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1、Good is good, but better carries it.精益求精,善益求善。半導(dǎo)體物理學(xué)習(xí)題庫-第1章思考題和習(xí)題1.300K時(shí)硅的晶格常數(shù)a=5.43,求每個(gè)晶胞內(nèi)所含的完整原子數(shù)和原子密度為多少?2.綜述半導(dǎo)體材料的基本特性及Si、GaAs的晶格結(jié)構(gòu)和特征。3.畫出絕緣體、半導(dǎo)體、導(dǎo)體的簡(jiǎn)化能帶圖,并對(duì)它們的導(dǎo)電性能作出定性解釋。4.以硅為例,簡(jiǎn)述半導(dǎo)體能帶的形成過程。5.證明本征半導(dǎo)體的本征費(fèi)米能級(jí)Ei位于禁帶中央。6.簡(jiǎn)述遷移率、擴(kuò)散長(zhǎng)度的物理意義。7.室溫下硅的有效態(tài)密度Nc=2.81019cm-3,T=0.026eV,禁帶寬度Eg=1.12eV,如果忽略禁帶寬度隨溫
2、度的變化,求:(a)計(jì)算77K、300K、473K3個(gè)溫度下的本征載流子濃度。(b)300K本征硅電子和空穴的遷移率分別為1450cm2/Vs和500cm2/Vs,計(jì)算本征硅的電阻率是多少?8.某硅棒摻有濃度分別為1016/cm3和1018/cm3的磷,求室溫下的載流子濃度及費(fèi)米能級(jí)EFN的位置(分別從導(dǎo)帶底和本征費(fèi)米能級(jí)算起)。9.某硅棒摻有濃度分別為1015/cm3和1017/cm3的硼,求室溫下的載流子濃度及費(fèi)米能級(jí)EFP的位置(分別從價(jià)帶頂和本征費(fèi)米能級(jí)算起)。10.求室溫下?lián)搅诪?017/cm3的N+型硅的電阻率與電導(dǎo)率。11.摻有濃度為31016cm-3的硼原子的硅,室溫下計(jì)算:(
3、a)光注入n=p=31012cm-3的非平衡載流子,是否為小注入?為什么?(b)附加光電導(dǎo)率為多少?(c)畫出光注入下的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)EFN和EFP(Ei為參考)的位置示意圖。(d)畫出平衡下的能帶圖,標(biāo)出EC、EV、EFP、Ei能級(jí)的位置,在此基礎(chǔ)上再畫出光注入時(shí),EFP和EFN,并說明偏離EFP的程度是不同的。12.室溫下施主雜質(zhì)濃度ND=41015cm-3的N型半導(dǎo)體,測(cè)得載流子遷移率n=1050cm2/Vs,p=400cm2/Vs,T/q=0.026V,求相應(yīng)的擴(kuò)散系數(shù)和擴(kuò)散長(zhǎng)度為多少?第2章思考題和習(xí)題1簡(jiǎn)述結(jié)空間電荷區(qū)的形成過程和動(dòng)態(tài)平衡過程。2畫出平衡結(jié),正向結(jié)與反向結(jié)的能帶圖,并進(jìn)
4、行比較。3如圖-所示,試分析正向小注入時(shí),電子與空穴在個(gè)區(qū)域中的運(yùn)動(dòng)情況。4仍如圖-為例試分析PN結(jié)加反向偏壓時(shí),電子與空穴在個(gè)區(qū)域中的運(yùn)動(dòng)情況。5試畫出正、反向PN結(jié)少子濃度分布示意圖,寫出邊界少子濃度及少子濃度分布式,并給予比較。6.用平衡PN結(jié)的凈空穴等于零的方法,推導(dǎo)出突變結(jié)的接觸電動(dòng)勢(shì)差UD表達(dá)式。7簡(jiǎn)述正反向PN結(jié)的電流轉(zhuǎn)換和傳輸機(jī)理。8何為正向PN結(jié)空間電荷區(qū)復(fù)合電流和反向PN結(jié)空間電荷區(qū)的產(chǎn)生電流。9寫出正、反向電流_電壓關(guān)系表達(dá)式,畫出PN結(jié)的伏安特性曲線,并解釋pN結(jié)的整流特性特性。10推導(dǎo)硅突變結(jié)空間電荷區(qū)電場(chǎng)分布及其寬度表達(dá)式。并畫出示意圖。11推導(dǎo)線性緩變變結(jié)空間電荷
5、區(qū)電場(chǎng)分布及其寬度表達(dá)式。并畫出示意圖。12什么叫PN結(jié)的擊穿與擊穿電壓,簡(jiǎn)述PN結(jié)雪崩擊穿與隧道擊穿的機(jī)理,并說明兩者之間的不同之處。13如何提高硅單邊突變結(jié)的雪崩擊穿電壓?14如何提高線性緩變結(jié)的雪崩擊穿電壓?15如何減小PN結(jié)的表面漏電流?16什么叫PN結(jié)的電容效應(yīng)、勢(shì)壘電容和擴(kuò)散電容?17什么叫做二極管的反向恢復(fù)過程和反向恢復(fù)時(shí)間?提高二極管開關(guān)速度的途徑有哪些?18以N型硅片為襯底擴(kuò)硼制備PN結(jié),已知硼的分布為高斯函數(shù)分布,襯底濃度ND=11015/cm3,在擴(kuò)散溫度為1180下硼在硅中的擴(kuò)散系數(shù)D=1.510-12cm2/s,擴(kuò)散時(shí)間t=30min,擴(kuò)散結(jié)深Xj=2.7m。試求:擴(kuò)
6、散層表面雜質(zhì)濃度Ns?結(jié)深處的濃度梯度aj?接觸電勢(shì)差UD?有兩個(gè)硅結(jié),其中一個(gè)結(jié)的雜質(zhì)濃度,;另一個(gè)結(jié)的,求室溫下兩個(gè)PN結(jié)的接觸電動(dòng)勢(shì)差。并解釋為什么雜質(zhì)濃度不同,接觸電動(dòng)勢(shì)差的大小也不同。計(jì)算一硅PN結(jié)在300K時(shí)的內(nèi)建電場(chǎng),。已知硅PN結(jié):,截面積,求理想飽和電流?外加正向電壓為時(shí)的正向電流密度?電子電流與空穴電流的比值?并給以解釋。仍以上題的條件為例,假設(shè)計(jì)算反向偏壓時(shí)的產(chǎn)生電流密度。最大電場(chǎng)強(qiáng)度(T=300K)?求反型電壓300時(shí)的最大電場(chǎng)強(qiáng)度。對(duì)于一個(gè)濃度梯度為的硅線性緩變結(jié),耗盡層寬度為。計(jì)算最大電場(chǎng)強(qiáng)度和結(jié)的總電壓降。一硅N結(jié),其,面積計(jì)算反向偏壓分別等于和的么勢(shì)壘電容、空間
7、電荷區(qū)寬度和最大電場(chǎng)強(qiáng)度。計(jì)算硅結(jié)的擊穿電壓,其(利用簡(jiǎn)化式)。在襯底雜質(zhì)濃度的型硅晶片上進(jìn)行硼擴(kuò)散,形成結(jié),硼擴(kuò)散后的表面濃度結(jié)深。試求結(jié)深處的濃度梯度,施加反向偏壓時(shí)的單位面積勢(shì)壘電容和擊穿電壓。設(shè)計(jì)一突變結(jié)二極管。其反向電壓為,且正向偏壓為時(shí)的正向電流為。并假設(shè)。一硅N結(jié),求擊穿時(shí)的耗盡層寬度,若區(qū)減小到計(jì)算擊穿電壓并進(jìn)行比較。30.一個(gè)理想的硅突變結(jié),求計(jì)算、下的內(nèi)建電場(chǎng),并畫出對(duì)溫度的關(guān)系曲線。用能帶圖討論所得結(jié)果。求下零偏壓的耗盡層寬度和最大電場(chǎng)。第3章思考題和習(xí)題1.畫出PNP晶體管在平衡和有源工作模式下的能帶圖和少子分布示意圖。2.畫出正偏置的NPN晶體管載流子輸運(yùn)過程示意圖,
8、并解釋電流傳輸和轉(zhuǎn)換機(jī)理。3.解釋發(fā)射效率0和基區(qū)輸運(yùn)系數(shù)0的物理意義。4.解釋晶體管共基極直流電流放大系數(shù),共發(fā)射極直流電流放大系數(shù)的含義,并寫出、0和0的關(guān)系式。5.什么叫均勻基層晶體管和緩變基區(qū)晶體管??jī)烧咴诠ぷ髟砩嫌惺裁床煌?.畫出晶體管共基極、共發(fā)射機(jī)直流輸出、輸出特性曲線、并討論它們之間的異同。晶體管的反向電流、是如何定義的?寫出與之間的關(guān)系式并加以討論。晶體管的反向擊穿電壓、是如何定義的?寫出與之間的關(guān)系式,并加以討論。高頻時(shí)晶體管電流放大系數(shù)下降的原因是什么?描寫晶體管的頻率參數(shù)主要有哪些?它們分別的含義是什么?影響特征頻率的因素是什么?如何特征頻率?畫出晶體管共基極高頻等
9、效電路圖和共發(fā)射極高頻等效電路圖。大電流時(shí)晶體管的、下降的主要原因是什么?簡(jiǎn)要敘述大注入效應(yīng)、基區(qū)擴(kuò)展效應(yīng)、發(fā)射極電流集邊效應(yīng)的機(jī)理。什么叫晶體管最大耗散功率?它與哪些因素有關(guān)?如何減少晶體管熱阻?畫出晶體管的開關(guān)波形,圖中注明延遲時(shí)間、上升時(shí)間、儲(chǔ)存時(shí)間、下降時(shí)間,并解釋其物理意義。解釋晶體管的飽和狀態(tài)、截止?fàn)顟B(tài)、臨界飽和和深飽和的物理意義。以硅平面為例,當(dāng)發(fā)射結(jié)正偏、集電結(jié)反偏狀態(tài)下,分別說明從發(fā)射極進(jìn)入的電子流,在晶體管的發(fā)射區(qū)、發(fā)射結(jié)勢(shì)壘區(qū)、基區(qū)、集電結(jié)勢(shì)壘和集電區(qū)的傳輸過程中,以什么運(yùn)動(dòng)形式(指擴(kuò)散或漂移)為主。試比較、的相對(duì)大小。畫出晶體管飽和態(tài)時(shí)的載流子分布,并簡(jiǎn)述超量存儲(chǔ)電荷的
10、消失過程。21.畫出普通晶閘的基本結(jié)構(gòu)圖,并簡(jiǎn)述其基本工作原理。22.有一低頻小功率合金晶體管,用N型Ge作基片,其電阻率為1.5cm,用燒銦合金方法制備發(fā)射區(qū)和集電區(qū),兩區(qū)摻雜濃度約為31018/cm3,求ro(已知Wb=50,Lne=5)。23.某一對(duì)稱的P+NP+鍺合金管,基區(qū)寬度為5,基區(qū)雜質(zhì)濃度為51015cm-3,基區(qū)空穴壽命為10(AE=AC=10-3cm2)。計(jì)算在UEB=0.26V、UCB=-50V時(shí)的基極電流IB?求出上述條件下的0和0(r01)。24.已知均勻基區(qū)硅NPN晶體管的0=0.99,BUCBO=150V,Wb=18.7,基區(qū)中電子壽命b=1us(若忽略發(fā)射結(jié)空間
11、電荷區(qū)復(fù)合和基區(qū)表面復(fù)合),求0、0、0*和BUCEO(設(shè)Dn=35cm2/s).25.已知NPN雙擴(kuò)散外延平面晶體管,集電區(qū)電阻率c=1.2cm,集電區(qū)厚度Wc=10,硼擴(kuò)散表面濃度NBS=51018cm-3,結(jié)深Xjc=1.4。求集電極偏置電壓分別為25V和2V時(shí)產(chǎn)生基區(qū)擴(kuò)展效應(yīng)的臨界電流密度。26.已知P+NP晶體管,其發(fā)射區(qū)、基區(qū)、集電區(qū)德雜質(zhì)濃度分別為51018cm-3、21016cm-3、11015cm-3,基區(qū)寬度Wb=1.0,器件截面積為0.2mm2,當(dāng)發(fā)射結(jié)上的正向偏壓為0.5V,集電結(jié)反向偏壓為5V時(shí),計(jì)算:(1)中性基區(qū)寬度?(2)發(fā)射結(jié)少數(shù)載流子濃度?27.對(duì)于習(xí)題26
12、中的晶體管,少數(shù)載流子在發(fā)射區(qū)、基區(qū)、集電區(qū)德擴(kuò)散系數(shù)分別為52cm2/s、40cm2/s、115cm2/s,對(duì)應(yīng)的少數(shù)載流壽命分別為10-8s、10-7s、10-6s,求晶體管的各電流分量?28.利用習(xí)題26、習(xí)題27所得到的結(jié)果,求出晶體管的端點(diǎn)電流IE、IC和IB。求出晶體管的發(fā)射效率、基區(qū)輸運(yùn)系數(shù)、共基極電流增益和共發(fā)射極電流增益,并討論如何改善發(fā)射效率和基區(qū)運(yùn)輸系數(shù)?29.判斷下列兩個(gè)晶體管的最大電壓的機(jī)構(gòu)是否穿通:晶體管1:BUCBO=105V;BUCEO=96V;BUEBO=9V;BUCES=105V(BUCES為基極發(fā)射極短路時(shí)的集電極發(fā)射極擊穿電壓)晶體管2:BUCBO=75
13、V;BUCEO=59V;BUEBO=6V。30.已知NPN晶體管共發(fā)射極電流增益低頻值0=100,在20MHz下測(cè)得電流增益|=60。求工作頻率上升到400MHz時(shí),下降到多少?計(jì)算出該管的和T。31.分別畫出NPN晶體管小注入和大注入時(shí)基區(qū)少子分布圖,簡(jiǎn)述兩者的區(qū)別于原因。32.硅NPN平面晶體管,其外延厚度為10m,摻雜濃度N=1015.cm-3,計(jì)算|UCB|=20V時(shí),產(chǎn)生有效基區(qū)擴(kuò)展效應(yīng)的臨界電流密度。33.晶體管處于飽和狀態(tài)時(shí)IE=IC+IB的關(guān)系式是否成立?畫出少子的分布與電流傳輸圖,并加以說明。34.對(duì)于具有同樣幾何形狀、雜質(zhì)分布和少子壽命的硅和鍺PNP、NPN管,哪一種晶體管
14、的開關(guān)速度最快?為什么?35.硅NPN平面管的基區(qū)雜質(zhì)為高斯分布,在發(fā)射區(qū)表面的受主濃度為1019cm-3,發(fā)射結(jié)構(gòu)深度為0.75,集電結(jié)結(jié)深為1.5,集電區(qū)雜質(zhì)濃度為1015cm-3,試求其最大集電極電流濃度?36.硅晶體管的集電區(qū)總厚度為100,面積為10-4cm2,當(dāng)集電極電壓為10V電流為100mA時(shí),其結(jié)溫與管殼溫度之差為幾度(忽略其他介質(zhì)的熱阻)?37.硅NPN晶體管的基區(qū)平均雜質(zhì)濃度為51017cm-3,基區(qū)寬度為2,發(fā)射極條寬為12,=50,如果基區(qū)橫向壓降為kT/q,求發(fā)射極最大電流密度。38.在習(xí)題37中晶體管的T為800MHz,工作頻率為500MHz,如果通過發(fā)射極的電流
15、濃度為3000A/cm2,則其發(fā)射極有效條寬應(yīng)為多少?第4章思考題和習(xí)題1.試畫出UG=0時(shí),P襯底的SiO2柵極的MOS二級(jí)管能帶圖。2.試畫出P型襯底的理想MOS二極管不同偏壓下對(duì)應(yīng)截流子積累、耗盡及強(qiáng)反型的能帶圖及電荷分布示意圖。3.試畫出SiO2Si系統(tǒng)的電荷分布圖。4.N溝和P溝MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管有什么不同?概述其基本工作原理。5.制作N溝增強(qiáng)型MOS管襯底材料的電阻率與制作N溝耗盡型MOS管襯底的電阻率,哪個(gè)選的應(yīng)高一些,為什么?6.MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的閾值電壓UT值電壓受那些因素的影響?其中最重要的是哪個(gè)?7.MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的輸出特性曲線可分為哪幾個(gè)區(qū)?每個(gè)區(qū)所對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)
16、是什么?8.用推導(dǎo)N溝MOS器件漏電流表示式的方法,試推導(dǎo)出P溝MOS器件的漏電流表示式。9.為什么MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的飽和電流并不完全飽和?10.MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管跨導(dǎo)的物理意義是什么?11.如何提高M(jìn)OS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的頻率特性?12.MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的開關(guān)特性與什么因素有關(guān)?如何提高其開關(guān)速度?13.短溝道效應(yīng)對(duì)MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性產(chǎn)生什么影響?14.已知P溝MOS器件的襯底雜質(zhì)濃度ND=51015cm-3,柵氧化層厚度tOX=100nm,柵電極材料為金屬鋁,測(cè)得器件的值電壓Ug=-2.5V。試計(jì)算SiO2中的正電荷密度QOX;若加上襯底偏置電壓UBS=10V,值電壓漂移多少?分別計(jì)算
17、UBS為0V、10V時(shí)最大耗盡層寬度?15.已知N溝MOS器件的襯底雜質(zhì)濃度NA=51015cm-3,柵極為金屬鋁,柵氧化層厚度tOX=150nm,SiO2中的正電荷密度QOX=11022q/cm2(q為電子電荷),試求該管的閾值電壓UT?并說明它是耗盡型還是增強(qiáng)型的?16.如果一個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的UT=0V,UGS=4V,IDS=3mA時(shí),MOS管是否工作在飽和區(qū)?為什么?17.在摻雜濃度NA=1015cm-3P型Si襯底上制作兩個(gè)N溝MOS管,其柵SiO2層的厚度分別為100nm和200nm,若UGS-UFB=15V,則為多少時(shí),漏極電流達(dá)到飽和?18.已知N溝MOS器件具有下列參數(shù):
18、NA=101cm-3,cm2/.,tOX=10nm,溝道寬度,UT=0V。試計(jì)算UGS=4V時(shí)的跨導(dǎo);若已知QOX=51010C/cm2,試計(jì)算UGS=4V,UDS=10A時(shí)的器件的飽和漏電導(dǎo)gDsat;試計(jì)算器件的截止頻率fT?19.已知N溝MOS器件NA=101cm-3,tOX=150nm,試計(jì)算UGS=0V時(shí),器件的漏源擊穿電壓,并解釋擊穿受什么限制。20.定性說明在什么情況下MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管會(huì)出現(xiàn)短溝道效應(yīng)?第5章半導(dǎo)體器件制備技術(shù)1.硅的晶格常數(shù)為5.43,假設(shè)硅原子為一硬球模型,試計(jì)算硅原子的半徑和確定硅原子的濃度為多少?2.用于柴可拉斯基法的籽晶,通常先拉成一小直徑(5.5mm)的狹窄頸以作為無位錯(cuò)生長(zhǎng)的開始,如果硅的臨界屈服度為2106g/cm2,試計(jì)算此籽晶可以支撐的200mm直徑單晶錠的最大長(zhǎng)度。3.在利用柴可拉斯基法鎖生長(zhǎng)的晶體中摻入硼原子,為何在尾端的硼原子濃度會(huì)比籽晶端的濃度高?4.簡(jiǎn)述熱氧化形成SiO2的機(jī)理和制備SiO2的方法?5.試比較濕法化學(xué)腐蝕和干法刻蝕的優(yōu)缺點(diǎn)。6.假設(shè)測(cè)得的磷擴(kuò)散分布可以用高斯函數(shù)表示,其擴(kuò)散系數(shù)D=2.310-13cm/s,測(cè)出的表面濃度是11018cm-3,
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