標準解讀

《GB/T 17024-1997 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 第三篇 HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細規(guī)范》這一標準文檔，專注于規(guī)定了HCMOS（高性能互補金屬氧化物半導體）技術的數字集成電路系列的具體要求，包括54/74HC、54/74HCT、54/74HCU等系列。這些系列適用于低功耗、高速度的應用場景。然而，您提供的信息中并未直接給出另一個對比的標準或版本以進行詳細的變更比較。

不過，基于此類標準更新的一般規(guī)律和行業(yè)發(fā)展趨勢，可以推測相對于早期或不同版本的標準，GB/T 17024-1997可能包含以下幾類典型變更：

  1. 電氣參數優(yōu)化：新標準可能會對電壓容限、輸入輸出電流、切換時間和功耗等電氣性能參數進行調整，以反映工藝進步帶來的性能提升和更嚴格的使用要求。

  2. 封裝形式擴展：隨著技術進步和市場需求變化，新標準可能會增加新的封裝類型，以適應更廣泛的設計需求和小型化趨勢。

  3. 測試方法與條件更新：為了保證測試的準確性和可重復性，新標準可能修訂了集成電路的測試方法、測試條件以及合格判定標準。

  4. 兼容性與互換性說明：針對54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列的不同子系列，標準可能提供了更詳盡的兼容性和互換性指導，便于用戶在設計中靈活選擇。

  5. 新增功能或系列：如果存在前一版本，新標準可能會引入新的集成電路功能或整個系列，以覆蓋更多應用領域。

  6. 可靠性與質量要求提升：隨著時間推移，對集成電路的可靠性和長期穩(wěn)定性要求通常會提高，因此新標準可能包含了更嚴格的質量控制指標。

由于缺乏具體對比的另一版本標準，以上僅為基于標準更新常見趨勢的一般性推測，具體變更內容需查閱該標準及其前版或后續(xù)更新版本的詳細文檔進行詳細對比分析。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

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  • 現行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1997-10-07 頒布
  • 1998-09-01 實施
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GB/T 17024-1997半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路第三篇HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

ICS31.200L55C中華人民共和國國家標準GB/T.17024-1997idtIEC748-2-3:1992QC790130半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路第三篇HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細規(guī)范SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionthree-BlankdetailSpecificationforHCMOSdigitalintegratedcircuitsseries54/74HC.54/74HCT.54/74HCU1997-10-07發(fā)布1998-09-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17024-1997本標準等同采用國際電工委員會標準IEC748-2-3:1992《半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路第三篇-HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白詳細規(guī)范》,以促進我國該類產品的國際貿易、技術和經濟交流。本標準引用的國家標準GB/T4937—1995半導體器件機械和氣候試驗方法(idtIEC749(1984）及修改單1(1993)和修改單2(1993)。本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出、本標準由全國集成電路標準化分技術委員會歸口。本標準起草單位：電子工業(yè)部東北微電子研究所、電子工業(yè)部標準化研究所。本標準主要起草人：王連友、畢思慶、李燕榮。

GB/T17024-1997IEC前言1）IEC（國際電工委員會)在技術問題上的正式決議或協議,是由對這些間題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的.對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2）這些決議或協議，以推薦標準的形式供國際上使用，并在此意義上為各國家委員會所認可。3）為了促進國際上的統(tǒng)一.IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準。IEC標準與相應國家標準之間的差異，應盡可能在國家標準中指明。本標準是由SC47A(集成電路)和IECTC47(半導體器件)制定的。本標準是HCMOS數字集成電路54/74HC.54/74HCT、54/74HCU系列的空白詳細規(guī)范。本標準文本以下列文件為依據：表決報告二個月程序六個月法表決報告47A(CO)19047A(CO)21547A（CO21147A（CO)241表決批準本標準的詳細資料可在上表列出的表決報告中查閱。在本標準封面的QC編號是IEC電子元器件質址評定體系(IECQ)的規(guī)范號。本標準引用下列IEC標準：68-2-17(1978）環(huán)境試驗第2部分：試驗——試驗Q密封617-12(1991）圖形符號第12部分：二進制邏輯單元747-10(1991）半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范第二您748-2-2（1991）半導體器件集成電路第2部分：數字集成電路HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族規(guī)范修改單1（1994）748-11(1990）半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路)749(1984）半導體器件機械和氣候試驗方法修改單1（1991）QC001002（1986）IEC電子元器件質量評定體系（IECQ）程序規(guī)則

中華人民共和國國家標準半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路第三篇HCMOS數字集成電路54/74HC、54/74HCT、54/74HCUGB/T17024-1997idtIEC748-2-3:1992系列空白詳細規(guī)范QC790130SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart2:DigitalintegratedcircuitsSectionthree-BlankdetailspecificationforHCMOSdigitalintegratedcircuitsseries54/74HC.54/74HCT.54/74HCU引IEC電子元器件質量評定體系遵循IEC的章程，并在IEC授權下進行工作。這個體系的目的是確定質量評定程序，使得由一個成員國根據相應規(guī)范要求認為合格而放行的電子元器件.在所有其他成員國內不需要再進行檢驗就能同樣地承認其合格。本空白詳細規(guī)范是與半導體器件有關的一系列空白詳細規(guī)范之一，并且與下列標準一起使用。IEC747-10/QC700000半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范要求的資料本頁和下頁括號內的數字與下列各項要求的資料相對應,應填寫在相應的欄中，詳細規(guī)范的識別11授權發(fā)布詳細規(guī)范的國家標準化機構名稱，L21詳細規(guī)范的IECQ編號。「31總規(guī)范、分規(guī)范的編號及版本號L4詳細規(guī)范的國家編號、發(fā)布日期及國家標準體系要求的其他資料，器件的識別L5]主要功能和型號?！?1典型結構(材料、主要工藝)和外殼資料。如果器件具有若干

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