標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 12305.6-1997是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),專(zhuān)注于金屬覆蓋層領(lǐng)域,特別是針對(duì)金和金合金電鍍層的檢測(cè)方法。這一標(biāo)準(zhǔn)的第六部分詳細(xì)闡述了如何測(cè)定電鍍層中殘留鹽分的具體實(shí)驗(yàn)步驟與要求。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概述:
該標(biāo)準(zhǔn)適用于評(píng)估經(jīng)過(guò)電鍍處理后,金屬表面金或金合金涂層中殘留鹽分的含量。殘留鹽分可能源自電鍍液或者其他處理過(guò)程,其存在可能影響產(chǎn)品的性能,如腐蝕 resistance、電氣性能等,因此測(cè)定其含量對(duì)確保產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容要點(diǎn)包括:
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范圍:明確標(biāo)準(zhǔn)適用的對(duì)象是金及金合金電鍍層中殘留鹽的測(cè)定,為相關(guān)產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供依據(jù)。
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術(shù)語(yǔ)和定義:對(duì)測(cè)試中涉及的關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)進(jìn)行定義,確保測(cè)試過(guò)程中概念清晰無(wú)誤。
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原理:簡(jiǎn)述了測(cè)定殘留鹽的基本方法原理,通常涉及溶解樣品中的殘留鹽并轉(zhuǎn)化為可檢測(cè)的形式,隨后通過(guò)化學(xué)分析或儀器分析方法定量測(cè)定。
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試劑和材料:列出了實(shí)驗(yàn)所需的所有化學(xué)試劑、溶劑及其規(guī)格要求,以及必要的實(shí)驗(yàn)器材,確保實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
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樣品制備:詳細(xì)說(shuō)明了如何從電鍍件上取樣,包括切割、清洗、干燥等預(yù)處理步驟,以減少外界污染并確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
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測(cè)試方法:
- 描述了具體的測(cè)定程序,可能包括但不限于滴定法、光譜分析法(如原子吸收光譜法、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法)等。
- 規(guī)定了操作步驟,包括試樣溶解、干擾物質(zhì)的排除、鹽分的提取與富集、以及最終的定量分析。
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結(jié)果計(jì)算與表達(dá):給出了如何根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)計(jì)算殘留鹽的濃度,并規(guī)定了結(jié)果的表示方式和單位。
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精密度與準(zhǔn)確度:提供了重復(fù)性和再現(xiàn)性試驗(yàn)的數(shù)據(jù),以驗(yàn)證方法的可靠性和穩(wěn)定性,并可能包括與已知標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)比對(duì)的結(jié)果,以評(píng)估測(cè)量誤差。
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試驗(yàn)報(bào)告:要求記錄的測(cè)試信息包括樣品描述、測(cè)試方法、使用的設(shè)備和試劑、實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)、計(jì)算過(guò)程及最終結(jié)論等,確保測(cè)試結(jié)果的可追溯性。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 1997-06-27 頒布
- 1998-01-01 實(shí)施
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GB/T 12305.6-1997金屬覆蓋層金和金合金電鍍層的試驗(yàn)方法第六部分:殘留鹽的測(cè)定-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS25.220.40A29中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)CB/T12305.6-1997eqvISO4524-6:1988金屬覆蓋層金和金合金電鍍層的試驗(yàn)方法第六部分:殘留鹽的測(cè)定Metalliccoatings-TestmethodsforelectrodepositedgoldalloygoldandcoatingsPart6:Determinationofthepresenceoffresidualsalts1997-06-27發(fā)布1998-01-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
CB/T12305.6-1997前本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)ISO4524-6:1988《金屬覆蓋層——3一金和金合金電鍍層的試驗(yàn)方法——第六部分:殘留鹽的測(cè)定》制訂的,在技術(shù)內(nèi)容上與該國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等效,編寫(xiě)規(guī)則上與之基本等同。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)淮由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:機(jī)械工業(yè)部武漢材料保護(hù)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:姜新華。
GB/T12305.6-1997ISO前言ISO(國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是各國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化團(tuán)體(ISO成員團(tuán)體)的全世界聯(lián)合組織。制訂國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的工作,一般通過(guò)ISO各技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行。各成員團(tuán)體如對(duì)某一技術(shù)委員會(huì)確定的主題感興趣,有權(quán)向診委員會(huì)陳述。與ISO有聯(lián)系的政府和非政府的國(guó)際組織,也可以參加工作。在電工標(biāo)準(zhǔn)化的各方面,ISC與國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)密切合作。技術(shù)委員會(huì)制訂的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案,在ISO理事會(huì)采納為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)之前,先發(fā)送各成員團(tuán)體認(rèn)可,按照IS()程序,參與投票的成員團(tuán)體至少要有75%贊成才算通過(guò)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO4524-6由ISO/TC107金屬和其他非有機(jī)覆蓋層技術(shù)委員會(huì)制訂。使用者應(yīng)注意,所有的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂。除非另有說(shuō)明,這里所引用的其他國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)均指的是城新版本。1SC)4524在總標(biāo)題《金屬覆蓋層-金和金合金電鍍層試驗(yàn)方法》下,由以下部分組成:-第一部分:覆蓋層厚度測(cè)量:第二部分:環(huán)境試驗(yàn);第第三部分:孔陳率的電圖象試驗(yàn);第四部分:金含量的測(cè)定;第五部分:附著強(qiáng)度試驗(yàn);·第六部分:殘留鹽的測(cè)定;第七部分:薄板電阻率的測(cè)定
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)金屬覆蓋層金和金合金電鍍層的試驗(yàn)方法CB/r12305.6-1997第六部分:殘留鹽的測(cè)定eqvISO4524-6:1988Metalliccoatings-Testmethodsforelectrodepositedgold·andgoldalloycoatingsPart6:Determinationofthepresenceofresidualsalts1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工程、裝飾和防護(hù)用金和金合金電鍍層免受殘留鹽污染的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬件;不適用于復(fù)合材料件,如既有塑料又有鑲層金屬的零件。原理將零件在已知電導(dǎo)率的水中煮沸至規(guī)定時(shí)間,測(cè)最由析出殘留鹽和其他導(dǎo)電雜質(zhì)產(chǎn)生的電導(dǎo)率的增加值。3試劑水;在20C±1C時(shí)電導(dǎo)事不大于100rS/m。儀器所有使用的玻璃儀器應(yīng)由硼硅酸鹽玻璃制作,必須達(dá)到5.2規(guī)定的清潔度的要求,并為本試驗(yàn)單獨(dú)保存。4.1圓底燒瓶:容量為250mL.并安裝水回流冷新管4.2燒杯:尺寸要適于被測(cè)零件,標(biāo)有100ml的刻度,配有減少水的過(guò)度蒸發(fā)損失的適當(dāng)裝貿(mào),如冷卻水罩。4.3電導(dǎo)率儀5試驗(yàn)方法5.1試樣一個(gè)或多個(gè)全由鍍層金屬覆蓋的零件,其總表面積約為30cm2,根據(jù)其尺寸大小(見(jiàn)5.3)按5.3.1或5.3.2的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。務(wù)必避免試樣被意外污染,在校查中要帶干凈的手套接觸零件5.2儀器消潔度的檢查測(cè)定前將100mL水(見(jiàn)第3章)加入試驗(yàn)容器(見(jiàn)4.1或4.2)中,然后在規(guī)定的試驗(yàn)條件下(見(jiàn)5.
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