實驗4-方差分析

浙江大學 實驗四：方差分析一、實驗目的和要求二、實驗內容和原理某公司專業(yè)生產電腦顯示器，通過使用3種不同的芯片，得出顯示器的某個關鍵參數如下表，每種芯片取10個觀測值：試進行分析這三種芯片的檢測結果13456789中北大學某研究小組根據不同水平設置的射出壓力和模腔溫度試驗得出某成型品的關鍵尺寸如下表，用方差分析法分析兩種因素對成型品關鍵尺寸是否存在重要影響。 水平1水平2水平3因素B:水平1水平2水平3為了測定石油灰分中的釩，研究了三種溶樣方法，用三種方法分別溶解四種不同組成的試樣，試驗結果列于表中，試由這些分析數據，評價這三種溶樣方法的效果。不同試樣中釩的含量IIⅢ三、主要儀器設備/實驗環(huán)境(使用的軟件等)四、操作方法與實驗步驟(必填，上機操作過程，可以插圖)(1)單因素方差分析寬度值列數值(N)80無無8右2數值(N)80無無8右度量(S)3芯片數值(N)80(1.花月A無8右名文(N)專心--專注---專業(yè)*來1件(F)編租(E)視圖M數據(D)韓換①*來1件(F)編租(E)視圖M數據(D)韓換①表()芯屏因率日因素A數值(N)數值(N)數值(N)數值(N)數值(N)8888際蓋值3456比較均值(M)一般城性模G)混合模型區(qū))氧付(R)時數線性程型(O)單樣本T驗驗(SL.由立樣本T檢驗(T).題配對拌本T檢驗(P)尺寸數值(N)87溶樣方法數值(N)88組成數值(N)89機含量數值(N)8 1231212121231231232值(U):1=芯片A”]固定和隨機效果(F)?方差同質性檢驗(H)缺失值⑥按分析順序排除個案(A)◎按列表排除個案(L)t單2*ANOVAEDunati?p)Camas-HowaADyn8軌合量*晶芯片現測值射出壓力射出壓力11222333指定模型區(qū)觸壓加在權中包含數S%D窩因素8數值(N)80(1.水平1)無名義(N)輸入5因素A數值(M)80(1.水平1)無名義(N)y班入6數值(N)82度量(S)入更硝定取消幫助1=“水平12=“水平23=“水平3”國手F14t11因子鳥因子文草但□功效估計(E)□檢驗效施(B)參數估計①比較主效成②)?方蓮齊性檢驗心)□分有-水平圖P困定國子F)模控溫度兩兩比較(止)溶樣方法組成四更量Q只寸置信區(qū)同為95.0%時出壓力繼續(xù)取消幫助(3)雙因素有交互作用方差分析8數值(N)80(1,甲)無8名義(N)9數值(N)82無無8度量(S)1=甲*確定取消幫助單變量-模型區(qū)3536全因子(西設定(C)44413567333333862.69 5749542256U36503589回子與協(xié)變量F-構課湯-資型巴/模型(M)平方和(Q)類犁田”￥在保型中包合數3E0}組成區(qū)區(qū)因子(F)R-E-G-WFHochbergsGT2(H)單變最選項單變最選項估計邊際均值溶樣方法比較主效應(Q)區(qū)方基齊性檢驗(H)缺乏擬合優(yōu)度檢驗L)置信區(qū)問為95.0%區(qū)描述燒計(D)功效估計)□檢驗效能(②)參數估計D對比條數矩陣(Q)區(qū)(1)單因素方差分析N標準差標準誤均值的95%置信區(qū)問極小值極大值下限上限芯片B芯片C總數顯著性2觀測值平方和均方F顯著性組間2組內總數 觀測值的均值觀測值的均值(1)芯片(J)芯片均值差(I-J)標準誤顯著性95%置信區(qū)間下限上限芯片B芯片C芯片C芯片C*.均值差的顯著性水平為0.05。N模腔溫度132333射出壓力132水平2333專心--專注--專業(yè) 因變量：尺寸模腔溫度射出壓力標準偏差N水平11水平31總計3水平2水平11水平21水平31總計3水平3水平11水平211總計3總計水平133水平33總計9因變量：尺寸源Ⅲ型平方和均方F校正模型截距模腔溫度射出壓力誤差總計校正的總計a.R方=.702(調整R方=.403)尺寸(I)模腔溫度(J)模腔溫度均值差值(I-J)標準誤差95%置信區(qū)間下限上限水平1水平2估算邊際均值估算邊際均值水平2水平3基于觀測到的均值。誤差項為均值方(錯誤)=.078。尺寸(I)射出壓力(J)射出壓力均值差值(I-J)標準誤差95%置信區(qū)間下限上限水平1水平2水平3水平2基于觀測到的均值：誤差項為均值方(錯誤)-.078。射出十與將N溶樣方法123組成1甲92乙93丙94丁9因變量：釩含量溶樣方法組成標準偏差N1甲3乙3丙3丁3總計2甲3乙3內3J3總計3甲3乙3丙3丁3總計總計甲9乙9丙9丁9總計因變量：釩含量F精選優(yōu)質文檔-----傾情為你奉上誤差方差等同性的Levene檢驗·因變量：釩含量F因變量：釩含量源Ⅲ型平方和F校正模型1溶樣方法2組成36誤差總計校正的總計a.R方-.996(調整R方-.994)(I)溶樣方法(J)溶樣方法均值差值(I-J)標準誤差95%置信區(qū)間下限上限123213312誤差項為均值方(錯誤)=2.936。*.均值差值在.05級別上較顯著。估算功除白值估算功除白值精選優(yōu)質文檔-----傾情為你奉上(I)組成(J)組成均值差值(I-J)標準誤差95%置信區(qū)間下限上限甲乙丙丁乙甲丙丁丙甲乙丁丁甲乙丙基于觀測到的均值。誤差項為均值方(錯誤)=2.936。*.均值差值在.05級別上較顯著。(1)單因素方差分析1)進行方差齊性檢驗，知P=0.305>0.05,滿足方差齊性；2)在單因素方差分析表中，組間檢驗得P=0.000,所以組間差異顯著,不同芯片對觀測值有顯著不 4)由均值圖也可看出，芯片B的觀測值明顯高于芯片A與芯片C的觀測值，而芯片A與芯片C的1)進行主體間的效應檢驗，知模腔溫度的P=0.717,射出壓力的P=0.099,均大于0.05,所以模腔溫2)對模腔溫度進行LSD多重比較，知水平1、2、3間的P值均大于0.05,三種水平兩兩間均沒有顯3)對射出壓力進行LSD多重比較，知水平1、2、3間的P值同樣均大于0.05,三種水平兩兩間也均1)由“主體間的效應”表格知，溶樣方法、組成、溶樣方法*組成的檢驗P值均小于0.05,說明這