GB/T 2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db：交變濕熱試驗方法

UC.621.3：620.1K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.4一93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法BasicenvironmentaltestingproceduresForelectricandelectronicproductsTestDb：Dampheat.cyclic1993-11-19發(fā)布1994-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB/T2423.4-93Basicenvironmentaltestingprocedures代替GB2423.4-81forelectricandelectronicproductsTestDb:Dampheat,cyclic本標準等效采用IEC68-2-30《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db及導(dǎo)則：交變濕熱(12+12h循環(huán))》(1980年第二版)及1985年第1號修正件。主題內(nèi)客與適用范圍本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱(室)的基本要求等.本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和財存的適應(yīng)性。2引用標準GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術(shù)語GB2424.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程美濕熱試驗導(dǎo)則3對試驗箱(室)的要求3.1工作空間內(nèi)應(yīng)裝有監(jiān)控溫、濕度條件的傳感器。3.2工作空間內(nèi)的溫度應(yīng)能按第5章和圖2的說明，在25±3℃與選定的高溫之間循環(huán)變化;溫度變化速率和溫度容差應(yīng)滿足第5章和圖2的要求。3.3工作空間內(nèi)的相對濕度應(yīng)能滿足第5.2.3條和圖2的要求344工作空間內(nèi)的溫度和濕度應(yīng)均勾，并盡可能與溫濕度傳感器處的條件一致。3.55試驗設(shè)備加熱元件的輻射熱不應(yīng)直接作用于受試試驗樣品上。3.61使用直接與水接觸產(chǎn)生濕度的加濕法時,在試驗中水的電阻率應(yīng)保持不低于5000·m3.7凝結(jié)水應(yīng)不斷排出工作室外，未經(jīng)純化處理不得再次使用。3.8試驗箱(室)內(nèi)壁和頂部的凝結(jié)水不應(yīng)滴落到試驗樣品上。3.9試驗樣品的性能及電氣負載不應(yīng)明顯地影響工作空間內(nèi)的溫、濕度條件。4嚴酷等級4.1試驗嚴酷等級由高溫溫度和試驗周期數(shù)的組合確定。4.22有關(guān)標準應(yīng)從下列組合中選取嚴鰭等級：高溫溫度：40