自動(dòng)化系統(tǒng)與集成 CAN總線控制器測(cè)試方法 征求意見稿

××××—××××自動(dòng)化系統(tǒng)與集成CAN總線控制器測(cè)試方法本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路CAN總線控制器功能驗(yàn)證和電參數(shù)測(cè)試的方法。本文件適用于半導(dǎo)體集成電路領(lǐng)域中CAN總線控制器的功能驗(yàn)證和電參數(shù)測(cè)試。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路GB/T41588.1-2022道路車輛控制器局域網(wǎng)（CAN）第1部分：數(shù)據(jù)鏈路層和物理信令3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T41588.1-2022界定的下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1總線狀態(tài)busstate兩種互補(bǔ)的邏輯狀態(tài)中的一種：顯性或隱性。3.2標(biāo)識(shí)符identifier不指明幀的目的地，而是反應(yīng)特定幀的優(yōu)先級(jí)，并標(biāo)明所傳輸數(shù)據(jù)的含義。3.3傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)幀格式classicalbaseframeformat使用11位ID，傳輸時(shí)只用1種位速率，一幀最多包含8個(gè)數(shù)據(jù)字節(jié)的數(shù)據(jù)幀或者遠(yuǎn)程幀格式。3.4傳統(tǒng)擴(kuò)展幀格式classicalextendedframeformat使用29位ID，傳輸時(shí)只用1種位速率，一幀最多包含8個(gè)數(shù)據(jù)字節(jié)的數(shù)據(jù)幀或者遠(yuǎn)程幀格式。3.5過載幀overloadframe指示有過載情形的幀。3.6優(yōu)先級(jí)priority幀的屬性，決定了它在仲裁過程中的排名。3.7遠(yuǎn)程幀remoteframe請(qǐng)求發(fā)送指定數(shù)據(jù)幀的幀。4縮略語(yǔ)GB/T××××—××××下列縮略語(yǔ)適用于本文件ATE:自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（AutomaticTestEquipment）CAN:控制器域網(wǎng)（ControllerAreaNetwork）5一般要求5.1通則器件的功能驗(yàn)證不限定具體設(shè)備，宜在ATE上進(jìn)行，或者使用工程評(píng)估板進(jìn)行驗(yàn)證。ATE的數(shù)字通道應(yīng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)對(duì)象的激勵(lì)和測(cè)量，工程評(píng)估板可運(yùn)行用于功能驗(yàn)證的測(cè)試程序。器件的電參數(shù)測(cè)試宜在ATE上進(jìn)行測(cè)試，或者使用工程評(píng)估板及示波器進(jìn)行測(cè)試。在功能驗(yàn)證時(shí)，應(yīng)符合5.2的規(guī)定。在電參數(shù)測(cè)量時(shí)，應(yīng)編制測(cè)試向量，使器件處于所需的工作狀態(tài)才能進(jìn)行測(cè)量。測(cè)試向量應(yīng)符合5.3的規(guī)定。使用示波器測(cè)試時(shí)，應(yīng)符合5.4的規(guī)定。5.2功能驗(yàn)證一般要求功能驗(yàn)證應(yīng)根據(jù)待測(cè)CAN總線控制器數(shù)據(jù)手冊(cè)和CAN總線通信協(xié)議，遍歷內(nèi)部所有寄存器的讀寫和不同工作模式的行為表現(xiàn)，考核器件是否能按照CAN總線通信協(xié)議實(shí)現(xiàn)既定功能；不同格式報(bào)文收發(fā)，應(yīng)盡可能遍歷所有可能的ID和數(shù)據(jù)位。包含以下內(nèi)容，但是不限于這些內(nèi)容：a)寄存器讀寫功能驗(yàn)證；b)標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)；c)擴(kuò)展幀報(bào)文收發(fā)；d）遠(yuǎn)程幀報(bào)文收發(fā)；e）過載幀發(fā)送；f)總線仲裁；g)報(bào)文接收濾波；h)錯(cuò)誤處理；i)節(jié)點(diǎn)關(guān)閉。5.3電參數(shù)測(cè)試一般要求電參數(shù)測(cè)試時(shí)應(yīng)使器件處于所需工作狀態(tài)，應(yīng)配合相應(yīng)的向量。電參數(shù)測(cè)試的向量應(yīng)滿足器件不同狀態(tài)的要求。在測(cè)試時(shí)，器件應(yīng)處于某種指定狀態(tài)或者應(yīng)用下。向量應(yīng)保證在測(cè)試過程中器件不會(huì)脫離指定的狀態(tài)或者應(yīng)用而進(jìn)入其他狀態(tài)或者應(yīng)用。5.4電參數(shù)測(cè)試示波器使用示波器進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試時(shí)，一般只能測(cè)試直流參數(shù)和時(shí)序參數(shù)，無法測(cè)試工作電流參數(shù)，應(yīng)使用上位機(jī)（計(jì)算機(jī)）使器件處于所需的工作狀態(tài)。測(cè)試時(shí)使用的示波器及附件應(yīng)符合以下要求：a)示波器帶寬不應(yīng)小于被測(cè)信號(hào)帶寬的2.5倍；b)采集信號(hào)的探頭帶寬不應(yīng)小于被測(cè)信號(hào)頻率的2.5倍；c)示波器應(yīng)安裝相應(yīng)的電參數(shù)分析軟件。5.5測(cè)試環(huán)境除另有規(guī)定外，CAN總線控制器測(cè)試應(yīng)在環(huán)境氣壓為86kPa～106kPa、相對(duì)濕度為35%～80%的范圍內(nèi)進(jìn)行。測(cè)試溫度應(yīng)符合GB/T17574-1998第IV篇第1節(jié)2.1.2的規(guī)定。GB/T××××—××××6詳細(xì)要求6.1寄存器讀寫6.1.1目的驗(yàn)證器件內(nèi)部寄存器是否能完成正常讀寫功能。6.1.2測(cè)試原理圖寄存器讀寫功能驗(yàn)證原理圖如圖1所示。圖1寄存器讀寫功能驗(yàn)證原理圖6.1.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.1.4測(cè)試程序使待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，讀取所有可讀寄存器數(shù)值，比較讀取值是否與復(fù)位值一致。對(duì)可寫的寄存器，以遍歷的方式對(duì)所有寄存器進(jìn)行寫入，讀出判斷是否與預(yù)期一致。6.2標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)6.2.1目的驗(yàn)證器件標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)功能。6.2.2測(cè)試原理圖標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖如圖2所示。4GB/T××××—××××圖2標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖6.2.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.2.4測(cè)試程序標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文發(fā)送設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于標(biāo)準(zhǔn)幀模式，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，向器件發(fā)送緩沖器寫入報(bào)文ID和數(shù)據(jù)，使能發(fā)送中斷，使能報(bào)文發(fā)送。在RX端口施加與TX端口保持一致的高低電平；采集TX端口報(bào)文發(fā)送高低電平，判斷是否符合標(biāo)準(zhǔn)幀格式。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功發(fā)送后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器后，發(fā)送中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文接收設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于標(biāo)準(zhǔn)幀模式，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，設(shè)置驗(yàn)收濾波器，待測(cè)器件不對(duì)接收到的報(bào)文進(jìn)行濾波，使能接收中斷。通過RX端口向待測(cè)器件發(fā)送符合標(biāo)準(zhǔn)幀協(xié)議的報(bào)文幀；發(fā)送完成之后，讀取待測(cè)器件接收緩沖器，判斷是否與發(fā)送的報(bào)文一致。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功接收后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器，接收中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。報(bào)文標(biāo)準(zhǔn)幀的獲取本文件和，測(cè)試過程均需要預(yù)先獲取報(bào)文標(biāo)準(zhǔn)幀。確定了報(bào)文ID和數(shù)據(jù)信息，根據(jù)GB/T41588.1-2022第9節(jié)MAC子層，可以獲得報(bào)文標(biāo)準(zhǔn)幀。CAN總線控制器發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文過程中，將TX和RX短接，可以從示波器讀取完整的報(bào)文標(biāo)準(zhǔn)幀。6.3擴(kuò)展幀報(bào)文收發(fā)6.3.1目的5GB/T××××—××××驗(yàn)證待測(cè)器件擴(kuò)展幀報(bào)文收發(fā)功能。6.3.2測(cè)試原理圖擴(kuò)展幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖如圖3所示。圖3擴(kuò)展幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖6.3.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.3.4測(cè)試程序擴(kuò)展幀報(bào)文發(fā)送設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于擴(kuò)展幀模式，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，向器件發(fā)送緩沖器寫入報(bào)文ID和數(shù)據(jù)，使能發(fā)送中斷，使能報(bào)文發(fā)送。在RX端口施加與TX端口保持一致的高低電平；采集TX端口報(bào)文發(fā)送高低電平，判斷是否符合擴(kuò)展幀格式。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功發(fā)送后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器后，發(fā)送中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。擴(kuò)展幀報(bào)文接收設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于擴(kuò)展幀模式，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，設(shè)置驗(yàn)收濾波器，待測(cè)器件不對(duì)接收到的報(bào)文進(jìn)行濾波，使能接收中斷。通過RX端口向待測(cè)器件發(fā)送符合擴(kuò)展幀協(xié)議的高低電平；發(fā)送完成之后，讀取待測(cè)器件接收緩沖器，判斷是否與發(fā)送的報(bào)文一致。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功接收后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器，接收中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。報(bào)文擴(kuò)展幀的獲取本文件和，測(cè)試過程均需要預(yù)先獲取報(bào)文擴(kuò)展幀。確定了報(bào)文ID和數(shù)據(jù)信息，根據(jù)GB/T41588.1-2022第9節(jié)MAC子層，可以獲得報(bào)文擴(kuò)展幀。6GB/T××××—××××CAN總線控制器發(fā)送擴(kuò)展幀報(bào)文過程中，將TX和RX短接，可以從示波器讀取完整的報(bào)文擴(kuò)展幀。6.4遠(yuǎn)程幀報(bào)文收發(fā)6.4.1目的驗(yàn)證器件遠(yuǎn)程幀報(bào)文收發(fā)功能。6.4.2測(cè)試原理圖遠(yuǎn)程幀標(biāo)準(zhǔn)幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖如圖4所示。圖4遠(yuǎn)程幀報(bào)文收發(fā)驗(yàn)證原理圖6.4.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.4.4測(cè)試程序遠(yuǎn)程幀報(bào)文發(fā)送設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，向器件發(fā)送緩沖器寫入報(bào)文遠(yuǎn)程幀標(biāo)識(shí)符、ID和數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，使能發(fā)送中斷，使能報(bào)文發(fā)送。在RX端口施加與TX端口保持一致的高低電平；采集TX端口報(bào)文發(fā)送高低電平，判斷是否符合遠(yuǎn)程幀格式。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功發(fā)送后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器后，發(fā)送中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。遠(yuǎn)程幀報(bào)文接收設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，設(shè)置驗(yàn)收濾波器，待測(cè)器件不對(duì)接收到的報(bào)文進(jìn)行濾波，使能接收中斷。通過RX端口向待測(cè)器件發(fā)送符合遠(yuǎn)程幀協(xié)議的高低電平；發(fā)送完成之后，讀取待測(cè)器件接收緩沖器，驗(yàn)證遠(yuǎn)程幀標(biāo)識(shí)符、ID和數(shù)據(jù)長(zhǎng)度是否與預(yù)期一致。GB/T××××—××××觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功接收后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器，接收中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。6.5過載幀發(fā)送6.5.1目的驗(yàn)證器件過載幀發(fā)送功能。6.5.2測(cè)試原理圖過載幀發(fā)送驗(yàn)證原理圖如圖5所示。圖5過載幀發(fā)送驗(yàn)證原理圖6.5.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.5.4測(cè)試程序參考本文件6.2-6.4，以任意方式完成報(bào)文收發(fā)。待測(cè)器件應(yīng)進(jìn)入總線幀見間隔，幀見間隔由三個(gè)連續(xù)的隱形電平組成。在幀見間隔第一個(gè)隱形電平或者第二個(gè)隱形電平，從RX端口向待測(cè)芯片施加顯性電平，破壞了幀見間隔協(xié)議格式，芯片會(huì)立即發(fā)出過載幀。觀測(cè)待測(cè)芯片TX管腳，TX管腳會(huì)發(fā)出連續(xù)的6個(gè)顯性電平和8個(gè)隱形電平，分別為過載標(biāo)識(shí)和過載界定符。6.6總線仲裁6.6.1目的驗(yàn)證器件總線仲裁功能。6.6.2測(cè)試原理圖總線仲裁驗(yàn)證原理圖如圖6所示。8GB/T××××—××××圖6總線仲裁驗(yàn)證原理圖6.6.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.6.4測(cè)試程序標(biāo)準(zhǔn)幀格式總線仲裁設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于標(biāo)準(zhǔn)幀模式；設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，向器件發(fā)送緩沖器寫入報(bào)文ID和數(shù)據(jù)；設(shè)置驗(yàn)收濾波器，待測(cè)器件不對(duì)接收到的報(bào)文進(jìn)行濾波；對(duì)于有仲裁中斷功能的待測(cè)器件，使能仲裁中斷和接收中斷，使能報(bào)文發(fā)送。報(bào)文通過TX端口發(fā)送，同時(shí)向待測(cè)器件RX端口寫入ID優(yōu)先級(jí)別更高的報(bào)文。使能仲裁中斷功能的器件，報(bào)文傳輸過程觀測(cè)中斷管腳，中斷管腳置位；讀取中斷寄存器，仲裁丟失中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。讀取仲裁丟失捕捉寄存器，讀取的數(shù)值指示仲裁具體丟失位置，與預(yù)期丟失位置進(jìn)行比對(duì)。報(bào)文傳輸結(jié)束，讀取接收緩沖器，比較接收緩沖器的報(bào)文是否與從RX端口接收的報(bào)文一致。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文傳輸結(jié)束后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器，接收中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。保持總線空閑，仲裁丟失的報(bào)文會(huì)重啟發(fā)送，后續(xù)測(cè)試內(nèi)容同本文件標(biāo)準(zhǔn)幀格式報(bào)文發(fā)送。注：報(bào)文發(fā)送過程，RX端口檢測(cè)到CAN總線上有更高優(yōu)先級(jí)的報(bào)文在發(fā)送，待測(cè)器件發(fā)送過程被仲裁掉，此后TX端口一致保持高電平，待測(cè)器件由發(fā)送報(bào)文狀態(tài)轉(zhuǎn)為接收?qǐng)?bào)文狀態(tài)。擴(kuò)展幀格式總線仲裁報(bào)文格式由標(biāo)準(zhǔn)幀改為擴(kuò)展幀，其他內(nèi)容與保持一致。6.7報(bào)文接收濾波6.7.1目的驗(yàn)證器件報(bào)文接收濾波功能。6.7.2測(cè)試原理圖報(bào)文接收濾波驗(yàn)證原理圖如圖7所示。9GB/T××××—××××圖7報(bào)文接收濾波驗(yàn)證原理圖6.7.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.7.4測(cè)試程序標(biāo)準(zhǔn)幀格式報(bào)文接收濾波設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)和時(shí)序要求，設(shè)定待測(cè)器件寄存器，使得芯片處于標(biāo)準(zhǔn)幀模式；設(shè)定報(bào)文傳輸波特率，設(shè)置驗(yàn)收濾波器，待測(cè)器件僅能接收特定ID的報(bào)文，使能接收中斷。通過RX端口向器件發(fā)送和特定ID不匹配的正確報(bào)文幀，讀取接收緩沖器，讀不到預(yù)期的數(shù)據(jù)，報(bào)文因?yàn)榕c預(yù)期ID不匹配所以被丟棄。觀測(cè)中斷管腳，中斷管腳沒有中斷置位。再次使用測(cè)試向量通過RX端口向器件發(fā)送與特定識(shí)別碼匹配的報(bào)文幀，讀取接收緩沖器，此時(shí)可以讀到和發(fā)送的報(bào)文匹配的內(nèi)容。觀測(cè)中斷管腳，報(bào)文成功接收后，此管腳應(yīng)有中斷產(chǎn)生；讀取中斷寄存器，接收中斷應(yīng)置位，讀取后中斷管腳復(fù)位。擴(kuò)展幀格式報(bào)文接收濾波報(bào)文格式由標(biāo)準(zhǔn)幀改為擴(kuò)展幀，其他內(nèi)容與保持一致。6.8錯(cuò)誤處理6.8.1目的驗(yàn)證器件錯(cuò)誤處理功能。6.8.2測(cè)試原理圖錯(cuò)誤處理驗(yàn)證原理圖如圖8所示。GB/T××××—××××圖8錯(cuò)誤處理驗(yàn)證原理圖6.8.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.8.4測(cè)試程序接收狀態(tài)下錯(cuò)誤處理設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。設(shè)置報(bào)文傳輸波特率，設(shè)置驗(yàn)收濾波器，使得待測(cè)器件不對(duì)接收到的報(bào)文進(jìn)行濾波；測(cè)試向量通過RX端口給芯片發(fā)送報(bào)文，發(fā)送報(bào)文過程中通過RX端口施加錯(cuò)誤碼（錯(cuò)誤碼即不滿足CAN總線協(xié)議的高低電平，可以是不滿足位填充規(guī)則的錯(cuò)誤，也可以是CRC校驗(yàn)錯(cuò)誤等）。此時(shí)待測(cè)器件會(huì)檢測(cè)到總線錯(cuò)誤，根據(jù)錯(cuò)誤類型自動(dòng)增加接收錯(cuò)誤寄存器的值，讀取芯片接收錯(cuò)誤寄存器的值，判斷是否與預(yù)期一致。具體錯(cuò)誤類型與接收錯(cuò)誤寄存器增減關(guān)系，參考GB/T41588.1-2022第11.1.4故障界定規(guī)則。發(fā)送狀態(tài)下錯(cuò)誤處理設(shè)置待測(cè)器件復(fù)位，隨后釋放復(fù)位狀態(tài)。設(shè)置報(bào)文傳輸波特率，向發(fā)送緩沖器寫入數(shù)據(jù)，開啟發(fā)送，待測(cè)器件從TX端口發(fā)送報(bào)文。發(fā)送過程通過RX端口施加入錯(cuò)誤碼，此時(shí)待測(cè)器件會(huì)檢測(cè)到總線錯(cuò)誤，根據(jù)錯(cuò)誤類型自動(dòng)增加發(fā)送錯(cuò)誤寄存器的值，讀取芯片接收錯(cuò)誤寄存器的值，判斷是否與預(yù)期一致。具體錯(cuò)誤類型與發(fā)送錯(cuò)誤寄存器增減關(guān)系，參考GB/T41588.1-2022第11.1.4故障界定規(guī)則。6.9節(jié)點(diǎn)關(guān)閉6.9.1目的驗(yàn)證器件節(jié)點(diǎn)關(guān)閉功能。6.9.2測(cè)試原理圖節(jié)點(diǎn)關(guān)閉驗(yàn)證原理圖如圖9所示。GB/T××××—××××圖9節(jié)點(diǎn)關(guān)閉驗(yàn)證原理圖6.9.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.9.4測(cè)試程序施加接收錯(cuò)誤或者發(fā)送錯(cuò)誤，當(dāng)接收寄存器或者發(fā)送寄存器累加到255時(shí)，待測(cè)器件認(rèn)為自身錯(cuò)誤過多，從而對(duì)自身進(jìn)行關(guān)閉。此時(shí)發(fā)送錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器將被置成0X7F，接收錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器直接被清零；測(cè)試向量通過RX端口給待測(cè)芯片發(fā)送報(bào)文，報(bào)文無法被接收。每11個(gè)總線空閑，發(fā)送錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器-1，通過測(cè)試向量讀取發(fā)送錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器的值，直至減為0，節(jié)點(diǎn)恢復(fù)正常工作；再次通過RX端口給待測(cè)芯片發(fā)送報(bào)文，報(bào)文可以被正常接收。6.10直流電參數(shù)6.10.1目的測(cè)試規(guī)定條件下器件直流電參數(shù)。器件直流電參數(shù)的測(cè)試包括VOH、VOL、II、IOZ、VIH、VIL等，參數(shù)含義見表1。表1直流電參數(shù)列表符號(hào)參數(shù)VOH輸出高電平VOL輸出低電平輸入漏電流輸出高阻態(tài)電流VIH輸入高電平閾值VIL輸入低電平閾值功耗電流6.10.2測(cè)試原理圖直流電參數(shù)測(cè)試原理圖如圖10所示。GB/T××××—××××圖10直流電參數(shù)測(cè)試原理圖6.10.3測(cè)試條件以下條件應(yīng)在測(cè)試時(shí)明確給出并詳細(xì)記錄：a)環(huán)境溫度或參考點(diǎn)溫度；b)電源電壓；c)時(shí)鐘頻率及工作條件。6.10.4測(cè)試程序根據(jù)具體直流參數(shù)進(jìn)行介紹：a)輸出高電平VOH：使得待測(cè)器件的某一或某幾個(gè)輸出管腳保持高電平狀態(tài)，根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)，對(duì)器件輸出高電平管腳施加反向電流，即拉電流，采用加流測(cè)壓的方式，測(cè)到的電壓即為待測(cè)器件輸出高電平；VOH的測(cè)試應(yīng)覆蓋待測(cè)器件輸出管腳；b)輸出低電平VOL：使得待測(cè)器件的某一或某幾個(gè)輸出管腳保持低電平狀態(tài)，根據(jù)待測(cè)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)，對(duì)器件輸出低電平管腳施加正向電流，即灌電流，采用加流測(cè)壓的方式，測(cè)到的電壓即為待測(cè)器件輸出低電平；VOL的測(cè)試應(yīng)覆蓋待測(cè)器件輸出管腳；c)輸入漏電流II：對(duì)待測(cè)器件輸入管腳進(jìn)行加壓測(cè)流，施加電壓值根據(jù)芯片數(shù)據(jù)手冊(cè)給定，測(cè)到的電流值即為輸入漏電流，一般情況下應(yīng)單獨(dú)對(duì)每個(gè)輸入管腳的漏電流進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試，不應(yīng)并行測(cè)試。使用電源電壓進(jìn)行測(cè)試得到的電流值為IIH，使用0V進(jìn)行測(cè)試得到的電流值為IIL。d)輸出高阻態(tài)電流IOZ：使得待測(cè)器件處于復(fù)位狀態(tài)，此時(shí)所有輸出均為高阻態(tài)，進(jìn)行加壓測(cè)流，施加電壓值根據(jù)器件數(shù)據(jù)手冊(cè)給定，測(cè)到的電流值即為輸出高阻態(tài)電流；IOZ的測(cè)試應(yīng)盡可能多的覆蓋待測(cè)器件輸出管腳。使用電源電壓進(jìn)行測(cè)試得到的電流值為IOZH，使用0V進(jìn)行測(cè)試得到的電流值為IOZL；e)輸入高電平VIH：利用驗(yàn)證過的功能測(cè)試圖形，將VIH設(shè)置成變量并給定初值，VIL給定值為0，VIH以一定的步長(zhǎng)逐漸增加，多次對(duì)測(cè)試圖形進(jìn)行測(cè)試，隨著VIH增加，測(cè)試從失效到通過的瞬間，讀出VIH的值，即為待測(cè)芯片能識(shí)別到的輸入高電平最小值，大于此數(shù)