標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17421.4-2016 機(jī)床檢驗(yàn)通則 第4部分:數(shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)》相比于《GB/T 17421.4-2003 機(jī)床檢驗(yàn)通則 第4部分:數(shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了更新和調(diào)整:

  1. 技術(shù)內(nèi)容的修訂與補(bǔ)充:2016版標(biāo)準(zhǔn)對數(shù)控機(jī)床圓檢驗(yàn)的方法、精度要求及評定規(guī)則進(jìn)行了細(xì)化和優(yōu)化,引入了更先進(jìn)的檢測技術(shù)和評估方法,以適應(yīng)數(shù)控技術(shù)的發(fā)展和提升檢驗(yàn)的準(zhǔn)確性。

  2. 標(biāo)準(zhǔn)適用范圍的明確:新版本標(biāo)準(zhǔn)清晰界定了其適用的數(shù)控機(jī)床類型和檢驗(yàn)條件,明確了標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)考慮的機(jī)床特性和技術(shù)進(jìn)步,使得應(yīng)用范圍更加明確,便于用戶理解和執(zhí)行。

  3. 檢驗(yàn)程序的規(guī)范:對數(shù)控機(jī)床圓檢驗(yàn)的程序步驟進(jìn)行了重新組織和規(guī)范,包括檢驗(yàn)前的準(zhǔn)備、檢驗(yàn)過程中的具體操作步驟、數(shù)據(jù)采集與處理方法等,提高了檢驗(yàn)流程的標(biāo)準(zhǔn)化程度。

  4. 精度指標(biāo)的調(diào)整:根據(jù)數(shù)控機(jī)床技術(shù)的進(jìn)步和實(shí)際應(yīng)用需求,對圓度、圓柱度等關(guān)鍵幾何精度指標(biāo)進(jìn)行了重新評估和設(shè)定,確保檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)與當(dāng)前技術(shù)水平相匹配,提升了產(chǎn)品質(zhì)量控制的要求。

  5. 術(shù)語和定義的更新:為了與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌并反映技術(shù)進(jìn)步,2016版標(biāo)準(zhǔn)對相關(guān)術(shù)語和定義進(jìn)行了修訂,增加了新的概念解釋,去除了過時的表述,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的通用性和可理解性。

  6. 計量單位和符號的統(tǒng)一:按照最新的國家標(biāo)準(zhǔn)和國際慣例,對標(biāo)準(zhǔn)中的計量單位、符號和表示方法進(jìn)行了統(tǒng)一,提高了標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范性和國際兼容性。

  7. 參考文獻(xiàn)的更新:引用了最新的國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和文獻(xiàn)資料,為用戶提供更全面、準(zhǔn)確的技術(shù)參考依據(jù)。


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....

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  • 2016-11-01 實(shí)施
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GB/T 17421.4-2016機(jī)床檢驗(yàn)通則第4部分:數(shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)_第1頁
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文檔簡介

ICS2504020

J50..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T174214—2016/ISO230-42005

.代替:

GB/T17421.4—2003

機(jī)床檢驗(yàn)通則

第4部分?jǐn)?shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)

:

Testcodeformachinetools—

Part4Circulartestsfornumericallcontrolledmachinetools

:y

(ISO230-4:2005,IDT)

2016-04-25發(fā)布2016-11-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T174214—2016/ISO230-42005

.:

前言

機(jī)床檢驗(yàn)通則分為個部分

GB/T17421《》11:

第部分在無負(fù)荷或精加工條件下機(jī)床的幾何精度

———1:;

第部分?jǐn)?shù)控軸線的定位精度和重復(fù)定位精度的確定

———2:;

第部分熱效應(yīng)的確定

———3:;

第部分?jǐn)?shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)

———4:;

第部分噪聲發(fā)射的確定

———5:;

第部分體和面對角線位置精度的確定對角線位移檢驗(yàn)

———6:();

第部分回轉(zhuǎn)軸線的幾何精度檢驗(yàn)

———7:;

第部分振動技術(shù)報告

———8:();

第部分機(jī)床檢驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)的不確定度估算的基本方程式技術(shù)報告

———9:GB/T17421();

第部分?jǐn)?shù)控機(jī)床測量性能的確定

———10:;

第部分機(jī)床幾何精度檢驗(yàn)用測量儀器技術(shù)報告

———11:()。

本部分為的第部分

GB/T174214。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

機(jī)床檢驗(yàn)通則第部分在無負(fù)荷或精加工條件下機(jī)床的幾何精度

———GB/T17421.1—19981:

(eqvISO230-1:1996)

本部分代替與相比內(nèi)容上有如下修改

GB/T17421.4—2003,GB/T17421.4—2003,:

中用雙向圓偏差G代替圓滯后H因?yàn)橛靡话愕挠嬃抗ぞ吆茈y評估圓滯后H而雙向

———3.3(b),,

圓偏差G包含了與其相似的信息

(b);

第章中增加了平均雙向半徑偏差D的術(shù)語和定義

———3;

中補(bǔ)充了測量和檢驗(yàn)的不確定性

———4.6;

在附錄中增加了參數(shù)G和D

———A(b);

增加了附錄使用反饋信號的圓檢驗(yàn)

———D“”。

本部分使用翻譯法等同采用機(jī)床檢驗(yàn)通則第部分?jǐn)?shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)

ISO230-4:2005《4:》。

本部分由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本部分由全國金屬切削機(jī)床標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC22)。

本部分起草單位北京北一機(jī)床股份有限公司國家機(jī)床質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心四川長征機(jī)床集團(tuán)有

:、、

限公司

本部分主要起草人胡瑞琳王禹張維李祥文李書林陳妍言王曉慧

:、、、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T17421.4—2003。

GB/T174214—2016/ISO230-42005

.:

機(jī)床檢驗(yàn)通則

第4部分?jǐn)?shù)控機(jī)床的圓檢驗(yàn)

:

1范圍

的本部分規(guī)定了兩線性軸線聯(lián)動所產(chǎn)生的圓形軌跡的雙向圓偏差平均雙向半徑偏

GB/T17421、

差圓偏差和半徑偏差及的檢驗(yàn)和評定方法有關(guān)的檢驗(yàn)工具見中的說明

、。ISO230-1:19966.6.3。

本部分的目的是提供一種檢驗(yàn)數(shù)控機(jī)床輪廓特性的方法

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

機(jī)床檢驗(yàn)通則第部分在無負(fù)荷或精加工條件下機(jī)床的幾何精度

ISO230-1:19961:

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

名義軌跡nominalpath

數(shù)控編程的圓形軌跡它由直徑或半徑圓心的位置及在機(jī)床工作區(qū)的方向來定義既可以是一

,()、,

個整圓也可以是一個不小于的部分圓

,90°。

32

.

實(shí)際軌跡actualpath

按編程的名義軌跡運(yùn)動時機(jī)床產(chǎn)生的軌跡

,。

33

.

雙向圓偏差bi-directionalcirculardeviation

Gb

()

包容兩條實(shí)際軌跡的兩個同心圓最小區(qū)域圓的最小半徑差一條軌跡為順時針輪廓運(yùn)動另一條

(),,

為逆時針輪廓運(yùn)動見圖

,1。

注1雙向圓偏差G還可用以最小二乘方圓為基準(zhǔn)的最大半徑偏差范圍來評定最小二乘方圓的計算根據(jù)個

:(b)。2

軌跡即順時針和逆時針軌跡

,。

注2雙向圓偏差G不包括安裝誤差即檢驗(yàn)工具的定心誤差

:(b),。

注3雙向圓偏差G的測量僅要求對檢驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行位移校準(zhǔn)不需要為確定軌跡直徑對檢驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行長度的校

:(b),(

準(zhǔn)半徑偏差F和平均雙向半徑偏差D

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