標準解讀

《GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka：鹽霧試驗方法》是一項國家標準，規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在模擬海洋性氣候條件下的耐腐蝕性能測試方法。該標準適用于評估材料及其保護層的抗鹽霧腐蝕能力，以及確定不同材料和表面處理之間的相對耐蝕性。

根據(jù)此標準，鹽霧試驗的主要目的是通過模擬加速腐蝕環(huán)境來評價試樣的防腐蝕性能。試驗設(shè)備應能提供一個密閉空間，在其中可以控制溫度、濕度及噴霧量等參數(shù)。具體要求包括使用5%±1%（質(zhì)量分數(shù)）的氯化鈉溶液作為噴霧介質(zhì)，并且pH值需調(diào)整至6.5~7.2之間；試驗箱內(nèi)溫度保持在35℃±2℃范圍內(nèi)；連續(xù)或間歇性地進行噴霧操作，直至達到預定時間為止。

此外，對于樣品準備也有明確指導：被測物表面應清潔無污染，不得有油脂或其他可能影響結(jié)果的物質(zhì)殘留；如果需要固定，則所使用的夾具不應引起額外的腐蝕現(xiàn)象。完成一定周期后，依據(jù)外觀變化程度評定等級，以此判斷其防護效果如何。

整個過程旨在為制造商提供一種可靠的方法來檢驗產(chǎn)品在含有鹽分空氣中的長期穩(wěn)定性，從而確保它們能夠在惡劣環(huán)境中正常工作并延長使用壽命。


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  • 1993-11-19 頒布
  • 1994-07-01 實施
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文檔簡介

UDC.621.3：620.193.4KO4中華人民共和國國家標準GB/T2423.17-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka：鹽霧試驗方法BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestKa：Saltmist1993-11-19發(fā)布1994-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T2423.17-93試驗Ka：鹽霧試驗方法代替GB2423.17-81BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestKa：Saltmist本標準等效采用IEC68-2-11《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法》1981年第三版）1主題內(nèi)客與適用范圍本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗的鹽霧試驗方法。本標準適用于考核材料及其防護層的抗鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力、本標準不通用作為通用的腐蝕試驗方法。2引用標準GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2424.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則3對試驗設(shè)備的要求3.11用于制造試驗設(shè)備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果。3.22試驗設(shè)備中工作空間的條件應該保持在本標準第5章規(guī)定的限度之內(nèi)。3.3有足夠大的容積，并能提供均勾的試驗條件，且試驗時這些條件不受試驗樣品的影響。3.4鹽霧不得直接噴射到試驗樣品上。3.5試驗設(shè)備工作空間內(nèi)頂部和內(nèi)壁，以及其他部位的冷凝液不得滴落在試驗樣品上。3.6試驗設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡。4試驗溶液4.1盤溶液采用氯化鈉(化學純、分析純)和蒸水或去離子水配制,其旅度為(5士0.1)%(質(zhì)量百分比)。霧化后的收集液，除擋板擋回部分外，不得重復使用。4.2霧化前的鹽溶液的pH值在6.5～7.2(35±2℃)之間。配制鹽溶液時，可采用化學純的稀鹽酸或氫氧化鈉的溶液來調(diào)整pH值，但濃度仍須符合第4.1條的規(guī)定。5試驗條件51試驗設(shè)備的工作試驗空間內(nèi)的溫度為35±2℃。5.2在工作空間內(nèi)任一位置，用面積為80cm2的漏斗收

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