單板硬件調(diào)試報告

XXX有限公司文檔中心產(chǎn)品版本密級產(chǎn)品名稱：共21頁XX單板硬件調(diào)試和單元測試報告（僅供內(nèi)部使用）擬制:日期：yyyy-mm-dd審核：日期：yyyy-mm-dd審核：日期：yyyy-mm-dd批準：日期：yyyy-mm-dd****日期版本描述作者2001-06-081.00初稿完成作者名yyyy-mm-1.01>KXXX作者名yyyy-mm-1.02>KXXX作者名??????yyyy-mm-2.00>KXXX作者名TOC\o"1-5"\h\z1概述6基本情況介紹6單板模塊劃分6調(diào)試測試組網(wǎng)圖6調(diào)試時間、地點及人員62調(diào)試測試用例記錄6功能部分調(diào)試6模塊16調(diào)試用例16調(diào)試用例26模塊26問題列表7信號質(zhì)量測試用例7電源8測試數(shù)據(jù)8測試波形及分析8問題列表8邏輯信號9測試結(jié)果9測試波形及分析9問題列表9時鐘信號10測試結(jié)果10實測波形及分析10問題列表10時序測試用例10CPU接口部分時序11測試結(jié)果11測試時序及分析11業(yè)務(wù)接口部分時序11測試結(jié)果11測試時序及分析12問題列表12失效器件原因分析123調(diào)試測試總結(jié)12調(diào)試測試結(jié)果12遺留問題報告13調(diào)試測試經(jīng)驗總結(jié)144其他145評審報告14表目錄表1有問題信號記錄表格9表2有問題信號記錄表格10表3有問題信號記錄表格10表4時序測試遺留問題12表5調(diào)試測試結(jié)果統(tǒng)計一12表6調(diào)試測試結(jié)果統(tǒng)計二12表7調(diào)試測試問題列表13表8信號質(zhì)量遺留問題統(tǒng)計表13表9時序遺留問題統(tǒng)計表13表10功能遺留問題統(tǒng)計表13圖目錄圖1XX圖文檔名稱關(guān)鍵詞：調(diào)試測試、計劃、其它關(guān)鍵詞摘要：縮略語清單：對本文所用縮略語進行說明，要求提供每個縮略語的英文全名和中文解釋。概述（本章節(jié)內(nèi)容在計劃模板中都有體現(xiàn)，在確保內(nèi)容沒有改變的情況下，可以直接拷貝）基本情況介紹簡單介紹產(chǎn)品，并說明單板正式名稱和Cb版本號。單板模塊劃分從調(diào)試測試的角度簡要說明單板硬件功能模塊的劃分情況，以及各個模塊的功能和相互關(guān)系。調(diào)試測試組網(wǎng)圖簡單描述調(diào)試測試的組網(wǎng)圖?？梢耘湟圆鍒D進行說明。調(diào)試時間、地點及人員描述本次調(diào)試的時間，地點和開發(fā)調(diào)試人員。2調(diào)試測試用例記錄功能部分調(diào)試模塊1調(diào)試用例1調(diào)試用例編號：AAA-UT-CCC-NNN調(diào)試項目：可以用模塊名或者調(diào)試大項命名調(diào)試子項目：具體的調(diào)試描述檢查點、應(yīng)達到的要求、指標和預期結(jié)果:執(zhí)行中的其他說明：調(diào)試人員：I時間：實測結(jié)果：差異說明:說明以下差異及每個差異的原因：被測對象與其規(guī)格說明、總體詳細設(shè)計文檔之間的任何差異;實際調(diào)試活動與調(diào)試計劃之間的任何差異。調(diào)試測試是否通過：(OK,POK,NG,NT)1.1.1.1調(diào)試用例2模塊2問題列表1.2信號質(zhì)量測試用例信號質(zhì)量測試要保證全面性，即單板上的每個信號都要保證測試到，為了保證測試不遺漏，可以先將單板按照功能模塊劃分，并列舉出每個功能模塊中的器件，每個器件涉及到的信號再按照實現(xiàn)的功能分類，要列出每類信號的的判斷標準，隨后給出測試記錄的表格。功能模塊的劃分可以為：電源模塊、時鐘模塊、交叉模塊、業(yè)務(wù)處理模塊、接口模塊、CPU控制模塊、主備倒換模塊等等，或者參照前面“2.單板硬件功能模塊劃分”。對于不同的模塊，包含或涉及到不同類型的信號，芯片對不同信號的質(zhì)量要求是不一樣的，例如對電源的質(zhì)量要求是幅度、上電時間、上電順序、紋波等；對時鐘信號的質(zhì)量要求是邊沿單調(diào)性、上升時間、下降時間、占空比、上沖、下沖、回沖、時鐘頻率、抖動等；對控制信號的質(zhì)量要求則是電平幅度、有效寬度、上沖、下沖、回沖等；對業(yè)務(wù)信號的質(zhì)量要求則是電平幅度、上沖、下沖、回沖、眼圖等。信號質(zhì)量的測試點要選在信號的終端。在表格中結(jié)果判斷一欄中，注明（POKNG、NT/其中：OK:測試結(jié)果全部正確POK:測試結(jié)果大部分正確NG:測試結(jié)果不通過NT：由于各種原因本次無法測試以下的測試結(jié)果記錄中，對測試通過的信號，只要求提供其列表；測試不通過的信號，要求提供測試波形記錄、原因分析、解決措施和解決計劃。以下提供的表格為通用的信號質(zhì)量規(guī)范要求和一些通用的電平信號的標準，可作為信號質(zhì)量判斷的標準，同時需要參考器件手冊；以下給出的標準與芯片要求不符的，以芯片要求為準，并要求在芯片的測試實測記錄前，列出其特殊要求。信號標準特性信號類型VCCVOHVIHVTTTL、ABT52.421.5LVTTL、LVT、LVC、ALVC、LV3.32.421.5CMOS54.443.52.5PECL54.193.873.7LVPECL3.32.422.062GTL1.20.860.8GTL+1.51.051ETL52.41.61.5BTL（低電平為1V）2.11.621.55********1.1.1.11.1.1.1測試結(jié)果1.1.11.1.1電源通用信號規(guī)范信號類型正向過沖負向過沖正向回沖負向回沖正向毛刺負向毛刺邊沿特性①實測丫加要工PECL<0.2V<0.2V>3.87V<3.52V<3.52V>3.87V必須單調(diào)>3.87TTL<1V<1V>2.4V<0.8V<0.8V>2.4V必須單調(diào)>3VTTL(3V)<0.6V<0.6V>2.4V<0.8V<0.8V>2.4V必須單調(diào)>2.8VCMOS<1V<1V>3.5V<1.5V<1.5V>3.5V必須單調(diào)>3.5VGTL+<0.4V<0.4V>1.2V<0.3V<0.3V>1.2V必須單調(diào)>1.4VGTL<0.3V<0.3V>0.95V<0.25V<0.25V>0.95V必須單調(diào)>1.15V①邊沿特性：對通用信號中的控制信號一般要求邊沿必須單調(diào)；對數(shù)據(jù)、地址等信號可結(jié)合時序的測試結(jié)果來作相應(yīng)的要求。通用時鐘信號規(guī)范*信號類型占空比上升單調(diào)性上升時間下降單調(diào)性下降時間抖動特性PECL40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)力士士1待^定0建議：對于存在指標規(guī)定的信號，應(yīng)滿足指標；無指標規(guī)定或無法明確界定的情況下，應(yīng)滿足可靠性要求。TTL40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)TTL(3V)40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)CMOS40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)GTL+40%-60%必須單調(diào)必須單調(diào)*：通用時鐘信號規(guī)范描述了時鐘信號要特殊關(guān)注的特性，測試中要注意，時鐘信號必須同時滿足信號標準特性和通用信號規(guī)范。

1.1.1.1測試數(shù)據(jù)幅度允許變化范圍丫31推薦電源電壓*紋波地線噪要求指標±5%±5%±12%實測值*:單電源工作的不分VCC1、VCC2等測試波形及分析在此粘貼上測試的所有波形，實測數(shù)據(jù)，并加以簡單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨的附件提供。問題列表在此需要提供有問題信號的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進措施和修改計劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號的哪個特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號記錄表格信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點問題描述原因分析改進措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1.1邏輯信號****接口模塊U1：信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了產(chǎn)生這些信采取了什么樣的的激勵方式或方法U2：信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了

產(chǎn)生這些信采取了什么樣的的激勵方式或方法U3：。。。。。。業(yè)務(wù)處理模塊XXX模塊測試波形及分析在此粘貼上測試的所有波形、實測數(shù)據(jù)，并加以簡單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨的附件提供。問題列表在此需要提供有問題信號的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進措施和修改計劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號的哪個特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號記錄表格信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點問題描述原因分析改進措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1.1時鐘信號1.1.1.1測試結(jié)果信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點（管腳）結(jié)果判斷備注如：CLKU1-1OK可以在此填寫為了產(chǎn)生這些信號，采取了什么樣的的激勵方式或方法1.1.1.1實測波形及分析在此粘貼上測試的所有波形、實測數(shù)據(jù)，并加以簡單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨的附件提供。1.1.1.2問題列表在此需要提供有問題信號的波形、問題產(chǎn)生的原因分析、改進措施和修改計劃。也可以用表格形式記錄，在問題描述欄中說明是信號的哪個特性不滿足要求，具體波形見圖。參考表格如下：旬有問題信號記錄表格信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點問題描述原因分析改進措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1時序測試用例時序測試包括貢PU的讀寫時序、存儲器的操作時序、業(yè)務(wù)處理器件的數(shù)據(jù)輸入輸出時序等。具體應(yīng)按單板實際設(shè)計進行劃分。在時序測試之前要列出涉及到時序要求的器:如U3，U4……；然后可按照器件分別來記錄時序測試結(jié)果，在記錄每個器件的測試結(jié)果之前，與信號質(zhì)量測試類似，也要先列出器件對時序的要求。表中標識符應(yīng)與器件手冊對應(yīng)。在表格中結(jié)果判斷一欄中，注瞅POK、NG、NT，其中：****1.1.1.11.1.1.1測試時序及分析OK:測試結(jié)果全部正確POK:測試結(jié)果大部分正確NG:測試結(jié)果有較大的錯誤NT:由于各種原因本次無法測試CPU接口部分時序測試結(jié)果(下面表形式供參考使用，也可直接分別給出設(shè)計要求和實際測試得到的時序圖，但必須明確給出測試結(jié)論和修改措施、計劃)參數(shù)標識符最小值要求(ns)最大值要求(ns)實測值(ns)結(jié)論改進措施修改計劃命令(/CS,/RAS，/CAS,/WE,DQM)的建立時間tCS修改計劃中需寫明本板解決、下一板解決或給出明確的修改完成日期。命令(/CS,/RAS，/CAS,/WE,DQM)的保持時間tCH地址建立時間tAS地址保持時間tAH數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建立時間tDS數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保持時間tDH********1.1.21.1.2問題列表在此粘貼上測試的所有波形、實測數(shù)據(jù)，并加以簡單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨的附件提供。業(yè)務(wù)接口部分時序測試結(jié)果（下面表形式供參考使用，也可分別直接給出設(shè)計要求和實際測試得到的時序圖，但必須明確給出測試結(jié)論和修改措施、計劃）參數(shù)標識符最小值要求（相）最大值要求（門$）實測值（ns）結(jié)論改進措施修改計劃時鐘周期tCK修改計劃中需寫明本板解決、下一板解決或給出明確的修改完成日期。數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)建立時間tDS數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)保持時間tDH幀建立時間幀保持時間1.1.1.1測試時序及分析在此粘貼上測試的所有波形、實測數(shù)據(jù)，并加以簡單分析。所有的波形都做為以后問題跟蹤和質(zhì)量回溯的依據(jù)。如果波形文件比較大可以壓縮后粘貼或者做為單獨的附件提供。

將有問題的信號列舉出來，如果完全滿足情況，填寫“無”。旬時序測試遺留問題信號名/網(wǎng)絡(luò)名測試點問題描述原因分析改進措施是否填寫了缺陷跟蹤電子流1.1失效器件原因分析描述對關(guān)鍵器件的失效分析結(jié)果和可靠性改進和預防措施。2調(diào)試測試總結(jié)調(diào)試測試結(jié)果對本次調(diào)試的項目進行總結(jié)，包括完成總項數(shù)，通過多少項，失敗多少項，部分通過多少項及百分比等，詳細的調(diào)試項目通過情況清單應(yīng)放在附件部分，并在此處說明該附件的位置。此處的總結(jié)一般用以下表格進行表現(xiàn)：旬調(diào)試測試結(jié)果統(tǒng)計一計劃測試項新增測試項實際測試項計劃花費時間（人時）實際花費時間（人時）旬調(diào)試測試結(jié)果統(tǒng)計二總項目數(shù)OK項POK項NG項NT項數(shù)目百分比其中：OK:測試結(jié)果全部正確POK:測試結(jié)果大部分正確NG:測試結(jié)果有較大的錯誤NT:由于各種原因本次無法測試總結(jié)調(diào)試的結(jié)果，確定所有已解決了的問題，并對解決結(jié)果進行總結(jié)，確定未解決的問題。為每個被測對象給出總結(jié)性的評價，包括其局限性，評價必須基于調(diào)試結(jié)果和被測對象的通過/失敗準則。對失敗風險的估計應(yīng)包括在內(nèi)?？偨Y(jié)主要的調(diào)試活動和事件?？偨Y(jié)資源消耗數(shù)據(jù)，如總?cè)藛T、總機時，每個主要調(diào)試活動花費的時間。遺1留問題報告遺留問題是指調(diào)試過程中發(fā)生的并且在調(diào)試報告時仍沒有得到解決需要投下一除CB回歸測試驗證的問題。建立遺留問題統(tǒng)計表格，可對遺留問題數(shù)和級別進行統(tǒng)計，包括問題總數(shù)，致命，嚴重，一般和提示問題的數(shù)目及百分比等，遺留問題統(tǒng)計一般可用以下表格描述，其中的字段可根據(jù)實際情況進行設(shè)計和裁剪。旬調(diào)試測試問題列表總共發(fā)現(xiàn)問題總數(shù)致命問題總共發(fā)現(xiàn)問題總數(shù)致命問題嚴重問題一般問題提示問題問題分四個級別來定義，各級別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機或系統(tǒng)崩潰的問題嚴重：引起系統(tǒng)某一功能失效且不能簡單恢復（如插拔單板）的問題一般：引起系統(tǒng)某一功能失效但可簡單恢復或較難重現(xiàn)的問題提示：從操作或維護的角度發(fā)現(xiàn)的問題或建議旬信號質(zhì)量遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比旬時序遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比旬功能遺留問題統(tǒng)計表問題總數(shù)致命問題嚴重問題一般問題提示問題其他統(tǒng)計項數(shù)目百分比問題分四個級別來定義，各級別含義如下：致命：引起系統(tǒng)死機或系統(tǒng)崩潰的問題嚴重：