標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 17444-2013 紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法》與《GB/T 17444-1998 紅外焦平面陣列特性參數(shù)測(cè)試技術(shù)規(guī)范》相比,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新:
-
測(cè)試項(xiàng)目增補(bǔ)與細(xì)化:2013版標(biāo)準(zhǔn)在原有測(cè)試項(xiàng)目基礎(chǔ)上新增了多項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試方法,如更詳細(xì)的噪聲特性測(cè)試、響應(yīng)率測(cè)量、動(dòng)態(tài)范圍評(píng)估等,以適應(yīng)紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用需求的提高。同時(shí),對(duì)原有測(cè)試項(xiàng)目的具體步驟和要求進(jìn)行了細(xì)化,提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性和可操作性。
-
測(cè)試環(huán)境與條件:新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)試環(huán)境的溫濕度控制、暗室條件、電磁干擾控制等方面提出了更為嚴(yán)格的要求,確保測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性和重復(fù)性。此外,還明確了不同測(cè)試條件下應(yīng)遵循的具體標(biāo)準(zhǔn)操作程序。
-
測(cè)量儀器與精度要求:2013版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)用于測(cè)試的儀器設(shè)備性能和精度要求進(jìn)行了更新,引入了更先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),確保測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。同時(shí),針對(duì)特定參數(shù)測(cè)試,規(guī)定了更精確的校準(zhǔn)方法和頻率。
-
數(shù)據(jù)處理與分析:新標(biāo)準(zhǔn)提供了更加系統(tǒng)化的數(shù)據(jù)處理流程和分析方法,包括對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理要求、異常值剔除規(guī)則以及如何進(jìn)行誤差分析等,有助于提升測(cè)試結(jié)果的科學(xué)性和客觀性。
-
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍擴(kuò)展:考慮到技術(shù)進(jìn)步和市場(chǎng)變化,2013版標(biāo)準(zhǔn)擴(kuò)大了適用的紅外焦平面陣列類型和應(yīng)用場(chǎng)景,不僅涵蓋了軍事領(lǐng)域,也包括了民用領(lǐng)域的多種新型紅外探測(cè)器,增強(qiáng)了標(biāo)準(zhǔn)的通用性和前瞻性。
-
術(shù)語定義與標(biāo)準(zhǔn)引用更新:根據(jù)技術(shù)發(fā)展,標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)關(guān)鍵術(shù)語給出了新的或修訂的定義,并更新了引用的其他國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn),確保與國際接軌,便于國內(nèi)外技術(shù)交流與合作。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2013-11-12 頒布
- 2014-04-15 實(shí)施
文檔簡介
ICS31260
L52.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T17444—2013
代替
GB/T17444—1998
紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法
Measuringmethodsforparametersofinfraredfocalplanearrays
2013-11-12發(fā)布2014-04-15實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T17444—2013
目次
前言…………………………
Ⅰ
范圍………………………
11
術(shù)語和定義………………
21
符號(hào)和單位………………
34
測(cè)試方法…………………
45
方法響應(yīng)率和響應(yīng)率不均勻性……………
4.13001:5
方法噪聲電壓………………
4.23002:8
方法探測(cè)率…………………
4.33003:9
方法噪聲等效溫差…………
4.43004:9
方法有效像元率……………
4.53005:10
方法固定圖形噪聲…………
4.63006:11
方法噪聲等效功率…………
4.73007:11
方法飽和輻照功率…………
4.83008:12
方法動(dòng)態(tài)范圍………………
4.93009:12
方法相對(duì)光譜響應(yīng)………………………
4.103010:13
方法讀出速率幀頻………………………
4.113011:、14
方法串音…………………
4.123012:15
附錄規(guī)范性附錄響應(yīng)率的其他表示………………
A()17
附錄規(guī)范性附錄空間噪聲…………
B()18
附錄資料性附錄備用特性參數(shù)及相關(guān)量…………
C()19
附錄資料性附錄調(diào)制傳遞函數(shù)測(cè)試方法…………
D()20
附錄資料性附錄非線性度測(cè)試方法………………
E()22
附錄規(guī)范性附錄一種推薦算法……………………
F()23
GB/T17444—2013
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)代替紅外焦平面陣列特性參數(shù)測(cè)試技術(shù)規(guī)范與
GB/T17444—1998《》,GB/T17444—1998
相比主要變化如下
:
標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法
———《》。
增加了一些參數(shù)定義如紅外焦平面陣列像元幀頻行頻固定圖形噪聲平均峰值探測(cè)率
———,:、、、、、、
飽和信號(hào)電壓像元噪聲等效溫差
、。
增加一些參數(shù)測(cè)試方法如固定圖形噪聲讀出速率幀頻
———,:、、。
增加了附錄調(diào)制傳遞函數(shù)測(cè)試方法附錄非線性度測(cè)試方法
———D《》、E《》。
修改了部分參數(shù)的名稱和定義如積分時(shí)間讀出速率輻照功率輻照能量飽和輻照功率
———,:、、、、、
死像元過熱像元噪聲等效功率
、、。
修改了部分參數(shù)的測(cè)試方法如響應(yīng)率噪聲電壓噪聲等效溫差探測(cè)率動(dòng)態(tài)范圍相對(duì)光
———,:、、、、、
譜響應(yīng)串音
、。
本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口
。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人丁瑞軍梁平治唐紅蘭陳洪雷曹嫵媚殷建軍陳世軍
:、、、、、、。
本部所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T17444—1998。
Ⅰ
GB/T17444—2013
紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)紅外焦平面陣列特性參數(shù)及相關(guān)量進(jìn)行了定義
。
本標(biāo)準(zhǔn)給出了紅外焦平面陣列特性參數(shù)的測(cè)試方法及測(cè)試條件
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于線列和面陣紅外焦平面陣列
。
2術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
。
21
.
紅外焦平面陣列infraredfocalplanearraysIRFPA
;
對(duì)紅外輻照以下簡稱輻照敏感的探測(cè)器陣列并帶有讀出電路的器件簡稱紅外焦平面
(),。
22
.
像元pixel
紅外探測(cè)器陣列的敏感單元
。
23
.
幀周期frameperiod
面陣紅外焦平面一幀信號(hào)積分和讀出所需要的時(shí)間
。
24
.
幀頻framefrequence
面陣紅外焦平面在時(shí)間內(nèi)的信號(hào)輸出幀數(shù)
1s。
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