GB/T 43063-2023集成電路CMOS圖像傳感器測(cè)試方法

ICS31200

CCSL.55

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T43063—2023

集成電路CMOS圖像傳感器測(cè)試方法

Integratedcircuit—TestmethodforCMOSimagesensors

2023-09-07發(fā)布2024-01-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T43063—2023

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

測(cè)試參數(shù)名稱(chēng)及符號(hào)

4……………………1

一般要求

5…………………2

測(cè)試環(huán)境

5.1……………2

測(cè)試系統(tǒng)

5.2……………2

規(guī)定條件

5.3……………3

靜電防護(hù)要求

5.4………………………3

測(cè)試方法

6…………………4

轉(zhuǎn)換增益K

6.1…………………………4

暗信號(hào)S

6.2D……………7

暗信號(hào)非均勻性固定圖形噪聲FPN

6.3()……………8

讀出噪聲N

6.4m………………………9

響應(yīng)非線(xiàn)性L

6.5lin……………………10

滿(mǎn)阱電荷數(shù)N

6.6S……………………11

動(dòng)態(tài)范圍D

6.7R………………………12

信噪比SN

6.8/………………………13

光響應(yīng)非均勻性PRNU

6.9…………13

靈敏度R

6.10…………………………15

缺陷像元

6.11…………………………16

電荷滯留N

6.12RE……………………17

抗彌散性

6.13…………………………18

量子效率η

6.14………………………19

光譜響應(yīng)度Rλ

6.15……………………22

峰值響應(yīng)波長(zhǎng)λ

6.16P…………………23

光譜響應(yīng)范圍

6.17……………………23

調(diào)制傳遞函數(shù)奈奎斯特頻率MTF

6.18()N…………24

動(dòng)態(tài)調(diào)制傳遞函數(shù)奈奎斯特頻率MTF

6.19()Ns……………………26

角度響應(yīng)曲線(xiàn)

6.20……………………28

Ⅰ

GB/T43063—2023

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本文件由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出并歸口

。

本文件主要起草單位中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所重慶光電技術(shù)研究所天津大

:、、

學(xué)長(zhǎng)春精測(cè)光電技術(shù)有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院深圳佑駕創(chuàng)新科技有限公司

、、、。

本文件主要起草人李俊霖張濤蘭太吉楊永強(qiáng)趙宇聶真威韓冰金輝馬洪濤盧巖徐江濤

:、、、、、、、、、、、

劉昌舉唐延甫聶凱明李金高志遠(yuǎn)馬悅劉國(guó)清王琪劉秀娟

、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T43063—2023

集成電路CMOS圖像傳感器測(cè)試方法

1范圍

本文件描述了具有線(xiàn)性光電響應(yīng)特性的線(xiàn)陣面陣和時(shí)間延遲積分圖像傳感器以下

、(TDI)CMOS(

簡(jiǎn)稱(chēng)器件參數(shù)及其測(cè)試方法

)。

本文件適用于具有線(xiàn)性光電響應(yīng)特性的線(xiàn)陣面陣和器件參數(shù)測(cè)試

、TDI。

2規(guī)范性引用文件

本文件無(wú)規(guī)范性引用文件

。

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

暗場(chǎng)darkfield

器件所處的無(wú)光照測(cè)試環(huán)境

。

32

.

亮場(chǎng)lightfield

器件所處的有光照測(cè)試環(huán)境

。

33

.

有效像元effectivepixel

成像像元陣列中沒(méi)有被不透光材料覆蓋并參與最