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文檔簡介

1、34影響因素：晶胞體積，結(jié)構(gòu)因子，bragg球差是磁透鏡中心區(qū)和邊沿區(qū)對(duì)電子的折射能力不同引起的。增大透鏡引起的，可以通過引入一強(qiáng)度和方位都可以調(diào)節(jié)的矯正磁場來進(jìn)行補(bǔ)償。色差事電子波德波長或能量發(fā)生一定幅度的改變而造成的，穩(wěn)定加速電壓和透鏡電流可減少色差。10.X料結(jié)構(gòu)分析中的異同點(diǎn)。答：原理:X特點(diǎn)：1 電子波長的波長比X234應(yīng)用：硬 X 射線適用于金屬部件的無損探傷及金屬物象分析，軟 X 射線可用12波譜儀：用來檢測X能譜儀：用來檢測X 射線的特征能量的儀器。優(yōu)點(diǎn)：1 能譜儀探測X2 在同一時(shí)間對(duì)分析點(diǎn)內(nèi)所有元素X 射線光子的能量進(jìn)行測定和計(jì)數(shù)，在幾34 不必聚焦，對(duì)樣品表面無特殊要求，

2、適于粗糙表面分析。缺點(diǎn)：12114923Si16X045sin ?法。173mm20-120um，無磁金屬制成。20-0-20作用aB20原子散射因數(shù) f 事以一個(gè)電子散射波德振幅為度量單位的一個(gè)原子散射一個(gè)電子在相同條件下散射波振幅的f 反映了原子將 X 射線向某一個(gè)方向原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系，z 越大，f 越大。因此，重原子對(duì) X 射線5.K缺點(diǎn)？的定量分析。KAl2O3JCPDSK1 .xx 射線，誰揭示了x答：xxx透射電鏡特點(diǎn)： A 電子束透過薄膜樣品 B 用于觀察樣品的形態(tài) C 通過電子衍掃描電鏡特點(diǎn)： A B、用于觀察樣品的形貌（具有立體感） C、通過電子束激發(fā)樣品的特征X10%80%范圍內(nèi)。 DTADSCDTA:DSC:以下(1650Xps1.激發(fā)光源 軟化 xUV 2.電子能量分析儀器 表面分析電子能量 3.高真空系統(tǒng) 超高真空腔室 UHV 避免光電子與氣體分子碰撞的（1）. 色譜法的優(yōu)點(diǎn)(2). 色譜法的缺點(diǎn)要求： 固定相- 離子交換樹脂離組分 -離子型的有機(jī)物或無機(jī)物（親和力SESE1BESE2BEBE層次，不利于分析，因此，BESE，BE（1.IR（2.（3.吸收峰的強(qiáng)度則主要取決于振動(dòng)過程中偶極矩變化的大小和能級(jí)躍遷的幾率DTADTA4）5）試樣的裝填 6）熱中性體（參比物）減小方法：1.控制整個(gè)測溫范圍內(nèi)無熱

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