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文檔簡介
自動(dòng)控制原理試驗(yàn)專業(yè)班級(jí)姓名學(xué)號(hào)試驗(yàn)時(shí)間:.10—.11
試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)和要求:經(jīng)過自動(dòng)控制原理試驗(yàn)牢靠地掌握《自動(dòng)控制原理》課基本分析方法和試驗(yàn)測試伎倆。能應(yīng)用運(yùn)算放大器建立各種控制系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型,掌握系統(tǒng)校正慣用方法,掌握系統(tǒng)性能指標(biāo)同系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和參數(shù)之間基本關(guān)系。經(jīng)過大量試驗(yàn),提升動(dòng)手、動(dòng)腦、理論結(jié)合實(shí)際能力,提升從事數(shù)據(jù)采集與調(diào)試能力,為構(gòu)建系統(tǒng)打下堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。試驗(yàn)儀器、設(shè)備(軟、硬件)及儀器使用說明自動(dòng)控制試驗(yàn)系統(tǒng)一套計(jì)算機(jī)(已安裝虛擬測量軟件---LABACT)一臺(tái)椎體連接線18根經(jīng)典步驟試驗(yàn)(一)、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo):了解相同性原理基本概念。掌握用運(yùn)算放大器組成各種慣用經(jīng)典步驟方法。掌握各類經(jīng)典步驟輸入和輸出時(shí)域關(guān)系及對(duì)應(yīng)傳遞函數(shù)表示形式,熟悉各經(jīng)典步驟參數(shù)(K、T)。學(xué)會(huì)時(shí)域法測量經(jīng)典步驟參數(shù)方法。(二)、試驗(yàn)內(nèi)容:1、用運(yùn)算放大器組成百分比步驟、慣性步驟、積分步驟、百分比積分步驟、百分比微分步驟和百分比積分微分步驟。2、在階躍輸入信號(hào)作用下,統(tǒng)計(jì)各步驟輸出波形,寫出輸入輸出之間時(shí)域數(shù)學(xué)關(guān)系。3、在運(yùn)算放大器上實(shí)現(xiàn)各步驟參數(shù)改變。(三)、試驗(yàn)要求:仔細(xì)閱讀自動(dòng)控制試驗(yàn)裝置布局圖和計(jì)算機(jī)虛擬測量軟件使用說明書。做好預(yù)習(xí),依照試驗(yàn)內(nèi)容中原理圖及對(duì)應(yīng)參數(shù),寫出其傳遞函數(shù)表示式,并計(jì)算各經(jīng)典步驟時(shí)域輸出響應(yīng)和對(duì)應(yīng)參數(shù)(K、T)。3、分別畫出各經(jīng)典步驟理論波形。輸入階躍信號(hào),測量各經(jīng)典步驟輸入和輸出波形及相關(guān)參數(shù)。(四)、試驗(yàn)原理試驗(yàn)原理及試驗(yàn)設(shè)計(jì):1.百分比步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):百分比系數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):2.慣性步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):百分比系數(shù):時(shí)常數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):3.積分步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):時(shí)常數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):4.百分比積分步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):百分比系數(shù):時(shí)常數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):5.百分比微分步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):百分比系數(shù):時(shí)常數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):6.百分比積分微分步驟:Ui-Uo時(shí)域響應(yīng)理論波形:傳遞函數(shù):百分比系數(shù):時(shí)常數(shù):時(shí)域輸出響應(yīng):(五)、試驗(yàn)方法與步驟依照原理圖結(jié)構(gòu)試驗(yàn)電路。測量輸入和輸出波形圖。將所測得數(shù)據(jù)填入試驗(yàn)數(shù)據(jù)表中。(六)、討論與思索寫出各經(jīng)典步驟微分方程(建立數(shù)學(xué)模型)。依照所描述各經(jīng)典步驟微分方程,你能否用電學(xué)、力學(xué)、熱力學(xué)和機(jī)械學(xué)等學(xué)科中知識(shí)設(shè)計(jì)出對(duì)應(yīng)系統(tǒng)?請(qǐng)舉例說明,并畫出原理圖。利用MATLAB仿真,與試驗(yàn)中實(shí)測數(shù)據(jù)和波形相比較,分析其誤差及產(chǎn)生原因(七)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)和實(shí)測波形:名稱參數(shù)理論值實(shí)測值比例環(huán)節(jié)R=R1=K=R/R1=K=Uo/Ui=R=R1=K=R/R1=K=Uo/Ui=慣性步驟R=R1=100kC=T=R*C=T=C=T=R*C=T=積分步驟R1=100KC=T=R1*C=T=C=T=R1*C=T=百分比積分步驟R=R1=200KC=T=R1*C=T=C=T=R1*C=T=百分比微分步驟R3=K=T=百分比積分微分步驟C1=C2=Ti=Td=(八)、各經(jīng)典步驟階躍響應(yīng)曲線:(九)、討論與思索1、寫出各經(jīng)典步驟微分方程(建立數(shù)學(xué)模型)。2、依照所描述各經(jīng)典步驟微分方程,你能否用電學(xué)、力學(xué)、熱力學(xué)和機(jī)械學(xué)等學(xué)科中知識(shí)設(shè)計(jì)出對(duì)應(yīng)系統(tǒng)?請(qǐng)舉例說明,并畫出原理圖。3、利用MATLAB仿真,與試驗(yàn)中實(shí)測數(shù)據(jù)和波形相比較,分析其誤差及產(chǎn)生原因。
試驗(yàn)二二階系統(tǒng)性能研究(一)、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo):經(jīng)過試驗(yàn)加深了解二階系統(tǒng)性能指標(biāo)同系統(tǒng)參數(shù)關(guān)系。(二)、試驗(yàn)內(nèi)容:1、二階系統(tǒng)時(shí)域動(dòng)態(tài)性能研究;(三)、試驗(yàn)要求:1、做好預(yù)習(xí),依照試驗(yàn)原理圖所表示對(duì)應(yīng)參數(shù),寫出系統(tǒng)開環(huán),閉環(huán)傳遞函數(shù)。計(jì)算x、wn、tr、ts、tp、s%、等理論值,并繪制單位階躍信號(hào)下輸出響應(yīng)理論波形。2、自己設(shè)計(jì)試驗(yàn)參數(shù)。(四)、試驗(yàn)原理:試驗(yàn)原理及試驗(yàn)設(shè)計(jì):預(yù)習(xí)內(nèi)容:(1)二階系統(tǒng)時(shí)域試驗(yàn)參數(shù)計(jì)算:(五)、試驗(yàn)方法與步驟1、依照原理圖結(jié)構(gòu)試驗(yàn)電路。2、測量時(shí)域響應(yīng)波形和數(shù)據(jù)。3、將所測得數(shù)據(jù)填入試驗(yàn)數(shù)據(jù)表中。(六)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)數(shù)據(jù):輸入電阻R參數(shù)40K增益K2.5自然頻率ωn(計(jì)算值)5阻尼比ξ(計(jì)算值)ξ>1過阻尼ξ=臨界阻尼ξ=1欠阻尼ξ=欠阻尼ξ=0.5欠阻尼ξ=超調(diào)量s%計(jì)算值測量值上升時(shí)間tr計(jì)算值測量值峰值時(shí)間tP計(jì)算值測量值調(diào)整時(shí)間tS計(jì)算值測量值(七)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)實(shí)測波形:(八)、思索題:在本試驗(yàn)中,系統(tǒng)能否出現(xiàn)不穩(wěn)定情況,此時(shí)電阻值R取值范圍?在系統(tǒng)不穩(wěn)定情況,你能否經(jīng)過改變其它元器件參數(shù),使系統(tǒng)變得穩(wěn)定?改哪些參數(shù)?怎樣改?請(qǐng)分別列出,并加以分析。利用MATLAB仿真,與試驗(yàn)中實(shí)測數(shù)據(jù)和波形相比較,分析其誤差及產(chǎn)生原因。
試驗(yàn)三系統(tǒng)時(shí)域分析試驗(yàn)(一)、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo):深入掌握二階系統(tǒng)性能指標(biāo)同系統(tǒng)閉環(huán)極點(diǎn)位置關(guān)系。掌握高階系統(tǒng)性能指標(biāo)估算方法及開環(huán)零、極點(diǎn)同閉環(huán)零、極點(diǎn)關(guān)系。3、能利用根軌跡分析法由開環(huán)零極點(diǎn)位置確定閉環(huán)零極點(diǎn)位置。(二)、試驗(yàn)內(nèi)容:1、利用根軌跡法對(duì)控制系統(tǒng)進(jìn)行分析;明確閉環(huán)零、極點(diǎn)分布和系統(tǒng)階躍響應(yīng)定性關(guān)系。(三)、試驗(yàn)要求:1、做好預(yù)習(xí),依照原理圖所表示對(duì)應(yīng)參數(shù),計(jì)算理論值并繪制根軌圖,用試探法確定主導(dǎo)極點(diǎn)大致位置。2、用Routh穩(wěn)定判據(jù),求出系統(tǒng)穩(wěn)定、臨界穩(wěn)定和不穩(wěn)定時(shí)K值范圍和R取值。3、畫出輸入輸出理論波形(單位階躍信號(hào)作用下)。(四)、試驗(yàn)原理:1、根軌跡:當(dāng)K由0→∞改變時(shí),閉環(huán)特征根在S平面上移動(dòng)軌跡城根軌跡,不但直觀表示了K改變時(shí)間閉環(huán)特征根改變,還給出了參數(shù)時(shí)閉環(huán)特征根在S平面上分布影響。可判定系統(tǒng)穩(wěn)定性,確定系統(tǒng)品質(zhì)。穩(wěn)定性:根軌跡若越過虛軸進(jìn)入s右半平面,與虛軸交點(diǎn)k即為臨界增益。穩(wěn)態(tài)性能:依照坐標(biāo)原點(diǎn)根數(shù),確定系統(tǒng)型別,同時(shí)能夠確定對(duì)應(yīng)靜態(tài)誤差系數(shù)。預(yù)習(xí)內(nèi)容:(1)三階系統(tǒng)時(shí)域試驗(yàn)參數(shù)計(jì)算和根軌跡圖:(五)、試驗(yàn)方法與步驟1、依照原理圖結(jié)構(gòu)試驗(yàn)電路。2、測量時(shí)域響應(yīng)波形和對(duì)應(yīng)參數(shù)。3、將所測得數(shù)據(jù)填入試驗(yàn)數(shù)據(jù)表中。(六)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)數(shù)據(jù):反饋電容C2反饋電容C3穩(wěn)定(衰減振蕩)臨界穩(wěn)定(等幅振蕩)不穩(wěn)定(發(fā)散振蕩1u1u2u2u1u2u(七)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)實(shí)測波形:(八)、思索題:1、系統(tǒng)性能指標(biāo)不理想時(shí),怎樣改變系統(tǒng)零、極點(diǎn)位置使系統(tǒng)性能指標(biāo)得到改進(jìn)?在實(shí)際中是否能夠無限制地改變系統(tǒng)零、極點(diǎn)位置?請(qǐng)說明理由。2、在本試驗(yàn)中,系統(tǒng)不穩(wěn)定情況下,不增加零點(diǎn),而是經(jīng)過改變其它零、極點(diǎn)位置,能否使系統(tǒng)穩(wěn)定?假如能夠,怎樣改變?假如不能,為何?3、利用MATLAB仿真,與試驗(yàn)中實(shí)測數(shù)據(jù)和波形相比較,分析其誤差及產(chǎn)生原因。4、利用MATLAB繪制根軌跡圖。
試驗(yàn)四二階系統(tǒng)性能頻域研究(一)、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo):1、經(jīng)過試驗(yàn)加深了解二階系統(tǒng)性能指標(biāo)同系統(tǒng)參數(shù)關(guān)系。2、掌握系統(tǒng)頻率特征測試方法。3、研究二階系統(tǒng)頻率特征與系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能之間關(guān)系。(二)、試驗(yàn)內(nèi)容:二階系統(tǒng)頻域動(dòng)態(tài)性能研究;(三)、試驗(yàn)要求:1、自己設(shè)計(jì)試驗(yàn)參數(shù)。2、依照原理圖所表示對(duì)應(yīng)參數(shù),計(jì)算理論值MP、ωp、ωB等理論值,并繪制幅頻、相頻和幅相特征圖.(四)、試驗(yàn)原理:試驗(yàn)原理及試驗(yàn)設(shè)計(jì):預(yù)習(xí)內(nèi)容:(1)、二階系統(tǒng)頻域試驗(yàn)參數(shù)計(jì)算:(五)、試驗(yàn)方法與步驟1、依照原理圖結(jié)構(gòu)試驗(yàn)電路。2、測量頻域伯德圖和奈奎斯特圖。3、將所測得數(shù)據(jù)填入試驗(yàn)數(shù)據(jù)表中。(六)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)數(shù)據(jù):輸入電阻R參數(shù)40K增益K2.5自然頻率ωn(計(jì)算值)5阻尼比ξ(計(jì)算值)ξ>1過阻尼ξ=臨界阻尼ξ=1欠阻尼ξ=欠阻尼ξ=0.5欠阻尼ξ=諧振峰值MP計(jì)算值測量值諧振頻率ωp計(jì)算值測量值截止頻率ωc計(jì)算值測量值(七)、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)實(shí)測圖形:(八)、思索題:經(jīng)過試驗(yàn)?zāi)阌泻涡牡皿w會(huì),發(fā)覺了什么問題,有何改進(jìn)意見?利用MATLAB仿真,與試驗(yàn)中實(shí)測數(shù)據(jù)和波形相比較,分析其誤差及產(chǎn)生原因。利用MATLAB繪制波德圖。
校正試驗(yàn)(一)、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo):1、掌握系統(tǒng)校正兩種基本方法原理。2、深入了解開環(huán)零、極點(diǎn)對(duì)閉環(huán)系統(tǒng)性能影響關(guān)系。3、加深了解串聯(lián)校正(微分、積分、復(fù)合校正)和并聯(lián)校正特點(diǎn),學(xué)會(huì)正確選擇校正裝置。(二)、試驗(yàn)內(nèi)容:1、對(duì)與一個(gè)不穩(wěn)定系統(tǒng),分別儲(chǔ)存加入導(dǎo)前網(wǎng)絡(luò)、滯后網(wǎng)絡(luò)、滯后-導(dǎo)前網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行校正,然后比較其優(yōu)劣性。(三)、試驗(yàn)要求:1、做好預(yù)習(xí),依照原理圖所表示對(duì)應(yīng)參數(shù),寫出原系統(tǒng)及校正后開環(huán)傳遞函數(shù)。2、分析討論三種串聯(lián)校正網(wǎng)絡(luò)使用場所和優(yōu)缺點(diǎn)。(四)、試驗(yàn)原理:導(dǎo)前網(wǎng)絡(luò):滯后網(wǎng)絡(luò):3、滯后-導(dǎo)前網(wǎng)絡(luò):其中:(五)、試驗(yàn)方法與步驟:依照原理圖結(jié)構(gòu)試驗(yàn)電路(六)、討論與思索比較相角超前校正網(wǎng)絡(luò)
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