標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 12085.6-1989 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第6部分:砂塵試驗(yàn)》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)光學(xué)和光學(xué)儀器進(jìn)行砂塵環(huán)境試驗(yàn)的方法、條件、程序及試驗(yàn)設(shè)備的要求,旨在評(píng)估這些設(shè)備在沙塵環(huán)境下工作的可靠性和適應(yīng)性。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽:
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適用范圍:明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類光學(xué)和光學(xué)儀器,包括但不限于相機(jī)、望遠(yuǎn)鏡、瞄準(zhǔn)器、投影設(shè)備等,在模擬自然或特定砂塵條件下的性能測(cè)試。
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術(shù)語(yǔ)定義:對(duì)試驗(yàn)中涉及的關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了定義,確保試驗(yàn)執(zhí)行過(guò)程中的語(yǔ)言統(tǒng)一和理解準(zhǔn)確。
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試驗(yàn)條件:詳細(xì)描述了砂塵試驗(yàn)的環(huán)境參數(shù),如砂塵的種類、粒度分布、濃度、試驗(yàn)溫度、濕度等,以模擬實(shí)際可能遇到的不同砂塵環(huán)境。
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試驗(yàn)設(shè)備:規(guī)定了進(jìn)行砂塵試驗(yàn)所必需的設(shè)備類型、構(gòu)造、操作原理及性能要求,確保試驗(yàn)結(jié)果的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
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試驗(yàn)程序:步驟化說(shuō)明了從樣品預(yù)處理、試驗(yàn)布置、砂塵施加到試驗(yàn)終止的全過(guò)程,包括試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、樣品放置方式、砂塵噴射的方式與強(qiáng)度等。
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評(píng)價(jià)方法:提供了試驗(yàn)后對(duì)光學(xué)儀器性能檢測(cè)和評(píng)價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)和方法,如光學(xué)性能下降程度、機(jī)械結(jié)構(gòu)完整性、電氣功能受影響情況等。
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試驗(yàn)報(bào)告:要求記錄并報(bào)告試驗(yàn)的詳細(xì)信息,包括試驗(yàn)條件、所用設(shè)備、試驗(yàn)過(guò)程、觀察結(jié)果及最終結(jié)論,以便于數(shù)據(jù)追溯和分析。
重要性:
遵循此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的砂塵試驗(yàn),有助于制造商和研發(fā)機(jī)構(gòu)了解其產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn),進(jìn)而優(yōu)化設(shè)計(jì)、提升產(chǎn)品質(zhì)量和增強(qiáng)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。同時(shí),也為用戶選購(gòu)適合特定使用環(huán)境的光學(xué)儀器提供了參考依據(jù)。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.6-2010
- 1989-12-29 頒布
- 1990-08-01 實(shí)施
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GB/T 12085.6-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法砂塵-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
UDC681.7.08N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB12085.6—89光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法砂塵Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust1989-12-29發(fā)布1990-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法GB12085.6-89小Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Dust主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。2試驗(yàn)?zāi)康难芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到砂塵影響的變化程度,特別是研究運(yùn)動(dòng)部件(如滑動(dòng)面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪)的故障或不能允許的表面磨損。本試驗(yàn)不用來(lái)確定對(duì)粗粒砂塵的耐磨性。3引用標(biāo)準(zhǔn)GB12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍試驗(yàn)條件暴露期間,光學(xué)表面應(yīng)用各種措施防止砂塵的影響,如防塵罩。若試樣在暴露時(shí)光學(xué)表面不必罩蓋,則應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中加以說(shuō)明。試驗(yàn)箱(室)應(yīng)具有一定的空間以保證試樣的占有面積不大于試驗(yàn)箱(室)橫截面積(與空氣流動(dòng)方向垂直的面積)的50%,體積不超過(guò)試驗(yàn)箱(室)有效體積的50%。物砂塵應(yīng)由邊緣銳利的微粒組成,其中SiO。按重量應(yīng)不少于97%。微粒尺寸分布和分析用的金屬絲篩網(wǎng)應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1細(xì)砂塵顆粒尺寸分布按重最的百分比,%(允許偏差±2%)顆杜尺寸,m加篩網(wǎng)網(wǎng)格尺寸,n0.1~0.141400.071~0.10.045-0.071<0.045每次試驗(yàn)應(yīng)使用新的砂塵。試樣應(yīng)盡可能放在試驗(yàn)箱(室)中心附近,如多個(gè)
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