shù)，因此LCL0時(shí)，取值0。P 控制圖范例樣本數(shù)相差大于20%時(shí)不良率都在控制界限內(nèi)，平均不良率延續(xù)運(yùn)用NP 控制圖備注： 樣本容量需堅(jiān)持恒定NP chart：中心線 CL = 控制上限 UCL= 控制下限 LCL=注： 公式中，Pn為平均不良數(shù)，P為平均不良率NP 控制圖繪制步驟Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step

38、2 計(jì)算平均不良品數(shù)Step 3 計(jì)算控制界限Step 4 繪制NP ChartStep 5 判別數(shù)據(jù)點(diǎn)能否都在控制界限內(nèi)Step 6 控制界限延續(xù)運(yùn)用NP 控制圖范例公司欲對(duì)某產(chǎn)品在經(jīng)過(guò)環(huán)測(cè)500h后的不良情況進(jìn)展監(jiān)控，因每次投環(huán)測(cè)數(shù)量一樣，因此確定運(yùn)用不良數(shù)控制圖。搜集25次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)如下：CL = Pn = 1.16 P = Pn/30=0.04UCL= = 1.16+3*SQRT1.16*1-0.04) = 4.33LCL= = 1.16 - 3*SQRT1.16*1-0.04) = -2.01?0不良數(shù)都在控制界限內(nèi)，控制界限延續(xù)運(yùn)用C chart：中心線 CL =控制上限 UCL=控

39、制下限 LCL=C 控制圖備注： 樣本容量需堅(jiān)持恒定C 控制圖繪制步驟Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算平均缺陷數(shù)Step 3 計(jì)算控制界限Step 4 繪制C ChartStep 5 判別數(shù)據(jù)點(diǎn)能否都在控制界限內(nèi)Step 6 控制界限延續(xù)運(yùn)用C 控制圖范例某紡織公司欲對(duì)其消費(fèi)的某種布匹的缺陷數(shù)進(jìn)展監(jiān)控，欲監(jiān)控的缺陷有異色、麻點(diǎn)、起毛，確定運(yùn)用不良數(shù)控制圖。每次抽樣10批，共搜集25個(gè)數(shù)據(jù)如下：CL = C = 23.12UCL= = 23.12+3*SQRT23.12) = 37.55LCL= = 23.12 - 3*SQRT23.12) = 8.70缺陷數(shù)都在控制界限內(nèi)，控制界限延續(xù)

40、運(yùn)用U chart：中心線 CL =控制上限 UCL=控制下限 LCL=U 控制圖備注：當(dāng)n相差=20%時(shí)用各自樣本數(shù)，此時(shí)控制界限不再是恒定值，而是不同的子組有不同的控制界限。U 控制圖繪制步驟Step 1 搜集數(shù)據(jù)Step 2 計(jì)算單位平均不良品數(shù)Step 3 計(jì)算控制界限Step 4 繪制U ChartStep 5 判別數(shù)據(jù)點(diǎn)能否都在控制界限內(nèi)Step 6 控制界限延續(xù)運(yùn)用U 控制圖范例樣本數(shù)相差小于20% 某PCBA加工公司欲對(duì)其消費(fèi)的某種PCBA的波峰爐焊接過(guò)程焊點(diǎn)不合格數(shù)進(jìn)展監(jiān)控，確定運(yùn)用單位缺陷數(shù)控制圖。每半小時(shí)抽樣一次，每次抽樣約100pcs，共搜集25個(gè)數(shù)據(jù)，計(jì)算每次的缺陷數(shù)

41、如下：U 控制圖范例樣本數(shù)相差小于20%MAXn=114 ， MINn=86 ， n =101，n*1+20%= 121， n*1-20%= 81， 所以可以 n 替代 niCL= U = 2.14 UCL= =2.14+3*SQRT2.14/101 =2.57 LCL= = 2.14 - 3*SQRT2.14/101= 1.70Next -查找異常緣由，消除變異，再重新搜集數(shù)據(jù)。U 控制圖范例樣本數(shù)相差小于20%MAXn=114 ， MINn=86 ， n =100，N*1+20%= 120， n*1-20%= 80， 所以可以 n 替代 niCL= U = 2.01UCL= =2.01+3

42、*SQRT2.01/100 =2.44 LCL= = 2.01 - 3*SQRT2.01/100= 1.59控制圖之控制上/下限圖表類型CLUCLLCLX-R chartXX + A2RX - A2RRD4RD3RX-s chartXX + A3sX - A3ssB4sB3sX-R chartxX + A2RX - A2RRD4RD3RX-RM chartXX + E2RX - E2RRmD4RD3RP chartPNP chartPnC chartCU chartU控制界限系數(shù)表ASTM STP-15DControl rule控制準(zhǔn)那么控制形狀的判別控制形狀：滿足以下條件，可以為制程是在控制

43、形狀。多數(shù)之資料點(diǎn)集中在中心線附近。少數(shù)之資料點(diǎn)落在控制界限附近。資料點(diǎn)分布呈隨機(jī)形狀，無(wú)任何規(guī)那么可循。沒(méi)有資料點(diǎn)超出控制界限之外。非控制形狀：資料點(diǎn)在控制界限的線外(或線上)。資料點(diǎn)雖在控制界限內(nèi)，但呈特殊陳列。采取措施判讀準(zhǔn)那么Control Rule準(zhǔn)那么1：?jiǎn)为?dú)一點(diǎn)落于控制界限之外樣本點(diǎn)沒(méi)有超出控制界限，但有以下的情形出現(xiàn)準(zhǔn)那么2：延續(xù) 9 點(diǎn)落在中心線同一側(cè)準(zhǔn)那么3：延續(xù) 6 點(diǎn)繼續(xù)上升(或下降)準(zhǔn)那么4：延續(xù) 14 點(diǎn)在中心線上下交互變動(dòng)準(zhǔn)那么5：延續(xù) 3 點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在 2 個(gè)規(guī)范差之外準(zhǔn)那么6：延續(xù) 5 點(diǎn)有 4 點(diǎn)超出一個(gè)規(guī)范差之外準(zhǔn)那么7：延續(xù) 15 點(diǎn)出如今一個(gè)規(guī)范差內(nèi)

44、準(zhǔn)那么8：延續(xù) 8 點(diǎn)出如今中心線兩側(cè)，且超出一個(gè)規(guī)范差之外控制圖的判讀-準(zhǔn)那么1畸形00C：一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限。適用范圍：全部控制圖能夠的緣由：人員操作異常；機(jī)臺(tái)參數(shù)設(shè)定錯(cuò)誤、設(shè)備缺點(diǎn)；量測(cè)錯(cuò)誤等UCLCLLCL發(fā)生幾率為： 2 x 0.00 = 0.0027發(fā)生幾率為： 2 x (0.5)9 = 0.0039控制圖的判讀-準(zhǔn)那么2水準(zhǔn)改動(dòng)UCLCLLCL延續(xù)9點(diǎn)位于中心線的一側(cè)。適用范圍：全部控制圖能夠的緣由： 新工人、新資料、新機(jī)器、新工藝； 制程平均水準(zhǔn)偏移； 機(jī)臺(tái)PM后等延續(xù)6點(diǎn)上升(后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn))或下降。適用范圍：全部控制圖能夠的緣由：工夾具磨損；人員疲勞；制程

45、開(kāi)場(chǎng)劣化等發(fā)生幾率為： 2 x (1/6!) = 0.0028控制圖的判讀-準(zhǔn)那么3趨勢(shì)LCLUCLCL延續(xù)14點(diǎn)相鄰點(diǎn)上下交替。適用范圍：全部控制圖能夠的緣由：兩個(gè)過(guò)程在一張圖上，分層缺乏如兩種資料、兩臺(tái)設(shè)備等；操作者過(guò)度控制；丈量系統(tǒng)周期性變化Monte Carlo實(shí)驗(yàn)結(jié)果：發(fā)生幾率約為0.004控制圖的判讀- 準(zhǔn)那么4系統(tǒng)性變數(shù)UCLCLLCL延續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)B區(qū)以外適用范圍：Xbar 、X能夠的緣由：設(shè)備機(jī)臺(tái)經(jīng)重新調(diào)整；夾治具位置不當(dāng)；不同批原料混用等發(fā)生幾率為：2 x C32 (0.0228)2 X 0.9772 + C33 (0.0228)3 =0.0031控制圖

46、的判讀-準(zhǔn)那么5水準(zhǔn)改動(dòng)UCLCLLCLCBACBA延續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在中心線的同一側(cè)C區(qū)以外適用范圍：Xbar 、X能夠的緣由：設(shè)備機(jī)臺(tái)經(jīng)重新調(diào)整；夾治具位置不當(dāng)；不同批原料混用等發(fā)生幾率為： 2 x C54 (0.1587)4 X 0.8413 + C55 (0.1587)5 =0.0055控制圖的判讀-準(zhǔn)那么6水準(zhǔn)改動(dòng)UCLCLLCLCBACBA延續(xù)15點(diǎn)在中心線兩側(cè)的C區(qū)內(nèi)。適用范圍：Xbar 、X能夠的緣由：量測(cè)數(shù)據(jù)小數(shù)點(diǎn)錯(cuò)誤，虛報(bào)數(shù)據(jù)；分層缺乏兩個(gè)機(jī)臺(tái)、兩種資料交替運(yùn)用；控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或需重新計(jì)算等發(fā)生幾率為：(0.6826)15 = 0.0033控制圖的判讀-準(zhǔn)那么7分層UCL

47、CLLCLCBACBA延續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè)，但無(wú)一在c區(qū)內(nèi)。適用范圍：Xbar 、X主要緣由能夠是出現(xiàn)了雙峰。運(yùn)用兩種以上的機(jī)臺(tái)或資料設(shè)備零部件、工夾具松動(dòng)；系統(tǒng)環(huán)境的變化溫度、操作者疲勞、設(shè)備參數(shù)動(dòng)搖等發(fā)生幾率為：(0.3174)8 = 0.0001控制圖的判讀-準(zhǔn)那么8混合UCLCLLCLCBACBA判讀準(zhǔn)那么Control Rule準(zhǔn)那么1：?jiǎn)为?dú)一點(diǎn)落于控制界限之外 準(zhǔn)那么2：延續(xù) 9 點(diǎn)落在中心線同一側(cè) 準(zhǔn)那么3：延續(xù) 6 點(diǎn)繼續(xù)上升(或下降) 準(zhǔn)那么4：延續(xù) 14 點(diǎn)在中心線上下交互變動(dòng) 準(zhǔn)那么5：延續(xù) 3 點(diǎn)中有兩點(diǎn)落在 2 個(gè)規(guī)范差之外 準(zhǔn)那么6：延續(xù) 5 點(diǎn)有 4 點(diǎn)超出一個(gè)規(guī)

48、范差之外 準(zhǔn)那么7：延續(xù) 15 點(diǎn)出如今一個(gè)規(guī)范差內(nèi) 準(zhǔn)那么8：延續(xù) 8 點(diǎn)出如今中心線兩側(cè)，且超出一個(gè)規(guī)范差之外判讀準(zhǔn)那么的選用并不是一切的斷定準(zhǔn)那么都必需運(yùn)用于任何過(guò)程控制的。典型的判讀準(zhǔn)那么選用參考如下：準(zhǔn)那么1、5最為通用；準(zhǔn)那么2、6對(duì)探測(cè)微小的過(guò)程變化比較敏感；準(zhǔn)那么4、8最能探測(cè)平均值的變化分層；準(zhǔn)那么7可以提示過(guò)程的改良；準(zhǔn)那么3用于探測(cè)過(guò)程的漂移。Case study-SPC 判讀直接以SPEC當(dāng)控制界限只需X-Bar chart只需以 rule 1 (單點(diǎn)超出規(guī)格)當(dāng)控制規(guī)那么21 PM 后明顯 Trend upX-Bar chartChart 長(zhǎng)期偏中心線上需 revie

49、w Ca 值，調(diào)整參數(shù)回至Target或改動(dòng)Target只需以 rule 1 當(dāng)控制規(guī)那么Case study-SPC 判讀不是只需對(duì)單點(diǎn)(Out of Control) 作ActionReview OOC & OOS Rate太高需檢討緣由或改動(dòng) Control Limit ( 訂定合理的Control Limit )有必要時(shí)能夠需在特殊改動(dòng)后(PM)添加檢驗(yàn)頻率556065707580123456789101112131415161718192021222324252627282930313233TimeValueUCLCLCL異常處置單據(jù)異常處置單據(jù)異常處置單據(jù)異常處置單據(jù)異常處置單據(jù)C

50、ase study-SPC 判讀長(zhǎng)期 trend chart off target工程師處置后未將形狀調(diào)回原來(lái)情況異常處置單據(jù)Case study-SPC 判讀工程師在異常處置時(shí)調(diào)整 recipe異常處置后變異變大不可以在 OOC / OOS 時(shí)馬上調(diào)整制程參數(shù)調(diào)整完后需追蹤一段時(shí)間，確保制程穩(wěn)定異常處置單據(jù)Case study-SPC 判讀Process Capability study制程才干分析CaCp/CpkPp/PpkAccuracy vs. PrecisionA. 準(zhǔn)確但不準(zhǔn)確B.不準(zhǔn)確但準(zhǔn)確C. 準(zhǔn)確且準(zhǔn)確D.不準(zhǔn)確又不準(zhǔn)確制程才干分析影響產(chǎn)品質(zhì)量是制程，因此對(duì)制造過(guò)程之控制，以

51、及其達(dá)成才干顯得格外重要，欲判別一制程才干好壞有三個(gè)主要數(shù)據(jù):一.為平均數(shù) X 代表集中趨勢(shì) :制程準(zhǔn)確度二.為規(guī)范差代表分散趨勢(shì) :制程準(zhǔn)確度三.為超出規(guī)格的不良率 P : 制程綜合指針原料產(chǎn)品制程 ( Process )pnp1p2p3p4規(guī)格界限與控制界限之區(qū)別制程才干分析衡量制程才干前，需先確認(rèn)二件事:制程能否在統(tǒng)計(jì)控制形狀Under Control一切的資料能否符合工程規(guī)格Within SpecUCLLCLUCLLCLUCLLCLUCLLCLLSLVoice of the Process/Process WidthUSLVoice of the CustomerCapability

52、=Voice of CustomerVoice of Process=Total ToleranceProcess WidthLCLUCL-3 -2 - 0 - -2 -3何謂制程才干何謂制程準(zhǔn)確度Ca制程準(zhǔn)確度CaCapability of Accuracy：衡量制程時(shí)平均值與規(guī)格中心值之一致性T=SU-SL=規(guī)格上限-規(guī)格下限單邊規(guī)格因沒(méi)有規(guī)格中心值,故不能計(jì)算CaCa值愈小質(zhì)量愈佳ABCD012.52550100維持改善為A立刻檢討改善采取緊急措施，必要時(shí)停產(chǎn)，全面檢討100%T/2ux100%格公差/2格中心值-中心值Ca-=規(guī)規(guī)實(shí)踐XX=何謂制程準(zhǔn)確度Cp制程精細(xì)度Cp Capabi

53、lity of Precision：衡量規(guī)格公差范圍與制程變異寬度相差程度Cp值愈大質(zhì)量愈佳00.671.001.331.672.00DCBAA降低本錢(qián)維持現(xiàn)狀改良為A全檢，改善緊急對(duì)策，進(jìn)展改善，檢討規(guī)格制程才干綜合評(píng)價(jià)：Cpk一個(gè)工程消費(fèi)實(shí)績(jī)能否到達(dá)規(guī)格的要求，是要 Ca 及 Cp 都要很好。有時(shí) Ca 雖然很好，但 Cp 不好，結(jié)果實(shí)踐也有很多會(huì)落在規(guī)格外；或是 Cp 很好，Ca 很差也會(huì)有很高不良率?？傇u(píng)就是用 Ca 及 Cp 對(duì)整個(gè)制程質(zhì)量作綜合評(píng)價(jià)。Ca很好，Cp太差LSL Target USL制程才干良好Cp很好，Ca太差LSL Target USLLSL Target USLC

54、pk之運(yùn)算Ca ， Cp ，Cpk1CaCpXT/2T6結(jié)合準(zhǔn)確度與準(zhǔn)確度之衡量不只需準(zhǔn)，還要穩(wěn)但普通review時(shí)，還是同時(shí)看兩個(gè)指針：先看Cpk整體才干如何，Cpk不好時(shí)再看Cp厘清是不穩(wěn)，還是不準(zhǔn)101418T1216T1014181216101418T1216Case study-指數(shù)差別闡明101418T1216101418T1216CpCplCpuCpk1623.01.01.0CpCplCpuCpk1723.50.50.5Case study-指數(shù)差別闡明CpCplCpuCpk1321.52.51.5CpCplCpuCpk1422.02.02.0CpCplCpuCpk1522.51

55、.51.5制程準(zhǔn)確度分析: Cp686664Cp=1.00Cp=0.67Cp=1.33Cp 僅思索分散范圍，未思索偏離目的值68Cp=1.3368Cp=1.3368Cp=1.33制程才干分析: Cp v.s Cpk68Cp=1.33, Cpk=1.3368Cp=1.33, Cpk=1.00Cp=1.00, Cpk=1.00 666Cp=1.00, Cpk=0.67 6Cp=0.67, Cpk=0.67 46Cp=0.67, Cpk=0.33 46制程才干指針summary制程才干與不良率普通常將Cp或Cpk值區(qū)分為等級(jí)值 預(yù)估不良率優(yōu)1.66以上5.76*10-7良1.331.66 6.34*

56、10-5 5.76*10-7中1.01.332.7*10-3 6.34*10-5可0.661.00.0455 2.7*10-3劣0.66以下0.0455當(dāng)Cp或Cpk值大于2.0時(shí)要留意能否為公差太寬松。由Ca ,Cp ,Cpk推算不良率Ca ， Cp ，Cpk1CaCpZ1 3 Cp1Ca . 由Z1 查常態(tài)分配表得P1 %Z2 3 Cp1Ca . 由Z2 查常態(tài)分配表得P2 %P % P1 % P2 % . 即為超出規(guī)格上下限之不良率注：Z 為規(guī)范常態(tài)變量XT/2T6Ca=1/6 (0.167)Cp=1 Cpk=5/6(0.833)Z1=3Cp(1+Ca)=3.5 P1=0.00023Z2

57、=3Cp(1-Ca)=2.5 P2=0.0062p=0.00023+0.0062=0.643%1000個(gè)工件中超出規(guī)格的有6.43個(gè)(7個(gè)) 某制程規(guī)格為25+/-3，今取樣50個(gè)，量測(cè)平均值為25.5，規(guī)范差為1，求Ca? Cp? Cpk?假設(shè)工件有1,000個(gè)，求超越規(guī)格的個(gè)數(shù)？Case study-由Ca ,Cp ,Cpk推算不良率不良率推算方法2Z1 . 由Z1 查常態(tài)分配表得P1 %Z2 . 由Z2 查常態(tài)分配表得P2 %P % P1 % P2 % . 即為超出規(guī)格上下限之不良率注：Z 為規(guī)范常態(tài)變量規(guī)范常態(tài)分配機(jī)率表0PZ z規(guī)范常態(tài)分配機(jī)率表規(guī)范常態(tài)分配機(jī)率表規(guī)范常態(tài)分配機(jī)率表制程才干 Process Capability:只需普通緣由或短期間之變異制程績(jī)效 Process Performance:包括一切之隨機(jī)與非隨機(jī)變異Capability vs. Performance只思索隨機(jī)