標(biāo)準解讀

GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》相較于GB/T 2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 M:低氣壓試驗方法》,主要在結(jié)構(gòu)和內(nèi)容上進行了更新與調(diào)整。新版本標(biāo)準更加注重試驗的科學(xué)性和實用性,具體變化包括但不限于以下幾個方面:

首先,在標(biāo)準名稱上有所改變,從“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程”調(diào)整為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分”,這反映了標(biāo)準體系的完善以及對電工電子產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性測試要求的進一步明確。

其次,新版標(biāo)準對試驗?zāi)康?、原理及?yīng)用范圍進行了更為詳細的描述,明確了該試驗適用于模擬產(chǎn)品在儲存、運輸或使用過程中可能遇到的不同高度下的低氣壓環(huán)境條件,幫助評估產(chǎn)品在此類環(huán)境中的性能穩(wěn)定性。

再者,GB/T 2423.21-2008增加了對于試驗設(shè)備的要求,如溫度控制精度、壓力變化速率等參數(shù)的具體規(guī)定,以確保不同實驗室間結(jié)果的一致性和可比性。

此外,新版還細化了試驗程序,包括預(yù)處理、初始檢測、試驗步驟(含加壓過程)、恢復(fù)階段及最終檢測等內(nèi)容,并給出了更詳盡的操作指導(dǎo),便于執(zhí)行者理解和實施。

同時,針對不同類型的產(chǎn)品,提出了差異化的試驗條件建議,比如根據(jù)產(chǎn)品的實際應(yīng)用場景選擇合適的海拔高度等級進行測試,增強了試驗方案的靈活性與針對性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-12-30 頒布
  • 2009-10-01 實施
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GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓_第1頁
GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓_第2頁
GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓_第3頁
GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓_第4頁
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GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓-免費下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國國家標(biāo)準

犌犅/犜2423.21—2008/犐犈犆60068213:1983

代替GB/T2423.21—1991

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犕:低氣壓

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋2:犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋犕:犔狅狑犪犻狉狆狉犲狊狊狌狉犲

(IEC60068213:1983,Basicenvironmentaltestingprocedures—

Part2:TestM:Lowairpressure,IDT)

20081230發(fā)布20091001實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準化管理委員會

犌犅/犜2423.21—2008/犐犈犆60068213:1983

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

1導(dǎo)言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2一般說明!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3試驗設(shè)備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4嚴酷等級!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4.1氣壓!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

4.2試驗持續(xù)時間!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5預(yù)處理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6初始檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

7條件試驗!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

8恢復(fù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

9最后檢測!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

10相關(guān)規(guī)范應(yīng)給的資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

附錄NA(資料性附錄)GB/T2423標(biāo)準的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

犌犅/犜2423.21—2008/犐犈犆60068213:1983

前言

GB/T2423.21是GB/T2423標(biāo)準的第21部分,GB/T2423標(biāo)準的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC60068213:1983(第1版)《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分:試驗試驗M:低

氣壓》(英文版),技術(shù)內(nèi)容上與IEC60068213:1983相同,編寫格式上做了下列編輯性修改:

———為與新版IEC60068的標(biāo)題名稱一致,本部分標(biāo)題名稱由“基本環(huán)境試驗規(guī)程”改為“電工電子

產(chǎn)品環(huán)境試驗”;

———“本標(biāo)準”一詞改為“本部分”;

———刪除了IEC標(biāo)準的前言和序,增加了本部分的前言;

———增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準的組成部分”(見附錄NA);

———在規(guī)范性引用文件中,引用了與國際標(biāo)準有對應(yīng)關(guān)系的國家標(biāo)準,并增加了在正文中引用到的

標(biāo)準;

———對4.1中的表格增加了表格編號和表題,并將注1和注2的位置調(diào)整至表格當(dāng)中。

本部分替代GB/T2423.21—1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》。

本部分與GB/T2423.21—1991相比主要變化如下:

———為與IEC原文編寫格式一致,將GB/T2423.21—1991的章條順序,按照IEC60068213:

1983的結(jié)構(gòu)形式進行了調(diào)整。

本部分的附錄NA為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準化技術(shù)委員會(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分起草單位:廣州電器科學(xué)研究院、廣州威凱檢測技術(shù)研究所、重慶銀河試驗儀器有限公司。

本部分主要起草人:鐘志剛、劉功桂、王華斌。

本部分所代替的歷次標(biāo)準版本發(fā)布情況為:

———GB/T2423.21—1981、GB/T2423.21—1991。

犌犅/犜2423.21—2008/犐犈犆60068213:1983

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法

試驗犕:低氣壓

1導(dǎo)言

1.1范圍

本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。

本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。

注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產(chǎn)品,這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的

應(yīng)力或失效機理的影響是十分重要的,應(yīng)按下列標(biāo)準進行試驗:

———GB/T2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

———GB/T2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

1.2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T2423標(biāo)準的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引

用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分

達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于

本部分。

GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則(GB/T2421—1999,IEC6006

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