數碼相機新產品各階段可靠性測試的目的及項目分類

1、數碼相機新產品各階段可靠性測試的目的及項目分類序號測試項目全新產品同一機芯不同結構同一結構不同機芯測試目的EVTDVTPVTEVTDVTPVTEVTDVTPVT1功能測試測試產品功能是否符合要求2軟硬件兼容性測試測試產品是否符合兼容性規(guī)范的要求3SD/MMC卡兼容性測試測試產品是否符合兼容性規(guī)范的要求4電磁兼容及安規(guī)測試確定符合電磁波管制條例及安規(guī)要求5低溫動作測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性6高溫動作測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性7高溫耐熱測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性，產品結構的設計隱患及產品工藝的隱患8高溫高濕測試主要測試產品線路設計的

2、穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性，產品結構的設計隱患及產品工藝的隱患及粘貼等輔助材料的穩(wěn)定性9低溫儲存測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性，產品結構的設計隱患及產品工藝的隱患及粘貼等輔助材料的穩(wěn)定性10高溫儲存測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性，產品結構的設計隱患及產品工藝的隱患及粘貼等輔助材料的穩(wěn)定性11溫度循環(huán)測試主要測試產品線路設計的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性，產品結構的設計隱患及產品工藝的隱患及粘貼等輔助材料的穩(wěn)定性，鏡頭有無發(fā)霉等12低溫BURN-IN測試主要測試產品電性能的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性13高溫BURN-IN測試主要測試產品電性能的穩(wěn)定性及元器件的穩(wěn)定性14單體

3、跌落測試主要測試結構和工藝的穩(wěn)定性(如TFT LCD，鏡頭，電池彈片等)15單體振動測試主要測試結構和工藝的穩(wěn)定性(如TFT LCD，鏡頭，電池彈片等)16按鍵壽命測試主要測試按鍵的壽命17鏡頭蓋壽命測試主要測試鏡頭蓋的結構的穩(wěn)定性18電池蓋壽命測試主要測試鏡頭蓋的結構的穩(wěn)定性19TFT LCD開關壽命測試主要測試TFT LCD轉軸的結構20AV插撥壽命測試主要測試AV 線和AV插孔的信賴度21近拍鍵開關壽命測試主要測試近拍鍵的結構22USB插撥壽命測試主要測試USB線和USB插座的信賴度23MODE撥制壽命測試主要測試MODE撥制的結構24USB蓋開關壽命測試主要測試USB蓋的結構25閃光燈

4、壽命測試主要測試閃光功能的穩(wěn)定性及閃光燈管的壽命26MODE旋鈕壽命測試主要測試MODE旋鈕的結構的信賴度27按鍵推拉力測試主要測試按鍵的推拉力是否符合設計要求28USB推拉力測試主要測試USB線與USB插座的推拉力是否符合設計要求29AV推拉力測試主要測試AV線與AV插孔的推拉力是否符合設計要求30撥制鍵推拉力測試主要測試拔制鍵的推拉力是否符合設計要求31三腳架孔位旋轉力測試主要測試底座與三架腳配合的旋轉力是否符合設計要求32禮盒包裝振動測試主要測試所設計的包裝規(guī)格對產品的保護程度33禮盒包裝跌落測試主要測試所設計的包裝規(guī)格對產品的保護程度34整箱包裝振動測試此項測試是模仿在運輸途中的環(huán)境，主要測試所設