IC制程專業(yè)詞匯

直次英文名稠中文名耦1ActiveArea主勤猛（工作顯）2ACETONE內(nèi)酮3ADI——AfterDevelopInspection^影彳爰檢查4AEI AfterEtchInspection融刻彳登檢查5AIRSHOWER空氧洗鹿室6ALIGNMENT舉攆7ALLOY/SINTER熔合8AL/SI金日/矽靶9AL/SI/CU金日/矽/嗣10ALUMINUN金日11ANGLELAPPING角度研磨12ANGSTROm埃13APCVD(ATMOSPRESSURE)常屋化孥氯相沈稹14AS75砷15ASHING,STRIPPING重罰阻去除16ASSEMBLY晶粒封裝17BACKGRINDING晶背研磨18BAKE,SOFTBAKE,HARDBAKE烘烤，聿火烤，^烤19BF2二氟化硼20BOAT晶舟21B.O.E^彳1能蟲刻液22BONDINGPAD余建23BORON硼24BPSG含硼及磷的矽化物25BREAKDOWNVOLTAGE崩潰重屋26BURNIN/耿盍就瞬27CAD^^本甫助言殳三十28CDMEASUREMENT微距測就29CH3COOH醋酸30CHAMBER真空室，反鷹室31CHANNEL通道32CHIP,DIE晶粒33CLT(CARRIERLIFETIME)截子生命遇期34CMOS互神式金氧半醇艘35COATING光阻覆蓋36CROSSSECTION橫截面37C-VPLOT‘雷容，’建屋圄38CWQC全公司品^管制39CYCLETIME生崖遇期畤^40CYCLETIME生崖遇期畤^41DEFECTDENSITY缺黑占密度42DEHYDRATION BAKE去水烘烤

dehydrationbake43DENSIFY密化44DESCUM^^予真慮理45DESIGNRULES^^?46EDSIGNRULEKtt?^47DIEBYDIEALIGNMENT每FIELD均舉寸型48DIFFUSION瞰49DIWATER去雕子水50DOPING^入^^51DRAM,SRAM重力熊，靜熊隨檄存取^^艘52DRIVEIN用品入53E-BEAMLITHOGRAPHY重子束微影技彳桁54EFR(EARLYFAILURERATE))早期故障率55ELECTROMIGRATION重子遭移56ELECTRON/HOLE1s子/1s洞57ELLIPSOMETER幡圄測厚倭58EM(ELECTROMIGRATIONTEST)s子遭移可靠度測就59ENDPOINTDETECTOR系冬黑占偵測器60ENERGY能量61EPiWAFER磊晶晶片62EPROM(ERASABLE-PROGRAMMABLEROM)s子可程式唯^言己1總艘63ESDELECTROSTATICDAMAGEELECTROSTATICDISCHARGE靜s破壤青爭s放s64ETCH融刻65EXPOSURE曝光66FABRICATION(FAB)裂造67FBFC(FULLBITFUNCTIONCHIP)全功能晶片68FIELD/MOAT埸扇69FILTRATION遇濾70FIT(FAILUREINTIME)71FOUNDRY客戶委言王加工72FOURPOINTPROBE四黑占偵測73F/S(FINESONICCLEAN)超音波清洗74FTIR傅氏醇換系工外生泉光^分析倭75FTY(FINALTESTYIELD)76FUKEDEFECT77GATEOXIDE雨擷氧化眉78GATEVALVE79GEC(GOODELECTRICALCHIP)侵良s器特性晶片80GETTERING吸附

81G-LINEG-光生泉82GLOBALALIGNMENT整片性封型典^算83GOI(GATEOXIDEINTEGRITY)雨擷氧化眉完整性84GRAINSIZE果真粒大小85GRR STUDY (GAUGEREPEATABILITyANDREPRODUUCIBILITY)測量倭器重禊性輿再垣性之研究86H2SO4硫酸87H3PO4磷酸88HCL氯化氫（蜜酸）89HEPA高效率遇濾器90HILLOCK凸起物|91HMDSHMDS蒸^92HNO3硝酸93HOTELECTRONEFFECT熟重子效鷹94I-LINESTEPPERI-LINE步迤封型曝光檄95IMPURITY96INTEGRATEDCIRCUIT(IC)稹骨髓路97IONIMPLANTER雕子植入檄98IONIMPLANTATION雕子植入99ISOTROPICETCHING等向性融刻100ITY(INTEGRATEDTESTYIELD))綜合測試良率101LATCHUP栓^效鷹102LAYOUTW局103LOADLOCK停送室104LOTNUMBER批虢105LPCVD(LOWPRESSURE)低屋化孥氧相沈稹106LPSINTER低^^^107LPY(LASERPROBEYIELD)雷射修喻^^良率108MASK光罩109MICRO,MICROMETER,MICRON微，微米110MISALIGN封型不良111MOS金氧半醇艘112MPY(MULTIPROBEYIELD)多功能偵測良率113MTBF(MEANTIMEBETWEENFAILURE)平均失效時間114N2,NITROGEN氮氯115N,PTYPESEMICONDUCTORN,P型半醇艘116NSG(NONDOPEDSILICATEGLASS)輾參入^^矽酸蜜玻璃117NUMERICALAPERTURE(N.A.))數(shù)值孔彳星118OEB(OXIDEETCHBACK)氧化眉平坦化融刻119OHMICCONTACT歐姆接斶

120ONO(OXIDENITRIDEOXIDE)氧化眉-氮化眉-氧化眉121OPL(OPLIFE)(OPERATIONLIFE使用期限（毒命）TEST)122OXYGEN氧湎123P31磷124PARTICLECONTAMINATION鹿粒污染125PARTICLECOUNTER鹿粒^數(shù)器126PASSIVATIONOXIDE(P/O)?s127P/D(PARTICLEDEFECT)鹿粒缺陷128PECVD翎CVD129PELLICLE光罩^膜130PELLICLE光罩保^膜131PH3氧化磷132PHOTORESIST光阻133PILOTWAFER就作晶片134PINHOLE金十孔135PIRANHACLEAN遇氧硫酸清洗136PIX聚醯胺膜137PLASMAETCHING1s符融刻138PM ( PREVENTIVEMAINTENANCE)定期保餐139POCL3三氯氧化磷140POLYSILICON禊晶矽141POX聚醯胺膜含光罩功能142PREHEAT143PRESSURE屋力144REACTIVEIONETCHING(R.I.E.)活性雕子融刻145RECIPE程式146REFLOW回流147REGISTRATIONERROR衽^差148RELIABILITY可靠性149REPEATDEFECT重禊性缺黑占150RESISTIVITY阻值151RESOLUTION解析力152RETICLE光罩153REWORK/SCRAP/WAIVE修改/幸艮座/簽遇154RUNIN/OUT摘迤/摘出155SCRUBBER刷洗檄156SAD( SOFTWARE DEFECTANALYSIS)缺陷分析^^157SEM(SCANNING ELECTRONs子^微^

MICROSCOPE)158SELECTIVITY圜睪性159SILICIDE矽化物160SALICIDE金^矽化物161SILICON矽162SILICONNITRIDE氯化矽163SMS(SEMICODUCTORMANUFACTURINGSYSTEMS)半醇艘裂造系統(tǒng)164SOFTWARE,HARDWARE^^，硬艘165S.O.G.(SPINONGLASS)旋裂氧化矽166S.O.J.(SMALLOUTLINEJ-LEADPACKAGE)縮小型J形腕包裝IC167SOLVENT溶剜168SPECIFICATION(SPEC)祝甄169SPICEPARAMETERSPIC>?170S.R.A(SPREADING RESISTENCEANALYSIS)展碓阻分析171SPUTTERING涓蹦172SSER(SYSTEMSOFTERRORRATETEST)系統(tǒng)暫日寺性失效比率測就173STEPCOVERAGE陷梯覆蓋174STEPPER步迤式舉寸型檄175SURFACESTATUS表面》犬熊176SWR(SPECIALWORKREQUEST)177TARGET靶178TDDB(TIMEDEPENDENTDIELECTRICBREAKDOWN)介^^^崩潰的畤^依存性179TECN(TEMPORARYENGINEERINGCHANGENOTICE)。都寺性裂程燮更通知180TEOS(TETRAETHYLORTHOSILICATE)四乙基氧化矽/正硅酸乙脂181THRESHOLDVOLTAGE陶界重屋182THROUGHPUT）生里183TMP(TIMEMORYPROTOTYPE,TMS-XTIMEMORYSTANDARDPRODUCT)TI制意崖品檄品（原型），TI制意骨鼾票型崖品184TOX氧化屑厚度185TROUBLESHOOTING故障排除186UNDERCUT底切度

187UNIFORMITY均勻度188VACUUM真仝189VACUUMPUMP真空落浦190VERNIER遁木票尺1191VIACONTACT速接窗/接觸孔192VISCOSITY/stickness黏度193VLF(VERTICALLAMINARFLOW)垂直流眉194WELL/TANK井扇195WLRC(WAFERLEVELRELIABILITYCONTROL)晶圄眉次（摩內(nèi)）可靠度控制196WLQC(WAFERLEVELQUALITYCONTROL)晶圄眉次（摩內(nèi)）品^控制197X-RAYLITHOGRAPHYX光微影技彳桁198YELLOWROOM黃光室1.*VtcoulddropsorclimbsasgatelengthshrinksaShortChannelEffectorReverseShortChannelEffect.2*VtcoulddropsorclimbsasAAwidthshrinksaNarrowwidthEffectorReverseNarrowWidthEffect.3*ChannelprofiledeterminesSCEandRSCE.4?IsolationstructureandchannelprofiledeterminesNWEandRNWE.0.40.35v0.25V0.20.150.1-00.10.20.30.40.50.60.70.80.91Lgate(um)Width(um)ASIC:專用集成電路applicationspecificICW/S:width/spaceSTI:shallowslotisolationSlurry泥漿，漿Pad襯墊RTI實時檢測SCspeciallycharacteristic關(guān)鍵屬性NumericalAperture(N.A.)數(shù)值孔彳第LDD:lowdosedrain輕摻雜漏極:tosupperesstheSCEATPG:autotestpatterngeneratorADI:AfterDevelopingInspectionDIBL(DrainInducedBarrierLowering)GIDL(gateinduceddrainleakage)PSMphase-shiftmask相移掩膜技術(shù)SC1standardclean1SC2standardclean2FEOLfront-endoflineBEOLback-endoflineDIBL:draininducedbarrierlowerGIDL:draininduceddrainleakageSCE:shortchanneleffectSACoxide:sacrificeoxideDARC:dielectricanti-reflectivecoating無機物；barc&tarcbottomandtop有機物SDE:source/drain-extensionRCA:SC1+SC2Caro:3號液：PRRM:PhotoResistReMoveEKC:EKC270T(solventname)APM，SPM，HPM的主要成分，除何種雜質(zhì)；HF的作用。APMNH4OH:H2O2:H2O=1:1:5SC1主要去除微顆粒，可除部分金屬離子。HPMHCL:H2O2:H2O=1:1:6SC2主要作用是去除金屬離子。SPMH2SO4:H2O2=4:1主要作用是去除有機物（主要是殘留光刻膠）。HF的主要作用是去除OX。TSN:thinSiNDNW:deepN-wellAspectratio:深寬比、高寬比ARDE:aspectratiodependetchASIC:專用集成電路applicationspecificICSTR:speciallTestRequestEDM:equipmentdownmanagementPeeling:剝皮SSRW:SuperSteepRetrogradeWellVCE:vacuumcassetteelevatorCWF:customorwaferformERB:BKSP:backsidepressurePNL:pulsenucleationlayerSWR:speciallyworkrequestVOC:volatileorganicchemistryECP:electricchemicalplantingPRBFail:串并聯(lián)轉(zhuǎn)換FIB:FocusionbeamPECS:preciseetch&coatingsystemOTP:onetimeprogramASI:afterstripinspectionDOE:designofexperimentFEM:focusenergymatrixRS/RC:sheetresistance/contactresistanceEBR:ESC:electrostaticchuck靜電吸盤SOP:standardoperationprogramDBR:OPC:opticalproximitycorrectionsheath:外殼，鞘EAR:engineeringabnormalreportEAP:engineeringautomaticprogramMSTR:MASSspecialltechnologyrequestCTM:customerArcing:靜電放電過程造成的灼傷，比如sputtering’splasmaDRB:DispositionreviewboardDCVD:DielectricCVDTEG:testelementgroupTec:thermalexpansioncoefficientTTF:totallifeFN:FNinjection:Spking:由于al和si的互溶性造成的al在si中擴散導(dǎo)致的穿刺現(xiàn)象SOF:stoponwafer:whenonebinfailcomeout,teststops;COF:continueonwafer:whenonebinfailcomesout,testcontinueforothertestitems.Qual:abrrviationofqualificationConerlot:thecurveIdsatNvs.IdsatPandformawindowinitthelotcanberunsafe.PRBS:PseudoRandomBinarySequenceZEROmark:35D3H2L2350A,Deepth3um,hump2um,holediameter2umOAI(Off-AxisIlluminator):Definition:Akindofspecialilluminationmodetoimproveprocessperformance(DoF).Ingeneral,thereare3kinds:smallo,Quadruple,AnnularThistechnologyisveryusefulandeasytouse,butbadthroughput(~30%IntensitydecreaseP.E.B:PostExposureBake==>I-line:ReduceStandingWaveeffect==>DUV:DiffusePhotoAcid(Coreprocess)RootcauseofStandingWave(I-line)==>DifferentconcentrationofdissolvedPACbecauseoflightwavePEBtemperatureofDUVdecideCDanditsprofile:ItdependsonresistNeedtoevaluateoptimumTemp:BelowPACdissolutionTemp(130C)I-line(110°C?120°C),DUV(110°C?130°C)areoptimumTemp.OPC:opticalproximitycorrelationDOF:DepthOfFocusIMP:IonMetalPlasmaGallon:加侖英：4.546美3.785升(liter)SIP:Self-IonizedPlasmaF/O:fabout=throughputDarkfielddetection暗場檢測Descum掃底膜DiboraneB2H6乙硼烷Dichlorosilane/dichloride/silaneH2SiCl2二氯甲硅烷/二氯化物/硅烷Discrete分離元器件Dishing凹陷ECR:electroncyclotronresonance

Enhancementmode/depletionmode增強型/耗盡型FLIP:FloatingIndevedPointArithmetic變址浮點運算FLOP:FLoatingOctalPoint浮點八進制DFLIP-FLOPD觸發(fā)器直次英文名耦中文名耦解析1ActiveArea主勤扇(工作顯)主?重晶艘(ACTIVETRANSISTOR)被裂造的扇域即所需的主重力顯(ACTIVEAREA)。在木票#之MOS裂造遇程中ACTIVEAREA是由一眉氮化矽光罩即等接氮化矽融刻之彳爰的局部埸扇氧化所形成的而由於利用到局部埸氧化之步驟，所以 ACTIVEAREA曾受到舄嘴(BIRD'SBEAK)之影警而比原先之氮化矽光罩所定羲的扇域辦的小，以晨0.6UM之埸扇氧化而言，大概曾有0.5UM之BIRD'SBEAK存在，也就是^ACTIVEAREA比原在之氮化矽光罩所定羲的扇域小0.5UM。2ACTONE丙酮.內(nèi)酮是有檄溶剜的一槿，分子式懸CH3COCH3。.性^^輾色，具刺激性及薄荷臭味之液修.在FAB內(nèi)之用途主要在於黃光室內(nèi)正光阻之清洗、擦拭。.舉寸神經(jīng)中樨具中度麻醉性，封皮庸黏膜具事坐微毒性，晨期接斶曾引起皮庸炎，吸入遇量之內(nèi)酮蒸汽曾刺激鼻、眼結(jié)膜及咽喉黏膜，甚至引起&良痛、嗨心、幅吐、目眩、意旨哉不明等。.允^浸度1000PPM。

3ADI^影彳爰檢查1定羲：AfterDevelopingInspection之縮s.目的：檢查黃光室裂程；光阻覆蓋f封型一曝光一累直影。彝琨缺黑占彳兔如覆善不良、^影不良…等即予修改，以雉^崖品良率、品^。.方法：利用目橫、^微^^之。4AEI融刻彳登檢查.定羲：AEI即AfterEtchingInspection,在融刻裂程光阻去除前及光阻去除彳免分另慳寸崖品^施全橫或抽檄橫查。.目的：2-1提高庫品良率避免不良品外流2-2逵到品^的一致性和裂程之重禊性。2-3累直示裂程能力之指襟2-4阻止昊常^大，第省成本.通常AEI檢查出來之不良品非必要日寺很少作修改因卷重去氧化酰重畏氧化眉可能造成兀件特性改燮可靠性燮差、缺黑占密度增加，生崖成本增高，以及良率降低之缺黑丸5AIRSHOWER空氧洗鹿室迤入瀑凈室之刖，需穿輾魔衣，因在外面更衣室之放輾魔衣上沾者魔埃，故迤瀑浮室之前需^空氧喧洗檄符魔埃吹掉。6ALIGNMENT舉攆.定羲：利用晶片上的舉寸型金建，一般前字金健和光罩上的舉寸型金建合射熟之。.目的：在IC的裂造遇程中，必須^^6~10次左右的封隼曝光辦定羲甯路圄案，封型就是要招眉眉圄案精硅地定羲^像在晶片上面。.方法：A.人眼封型B.用光、重^合代替人眼，即檄械式舉寸型。7ALLOY/SINTER熔合Alloy之目的在使金號輿矽基（Silicon$或51回6）之接國蜀有Ohmic特性即重

屋輿重流成煮泉性息舒系。Alloy也可降低接斶的阻值。8AL/SI金沙矽靶此卷金^濺^畤所使用的一槿金^合金材料利用Ar遁雕的雕子，^具撞拳此靶的表面，把Al/Si的原子撞拳出來，而^在晶片表面上，一般使用之品且成卷Al/Si（1%）符此常作元件輿外界醇煮泉速接。9AL/SI/CU金沙矽/銅金^濺^日寺所使用的原料名稠通常是?STARGET,其成分養(yǎng)10.5%金瓦1%矽及98.5%金呂一般裂程通常是使用99%^1%矽，彳登痛了金^重荷遭移琪象（ELECTROMIGRATION）故滲加0.5%金瓦以降低金^甯荷遭移。10ALUMINUN金昌此卷金^濺^畤所使用的一槿金^材料，利用Ar遁雕的雕子，后蓑具撞擎此槿材料做成的靶表面，把Al的原子撞擎出來，而好晶片表面上，符此常作元件輿外界厚煮泉之速接。11ANGLELAPPING角度研磨AngleLapping的目的是養(yǎng)）了測量Junction的深度，所作的晶片前慮理，造槿探用光奸涉測量的方法就耦之AngleLapping。公式卷Xj=A/2NF即Junction深度等於入射光波晨的一半輿干涉^^數(shù)之乘稹但漸漸的隨著VLSI元件的縮小，型硅度及精密度都輾法因鷹。如SRP（SpreadingResistancePrqbing）也是鷹用AngleLapping的方法作前慮理探用的方法是以表面植入浸度輿阻值的舉寸鷹昌割系求出Junction的深度，精硅度速超遇入射光干涉法。12ANGSTRON埃是一他畏度罩位其大小卷1公尺的百德分之一的懸人的◎良鬢^度之五十離分之一。此罩位常用於IC裂程上，表示其眉（如SiO2,Poly,SiN....）厚度畤用。13APCVD(ATMOSPRESSURE)常屋化孥氯相沈稹APCVD養(yǎng)?Atmosphere（大氧）,Pressure（屋力），Chemical（化孥）,Vapor（氯相）及Deposition0^匐的縮熟也就是就反鷹氯艘（如SiH4（g）,B2H6（g）,和。2值））在常屋下起化孥反德而生成一眉固熊的生成物（如8口$6）於晶片上。

14AS75砷自然界兀素之一；由33^^子，42他中子即75他重子所^成。半醇艘工渠用的礎(chǔ)雕子（As+）可由AsH3氯艘分解得到。礎(chǔ)是N-TYPEDOPANT常用作N-埸扇、空乏扇及S/D植入。15ASHING,STRIPPING重罰阻去除.^^予真慮理，保利用重學(xué)曼方式（Plasma）,符晶片表面之光阻加以去除。.重罰阻去除的原理，保利用氧氧在^^中所崖生集自由基（Radical）輿光阻（高分子的有檄物）彝生作用，筐生揮彝性的氯艘，再由落浦抽走，逵到光阻去除的目的。.^^光令且的崖生速率通常敕酸液光阻去除懸慢，但是若隹品觸遇雕子植入或甯符融刻彳免表面之光^或彝生碳化或石墨化等化孥作用，整他表面之光阻均已燮^,若以硫酸吃光阻，輾法符表面已燮^之光阻加以去除，故均必須先以重罰阻去除之方式央做。16ASSEMBLY晶粒封裝以榭酯或陶瓷材料，符晶粒包在其中，以逵到保^晶粒，隔^璟境污染的目的，而此一速串的加工遇程，即耦懸晶粒封裝（Assembly）。封裝的材料不同，具封裝的作法亦不同本公司襄乎都是以榭酯材料作晶粒的封裝，裂程包括：晶片切割一晶粒目橫一晶粒上「架」（醇煮泉架，即Leadframe）f金雪泉f模屋封裝一穩(wěn)定烘烤（使榭酯物性穩(wěn)定）f切框、^^成型一腳沾^f蓋印一完成。以榭酯卷材料之IC,通常用於消費性崖品，如重月跳三十算檄，而以陶瓷作封裝材料之憶，^於高性賴度之元件，通常用於來彈、火箭等敕精密的崖品上。17BACKGRINDING晶背研磨利用研磨檄符晶片背面磨薄以便測就包裝著重的是厚度均勻度及背面之乾浮度。一般6□寸晶片之厚度的20mil—30mil左右，熟了便於晶粒封裝打煮泉，故需符

晶片厚度磨薄至10mil 15mil左右18BAKE,SOFTBAKE,HARDBAKE烘烤，^烤，^烤烘烤(Bake):在稹艘重路晶片上的裂造遇程中符晶片至於稍高溫(60℃—250℃)的烘箱內(nèi)或熟板上均可需之烘烤隨其目的的不同，可顯分微聿火烤(Softbake)輿予助考(Hardbake)。戟烤(Softbake):其使用畤檄是在上完光阻彼主要目的是篇了符光阻中的溶剜蒸彝去除亞且可增加光阻輿晶片之附著力。頸烤(Hardbake):又木再養(yǎng))食蟲刻前烘烤(pre-etchbake),主要目的卷去除水氟，增加光阻附著性，尤其在漏食蟲刻(wetetching)更卷重要，予真烤不全房曾造成遇融刻。19BF2二氟化硼一槿供做雕子植入用之雕子。BF2+是由BF3+氯艘晶燎^加熟分解成：B10、Bn、%B10F2、BhF2。^Extract拉出及^言普磁埸分析彳爰而得到。?是一槿-type雕子，通常用作VT植入(雨眉)及S/D植入。20BOAT晶舟Boat原意是罩木舟，在半醇艘IC裂造遇程中，常需要用一槿工具作晶片傅送、清洗及加工，道槿承載晶片的工具，我儼耦之懸Boat。一般Boat有雨槿材^，一是石英、另一是^氟青1。石英Boat用在溫度較高(大於300℃)的埸合。而^氟熊Boat即用在停送或酸慮理的埸合。21B.O.E^彳1璐蟲刻液BOE是HF輿NG4F依不同比例混合而成。6:1BOE食蟲刻即表示HF:NH4F=1:6的成分混合而成。HF卷主要的融刻液NH4F即作^^彳薊剜使用。利用NH4F固定〔H十〕的浸度，使之保持一定的食蟲刻率。HF曾浸融玻璃及任何含矽石的物g,舉寸皮庸有強烈的腐融性，不小心被^到，鷹附量水沖洗。22BONDINGPAD余建金旱塾-晶利用以速接金煮泉或金器泉的金^^。在晶粒封裝(Assembly)的裂程中，有一他步驟是作“金雪泉”，即是用金煮泉(塑醪包裝艘)或金器泉(陶瓷包

裝艘）符晶粒的煮泉路輿包裝醴之各他接刪衣金雪泉Bl（BondingDiagram）圉妾在一起，如此一來，晶粒的功能才能有效地鷹用。由於晶粒上的金篇泉路的寞度即^隙都非常窄小，（目刖SIMC所致的崖品的是微米左右的煮泉寞或^隙），而用央速接用的金煮泉或金器泉其煮泉彳里目前由於受到材料的延展性即封金蜀妾穗負度要求的限制，祇能做到1.0—1.3mil（25.433j微米）左右，在此情而，要把二、二十微米的金^煮泉直接速接到金^煮泉路^距只有3微米的晶粒上一定曾造成多修金器泉的接槁故晶粒上的^路，在其末端皆卷姥十成一他的4mil見方的金^^，此即懸金早塾，以作卷接煮泉使用。金旱塾通常分怖再晶粒之四他遇遏上（以粒封裝畤的金雪泉作棠），其形狀多卷正方形，亦有人招第一焊春泉黠作成圄形，以資辨敲金旱塾因卷要作接煮泉，其上得言蔓眉必須融刻掉故可在金旱塾上清楚地磊卜儒窗獻”。而晶粒上有畤亦可看到大瑰的金^^位於晶粒內(nèi)部而非四周，其上也看不到^窗煮泉，是懸薨。23BORON硼自然元素之』由五他^子及六他中子所^成。所以原子量是11。另外有同位素是由五他^子及五他中子所令且成原子量是10（810）。自然界中道雨槿同位素之比例是4:1,可由磁埸^聲普分析中看出，是一槿P-type的雕子（B11+）,用杰作埸扇、井扇、VT及S/D植入。24BPSG含硼及磷的矽化物BPSG乃介於Poly之上、Metal之下，可做懸上下雨眉3舔彖之用，加硼、磷主要目的在使回流彳爰的Step敕平^，以防止Metalline濺^上去彳兔造成新瀛25BREAKDOWNVOLTAGE崩潰重屋反向P-N接面元件所加之重屋卷P接負而N接正，如卷此槿接法即常所加重屋通在某他特定值以下畤反向甯流很小，而常所加重屋值大於此特定值彳免反碓流曾急遽增加，此特定值也就是吾人所需的崩潰重屋

(BREAKDOWNVOLTAGE)一般吾人所定羲反向P+-N接面之反向重流卷1UA畤之重屋卷崩潰重屋，在P十-N或N+-P之接回元件中崩潰重屋，隨著N(或者P)之浸度之增加而減小。26BURNIN予耿盍就瞬「予耿盍」(Burnin)卷可靠性測就的一S旨在橫瞬出哪些在使用初期即指壤的崖品，而在出^前予以剔除。予耿盍就瞬的作法，乃是符元件(崖品)至於高溫的璟境下加上指定的正向或反向的直流甯屋如此殘留在晶粒上氧化眉輿金^^之外來^^雕子或腐融性雕子符容易遁雕而使故障模式(FailureMode)提早徜直琨出來，逵到箭逗、剔除「早期夭折」崖品之目的。予耿盍就瞬分懸「靜熊予耿慧(StaticBurnin)輿「重力悲予耿盍」(DynamicBurnin)雨槿，前者在占或陪蒯寺，只在元件上加上娥的工作重屋即消耗您的功率而彳灸者除此外亞有模掇^B祭工作情況的^虢輸入，故敕接近^日祭狀況，也敕^格?；旧希恳慌缕吩诔鯺前，皆須作百分之百的予耿盍就瞬就由於成本及父^其等因素有些崖品營祇作抽檄(部分)的予耿盍就陪，通遇彳爰才出^。另外封於一些我個第總卷它品^^穩(wěn)定且別水型的崖品，亦可以抽檄的方式暹行，常然，具有高信賴度的崖品，皆須通遇百分之百的予耿盍就陪。27CAD^^本甫助卷殳三十CAD:ComputerAidedDesign^^本甫助^殳^此名罰所包含的甄圉很庚，可泛耦一切重月像卷工具，所迤行之卷殳三十；因此不僮在IC卷殳三十上用得到，建桀上之卷殳三十，來檄、船颼之卷殳三十，都可能用到U。在以往甯^尚未廉泛鷹用暗卷殳三十者必須以有限之言出意^^來迤行卷殳三十，可是有了所需CAD彳兔我憑把一些常用之規(guī)理」、^^存入重月幽免彳灸面的卷殳三十者，燮可第省不少彳能◎良摸索的工作，如此不催大幅地提高5卷殳^的型硅度使卷殳三十的領(lǐng)域迤入另一新天地。

28CDMEASUREMENT微距測就CD:CriticalDimension之藺木再。通常於某一他眉次中,懸了控制其最小煮泉距我憑曾裂作一些代表性之量測圄形於晶方中，通常置於晶方之遏窿。藺言之微距測量晨常作一他重要之裂程指襟，可代表黃光裂程之控制好壤。量測CD之眉次通常是舉林泉距控制敕重要之眉次，如氮化矽、POLY、CONT、MET…等，而目前敕常用於測量之圈形有品字型，L-BAR等。29CH3COOH醋酸ACETICACID醋酸澄清、輾色液艘、有刺激性氟味、熔黑占16.63℃、沸黑占118℃。輿水、酒精、乙醚互溶。可燃冰醋酸是99.8%以上之觸化物，有別於水容易的醋酸食入或吸入觸醋酸有中等的毒性，封皮庸及^^有刺激性，危害性不大，被濺到用水沖洗。30CHAMBER真空室，反鷹室事指一密朗的空^，常有特殊的用途：^如抽真空、氯艘反鷹或金^濺度等。金情寸此特殊空^之槿槿外在或內(nèi)在璟境：例如外在粒子數(shù)(particle)、湮度及內(nèi)在溫度、屋力、氯艘流量、粒子數(shù)等加以控制。逵到晶片最佳反鷹僚件。31CHANNEL通道常在MOS重晶艘的雨擷上加上重屋(PMOSSA,NMOS養(yǎng)1正)，即雨擷下的重子蠅洞曾被其重埸所吸引或排斥而使雨擷下之顯域形成一反醇眉(InversionLayer),也就是其下之半醇艘P-type燮成N-typeSi,N-type燮成P-type5,而輿源擷和汲擷，我優(yōu)營稀此反斡眉S“通道”。通道的是度“ChannelLength”舉寸MOS兀件的參數(shù)有著擷重要的影警，故我個慳寸POLYCD的控制需要非常遵慎。32CHIP,DIE晶粒一片晶片(OR晶圄，即Wafer)上有言午多相同的方形小罩位道些小罩位及耦S晶粒。同一晶片上每他晶粒都是相同的情造，具有相同的功能，每他晶粒^包裝俊可裂成一顆顆我優(yōu)日常生活中常見的IC故每一晶片所能裂造出的IC數(shù)量是很可霍舶勺，彳能襄百他到黑千他不等。同檄地，如果因裂造的疏忽而崖生

的缺黑占，往往就曾波及成百成千他崖品。33CLT(CARRIERLIFETIME)截子生命遇期一、定羲少數(shù)戴子再溫度平均日箍子被束氐尊在原子格內(nèi)，常外加能量畤，重子貍得能量，脫雕原子格束^，形成自由狀熊而參輿重流島通的的工作，但能量消失彳爰，適些重子/重洞符因在結(jié)合因素回彳復(fù)至平衡狀熊，因數(shù)常適些載子由被激彝彳爰回覆平衡期^，耦之懸少數(shù)載子“LIFETIME“二、鷹朝圉.押估虞管和清洗槽的乾浮度.金情寸晶片之清瀑度及指彳募程度封CLT值有影警養(yǎng)！A.晶片中雕子污染浸度及污染之金^槿^.晶片中結(jié)晶缺陷浸度34CMOS互神式金氧半蹲骨亶金^氧化膜半醇艘（MOS,METAL-OXIDESEMICONDUCTOR）其裂程程式及先在罩晶矽上形成笈幽彖氧化膜再沈稹一眉禊晶矽（或金^）作卷雨擷，利用家到朝骷勺重斷控制MOS兀件的^^（案或不湃）。按照厚重載子的槿類比MOS,,,又可分成雨槿^型：NMOS（由重子醇甯）和PMOS（由重洞厚重）。而互神式金氧半醇艘（CMOSCOMPLEMENTARYMOS）即是由NMOS及PMOS令且合而成具有省亶抗^^能力弓金、a-PARTICLE免疫力好等^多侵黠是超大型稹骨髓路（VLSI）的主流。35COATING光阻覆蓋符光阻膂似浸泡、噴熟刷怖、或滾屋等方法加於晶片上，耦懸光阻覆蓋。目前效果最佳的方法懸旋醇法;旋醇法乃是符晶片以真空吸附於一佃可旋醇的晶片支援器上遹量的光阻剜加在晶片中央，然彳爰晶片^始醇勤，晶片上的光阻剜向外流^,很均勻的散在晶片上。要得到均勻的光阻膜，旋醇速度必須遹中穩(wěn)定而旋醇速度和光阻剜黏滯性^^所^光阻剜的厚度。

光阻剜加上彳亮必須^遇聿火烤的步驟，以除去光阻剜中遇多的溶剜迤而使光阻膜敕懸箋硬同畤增加光阻膜輿晶片的接合能力的主要方法就是在於遹常官周整聿火烤溫度輿畤^。^^了以上的^光阻膜即^烤遇程也就是完成了整他光阻覆蓋的步驟。36CROSSSECTION橫截面IC的裂造基本上是由一眉一眉的圄案堆稹上去，而卷了瞭解堆稹圄案的情造，以改善裂程或解決裂程冏題，經(jīng)常曾利用破壤性切割方式以重子^微^(SEM)央覲察，而切割橫截面、覲察橫截面的方式是其中敕熟普遍之一稹37C-VPLOT‘雷容，’建屋圄群粉霞、重屋圄：也就是^^兀件在不同狀況下，在雨擷上施以某一重屋除曾崖生不同之重容值(此重屋可懸止或負)，如此兀件卷理想的兀件；也就是雨擷和汲擷^^乎沒有雉^在桂面(COMTAMINATION)。常外界璟境改燮畤(溫度或屋力)，或不太曾影警它的重容值，利用此可MONITORMOS元件之好壤一般△Vv0.2養(yǎng)正常。38CWQC全公司品^管制以往有些觸管者或老囂,一直都^^品^管制是品管部咒或品管主管的^任，遇到品^管制做不好畤，即立即指^品^主管，道是不舉帕的品^管制不是品^部咒或某一罩位就可以做好的而是全公司每一部咒全艘人^都參輿才能做好固品^管制懸逵到^^的目的必須結(jié)合公司內(nèi)所有部咒全艘人^^力合作橫成一他能共同言勰哉，亦於^施的艘系，或使工作襟津化，且使所定的各槿事項硅曹行，使自市匾局查、研究、^彝^計探睇裂造、檢查、就瞬、出^、金肖售、服不務(wù)懸止的每一P皆段的品^都能有效的管理，道就是所需的全公司品^管制(CompanyWideQualityControl)。^施CWQC的目的最主要的就是要改善企渠艘篁即彝受冏題的^^、重視^^的醴^、重黑占指向的醴^、重視遇程的醴^,以及全^有艘系

蹲向的醴^。39CYCLETIME生崖遇期畤^指原料由投入生崖煮泉到崖品於生崖煮泉崖生所需之生崖/裂造畤^。在TI-ACER,生崖遇期有雨槿解釋：一卷“晶片^出遇期畤^”（WAFER-OUTCYCLETIME）,一養(yǎng).“裂程遇期日寺^”（PROCESSCYCLETIME）“晶片^出遇期畤^”乃指軍一批虢之晶片由投入到^出所需之生崖/裂造畤^。裂程遇期畤^^指所有晶片於罩一工站平均生崖/裂造畤^，而各工站（彳能◎良至尾）平均生崖/裂造之加^擷^^裂程之裂程遇期畤^。目前TI-ACERLINEREPORT之生筐遇期畤^乃探用“裂程遇期畤^”。一般而言生崖遇期畤^可以下列公式概略推算之：生崖遇期畤^=在裂品（WIP）/筐能（THROUGHOUT）40CYCLETIME生崖遇期IC裂造流程禊雄，且其程式很畏，自晶片投入至晶圄測礪成，需2CycleTime。由於IC生命遇期很短，自^^、生崖至金肖售，需要迅速且能掌握日寺效，故CycleTime越短，兢學(xué)能力就越高，能掌握崖品上市契檄就能貍?cè)∽畲蟮睦酚伸禖ycleTime是:，不容與午生筐中的晶片因故幸艮屢或重做故各項操作遇程都要依照規(guī)甄迤行且要做好故障排除^^品流程）嗔利，早日出FIB上市金肖售。41DEFECTDENSITY缺黑占密度''缺黑占密度彳系指晶片罩位面稹上（如每平方公分每平方英時等）有多少''缺黑占數(shù),之意，此缺黑占數(shù)一般可分卷雨大類肌兒可視性缺黑占B.不可視性缺黑占。前者可藉由般償累直微^檢查出來（如椅接、斷煮泉），由於晶片裂造謾程甚懸禊雄漫晨，晶片上缺黑占數(shù)越少，筐品量率品^必然越佳，故''缺黑占密度〃常借用央常作一他工婕造的崖品品^好壤的指襟。

42DEHYDRATIONBAKE去水烘烤目的：去除晶片表面水分，增加光阻附著力。以免晶片表面曝光累身影彳受光阻掀起。方法：在光阻覆蓋之前，利用高溫（120℃或150℃）加熟方式點.之。43DENSIFY密化CVD沈稹彳灸，由於所沈稹之薄膜（THINFILM之密度很低），故以高溫步驟使薄膜中之分子重新結(jié)合以提高其密度，此槿高溫步驟即耦懸密化。密化通常以煽管在800℃以上的溫度完成，但也可在快速升降溫檄臺（RTP;RAPIDTHERMALPROCESS）完成。44DESCUM^^予真慮理.^^予真慮理，保利用^^方式（Plasma）,符晶片表面之光阻加以去除，但其去光阻的畤^,敕一般重飄阻去除（Stripping）懸短。其目的只是在於符晶片表面之光阻因^影^烤等裂程所造成之光阻毛遏或^屑（Scum）加以去除，以使圄形不失真融刻出來之圄案不曾有殘余.有^^學(xué)魚去除光阻之原理，^^^「重罰阻去除」（Ashing）。.通常作甯^予真慮理，均以敕低之屋力，及小之功率懸之，也就是使光阻之融刻率降低得很低，使得均勻度能提高，以保持完整的辨，逵到^^予真慮理的目的。45DESIGNRULES^^?由於半醇艘裂程技彳桁，保一儼惠渠、精余致又禊雄的技彳機容易受到不同裂造S借裂程方法（RECIPE）的影警，故在考^各項崖品如何彳能事裝造技彳桁完善，成功地裂造出來畤，需有一套烷?來做有息國技彳桁上之規(guī)定，此即“DESIGNRULE”，其保依照各槿不同崖品的需求、規(guī)格，裂造S借及裂程方法、裂程能力、各項相^^性參數(shù)規(guī)格等之考^,11止了如：.各裂程眉次、煮泉路之^距雕、煮泉寞等之規(guī)格。.各裂程眉次厚度、深度等之規(guī)格。.各項重性參數(shù)等之規(guī)格。

以供崖品卷殳三十者及裂程技彳桁工程肺等人之遵循、參考。46EDSIGNRULES^?^?^?^EDSIGNRULE：反霞程能力及裂程元件參數(shù)，以供IC卷殳三十者^^IC畤的參考型即。一份完整的DesignRule包括有卜列各部分：A.裂程參數(shù)：如氧化屑厚度、禊晶、金^^厚度等，其他如流程、ADI、AEI參教主要^^散輿黃光曲方面的>?oB.BM>?：提供樂合卷殳三十者做模掇重路日寺之參考。C.的局參數(shù)：及一般所需的3〃m、2〃m、1.5〃m…等等之Rules,提供怖局原怖局之依摞。?.光罩裂作資料：提供樂合光罩公司做光罩畤之重月像資料如CDBAR、測就筵之撰放位置各眉次之相封位置之撰放等。47DIEBYDIEALIGNMENT每FIELD均舉寸型每他Field再曝光前均金情寸此罩一Field封型之方法耦之；也就是^每他Field均要封型。48DIFFUSION瞰在一杯很觸的水上黑占一滴墨水不久彳灸可樊垣水表面顏色說磷斤淡去而水面下漸漸染^,但顏色是越辦越淡，道即是^散的一例。在半醇艘工渠上常在很觸的矽晶片上以隋或雕子儕植的方式作^散源（即^墨水）。因固熊^散比液^^散慢很多M勺數(shù)德年），故以迤煽管加高溫的方式使^散在數(shù)小日寺內(nèi)完成。49DIWATER去雕子水IC裂造遇程中，常需要用蜜酸容易來融刻、清洗晶片。適些步驟之彳灸又需利用水把晶片表面殘留的蜜酸清除故水的相相常大。然而ICo工渠用水，或不是一般的自來水或地下水而是自來水或地下水^遇一系列的^化而成原央自來水或地下水中含有大量的^菌、金^雕子敏PARTICLE,黜敞神潴殳匍尋之殺殳菌、遇濾和觸化彼即可把金^雕子等^^去除，所得的水即耦懸''去雕子水：

事供IC裂造之用。50DOPING^入^^卷使元件建作，晶片必須參以^^,一般常用的有：.予覆：在煽管內(nèi)通以能和的^^蒸氧使晶片表面有一高浸度的雄^^，然彳爰以高溫使^^^入^散;或利用沈稹畤同畤迤行^置。.雕子植入：先使^^遁雕，然彳爰加速植入晶片。51DRAM ,SRAM重力熊，靜熊隨檄存取^^艘隨檄存取^^器可分重力熊及靜熊雨S主要之差巽在於重力熊隨檄存取^^艘（DRAM），在一段日寺^（一般是0.5ms—5ms）彳免資料曾消失，故必須在資料未消失前^取元資料再重嘉（refresh）,此卷其最大缺黑占，此外速度敕慢也是其缺黑占，而dram之最大好慮卷，其每一^^軍元（歷1）指需一彳固Transistor（重晶艘）加一彳固Capacitor（重容器），故最省面稹，而有最高之密度。而SRAM即有不需重嘉、速度快之侵黑占，但是密度低，每一^^軍元（歷1）有極^^需要六他Transistor（重晶骨亶）8.四彳固Transistor（重晶艘）加雨彳固Loadresistor（ft載重阻）。由於上述之侵缺鼠DRAM一般皆用在PCd固人重月像）或其他不需高速且言出意容量大之言出意器，而SRAM即用於高速之中大型^^或其他只需小^驚容量。如盛視器（Monitor）、印表?（Printer）等遇遏控制或工棠控制上。52DRIVEIN,噩入身隹子植入（匕門implantation）隹然能敕精硅地逗攆^^數(shù)量但受限於雕子能量，輾法符^^打入晶片敕深（um敏）的扇域，因此需藉著原子有彳能高浸度往低浸度^散的性翼在相常高的溫度去迤行一方面符^^^散道教深的扇域，且使雄^原子估摞矽原子位置，崖生所要的重性另外也可符植入日寺崖生的缺陷消除。此方法耦之,噩入。在,噩入畤，常通入一些氧氯，因養(yǎng),矽氧化日寺，曾崖生一些缺陷，如空洞（Vacancy）,適些缺陷曾有助於^^

原子的^散速度。另外，由於,噩入世界原子的^散，因此其方向性是各方均等，甚至有可能彳能晶片逸出(out-diffusion),迄是需要注意的地方。53E-BEAMLITHOGRAPHY重子束微影技彳桁目刖晶片裝作中所使用之蔓朝震其曝光光源波晨笈勺養(yǎng))(365nm436nm),其可裂作煮泉寞的3之IC辨。但常需裝作更^之辨畤，印」目刖之封型檄，受曝光光源波晨之限制，而輾法逵成，因此在次微米之微影技彳桁中，及有用以重子數(shù)卷曝光光源者由於重子束波晨甚短(—0.1人)，故可得甚佳之解析度，作出更氐田之IC圄型，此槿技彳桁即耦之重子束微影技彳桁。重子束微影技彳機目前已鷹用於光罩裂作上，至於雁用於光晶片裂作中，即仍在彝展中。54EFR( EARLYFAILURERATE)早期故障率EarlyFailureRate是崖品可靠度指襟，意需IC到客戶手中使用其可能贊生故障的檄率。常DRAM生崖測就流程中^^BURN-IN高溫高屋測就彳爰，醴^不佳的崖品便被淘汰。卷了硅定好的崖品其考靠度逵到要求，所以彳他母批中取檄本做可靠度測就，就瞬中封崖品加高屋高溫，催使不耐久的^品故障因而得知崖品的可靠度。故障檄率輿崖品生命遇期之昌舒系^似浴缸，木再養(yǎng)?BathtubCurve.55ELECTROMIGRATION重子遭移所髓子遭移乃指在甯流作用卜金^的^量曾搬勤此保重子的重力量傅領(lǐng)正重之金^雕子所造成的。常兀件尺寸越縮小暗相封地重流密度理」越來越大;常此大重流^遇稹颼建路中之薄金^^暗某些地方之金^雕子曾堆稹起來而某些地方印」有金^空缺情形，如此一來，堆稹金^曾使郝近之醇艘短路，而金^空缺期曾引起新路。材料搬重力主要原重力力懸晶界^散有些方法可增加^膜醇艘封重遭移之抗力，例如：輿銅形成合金，沈稹畤加氧等方式。

56ELECTRON/HOLE重子/重洞重子是橫成原子的帶甯粒子帶有一罩位的負^荷璟^在原子核四遇形成原子。塾洞是晶艘中在原子核^的共用重子，因受熱斡攝或^^原子取代，霜子雕制原有的位置所逡留下央的“空缺”因缺少一他重子，輾法雉持重中性，可視卷帶有一罩位的正重荷。57ELLIPSOMETER幡圄測厚倭符已知波晨之射入光分成煮泉性偏擷或圄偏擷，照射在待射晶片，利用所得之不同幡圄偏擷光之弓負度^虢，以Fourier分析及Fresnel方程式，求得待測晶片模厚度58EM(ELECTROMIGRATIONTEST)重子遭移可靠度汨鬧泰流經(jīng)遇金^醇煮泉使金^原子貍得能量，沿扇現(xiàn)遏界(GRAINBounderies)^散(Diffusion),使金^煮泉崖生空洞”。1#,甚至斷裂，形成失效。其舉寸可靠度押估可用重流密度煮泉性模型求出：AF=【((stress)/((op)】n>exp【Ea/Kb(1/T(op)-1/T(stress))!TF=AF>T(stress)59ENDPOINTDETECTOR笈冬黑占偵測器在^^^刻中，利用其反鷹特性，特別^^用以偵測反鷹何畤完成的一重裝置。一般^黑占偵測可分懸下列三槿：A.雷射笈冬黑占偵測器(LaserEndpointDetector):利用雷射光入射反鷹物(即晶片)表面，常畤果真彝生畤，反鷹眉之厚度曾逐浦后成少，因而反射光曾有鉆曼^虢崖生，常融刻完成畤，所接收之^虢亦已停止燮化，即可測得^黑占。B.激彝光^黑占偵測器(OpticalEmissionEndPointDetector)用一光音普接受器接受融刻反雁中某一反鷹副崖物(Byproduct)所激彝之光^,常融刻反雁逐漸完成，此副崖物減少，光^也漸漸燮弱，即可偵測得其笈冬黑占。C畤解電期器：直接^殳定反朦寺隊常畤^笈冬了，即船束其反鷹。

60ENERGY能量能量是物理孥之事有名同。例如：B比A之重屋正100伏，巖在A板上有一重子受B版正重吸引而加速跑到B版，道畤甯子在B版就比在A版多了100重子伏特的能量。)度61EPIWAFER磊晶晶片晶晶你在晶醴表面成辰一眉晶骨乳62EPROM(ERASABLE-PROGRAMMABLEROM)重子可程式唯^^驚艘MASKROM內(nèi)所存的資料，是在FAB內(nèi)裂造遇程中便已^殳定好，裂造完彳灸便輾法改燮就像任天堂遁激卡內(nèi)的MASKROM存的是金牌璃震就輾法燮成曼截熊。而EPROM是在ROM內(nèi)加一他特殊結(jié)橫叫AFAMDS,它可使ROM內(nèi)的資料保存，但常紫外光照到它畤，它曾使ROM內(nèi)的資料消失。每一他晶驚軍位都良帚口然彳爰工程人^再依程式的規(guī)靶，用30瓦左右的重屋符0101….資料灌入每一^^^罩位如此就可灌重屋、紫外光重禊使用，存入不同的資料也就是^如果任天堂卡內(nèi)使用的是EPROM,那麼你打膩了金牌瑞震，然彳登灌曼截熊的程式迤去卡匣就燮成曼截青1卡，不用去交換店交換了。63ESDELECTROSTATICDAMAGEELECTROSTATICDISCHARGE靜重破塌青裝甯放重1自然界之物^均由原子備且成，而原子又由^子、中子及重子令且成。在正常狀熊下，物^成中性，而在日?；钪亓χ校刮颺失去甯子，或得到重子，此即崖生一靜重，得到重子之物^^帶負靜重，失去霜子即帶正靜霞靜重大小曾隨著日常的工作璟境而有所不同。如下表所示?；钋谇樾戊o重弓負度（Volt10-20%相野軍度65-95%相W格走遇地毯走遇塑身蓼地板在以子上工作拿起塑身蓼文件夾，袋拿起塑身蓼帶工作椅塾摩擦35,00012,0006,0007,00020,00018,0001,5002501006001,00015,000表1日常工作所羥生的靜重強度表2.常物^^生靜重彳爰，隨畤曾放重，弱放到子元件上，例如IC,即曾符元件破搜而使不能正常工作此即懸靜重破壤或青裝甯放重。

3.防止靜重破塌方法有二：A.在元件卷殳三十上加上靜重保^重路。8.在工作璟境上減少靜霞例如工作桌之接地煮泉，測就^之辭重璟。戴建送上使用防靜重醪套及海氐帛等等。64ETCH融刻在稹艘重路的裂程中,常需要符整他重路圄案定羲出來其裂造程式通常是先晨出或蓋上一眉所需要之薄膜在利用微影技彳桁在道眉薄膜上以光阻定羲出所欲裂造之重路圄案再利用化孥或物理方式符不需要之部分去除此桎去除步驟便耦懸融刻（ETCH）一般融刻可分卷漏性融刻（WETETCH）及乾性融亥U（DRYETCH）雨稹所需乾性融刻乃是利用化孥品（通常是蜜酸）輿所欲融刻之薄膜起化孥反鷹，崖生氟颼或可溶性生成物，逵到圄案定羲之目的。而所需乾融刻，即是利用乾融刻檄臺崖生重翦符所欲食蟲刻之薄膜反映崖生氯艘由PUMP抽走，逵到圄案定羲之目的。65EXPOSURE曝光其意羲略同於照相檄底片之感光在稹颼重路之裂造遇程中,定羲出精^之光^辨懸其中重要的步懿以建用最^之5XSTEPPER養(yǎng)例，其方式^以舉寸紫外煮泉敏感之光阻膜作^^似照相檄底片光罩上即有我憑所卷殳三十之各槿圈形，以特殊波晨之光煮泉（G-LINE436NM）照射光罩彳免^遇縮小^片（REDUCTIONLENS）光罩上之圄形理」成5倍縮小，精硅地定羲在底片上（晶片上之光阻膜）樂里遇^影彳兔即可符照到光（正光阻）之光阻^掉而得到我憑想要之各槿精氐田圈形，以作懸融刻或雕子植入用。因光阻封於某特定波晨之光煮泉特別敏感故在黃光室中早符切照明用光元遇演成黃色以避免泛白光源中含有封光阻有感光能力之波晨成分在適一黑占各相^人^^特別注意否即曾彝生光煮泉污染垣象，而攝鼠精氐田之光阻圄。66FABRICATION(FAB)裂造Fabrication養(yǎng)）“裝配”或“裂造”之意，輿Manufacture意思一檄，半蹲

艘裂造程式，其步驟繁多，且裂程禊雄需要有非常精密的言殳借和^心的作棠，才能逵到吳缺黑占的品^。FAB彳系Fabrication之縮篇‘，指的是“工摩”之意我憑常稠FIB卷“晶圄扇”，例如：迤去乎人8”之前需穿上防嗜衣。67FBFC(FULLBITFUNCTIONCHIP)全功能晶片由於^品上曾有缺陷所以有些晶片輾法全功能工倡因此霞雷射修喻測^,以便找到缺陷位置及多寡，接著就能利用雷射修襁符有缺陷的晶片修神成全功能的晶片?！冻Ｈ毕莩鲆欢ㄏ薅热账?，輾法修神成全功能晶片》68FIELD/MOAT埸扇FIELD直群的意思是''埸：足球埸和武道埸等的埸都叫做尸正1?。它的含意就是一他有寡咒用途的扇域。在IC內(nèi)部結(jié)橫中，有一扇域是隔雕重埸的地方，通常介於雨他MOS重晶艘之匐稠懸埸扇。埸扇之上大部分曾晨一眉厚的氧化眉。69FILTRATION遇濾用遇濾器(FILTER,懸一半透膜折疊而成)符液颼或氯艘中的雄^樂合遇濾掉，此稠養(yǎng)!FILTRATION【遇濾】因IC裂造渠封瀑浮式的要求是非常^格的，故各槿使用的液艘或氯艘，必須藉著一他PUMP裂造屋差來完成，如何炫理」一令且恰常的遇濾器及PUMP是首要的^^。70FIT(FAILUREINTIME)FIT遹用以表示崖品可靠度的單位FIT=1Eailurein109Device-Hours例如1000Device工作1000Hours彳登1Device故障，^^^品的幅度兼：(1Failure)/(1000Devices*1000Hours)=1000FITs71FOUNDRY客戶委言王加工客戶委號天加工主要是接受客戶委^生羥客戶自有耀利的崖品也就是客戶提供光罩，由SMIC來生崖裂造，在符成品出售系合客戶，指收取代工遇程費用，道槿觸粹代工，不涉及金肖售的方式在閾除^敕通常的耦呼就是矽代工(SiliconFoundry)o72FOURPOINTPROBE四黑占偵測?是量測晶片片阻值SheetResistance)RS的倭器。?原理如下：

有ABCD四金十，A、D^通以重流I,B、C甬金^量取重屋差（AV）,即RS=K.AV/IK是常數(shù)比例和檄臺及金十尖距雕有^73F/S(FINESONICCLEAN)超音波清洗超音波清洗的主要目的是用央去除附著在晶片表面的灰嗜，其反）焦檄橫有二化孥作用：利用SC-1中的NH4OH,H2O2輿Silicon表面反鷹，符灰靦除。2.2.物理作用：利城率800KHz,功率450W>2的超音波震謾去除灰葭74FTIR傅氏醇換^外煮泉光^分析倭FTIR乃利用^外煮泉光聲普^傅利蕖醇換迤而分析^^^度的光音普分析倭器。目的：?已贊展成熟，可Routine鷹用者，三十有：A.BPSG/PSG之含磷、含硼量^機8.晶片之含氧、含碳量ia期。^磊晶之厚度量測。?贊展中需迤一步etup者有：A.氮化矽中氮含量^^。B覆晶矽中含氧量度機C.光阻特性分析。FTIR懸擷便利之分析倭器，STD的建立懸整他量測之重黠由於其中多利用光暈原理、晶片狀況（i.e.晶背慮理狀況）封量測結(jié)果影警至金巨。75FTY(FINALTESTYIELD)在晶圄出摩彳兔必須^^包裝及T1（斷/短路測就），Burn-in（"懿告），T3（高溫功能測就），T4（低溫功能測就），QA測就，方能金肖售、出^至客戶手中。在道段漫晨而繁雄的測就遇程中，吾人定羲FinalTestYield卷：T1Yield*BurninYield*T3Yield*T4Yield76FUKEDEFECT成因卷矽化物之氧化尤其是以水蒸氧去^密化PBSG畤曾彝生，造成雨擷（PolyGate）輿金^^的短路。矽化物之氧化可分懸二^型：（以TiSi2）1.熱力孥覲黑占SiO2是最穩(wěn)定，故Si

^散至TiSi2之表面日寺曾輿水反鷹成SiO2而非TiO2。2,重力力孥霍雕占而言，常Si不足畤即曾形成TiO2而符TiSi2分解。77GATEOXIDE雨擷氧化眉GATEOXIDE是MOSFET(金氧半埸效重晶艘)中相富重要的雨擷之下的氧化眉。此氧化眉厚度較薄，且品^要求也敕^格。78GATEVALVE用來控制靠艘屋力之控制裝置通常雨^^后攵越大氯艘於反德室內(nèi)呈垣之屋力敕低；反之，^后攵越小，屋力敕高。79GEC(GOODELECTRICALCHIP)侵良重器特性晶片能別合於規(guī)格害(DataBook)上所定蠲器特性的晶片造些晶片才能被送往晶片包裝工麻成成品金肖售系合客屬80GETTERING吸附Gettering〃保於半醇艘裂程中，由於可能受到晶格缺陷(CrystalDefect)或金^^^^污染等之影簪,造成元件介面之^可能有漏重流(JunctionLeakage)存在，而影繕元件特性；如何符適些晶格缺陷金^^^摒除解5夬的槿槿技彳桁上作法，就叫做〃Gettering〃吸附。吸附一般又可分內(nèi)部的吸附〃---IntrinsicGettering及 外部的吸附〃---ExtrinsicGettering。前者保在2泉裂造之前先利用特殊高溫步用舞襄晶圄表面的「晶格缺陷或含氧量」翥量降低。彳灸者保利用外在方法如：晶背^言、磷化物(POCl3)^置ETC符晶圄表面的缺陷及雄^等翥量吸附到晶圄背面雨者均可有效改善上述冏題。81G-LINEG-光生泉G-line保指一槿光波的波良多保水金艮燎所贊出之光波波晨之一，其波晨懸436nm。G-line之光源最常作養(yǎng))Stepper所用之水金艮燎本來保由尚午多不同之波晨的光^成，利用一些Mirror和Filter反射、遇濾的結(jié)果，曾符其他波晨之光遇潮卓，堇繪G-line作卷曝光用。使用罩波晨作卷曝光光源可以得到敕佳的能量控制和解吸力但由於其卷罩色波故崖生之蹤波效鷹(StandingWave)封光阻圄案崖生很大的影警。在逗攆最佳光阻厚度，以府合融波效

朦成養(yǎng))G-lineStanding最要的工作之一。82GLOBALALIGNMENT整片性封型輿^算GlobalAlignment彳系指整片晶片在曝光前，先作整片性之封型典^算，然彳爰接著可做整片晶片之曝光。?GLOBALALIGNMENT分卷雨槿：1普通的GlobalAlignment:每片晶片共舉寸型左右麻?黑占。2AdvanceGlobalAlignment:每片晶片封^^先^定好之指定數(shù)他Field的封型金選^^^津完^亞晶重月像三十算彳灸，才整片曝光。83GOI(GATEOXIDEINTEGRITY)雨擷氧化眉完整性半醇颼元件中，雨擷氧化眉的完整輿否昌舒系著重容上甯荷的存放能力故需^殳三十一遹常流程其主要目的在但U雨擷氧化眉之崩潰重屋(breakdownvoltage)、有效氧化眉厚度等，以模掇雨擷氧化眉的品^及可信賴度通常即以此崩潰重屋值表示GOI的侵劣程度。84GRAINSIZE果真粒大小一槿晶艘材料形成彼彳他微覲的角度來看材料都是一大堆顆粒璧疊在一起而成。適些果真粒有大有小，尺寸不一。而且材料的特性也曾因卷果真粒大小而燮化，故常要注意其大小燮化。85GRRSTUDY(GAUGEREPEATABILITY ANDREPRODUUCIBILITY)測量倭器重禊性典再琪性之研究符良策倭器的重禊性一一其本身的燮昇，再琪性一操作人本身的燮昊，用統(tǒng)三十的方法算出以判斷量測倭器是否符合裂程參數(shù)控制之需要。86H2SO4硫酸SuifuricAcid硫酸，懸目刖最潢泛使用的工渠化孥品。強力腐融性、浸稠、油狀液颼依觸度不同，由輾色至暗棕色輿水以各槿不同比例互溶，甚具活性。溶解大部分的金^。浸硫酸具氧化、脫水、磺化大部分的有檄化合物，常常引起焦黑。比重1.84,沸黑占315℃。輿水混合畤需格外小心由於放熟引起爆炸性的涓野翁永速是符酸加到水中，而非加水至酸中。不小心被濺到，用大量水沖洗。目前在煮泉上，主要用造。清洗及光阻去除。

87H3PO4磷酸PHOSPHORICACID磷酸輾色畸起泡液颼或透明晶形固颼依溫度、浸度而定。在20c50%及75%強度兼易流重力液颼85%懸似糖藜100%酸養(yǎng)）晶骨乳比重1.834,熔黑占42.35℃。在213℃失去Y2H2。，形成焦磷酸。溶於水、乙醚，能腐食蚯載及合金。封皮庸、眼睛有刺激性，不小心;聰?shù)?，可用水沖洗。目前磷酸用於SI3N4的去除，浸度是85%，沸黑占156℃,SI3N4輿SIO2的融刻比笈勺養(yǎng)）30:1。88HCL氯化氫（蜜酸）HydrochloricAcid蜜酸，養(yǎng)）輾色或淡黃色，彝理，刺激性液骨乳氯化氫的水溶液蜜酸是一槿強烈酸性及高腐融性酸市面出售之浸或彝趣酸含有氯化量38%,比重1.19。氯化氫溶解在水中有各桎不同的浸度?？扇莒端?、酒精、苯、不可燃。用途庚法可用於食品加工、金^之酸洗典清瀑、工棠酸化、一般之清洗、^^就蕖。不小心被濺到，附量水沖洗。目前煮泉上，主要用於RCA清洗。89HEPA高效率謾渡器HEPA（HighEfficiencyParticulateAirFilter）懸瀑浮室內(nèi)用以濾去微粒之裝置，一般以玻璃^雉裂成，可符0.1〃m或0.3〃m以上之微粒濾去99.97%,屋力揖失的12.5mmH2O。眉流臺能保持Class100以下之瀛浮度，即靠HEPA逵成。目前除眉流臺使用HEPA外，其他如烤箱、旋醇檄，懸了逵到控制Particle的效果也都裝有HEPA之卷殳三十。90HILLOCK凸起物金^濺^彳愛養(yǎng)）使金^輿矽基（Si-Substrate）有良好的熱母式接斶需先^融合遇程在融合遇程中因^輿矽的熱膨脹保數(shù)不同（金號符曾膨脹敕快），而造成部分的金哪法向外^^只得向上膨脹造成小山丘狀的 凸起物--Hillock。91HMDSHMDS蒸^HMD原懸化孥蕖品HexaMethylDiSilazane的縮黑'，在此

即是指晶片在上光阻前的一^^先慮理步驟。HMDS蒸^就是利用惰性氯艘(例如氮氯)帶著HMDS的蒸汽通遇晶片表面，而在晶片表面形成一屑薄膜。其目的在於：A.消除晶片表面的微量水分。B.防止空氟中的水汽再次吸附於晶面。增加光阻剜(尤其是正光阻)舉寸於晶面的附著能力迤而減少在豳彳爰之累直影遇程中崖生掀起或是在融刻畤崖生了"Undercutting的瓊，象。目前在規(guī)甄中規(guī)定於HMDS蒸怎4小日寺內(nèi)需上光阻以硅保其功能。92HNO3硝酸NITRICACID硝酸透明、輾色或微黃色、彝趣、易吸漏之腐融性液艘，能腐融大部分金匾歧黃色是由於曝光所^生之二氧化氮，養(yǎng).弓負氧化剜，可輿水混合，沸黑占78℃,比重1.504。IC崖渠中硝酸用於清洗煽管但封皮庸有腐融性，卷強氧化剜，輿有檄物接斶有起火危陂。清洗煽管用。93HOTELE