統(tǒng)計(jì)過程控制管理程序

1、1、目的通過SPC，識(shí)只是程變差的緣故，針對(duì)緣故采取措施，消除緣故，減少過程變差。2、范圍適用于公司SPC。3、術(shù)語 引用SPC手冊(cè)中附錄G的術(shù)語及符號(hào)。4、職責(zé) 技術(shù)質(zhì)量部負(fù)責(zé)SPC，其他部門配合。5、工作程序51本公司統(tǒng)計(jì)過程操縱采納的方法：計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)：采納P操縱圖，計(jì)算過程能力（即PPM值）。計(jì)量型數(shù)據(jù)；采納XR操縱圖，計(jì)算Ppk和Cpk。511XR操縱圖的繪制和使用A、收集數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)是以樣本容量恒定的小子組的形式報(bào)出的，這種子組通常包括2-5件連續(xù)的產(chǎn)品，并周期性的抽取子組（例如：每15分鐘抽樣一次，每班抽取兩次等）。應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的打算并將它作為收集、記錄及將數(shù)據(jù)畫到操縱圖上的依據(jù)

2、。A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大?。阂话阌?-5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表單一刀具、沖模板等生產(chǎn)出的產(chǎn)品。子組頻率：應(yīng)當(dāng)在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻收集足夠的子組，一般對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率能夠是每班兩次、每小時(shí)一次或其他可行的頻率。子組數(shù)的大?。阂话闱闆r下，包含100或更多單值讀數(shù)的25或更多個(gè)子組數(shù)能夠?qū)ｉT好的用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性。A2建立操縱圖及記錄原始數(shù)據(jù)XR圖通常是將X圖畫在R圖之上方，下面在接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。X和R的值為縱坐標(biāo)，按時(shí)刻先后的子組為橫坐標(biāo)。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。同時(shí)還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（X）、極差（R）以及日期或其他識(shí)不子組的代

3、碼的空間。填入每個(gè)子組的單個(gè)讀數(shù)及識(shí)不代碼。A3計(jì)算每個(gè)子組的均值（X）和極差（R）畫在操縱圖上的特性量是每個(gè)子組的樣本均值（X）和樣本極差（R），合在一起后它們分不反映整個(gè)過程的均值及其極差。關(guān)于每個(gè)子組，計(jì)算： X1+X2+Xn X= n R=X最大值X最小值式中：X1+X2+Xn為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。n 為子組的樣本容量A4選擇操縱圖的刻度兩個(gè)操縱圖的縱坐標(biāo)分不用于X和R的測(cè)量值。關(guān)于X圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值的最大值與最小值差的2倍。關(guān)于R圖，刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始時(shí)期所遇到的最大極差的2倍。A5將均值和極差畫在操縱圖上 將均值和

4、極差分不畫在其各自的圖上將各點(diǎn)用直線連接起來從而得到可見的圖形和趨勢(shì)。簡(jiǎn)要的掃瞄一下所有畫上去的點(diǎn)，看是否合理，假如有的點(diǎn)高的專門多或者低的專門多，需確認(rèn)計(jì)算和畫圖是否正確，應(yīng)確保所畫的X和R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。B、計(jì)算操縱限B1計(jì)算平均極差（R）及過程均值（X） R1+ R2+RkR= k X1+X2+XkX = k式中：k為子組的數(shù)量，R1和X1即為第一個(gè)子組的極差和均值，R2和X2為第一個(gè)子組的極差和均值，等等。B2計(jì)算操縱限計(jì)算操縱限：UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX= X A2R LCLX= X A2R式中：D4、 D3 、A2為常數(shù)，參見下表：n2345678910D43

5、.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31B3在操縱圖上作出平均值和極差操縱限的操縱線將平均極差和過程均值畫成水平實(shí)線，各操縱限畫成水平虛線，把線標(biāo)上記號(hào)。C過程操縱解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)a超出界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)操縱限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的要緊證據(jù)。任何超出操縱限的點(diǎn)立即進(jìn)行分析，找出存在專門緣故的信號(hào)。給任何超出操縱限的點(diǎn)做標(biāo)記，以便依照專門緣故實(shí)際開始的時(shí)刻進(jìn)行調(diào)查，采取糾正措施。超出極差上操縱限的點(diǎn)通常講明存在下列情況中的一種

6、或幾種：操縱限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；零件間的變化性或分布的寬度差不多增大（即變壞），這種增大能夠發(fā)生在某個(gè)時(shí)刻點(diǎn)上，也可能是整個(gè)趨勢(shì)的一部分；測(cè)量系統(tǒng)變壞（例如，不同的檢驗(yàn)員或量具）測(cè)量系統(tǒng)沒有適當(dāng)?shù)姆直媪ΑＳ幸稽c(diǎn)位于操縱限之下（關(guān)于樣本容量大小等于7的情況），講明存在下列的一種或幾種情況：操縱限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；分布的寬度變?。醋兒茫?；測(cè)量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換）。b鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì)連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；連續(xù)7點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降。標(biāo)記這些點(diǎn)，分析緣故，采取措施。高于平均極差的鏈或上升鏈講明存在下列情況之一或全部：輸出值的寬度增加，其緣故可

7、能是無規(guī)律的（例如設(shè)備工作不正常或固定松動(dòng)）或是由于過程中的某個(gè)要素變化（例如：使用新的不是專門一致的原材料），這些差不多上常見的問題，需要糾正；測(cè)量系統(tǒng)改變（例如，新的檢驗(yàn)員和量具）。低于平均極差的鏈，或下降鏈表明存在下列情況之一或全部：輸出值分布寬度減小，這常常是一個(gè)好狀態(tài)，應(yīng)研究以便推廣應(yīng)用和改進(jìn)過程；測(cè)量系統(tǒng)改變，如此會(huì)掩蓋過程真實(shí)性能的變化。c明顯的非隨機(jī)圖形：明顯的趨勢(shì)（盡管它們不屬于鏈的情況），周期性，數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)操縱限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。分析并找出緣故，采取措施。一般情況下大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在操縱限的中間三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的三分之二的

8、區(qū)域。假如顯著多于2/3以上的描點(diǎn)落在離極差均值專門近之處，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查：操縱限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；過程或取樣方法被分層；每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值（例如從幾組軸中每組抽一根測(cè)取數(shù)據(jù)）；數(shù)據(jù)差不多被編輯；假如顯著少于2/3以下的描點(diǎn)落在離極差均值專門近的區(qū)域，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào)查：操縱限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)具有明顯不同的變化性的過程流的測(cè)量值（例如：輸入材料批次混淆）。假如存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分不識(shí)不和追蹤。C2識(shí)不并標(biāo)注專門緣故 對(duì)極差數(shù)據(jù)內(nèi)每個(gè)專門緣故進(jìn)行標(biāo)注，作

9、過程操作分析，從而確定該緣故并改進(jìn)對(duì)過程的理解，糾正條件同時(shí)防止再發(fā)生。C3重新計(jì)算操縱限（極差圖）排除所有已被識(shí)不并解決或固定下來的專門緣故阻礙的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差和操縱限，并畫下來。由于專門緣故而從極差圖中去掉的子組，也應(yīng)從均值圖中去掉。修改后的平均極差和均值可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)操縱限。C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)a超出操縱限的點(diǎn)：出現(xiàn)一點(diǎn)或多點(diǎn)超出任一操縱限就證明在這點(diǎn)出現(xiàn)專門緣故。應(yīng)立即對(duì)操作進(jìn)行分析。在操縱圖上標(biāo)注如此的數(shù)據(jù)點(diǎn)。一點(diǎn)超出任一操縱限通常表明存在下列情況之一或更多：操縱限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；過程已改變，或是在當(dāng)時(shí)的那一點(diǎn)（可能是一件獨(dú)立的事件）或是一種趨勢(shì)的一部分；測(cè)

10、量系統(tǒng)發(fā)生改變（例如，不同的檢驗(yàn)員和量具）。b鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢(shì)1）連續(xù)7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；2）連續(xù)7點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降；標(biāo)記這些點(diǎn)，分析緣故，采取措施。與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者：過程均值已改變也許還在變化；測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移、偏倚、靈敏度等）。c明顯的非隨機(jī)圖形：如明顯的趨勢(shì)（盡管它們不屬于鏈的情況），周期性，數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)操縱限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。分析并找出緣故，采取措施。一般情況下大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在操縱限的中間三分之一的中間區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的三分之二的區(qū)域。1/20的點(diǎn)應(yīng)落在操縱限

11、較近之處（位于外1/3的區(qū)域）。另外，存在大約1/150的點(diǎn)落在操縱限之外，但可認(rèn)為是受控穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部分確實(shí)是講，在約99.73%的點(diǎn)位于操縱限之內(nèi)。假如大大超過2/3以上的描點(diǎn)落在過程均值專門近之處，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查：1）操縱限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；2）過程或取樣方法被分層；每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè)具有不同均值的過程流的測(cè)量值；3）數(shù)據(jù)差不多被編輯；假如顯著少于2/3以下的數(shù)據(jù)點(diǎn)落在過程均值專門近的區(qū)域，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或兩種進(jìn)行調(diào)查：1）操縱限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)；2）過程或抽樣方法造成連續(xù)的子組中包含從兩個(gè)或多個(gè)具有明顯不同過程流的測(cè)量值。假如存在幾個(gè)過程流

12、，應(yīng)分不識(shí)不和追蹤。C5識(shí)不并標(biāo)注專門緣故 對(duì)均值數(shù)據(jù)中每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過程操作分析，從而確定專門緣故產(chǎn)生的理由，糾正該狀態(tài)，同時(shí)防止再發(fā)生。C6重新計(jì)算操縱限（均值圖）排除所有已被識(shí)不并解決或固定下來的專門緣故阻礙的任何失控的點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫過程均值和操縱限。確保當(dāng)與新的操縱限相比時(shí)，所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)看起來都處于受控狀態(tài)。D過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 只要過程的極差和均值都處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)，則可用可能的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差（R/d2）來評(píng)價(jià)過程的能力。R/d2 =R/d2n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D

13、2計(jì)算過程能力 USLX XLSL關(guān)于Ppk= min，3s 3s s= n （XiX）2 i=1 n1 USLX XLSL關(guān)于Cpk= min，3R/d2 3R/d2 式中：USL，LSL=規(guī)范上限和下限，R/d2為可能的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差，s為過程總變差。D3評(píng)價(jià)過程能力依照是否符合顧客的要求來評(píng)價(jià)過程能力。顧客要求的過程能力參見PPAP操縱程序。不論是對(duì)未滿足的能力指數(shù)值作出響應(yīng)，或是為超過最低能力指數(shù)要求對(duì)持續(xù)改進(jìn)成本和質(zhì)量性能作出響應(yīng)，所要求的措施是相同的：通過減少一般緣故引起的變差或?qū)⑦^程均值調(diào)整到接近目標(biāo)值方法來改進(jìn)過程性能，這通常意味著要采取治理措施來改進(jìn)系統(tǒng)；在那些要采取更為緊急措

14、施來滿足短期需要的情況，可用以下兩種臨時(shí)的方法：對(duì)輸出進(jìn)行篩選，依照需要進(jìn)行報(bào)廢或返工處置；改變規(guī)范使之與過程性能一致（如此既不能改進(jìn)過程也不能滿足顧客要求）；以上兩種方法與過程改進(jìn)相比顯然是下策。D4提高過程能力為了提高過程能力，必須重視減少一般緣故。必須將注意力直接集中在系統(tǒng)中，即造成過程變異性的全然因素上，例如：機(jī)器性能、輸入材料的一致性、過程操作的差不多方法、培訓(xùn)方法或工作環(huán)境。一般來講，糾正這些造成不可同意的過程能力的系統(tǒng)緣故可能會(huì)超出操作者或它們的現(xiàn)場(chǎng)治理人員的能力。相反，需要采取治理層介入做一些差不多的變化、分配資源，并為改進(jìn)過程的整個(gè)性能進(jìn)行協(xié)調(diào)。用短期的局部措施來糾正系統(tǒng)是可

15、不能成功的。D5對(duì)修改的過程繪制操縱圖并分析對(duì)過程已采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在操縱圖上表現(xiàn)出來。操縱圖變成了驗(yàn)證措施是否有效的一種方式。在對(duì)過程實(shí)施改變時(shí)，應(yīng)認(rèn)確實(shí)監(jiān)視操縱圖。在該變化期間會(huì)使操作發(fā)生混亂，有可能造成新的操縱問題，掩蓋系統(tǒng)變化的真實(shí)效果。在變化時(shí)期的所有不穩(wěn)定的因素都能解決后，應(yīng)評(píng)定新的過程能力并將他作為今后操作新操縱限的基礎(chǔ)，通常情況下，變化后用25個(gè)子組的數(shù)據(jù)足以建立新的操縱限。512 P操縱圖的繪制和使用A收集數(shù)據(jù)A1 選擇子組的容量，頻率及數(shù)量a子組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的操縱圖一般要求較大的子組容量（例如50到200或更多）以便檢驗(yàn)出性能的一般變化。關(guān)于顯示可分析的

16、圖形的操縱圖，子組容量應(yīng)足夠大，大到每個(gè)組內(nèi)包括幾個(gè)不合格品。b分組頻率：應(yīng)依照產(chǎn)品的周期確定分組的頻率以便關(guān)心分析和糾正發(fā)覺的問題。時(shí)刻間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾。c子組的數(shù)量：收集數(shù)據(jù)的時(shí)刻應(yīng)足夠長(zhǎng)，使得能找到所有可能的阻礙過程的變差源。一般情況下，也應(yīng)包括25或更多的子組，以便專門多地檢驗(yàn)過程的穩(wěn)定性，同時(shí)假如過程穩(wěn)定，對(duì)過程性能也可產(chǎn)生可靠的可能。A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（p）計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的下列值：被檢項(xiàng)目的數(shù)量（n）發(fā)覺的不合格項(xiàng)目的數(shù)量（np）通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率： p = np/n 這些數(shù)據(jù)應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中作為初步研究的基礎(chǔ)。當(dāng)最近的過程數(shù)據(jù)適用

17、時(shí)，它們能夠用來加速這一時(shí)期的研究。A3選擇操縱圖的坐標(biāo)刻度描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)不（小時(shí)、天等）作為橫坐標(biāo)。縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。A4將不合格品率描繪在操縱圖上描繪每個(gè)子組的p值，將這些點(diǎn)聯(lián)成線通常有助于發(fā)覺異常圖形和趨勢(shì)。當(dāng)點(diǎn)描完后，粗覽一遍看看它們是否合理。假如任意一點(diǎn)比不的高出專門多或低出專門多，檢查計(jì)確實(shí)是否正確。記錄過程的變化或者可能阻礙過程的異常情況，當(dāng)這些情況被發(fā)覺時(shí)，將它們記錄在操縱圖的“備注”部分。B計(jì)算操縱限B1計(jì)算過程平均不合格品率（ p ）關(guān)于k個(gè)子組的研究時(shí)期，計(jì)算不合格品率的均值如下：

18、n1p1n2p2nkpkp = n1n2nk式中：n1p1，n2p2及n1，n2為每個(gè)子組的不合格項(xiàng)目數(shù)及檢查的項(xiàng)目數(shù)。注意不要混淆不合格品百分?jǐn)?shù)（p100）和不合格品率（p）。B2計(jì)算上、下操縱限（UCL，LCL）假如過程受統(tǒng)計(jì)操縱，子組的樣本容量一定，則操縱限為過程平均值加或減期望的變差同意值。關(guān)于K個(gè)子組的研究時(shí)期，按下式計(jì)算上下操縱限：UCLP= p3p（1p）/ n LCLP= p 3p（1p）/ n式中：n為恒定的樣本容量。B3畫線并標(biāo)注過程均值（ p ）：水平實(shí)線。操縱限（UCL，LCL）：水平虛線。當(dāng)各子組容量與其平均值相差不超過正負(fù)25%時(shí)，（典型的處于相對(duì)穩(wěn)定的條件下的實(shí)際

19、生產(chǎn)量），可用平均樣本容量（ n ）來計(jì)算操縱限。在這種情況下，UCLP，LCLP=p3p（1p）/n 。當(dāng)子組容量的變化超過上述值時(shí)，則要求單獨(dú)計(jì)算這些特不小或特不大樣本時(shí)期的操縱限。確定可能超過其平均值25%的樣本容量范圍，找出樣本容量超出該范圍的所有子組；按下式重新計(jì)算這些點(diǎn)準(zhǔn)確的操縱限：UCLP，LCLP= p3p（1p）/ n式中：n為專門子組的樣本容量，點(diǎn)與點(diǎn)之間只有n的值變化。在操縱圖上描繪受阻礙的子組新的上、下操縱限，并作為識(shí)不專門緣故的依據(jù)。C過程操縱用操縱圖解釋目的：找出過程不在以同一水平運(yùn)行的證據(jù)，即過程失控，并采取相應(yīng)的措施。數(shù)據(jù)點(diǎn)中存在超出操縱限的點(diǎn)，或者存在超出隨機(jī)

20、情況下可能出現(xiàn)的明顯趨勢(shì)或圖形，這就表明存在變差的緣故。C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)超出操縱限的點(diǎn)a超出任一操縱限就證明在那點(diǎn)不穩(wěn)定。應(yīng)標(biāo)注任何超出操縱的點(diǎn)。超出上操縱限的點(diǎn)（不合格品率更高）通常表明存在下列的一個(gè)或多個(gè)情況：操縱限或描點(diǎn)錯(cuò)誤過程性能惡化，在當(dāng)時(shí)那點(diǎn)或作為一種趨勢(shì)的一部分；評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改變（例如：檢驗(yàn)員、量規(guī)）；低于操縱限下的點(diǎn)（不合格品率更低）通常表明存在下列一個(gè)或多個(gè)情況：操縱限或描點(diǎn)錯(cuò)誤；過程性能已改進(jìn)（為了改進(jìn)，應(yīng)當(dāng)研究這種情況且長(zhǎng)期保持）；測(cè)量系統(tǒng)已改進(jìn)。在操縱限之內(nèi)的圖形或趨勢(shì)出現(xiàn)異常的圖形或趨勢(shì)，即使所有的點(diǎn)都在操縱限之內(nèi)，都證明在出現(xiàn)那個(gè)圖形或趨勢(shì)的時(shí)期內(nèi)過程

21、失控或性能水平變化。這種情況會(huì)提早給出有關(guān)狀態(tài)的警告，如不糾正，這種狀態(tài)將造成點(diǎn)超出操縱限。b鏈：在一個(gè)受控的，np中等較大的過程中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等。下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢(shì)：連續(xù)7點(diǎn)位于均值的一側(cè)；連續(xù)7點(diǎn)上升（后者與前者相等或比前者大）或連續(xù)的下降。在這些情況下，應(yīng)對(duì)促使采取措施的點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記。出現(xiàn)高于均值的長(zhǎng)鏈或連續(xù)上升的點(diǎn)，通常表明存在下列情況之一或兩者：過程的性能已惡化而且可能還在惡化；評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改變。出現(xiàn)低于均值的長(zhǎng)鏈或連續(xù)下降，通常表明存在下列情況之一：過程性能已改進(jìn)（應(yīng)研究其緣故，并將他固定下來）；評(píng)價(jià)系統(tǒng)已改變。c明顯的非隨機(jī)圖形：點(diǎn)到過程

22、均值的距離：通常在一個(gè)統(tǒng)計(jì)操縱狀態(tài)，僅存在一般緣故變差同時(shí)其np中等較大的過程中，大約2/3的點(diǎn)將在位于操縱限中部1/3的區(qū)域內(nèi)；大約1/3的點(diǎn)將位于操縱限2/3以內(nèi)的區(qū)域，大約1/20的點(diǎn)將位于與操縱限較接近的區(qū)域（外部三分之一區(qū)域）。假如明顯多于2/3的點(diǎn)位于與均值接近的地點(diǎn)，這就意味著下列一種或幾種情況：操縱限或描點(diǎn)的計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤；過程或取樣方法分層：每個(gè)子組包含來自兩個(gè)或多個(gè)具有不同平均性能的過程流的測(cè)量（例如：兩條平行的生產(chǎn)線混合的輸出）；數(shù)據(jù)被編輯過（明顯偏離均值的值已換掉或剔除）。假如大大少于2/3的點(diǎn)位于過程均值較近的區(qū)域，則意味著存在下列情況之一或全部：發(fā)生了計(jì)算或描點(diǎn)

23、錯(cuò)誤；過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來自兩個(gè)或多個(gè)具有不同均值性能的過程流的測(cè)量（例如：每班之間性能的差異）。假如存在幾個(gè)過程流，應(yīng)分不識(shí)不和跟蹤它們。C2查找并糾正專門緣故 當(dāng)從數(shù)據(jù)中已發(fā)覺了失控的情況時(shí)，則必須研究操作過程以便確定其緣故。然后糾正該緣故并盡可能防止其再發(fā)生。C3重新計(jì)算操縱限當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)操縱限，以便排除某些操縱時(shí)期的阻礙，這些時(shí)期中操縱狀態(tài)受到專門緣故的阻礙，但已被糾正。剔除與專門緣故有關(guān)的點(diǎn)，應(yīng)重新計(jì)算操縱限。D過程能力解釋D1計(jì)算過程能力關(guān)于p圖，過程能力是通過過程平均不合格品率p 來表示。當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。如需要，還能夠用符合規(guī)范的比率（1p）來表示；關(guān)于過程能力的初步可能值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與專門緣故有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)。當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)操縱。這些連續(xù)的受控的時(shí)期子組的p值是該過程當(dāng)前能力的更