描述組織的特征參數(shù)與定量

主講教師：賈金龍描述組織的特征參數(shù)與定量

蘭州工業(yè)學(xué)院金屬材料檢測(cè)技術(shù)課程片層狀組織

晶粒大小21目錄

界面曲率3有向組織參數(shù)4金屬材料檢測(cè)技術(shù)1.晶粒大小（1）平均截線長(zhǎng)

三維物體的截線長(zhǎng)度用L3表示，它是指隨機(jī)截取三維物體時(shí)，在物體內(nèi)截線長(zhǎng)度的平均值。如圖所示。當(dāng)測(cè)量次數(shù)足夠多，二維截面的平均截線長(zhǎng)L2等于L3。金屬材料檢測(cè)技術(shù)平均截線長(zhǎng)

晶粒平均面積表示截面上晶粒面積的平均值，即：金屬材料檢測(cè)技術(shù)（2）平均截線長(zhǎng)

晶粒度是用來描述單相合金晶粒大小及復(fù)相合金中連續(xù)分布的基體相晶粒大小的，按晶粒度的定義：式中G--晶粒度級(jí)數(shù)；n--線放大倍數(shù)為100倍時(shí)，每平方英寸的晶粒個(gè)數(shù)。金屬材料檢測(cè)技術(shù)（3）晶粒度

2.片層狀組織很多共析或共晶產(chǎn)物是片層狀的，人們往往關(guān)心它的片層厚度和平均自由程，因?yàn)檫@些參數(shù)對(duì)材料的力學(xué)性能關(guān)系甚密，且受轉(zhuǎn)變過程控制，根據(jù)這一關(guān)系可分析或控制工藝過程。金屬材料檢測(cè)技術(shù)

片層間平均距離是指任意截線上相鄰片層（同一相）中心間的平均距離，如圖所示。則有，設(shè)以t0表而空間相鄰兩片層（同一相）中心間的真實(shí)距離，從體視學(xué)關(guān)系得出。金屬材料檢測(cè)技術(shù)（1）片層間平均距離t片層狀組織參數(shù)

平均自由程指相對(duì)量少的一相，相鄰片層邊緣間的平均距離，如上圖所示。則α相的平均自由程設(shè)以表示相在空間的真實(shí)平均自由程，同樣由體視學(xué)關(guān)系可得：。金屬材料檢測(cè)技術(shù)（2）平均自由程片層內(nèi)界面SV:由基本公式，對(duì)復(fù)相組織，則:因此，測(cè)得平均間距t，即可求出SV。金屬材料檢測(cè)技術(shù)（3）片層內(nèi)界面

曲率是描述曲線在某一點(diǎn)彎曲程度的。將二維截面的曲線上，每點(diǎn)曲率的平均值定義為二維曲線的平均曲率：式中--P1P2曲線的平均曲率；--P1P2兩點(diǎn)切線的交角；--P1P2曲線的長(zhǎng)度。金屬材料檢測(cè)技術(shù)3.界面曲率曲線的平均曲率4.有向組織參數(shù)材料的組織由于相變或加工等原因，可能產(chǎn)生方向性。當(dāng)出現(xiàn)有方向性的組織時(shí)，若按常規(guī)方法測(cè)量LA、LV、SV等組織參數(shù)時(shí)會(huì)產(chǎn)生很大誤差，因此，需要用特殊的方法來確定它們。此時(shí)，通常用兩種測(cè)量方法;一是垂直于組織的規(guī)則方向測(cè)量；另一是平行于組織的規(guī)則方向測(cè)量。用這兩個(gè)方向的測(cè)量量分別計(jì)算出規(guī)則部分及不規(guī)則部分的量，二者之和就是測(cè)量的總量。金屬材料檢測(cè)技術(shù)小結(jié)1.晶粒大小包括平均截線長(zhǎng)、晶粒平均面積和晶粒度三個(gè)參數(shù)。