標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB 15407-2010 遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求》與《GB 15407-1994 遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求和試驗(yàn)方法》相比,主要存在以下幾個(gè)方面的更新與調(diào)整:

  1. 技術(shù)要求的細(xì)化與提升:2010版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)遮擋式微波入侵探測(cè)器的技術(shù)要求進(jìn)行了更加詳細(xì)的規(guī)定,包括探測(cè)性能、環(huán)境適應(yīng)性、電磁兼容性等方面,相比1994版標(biāo)準(zhǔn),這些要求更為嚴(yán)格和具體,反映了技術(shù)進(jìn)步帶來(lái)的產(chǎn)品性能提升需求。

  2. 測(cè)試方法的改進(jìn):新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)方法進(jìn)行了修訂,引入了更科學(xué)、精確的測(cè)試手段和評(píng)估方法。這有助于提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性,確保產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性滿足當(dāng)前安全防范系統(tǒng)的要求。

  3. 增加了新功能和性能指標(biāo):隨著技術(shù)發(fā)展,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能納入了針對(duì)抗干擾能力、智能化識(shí)別、誤報(bào)率降低等方面的新要求,以適應(yīng)復(fù)雜多變的應(yīng)用環(huán)境和用戶需求。

  4. 環(huán)保與節(jié)能要求:新標(biāo)準(zhǔn)可能加入了對(duì)產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用過(guò)程中節(jié)能環(huán)保方面的要求,符合國(guó)際上對(duì)電子產(chǎn)品綠色、低碳的發(fā)展趨勢(shì)。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)與表述的優(yōu)化:為了提高標(biāo)準(zhǔn)的可讀性和執(zhí)行效率,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)章節(jié)結(jié)構(gòu)進(jìn)行了調(diào)整,采用更清晰、規(guī)范的語(yǔ)言表述,便于業(yè)界理解和遵循。

  6. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的接軌:考慮到全球貿(mào)易和技術(shù)交流的需求,新版標(biāo)準(zhǔn)可能參考或等效采用了國(guó)際上相關(guān)領(lǐng)域的先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn),增強(qiáng)了中國(guó)產(chǎn)品與國(guó)際市場(chǎng)對(duì)接的能力。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2010-11-10 頒布
  • 2011-09-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB 15407-2010遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求_第1頁(yè)
GB 15407-2010遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求_第2頁(yè)
GB 15407-2010遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求_第3頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS13310

A91.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB15407—2010

代替

GB15407—1994

遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求

Specificationofmicrowaveinterruptionintrusiondetector

2010-11-10發(fā)布2011-09-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB15407—2010

前言

本標(biāo)準(zhǔn)的412413414434547和49為強(qiáng)制性條款其余為推薦性條款

..、..、..、.、.、..,。

本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求和試驗(yàn)方法的修訂修訂的內(nèi)容

GB15407—1994《》,

包括

:

修改了環(huán)境適應(yīng)性要求版本版的

———(19944.3,4.5);

修改了試驗(yàn)方法版和本版的第章

———(19945);

刪除了原引用的電子測(cè)量?jī)x器基本安全試驗(yàn)和電子測(cè)量?jī)x器

———GB/T6587.7《》GB/T6833《

電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范

》;

刪除了原標(biāo)準(zhǔn)中第章技術(shù)要求和第章試驗(yàn)方法中有關(guān)交流供電的內(nèi)容以及第章

———4“”5“”,6

試驗(yàn)項(xiàng)目和順序表中的相關(guān)內(nèi)容

“1”;

對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)可靠性進(jìn)行修改直接引用入侵探測(cè)器第部分通用要求

———,GB10408.1—2000《1:》

中的要求

6.4。

本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起代替

,GB15407—1994。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)公安部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)安全防范報(bào)警系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC100)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位成都亞光電子股份有限公司深圳市美安科技有限公司廣州天網(wǎng)安防科技有限

:、、

公司公安部安全防范報(bào)警系統(tǒng)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)測(cè)試中心公安部安全與警用電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)中心全

、、、

國(guó)安全防范報(bào)警系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人倪建中何明柯用菁吳鈺瑞陳燕韓峰黃世杰皮幼林

:、、、、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB15407—1994。

GB15407—2010

遮擋式微波入侵探測(cè)器技術(shù)要求

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了遮擋式微波入侵探測(cè)器以下簡(jiǎn)稱探測(cè)器的技術(shù)要求試驗(yàn)方法檢測(cè)項(xiàng)目和檢驗(yàn)規(guī)

()、、

則等

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于室內(nèi)型和室外型遮擋式微波入侵探測(cè)器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

外殼防護(hù)等級(jí)代碼

GB4208—2008(IP)(IEC60529:2001,IDT)

入侵探測(cè)器第部分通用要求

GB10408.1—20001:(idtIEC60839-2-2:1987)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2—2006(IEC61000-4-2:2001,

IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3—2006(IEC61000-4-3:

2002,IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.4—2008(IEC61000-4-4:

2004,IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.5—2008()(IEC61000-4-5:

2005,IDT)

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)

31

.

遮擋式微波入侵探測(cè)器microwaveinterruptionintrusiondetector

利用遮擋微波波束而產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)的入侵探測(cè)器它由發(fā)射和接收裝置組成

。。

32

.

參考目標(biāo)referencetarget

參考目標(biāo)高度之間體重介于之間的正常人或

(160cm~180cm)±10cm,(60kg~70kg)±10kg

模擬物體

。

33

.

探測(cè)范圍邊界boundaryofdetectioncoverage

當(dāng)參考目標(biāo)在發(fā)射機(jī)與接收機(jī)之間不同位置上朝著探測(cè)器的發(fā)射機(jī)與接收機(jī)天線形成的軸線垂

,

直移動(dòng)而引起的

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