GB/T 17554.2-2015識(shí)別卡測(cè)試方法第2部分:帶磁條的卡

ICS3524015

L64..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T175542—2015/ISO/IEC10373-22006

.:

識(shí)別卡測(cè)試方法

第2部分帶磁條的卡

:

Identificationcards—Testmethods—Part2Cardwithmaneticstries

:gp

(ISO/IEC10373-2:2006,IDT)

2015-05-15發(fā)布2016-01-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T175542—2015/ISO/IEC10373-22006

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

測(cè)試方法的默認(rèn)條款

4……………………4

測(cè)試環(huán)境

4.1……………4

預(yù)處理

4.2………………4

測(cè)試方法的選擇

4.3……………………4

默認(rèn)容差

4.4……………4

總度量的不確定度

4.5…………………4

測(cè)試方法

5…………………4

磁條區(qū)域的翹曲

5.1……………………4

磁條的高度和表面輪廓

5.2……………6

磁條的表面粗糙度

5.3…………………9

磁條的耐磨性測(cè)試

5.4…………………10

幅度測(cè)量

5.5……………11

磁通翻轉(zhuǎn)間距變化

5.6…………………18

磁條黏合力

5.7…………………………18

靜磁特性

5.8……………19

波形U

5.9i6……………21

高矯頑力高密度覆寫

5.10……………21

附錄資料性附錄測(cè)試頭磨損的影響和抗磨損測(cè)試頭的使用

A()……23

GB/T175542—2015/ISO/IEC10373-22006

.:

前言

識(shí)別卡測(cè)試方法擬分為如下部分

GB/T17554《》:

第部分一般特性測(cè)試

———1:;

第部分帶磁條的卡

———2:;

第部分帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備

———3:;

第部分光記憶卡

———5:;

第部分接近式卡

———6:;

第部分鄰近式卡

———7:。

本部分為的第部分

GB/T175542。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用識(shí)別卡測(cè)試方法第部分帶磁條的

ISO/IEC10373-2:2006《2:

卡

》。

與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國文件如下

:

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范技術(shù)產(chǎn)品文件中表面結(jié)構(gòu)的表示法

———GB/T131—2006(GPS)

(ISO1302:2002,IDT);

色漆和清漆漆膜的劃格試驗(yàn)

———GB/T9286—1998(eqvISO2409:1992)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC28)。

本部分起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院云南南天電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司山東省標(biāo)準(zhǔn)

:、、

化研究院

。

本部分主要起草人夏娣娜段霞馮敬金倩楊揚(yáng)耿力喬申杰袁理王文峰

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T175542—2015/ISO/IEC10373-22006

.:

識(shí)別卡測(cè)試方法

第2部分帶磁條的卡

:

1范圍

的本部分規(guī)定了符合所定義識(shí)別卡特性的一些測(cè)試方法每一

GB/T17554GB/T14916—2006。

個(gè)測(cè)試方法交叉引用一個(gè)或多個(gè)基本標(biāo)準(zhǔn)這些基本標(biāo)準(zhǔn)可以是也可以是一個(gè)或

,GB/T14916—2006,

多個(gè)定義了在識(shí)別卡應(yīng)用中使用的信息存儲(chǔ)技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)

。

本部分定義了特別針對(duì)磁條技術(shù)的測(cè)試方法

。

注1可接受的準(zhǔn)則不包含在本部分中而是在以上提及的國家標(biāo)準(zhǔn)中

:,。

注2本部分描述的若干測(cè)試方法可單獨(dú)進(jìn)行對(duì)一張指定的卡不要求按順序地通過所有測(cè)試

:。。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

識(shí)別卡物理特性

GB/T14916—2006(ISO/IEC7810:2003,IDT)

產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范技術(shù)產(chǎn)品文件中表面結(jié)構(gòu)的表示法

ISO1302(GPS)(Geometricalproduct

specifications(GPS)—Indicationofsurfacetextureintechnicalproductdocumentation)

色漆和清漆漆膜的劃格試驗(yàn)

ISO2409:1992(Paintsandvarnishes—Cross-cuttest)

產(chǎn)品幾何技術(shù)產(chǎn)品規(guī)范表面紋理割面方法接觸設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)特性

ISO3274(GPS):(Geomet-

ricalproductspecifications(GPS)—Surfacetexture:Profilemethod—Nominalcharacteristicsof

contact(stylus)instruments)

產(chǎn)品幾何技術(shù)產(chǎn)品規(guī)范表面紋理割面方法表面紋理評(píng)估的規(guī)則和程序

ISO4288(GPS):

(Geometricalproductspecifications(GPS)—Surfacetexture:Profilemethod—Rulesandprocedures

fortheassessmentofsurfacetexture)

識(shí)別卡記錄技術(shù)第部分低矯頑力磁條

ISO/IEC7811-2