X射線（多晶）衍射技術(shù)地應(yīng)用

X射線(多晶)衍射技術(shù)的應(yīng)用分析依據(jù)：各物相有獨(dú)具的晶體結(jié)構(gòu)、特定花樣定性分析：被測(cè)物衍射花樣與標(biāo)準(zhǔn)純物相花樣對(duì)照定量分析：不同相間衍射線累積強(qiáng)度互比建立花樣（數(shù)據(jù)）庫(kù)和有效率的對(duì)比程序花樣庫(kù)：衍射線的面間距d和累積強(qiáng)度I/I1

，附有化學(xué)、晶體學(xué)及可供參考的信息，記錄為8×13cm的卡片。舊名為ASTM卡，現(xiàn)名PDF(PowderDiffiractionFile)5.1物相分析1.卡片號(hào)5.晶體學(xué)數(shù)據(jù)2.3.物相名6.光學(xué)數(shù)據(jù)4.實(shí)驗(yàn)條件7.試樣參考資料83年前84年后8.質(zhì)量標(biāo)志（★最可信；i次之；

○稍差；C計(jì)算值）9.衍射線的hkl及I/I1

值43→卡片批號(hào)，1455→該批序號(hào)為便于在數(shù)萬(wàn)張卡片中挑出某些有意義的卡片與被測(cè)花樣對(duì)照，卡片集備有索引。索引以花樣八強(qiáng)線的d值編制而成。前三線為特征線，2θ＜90°中取。后五線按強(qiáng)度排出，強(qiáng)度分十級(jí)用腳標(biāo)。有強(qiáng)度腳標(biāo)的八個(gè)d值、物質(zhì)名稱、卡片號(hào)。按八數(shù)組第一值遞減分成若干小組，d值范圍印在頁(yè)眉。如3.49-3.45?，3.44-3.40?數(shù)字索引字母索引按物質(zhì)英文名的字母順序編排。名稱、化學(xué)式、三強(qiáng)線的d值及強(qiáng)度、卡片號(hào)。定性物相分析的步驟：1.測(cè)衍射花樣，求d值，強(qiáng)度分五級(jí)(最強(qiáng)、強(qiáng)、中、弱、最弱)；2.按d值遞減為序，列出全部被測(cè)物花樣的d值；3.將數(shù)據(jù)改排，在2θ＜90°內(nèi)三強(qiáng)線先排，其余按強(qiáng)度遞減跟上；4.查數(shù)字索引，按d1找可能卡片的小組，按d2找可能的卡片號(hào)；5.將可能相的卡片與被測(cè)花樣數(shù)據(jù)仔細(xì)對(duì)照，最吻合者即為被測(cè)物?！?/p>

分析時(shí)要考慮實(shí)驗(yàn)誤差，允許d值±0.01d☆

實(shí)驗(yàn)條件的差別，線條強(qiáng)度僅供參考，卡片上弱線條被測(cè)花樣可不出現(xiàn)，但花樣上的線條卡片上必須有?！?/p>

被測(cè)物所用輻射比卡片短時(shí)，可出現(xiàn)卡片沒(méi)有的小d值線條。5.2織構(gòu)測(cè)定多晶材料經(jīng)不同處理后，晶粒取向可能不再呈統(tǒng)計(jì)分布，而是呈現(xiàn)出某種程度的規(guī)律性。晶粒取向的這種規(guī)律性分布稱為擇優(yōu)取向，具有擇優(yōu)取向的組織即是織構(gòu)。絲織構(gòu)：晶粒以某一方向〈uvw〉傾向于與材料某一特征外觀方向平行。以〈uvw〉表示。板織構(gòu)：晶粒以某一方向〈uvw〉傾向于與材料某一特征外觀方向平行，同時(shí)還以某一晶面｛hkl｝傾向于平行材料的某一特征外觀平面。以｛hkl｝〈uvw〉表示。出現(xiàn)織構(gòu)的材料宏觀表現(xiàn)為各向異性，而充分利用各向異性，是發(fā)揮材料性能潛力的有效途徑之一。通過(guò)逐個(gè)晶粒取向測(cè)定而后綜合。TEM、SEM和X射線單晶定向，用SEM的電子被散射衍射測(cè)定晶粒取向是全新的技術(shù)。通過(guò)多晶衍射測(cè)出材料某一晶面的取向在空間的分布，再經(jīng)數(shù)據(jù)處理而得。電子衍射、中子衍射和X射線衍射測(cè)定。

X射線多晶衍射測(cè)定織構(gòu)應(yīng)用最廣?？棙?gòu)的測(cè)定織構(gòu)的表示方法★

取向分布函數(shù)（圖）晶粒取向是指晶粒相對(duì)其所在材料的取向。以材料外觀特征方向(如軋向、橫向和軋面法線)為軸建立參照坐標(biāo)架OABC。以晶軸OXYZ為參照坐標(biāo)架固定在晶粒上代表晶粒取向。為表示晶粒取向，即OXYZ相對(duì)于OABC的取向，用三個(gè)參數(shù)(ψ、θ、φ)表示。晶粒的每一取向，均用一組參數(shù)(ψ、θ、φ)表示。以ψθφ為坐標(biāo)軸，建立直角坐標(biāo)系Oψθφ，則晶粒的每一取向均可在此圖中用一點(diǎn)表示，將材料所有晶粒的取向均標(biāo)于圖中，即為該材料的取向分布圖。（ODF圖）如在(0°,0°,0°)點(diǎn)；在(0°,0°,45°)點(diǎn)等。冷軋含磷鋼板ODF圖，恒ψ截面為便于分析，ODF圖一般做成恒ψ或恒φ截面圖?！?/p>

極圖表示的是試樣中各晶粒任一選定的｛HKL｝面的法向在試樣空間的(以材料外觀特征方向OABC為參照坐標(biāo)系)分布。按試樣特征外觀建立坐標(biāo)架OABC，晶面法向用極角和輻角表示。用極密度定量表示｛HKL｝法向分布無(wú)織構(gòu)時(shí)在所有方向的極密度均為1。以O(shè)ABC的O點(diǎn)為球心作球面，以等值線標(biāo)出所有方向的｛hkl｝極密度值，所成球面圖表示了試樣中｛hkl｝法向（極密度）的分布。為方便構(gòu)繪和交流，用極射赤面投影將球面投影到OAB平面，此平面即為試樣的｛hkl｝極圖立方系取向的｛100｝極圖○●冷軋純鐵｛100｝極圖●

｛111｝〈112〉■

｛100｝〈110〉▲

｛112｝〈110〉★

反極圖以晶軸OXYZ為參照坐標(biāo)系，以各晶粒的某一特征外觀方向在晶體學(xué)空間的分布，來(lái)表示織構(gòu)。Al-Li合金棒軸反極圖由于晶體的對(duì)稱性，反極圖一般只繪出晶體學(xué)空間的無(wú)對(duì)稱子空間部分?！飿O圖的測(cè)繪透射法試樣厚約0.03～0.1mm，探測(cè)器固