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文檔簡介
一、 名詞解釋:(3X6=18分)初基原胞:又稱初基晶胞或固體物理學(xué)原胞,是布拉非格子中的最小周期單元,也是體積最小的晶胞。直接帶隙半導(dǎo)體:導(dǎo)帶底和價(jià)帶頂在同一波矢位置的半導(dǎo)體。格波態(tài)密度:確定體積V的晶體,在④附近單位頻率間隔內(nèi)的格波總數(shù)。雜質(zhì)補(bǔ)償半導(dǎo)體:同時(shí)含有施主雜質(zhì)和受主雜質(zhì),施主和受主在導(dǎo)電性能上有互相抵消的作用半導(dǎo)體,通常稱為雜質(zhì)補(bǔ)償半導(dǎo)體。遷移率:載流子在單位電場作用下的平均漂移速度。內(nèi)建電勢差:N型半導(dǎo)體和P型半導(dǎo)體接觸形成PN節(jié)時(shí),N區(qū)導(dǎo)帶內(nèi)的電子在試圖進(jìn)入P區(qū)導(dǎo)帶時(shí)遇到一個(gè)勢壘,這個(gè)勢壘稱為內(nèi)建電勢差。單電子近似:假設(shè)每個(gè)電子是在周期排列且固定不動(dòng)的原子核勢場及其它電子的平均勢場中運(yùn)動(dòng),用其研究固態(tài)晶體中電子的能量狀態(tài)。電子共有化運(yùn)動(dòng):原子組成晶體以后,由于電子殼層的交疊,電子不再完全局限在某一個(gè)原子上,可以由一個(gè)原子轉(zhuǎn)移到相臨的原子上去,電子在整個(gè)晶體上運(yùn)動(dòng),該運(yùn)動(dòng)叫電子的共有化運(yùn)動(dòng)。替位式雜質(zhì):雜質(zhì)原子取代品格原子而位于在晶格點(diǎn)處,常稱為替位雜質(zhì)。非平衡載流子的壽命:非平衡載流子的濃度減小到原值的1/e所經(jīng)歷的時(shí)間。陷阱效應(yīng):當(dāng)半導(dǎo)體處于非平衡狀態(tài)時(shí),雜質(zhì)能級(jí)上的發(fā)生改變。如果電子增加,說明能級(jí)具有收容非平衡電子的作用;若電子減少,說明能級(jí)具有收容空穴的作用,雜質(zhì)能級(jí)的這種積累非平衡載流子的作用稱陷阱效應(yīng)。雜質(zhì)的補(bǔ)償:假如在半導(dǎo)體中,同時(shí)存在著受主和施主雜質(zhì),兩者之間相互抵消的作用。二、 填空題:(1X22=22分)1、 在簡并半導(dǎo)體中,由于電子的共有化運(yùn)動(dòng)而導(dǎo)致電子不再屬于某一個(gè)原子而是在晶體中作共有化運(yùn)動(dòng),分裂的每個(gè)能帶稱為—允帶—,其相互之間因沒有能級(jí)稱為—禁帶_。2、 雜質(zhì)原子進(jìn)入半導(dǎo)基體(如硅、鍺等)后,可能以兩種方式存在,一種是雜質(zhì)原子位于品格原子間的位置,常稱為—間隙式雜質(zhì);另一種方式是雜質(zhì)原子取代晶格原子而位于晶格點(diǎn)處,稱為—替位式雜質(zhì)。3、 位錯(cuò)是半導(dǎo)體的一種缺陷,它對半導(dǎo)體材料和器件的性能會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的影響。在棱位錯(cuò)的周圍會(huì)導(dǎo)致原子間的壓縮和伸張,品格壓縮區(qū)禁帶寬度—變寬;伸張區(qū)禁帶寬度變窄。4、 有效質(zhì)量概括的是粒子在晶體內(nèi)部內(nèi)力作用下的質(zhì)量,電子在能帶頂?shù)挠行з|(zhì)量為負(fù)值,空穴在能帶頂?shù)挠行з|(zhì)量為正值。5、 根據(jù)摻雜原子在品格中的位置不同,可分為替位式和間隙式雜質(zhì)。6、載流子速度隨外加電場強(qiáng)度線性增加,總速度包括 漂移運(yùn)動(dòng)度和隨機(jī)熱運(yùn)動(dòng)速度兩者之和。7、載流子的復(fù)合主要包括:直接帶間 復(fù)合和帶隙 復(fù)合兩大類。8、內(nèi)建電勢差的大小主要取決于:熱電壓、施主雜質(zhì)濃度和受主雜質(zhì)濃度三大類。
9、空間電荷區(qū)的寬度:隨雜質(zhì)的濃度增加而變窄9、空間電荷區(qū)的寬度:隨雜質(zhì)的濃度增加而變窄隨反偏電壓的增大而 。10、形成PN結(jié)反向擊穿的機(jī)制主要有:雪崩擊穿和齊納擊穿 兩種。11、在半導(dǎo)體中,電流主要是由載流子的 漂移、擴(kuò)散兩種運(yùn)動(dòng)形式的構(gòu)成。5、 對于一定的半導(dǎo)體材料,電子和孔穴的濃度乘積%p0只決定于溫度,和費(fèi)米能級(jí)以及雜質(zhì)無關(guān)。6、 對于n型半導(dǎo)體,當(dāng)?shù)蜏厝蹼婋x時(shí),多數(shù)載流子電子的濃度n在數(shù)值上等于0電離的施主濃度;在強(qiáng)電離時(shí),電子的濃度n0為施主的摻雜濃度。7、對于基體材料一定的n型半導(dǎo)體,費(fèi)米能級(jí)將隨著摻雜濃度 的增加向上偏移,隨溫度升高向下偏移。8、 重?fù)诫s的簡并半導(dǎo)體,雜質(zhì)的濃度很高,雜質(zhì)原子相互間很靠近,被雜質(zhì)原子束縛的電子波函數(shù)顯著重疊,雜質(zhì)電子就可能在雜質(zhì)原子之間產(chǎn)生A有化運(yùn)動(dòng),從而使孤立的 雜質(zhì)能級(jí)擴(kuò)展為能帶,通常稱為雜質(zhì)的能帶。9、 載流子在復(fù)合的過程中,一定要釋放多余的能量,其能量的釋放方式主要包括: 發(fā)射光子 、 發(fā)射聲子 和俄歇復(fù)合。10、 愛因斯坦從理論上找出擴(kuò)散系數(shù)和遷移率的定量關(guān)系,其中遷移率是反映載流子在 電場濃度 下運(yùn)動(dòng)的難易程度,擴(kuò)散系數(shù)反映存在時(shí)—濃度梯度載流子運(yùn)動(dòng)的難易程度。三、簡答、簡單計(jì)算題:(6X5=30分)1、一簡單立方的晶格常數(shù)是5.63A,請計(jì)算(111)的面間距和面密度?3 、.'31處 面間距刁=—a=—x5.63x10-101、答: 3 3=3.25x10-10(m)面密度D=豆= € =1.82x1018(/cm2)3a23x(5.63x10-10)22、請簡述費(fèi)米-狄拉克函數(shù)和玻爾茲曼分布函數(shù)實(shí)用條件和相互關(guān)系?2、 答:費(fèi)米-狄拉克函數(shù)實(shí)用的條件是:滿足泡利不相容原理玻爾茲曼分布函數(shù):當(dāng)能級(jí)遠(yuǎn)離費(fèi)米能級(jí)時(shí),能級(jí)被電子占據(jù)的幾率很小,不在考慮泡利不相容原理兩者的關(guān)系是:分布函數(shù)的分母是否去掉1。3、 為什么隨電場的增加,載流子漂移速度會(huì)達(dá)到飽和?3、 答:載流子漂移速度是遷移率和電場的函數(shù),當(dāng)電場增加的足夠大載流子從低能谷躍遷到高能谷,高能谷中的有效質(zhì)量增加,遷移率下降。當(dāng)電場增加一定程度后,遷移率下降速度和電場的增加速度相等。載流子的速度達(dá)到飽和狀態(tài)。4、 外加作用力之后,為什么過剩載流子密度不能隨時(shí)間持續(xù)增加?當(dāng)半導(dǎo)體在外加作用力下產(chǎn)生過剩載流子,載流子存在濃度梯度,有擴(kuò)散運(yùn),載流子邊擴(kuò)散邊復(fù)合,故載流子的不能隨時(shí)間可持續(xù)增加。5、 什么是歐姆接觸,制作歐姆接觸最常用的方法是什么?當(dāng)金屬和半導(dǎo)體接觸,不產(chǎn)生明顯的附加阻抗,而且不會(huì)使半導(dǎo)體內(nèi)部的平衡載流子濃度發(fā)生顯著的改變,叫歐姆接觸。制作歐姆接觸最常用的方法是用重?fù)诫s的半導(dǎo)體與金屬接觸,常常在N型或P型半導(dǎo)體上制作一層重?fù)诫s區(qū)后再與金屬接觸,對金屬的選擇比較自由6、 為什么PN結(jié)空間電荷區(qū)內(nèi)會(huì)有電場,什么位置的電場最大?當(dāng)P型半導(dǎo)體和N半導(dǎo)體接觸后:N型區(qū)中多子電子向P型區(qū)中擴(kuò)散,形成帶正電荷的空間區(qū);P型區(qū)中的多子空穴向N型區(qū)中擴(kuò)散,形成了帶負(fù)電的空間電荷區(qū),于是形成了空間電場。在P型區(qū)和N型區(qū)的界面處,電場的強(qiáng)度最大。四、問答題:(9X2=18分)1、在半導(dǎo)體材料中,費(fèi)米能級(jí)的位置受那些因素的影響,變化趨勢怎樣?1、 答:⑴在半導(dǎo)體材料中,費(fèi)米能級(jí)的位置受摻雜濃度和溫度兩種因素的影響;⑵對于N型半導(dǎo)體,費(fèi)米能級(jí)的位置隨摻雜濃度向上偏移,對于P型半導(dǎo)體,費(fèi)米能級(jí)的位置隨摻雜濃度向下偏移;⑶無論是N型還是P型半導(dǎo)體,載流子的濃度都會(huì)隨溫度的增加向本征費(fèi)米能級(jí)移動(dòng)。2、 PN結(jié)電容主要包括那兩大類,各自的影響因素有那些,變化趨勢何如?⑴PN結(jié)電容主要包括兩大類:勢壘電容和擴(kuò)散電容⑵勢壘電容的主要影響因素有:施主、受主的摻雜濃度、半導(dǎo)體的介電常數(shù)、反偏電壓和接觸電勢差等⑶擴(kuò)散電容的主要影響因素有:熱電勢、N型區(qū)和P型區(qū)的電流和載流子壽命。3、半導(dǎo)體的電導(dǎo)率隨溫度是如何變化,分析產(chǎn)生的主要原因?五、計(jì)算題分析題:(12X1=12分)已知T=300K時(shí)硅的實(shí)測電子濃度為n0=4.5X104cm3, ND=5X10i5cm3。請問該半導(dǎo)體是N型還是P型?樣品的電導(dǎo)率是多少?計(jì)算本樣品以本征費(fèi)米能級(jí)E為參考點(diǎn)費(fèi)米能級(jí)的位置?imJxI。』。)(a)根據(jù)七=寸=4.5X104=5?。x1015 (/cm3)故該半導(dǎo)體為P型半導(dǎo)體。(b)根據(jù)。=nq叩pq%=4.5X1010X1.60X10-19X1350+5.0X1015X1.60X10-19X480=0.384(s)(c)根據(jù)由p=nexp一 ~—F^-(c)根據(jù)0iFkTrpEFi5.0xl0V)11.5x10io/nE-E=kTInp
一/EFi5.0xl0V)11.5x10io/=0.33(eV)故費(fèi)米能級(jí)在本征費(fèi)米能級(jí)下0.33eV位置處。
2、品格常數(shù)為0.25nm的一維品格,當(dāng)外加102V/m,107V/m的電場時(shí),分別計(jì)算電子自能帶底運(yùn)動(dòng)到能帶頂所需要的時(shí)間。q=1.602x10-19Ch=6.625x10-34J?s、一一、》 /k[解】設(shè)電場強(qiáng)度為E,?.?F=h-
h=qE(取絕對值)dt=
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