2021年射線RTⅠ級考試題庫

射線檢測RTⅠ級取證考試（閉卷）題庫一、共580道題，其中：判斷題290，選取題290。內(nèi)容如下：1、金屬材料、焊接、熱解決知識判斷題：30選取題：302、有關(guān)法規(guī)和規(guī)范判斷題：30選取題：303、JB/T4730.2－原則判斷題：30選取題：304、射線專業(yè)理論判斷題：200選取題：200二、組題規(guī)定：每套題100道題，每題1分，共100分。其中：1、判斷題：50金屬材料焊接熱解決：5題；有關(guān)法規(guī)規(guī)范：5題；JB/T4730原則：5題；專業(yè)理論知識：35題。2、選取題：50金屬材料焊接熱解決：5題；有關(guān)法規(guī)規(guī)范：5題；JB/T4730原則：5題；專業(yè)理論知識：35題。RTⅠ級取證考試題庫一．判斷題金屬材料、焊接、熱解決知識（1～30）1.金屬材料性能涉及使用性能和工藝性能。對2.材料在外力作用下所體現(xiàn)出力學(xué)性能指標(biāo)有強(qiáng)度、硬度、塑性、韌性等。對3.評價(jià)金屬材料強(qiáng)度指標(biāo)有抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度、伸長率和斷面收縮率。錯(cuò)4.普通說來，鋼材硬度超高，其強(qiáng)度也越高。對5.承壓設(shè)備沖擊實(shí)驗(yàn)試樣缺口規(guī)定采用V型缺口而不采用U型缺口，是由于前者加工容易且實(shí)驗(yàn)值穩(wěn)定。錯(cuò)6.材料屈強(qiáng)比越高，相應(yīng)力集中就越敏感。對7.材料沖擊值不但與試樣尺寸和缺口形式關(guān)于，并且與實(shí)驗(yàn)溫度關(guān)于。對8.應(yīng)力集中嚴(yán)重限度與缺口大小和根部形狀關(guān)于，缺口根部曲率半徑越大，應(yīng)力集中系數(shù)越大。錯(cuò)9.氫在鋼材中心部位聚焦形成細(xì)微裂紋群稱為氫白點(diǎn)，可以用UT檢測。對10.低碳鋼金屬材料中，奧氏體組織僅存在于7270C以上高溫范疇內(nèi)。對11.淬火加高溫回火熱解決稱為調(diào)質(zhì)解決。對12、在消除應(yīng)力退火中，應(yīng)力消除重要是依托加熱或冷卻過程中鋼材組織發(fā)生變化和產(chǎn)生塑性變形帶來應(yīng)力松弛實(shí)現(xiàn)。錯(cuò)13.鍋爐壓力容器用鋼含碳量普通不超過0.25%。對14.低碳鋼中硫、磷、氮、氧、氫等都是有害雜質(zhì)，應(yīng)嚴(yán)格控制其含量。對15.磷在鋼中會形成低熔點(diǎn)共晶物，導(dǎo)致鋼冷脆。錯(cuò)16.硫是鋼中有害雜質(zhì)，會引起鋼熱脆。對17.普通說來，以正火狀態(tài)供貨低合金鋼板比熱軋狀態(tài)供貨低合金鋼板具備更好綜合力學(xué)性能。對18.奧氏體不銹鋼焊接時(shí)不會產(chǎn)生延遲裂紋，但容易產(chǎn)生熱裂紋。對19.介質(zhì)中具有H2S，會使奧氏體不銹鋼產(chǎn)生應(yīng)力腐蝕。錯(cuò)20.焊縫余高可增長焊接接頭強(qiáng)度，因而余高超高越好。錯(cuò)21.焊接接頭熔合區(qū)組織屬過熱組織，在諸多狀況下，熔合區(qū)是產(chǎn)生裂紋和局部脆性破壞發(fā)源地。對22.低合金鋼焊接特點(diǎn)是熱影響區(qū)有較大淬硬傾向，焊接時(shí)易浮現(xiàn)冷裂紋。對23.普通以為，鋼材強(qiáng)度級別越高、碳當(dāng)量越大，焊接性越差。對24.焊后及時(shí)進(jìn)行消氫解決，是防止熱裂紋一項(xiàng)有效辦法。錯(cuò)25.常用焊接外觀缺陷有咬邊、焊瘤、凹陷、焊接變形、表面氣孔、表面裂紋、單面焊根部未焊透等。對26.弧坑裂紋屬于冷裂紋。錯(cuò)27.再熱裂紋普通發(fā)生在焊接接頭熱影響區(qū)。對28.熱裂紋重要特性是沿晶開裂。對29.冷裂紋特性是穿晶開裂。錯(cuò)30.焊接接頭薄弱部位不在焊縫，而在熔合區(qū)和熱影響區(qū)。對有關(guān)法規(guī)、規(guī)范知識（31～60）31.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，特種設(shè)備是指涉及生命安全、危險(xiǎn)性較大鍋爐、壓力容器（含氣瓶）、壓力管道。錯(cuò)32.軍事裝備、核設(shè)施、航空航天器、鐵路機(jī)車、海上設(shè)施和船舶以及礦山井下使用特種設(shè)備安全監(jiān)察不合用《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》。對33.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，特種設(shè)備檢查檢測機(jī)構(gòu)，應(yīng)當(dāng)接受特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門依法進(jìn)行特種設(shè)備安全監(jiān)察。對34.特種設(shè)備檢查檢測機(jī)構(gòu)涉及監(jiān)督檢查機(jī)構(gòu)、定期檢查機(jī)構(gòu)、型式實(shí)驗(yàn)機(jī)構(gòu)和無損檢測機(jī)構(gòu)。對35.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，特種設(shè)備檢查檢測人員從事檢查檢測工作，必要在特種設(shè)備檢查檢測機(jī)構(gòu)執(zhí)業(yè)，但不得同步在兩個(gè)以上檢查檢測機(jī)構(gòu)中執(zhí)業(yè)。對

36.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，特種設(shè)備檢查檢測機(jī)構(gòu)和檢查檢測人員不得從事特種設(shè)備生產(chǎn)、銷售，但可以監(jiān)制、監(jiān)銷特種設(shè)備。錯(cuò)37.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定考核范疇內(nèi)無損檢測辦法涉及射線（RT）、超聲（UT）、磁粉（MT）、滲入（PT）、聲發(fā)射（AE）和渦流（ECT）六種。錯(cuò)38.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，特種設(shè)備《檢測人員證》有效期為4年。對39.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定報(bào)考檢測人員至少單眼或者雙眼裸眼或者矯正視力不低于《原則對數(shù)視力表》5.0級。錯(cuò)40.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，各級人員筆試和實(shí)際操作考試合格原則均為70分。對41.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，年齡65周歲以上（含65周歲）人員換證申請不再予以受理。錯(cuò)42.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，換證分為考試換證和審核換證兩種方式，審核換證應(yīng)當(dāng)在取證后初次換證時(shí)實(shí)行，后來采用考試換證與審核換證交替實(shí)行，不得持續(xù)實(shí)行審核換證。對43.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》合用于符合《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》范疇內(nèi)固定式承壓蒸汽鍋爐、承壓熱水鍋爐、有機(jī)熱載體鍋爐、以及以余熱運(yùn)用為重要目煙道式、煙道與管殼組合式余熱鍋爐。對44.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，鍋爐受壓元件及其焊接接頭質(zhì)量檢查，涉及外觀檢查、通球?qū)嶒?yàn)、化學(xué)成分分析、無損檢測、力學(xué)性能檢查、水壓實(shí)驗(yàn)等。對45.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，B級如下熱水鍋爐和非承壓有機(jī)熱載體鍋爐可免于無損檢測。錯(cuò)46.鍋爐受壓部件無損檢測辦法應(yīng)當(dāng)符合NB/T47013（JB/T4730）《承壓設(shè)備無損檢測》規(guī)定。管子對接接頭X射線實(shí)時(shí)成像應(yīng)符合相應(yīng)技術(shù)規(guī)定。對47.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定：蒸汽鍋爐、B級及以上熱水鍋爐和承壓有機(jī)熱載體鍋爐管子或者管道與無直段彎管頭焊接接頭應(yīng)當(dāng)進(jìn)行100%射線或者超聲檢測。對48．《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，低壓容器均為第一類壓力容器。錯(cuò)49.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，壓力容器拼接封頭對接接頭必要在成形后進(jìn)行無損檢測。錯(cuò)50．按照《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，進(jìn)行局部無損檢測壓力容器，制造單位也要對未檢測某些質(zhì)量負(fù)責(zé)。對51.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，壓力容器焊接接頭當(dāng)采用不可記錄脈沖反射法超聲檢測時(shí)，應(yīng)當(dāng)采用射線檢測或衍射時(shí)差法超聲檢測做為附加局部檢測。對52.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，鐵磁性材料制壓力容器焊接接頭表面檢測應(yīng)當(dāng)優(yōu)先采用磁粉檢測。對53.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，罐體以及與罐體連接接管、管路對接接頭應(yīng)進(jìn)行所有射線或超聲檢測；夾套殼體A、B類對接接頭應(yīng)進(jìn)行局部射線或超聲檢測。對54.《超高壓容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，超高壓容器筒體及重要受壓元件在制造期間（耐壓實(shí)驗(yàn)前），至少應(yīng)做兩次100%射線檢測（調(diào)質(zhì)熱解決先后各一次）。錯(cuò)55.GB150－《壓力容器》規(guī)定，第Ⅲ類容器對接焊接接頭應(yīng)進(jìn)行100%射線或超聲波檢測。錯(cuò)56.GB150－《壓力容器》規(guī)定，對于進(jìn)行局部射線或者超聲波檢測壓力容器，其公稱直徑DN≥250mm接管與長頸法蘭、接管與接管對接連接焊接接頭應(yīng)進(jìn)行100%射線或超聲波檢測。錯(cuò)57.GB150－《壓力容器》規(guī)定，進(jìn)行局部檢測焊接接頭，發(fā)既有不容許缺陷時(shí)，應(yīng)在該缺陷兩端延長部位增長檢測長度，增長長度為該焊接接頭長度10%，且兩側(cè)均不少于250mm。對58.GB150－《壓力容器》規(guī)定，壓力容器無損檢測檔案應(yīng)完整，保存時(shí)間不得少于容器設(shè)計(jì)使用壽命。對59.GB12337-1998《鋼制球形儲罐》規(guī)定,用有延遲裂紋傾向鋼材制造球罐,應(yīng)在焊接結(jié)束至少24小時(shí)后,方可進(jìn)行焊縫無損檢測。錯(cuò)60.《壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程－工業(yè)管道》規(guī)定,無損檢測合格規(guī)定應(yīng)當(dāng)不低于JB/T4730規(guī)定。錯(cuò)JB/T4730.2－原則（61～90）61.JB/T4730.1-原則規(guī)定，缺陷評估區(qū)是在質(zhì)量分級評估時(shí)，為評價(jià)缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集限度而設(shè)立一定尺寸區(qū)域。錯(cuò)62.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，對外徑DO≥100mm環(huán)向?qū)咏宇^進(jìn)行100%檢測，所需要至少透照次數(shù)僅與透照方式和透照厚度比關(guān)于。錯(cuò)63.JB/T4730.2-原則規(guī)定，現(xiàn)場進(jìn)行γ射線檢測時(shí)，應(yīng)按GB18465規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)立警告標(biāo)志，檢測作業(yè)時(shí)，應(yīng)環(huán)繞監(jiān)督區(qū)邊界測定輻射水平。錯(cuò)64.JB/T4730.2-原則規(guī)定，筒體縱焊縫一次透照長度應(yīng)按透照厚度比K值進(jìn)行控制，A級、AB級為K≤1.03。此規(guī)定目是為了增大透照厚度寬容度。錯(cuò)65.按JB/T4730.2-原則規(guī)定，由透照次數(shù)圖擬定透照次數(shù)時(shí)，如交點(diǎn)在兩區(qū)域分界線上，則所需至少透照次數(shù)應(yīng)取較大數(shù)值。對66.JB/T4730.2-原則規(guī)定，對小徑管進(jìn)行雙壁雙影透照橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像開口寬度在一倍焊縫寬度左右。其重要目是提高橫向裂紋檢出率。錯(cuò)67.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，對規(guī)格φ76X7mm且焊縫寬度為20mm管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%射線照相時(shí)，應(yīng)采用雙壁雙影傾斜透照，相隔90°，透照2次。錯(cuò)68.JB/T4730.2-原則規(guī)定，承壓設(shè)備在用檢測中，由于構(gòu)造、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制，檢測條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)條件規(guī)定期，經(jīng)技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采用有效補(bǔ)償辦法（例如選用更高類別膠片）前提下，若底片像質(zhì)計(jì)敏捷度達(dá)到了AB級射線檢測技術(shù)規(guī)定，則可以為按AB級射線技術(shù)進(jìn)行了檢測。對69.按JB/T4730.2-原則規(guī)定，用不不大于12MeV高能X射線照相時(shí)，可不使用后屏。其因素是在高能射線照中，后屏對增感并不重要，有時(shí)不使用后屏清晰度反而有所提高。對70.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，對于外徑DO＞100mm容器根部內(nèi)凹和根部咬邊深度也可采用附錄H規(guī)定普通對比試塊（Ⅱ）進(jìn)行測定。對71.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，當(dāng)采用高能X射線照相時(shí)，透照厚度范疇擬定與檢測技術(shù)級別無關(guān)。錯(cuò)72.按照J(rèn)B/T4730.1-原則規(guī)定，當(dāng)采用同種檢測辦法按不同工藝進(jìn)行檢測時(shí)，如果檢測成果不一致，應(yīng)對該工藝重新進(jìn)行鑒定。錯(cuò)73.按照J(rèn)B/T4730.1-原則規(guī)定，當(dāng)應(yīng)用高能X射線照相時(shí)，宜采用高梯度噪聲比膠片。對74.對單個(gè)條形缺陷最大長度下限值和一組缺陷合計(jì)最大長度下限值，JB/T4730.2-原則均作出了明確規(guī)定。對75.JB/T4730.2-原則規(guī)定，對于鋁和鋁合金，當(dāng)Ⅲ級對接接頭容許缺陷點(diǎn)數(shù)持續(xù)存在，并超過評估區(qū)尺寸3倍時(shí)，對接焊接接頭質(zhì)量應(yīng)評估為Ⅳ級。對76.JB/T4730.2-原則規(guī)定，X射線實(shí)時(shí)成像檢測不合用于承壓設(shè)備對接接頭實(shí)時(shí)迅速檢測。錯(cuò)77.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，用γ射線對截面厚度變化大工件照時(shí)，不容許減少底片最低黑度。對78.JB/T4730.2-原則規(guī)定，承壓設(shè)備在用檢測中，由于構(gòu)造、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制，檢測某些條件不能滿足AB級射線檢測技術(shù)規(guī)定期，在采用有效補(bǔ)償辦法（例如選用更高類別膠片）后可采用A級技術(shù)進(jìn)行射線檢測，但同步采用其他無損檢測辦法進(jìn)行補(bǔ)充檢測。錯(cuò)79.JB/T4730.2-原則規(guī)定，底片評估范疇寬度普通為焊縫自身及焊縫兩側(cè)熱影響區(qū)。錯(cuò)80.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，AB級檢測技術(shù)，觀測黑度值在2.0≤D≤3.8底片，此時(shí)觀片燈亮度應(yīng)不低于63096cd/m2。對81.JB/T4730.2-原則規(guī)定，應(yīng)依照被檢工件公稱厚度限定X射線最高管電壓。錯(cuò)82.JB/T4730.2-原則規(guī)定，采用源在內(nèi)透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)敏捷度達(dá)到4.11.3規(guī)定前提下，容許γ射線透照厚度范疇與檢測技術(shù)級別關(guān)于。對83.依照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得究竟片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3規(guī)定，f值可以減小，但減小值不得超過規(guī)定值50%。這一規(guī)定與檢測技術(shù)級別無關(guān)。對84.按JB/T4730.2-原則規(guī)定，擬定小徑管透照次數(shù)與焦距大小無關(guān)。對85.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，對初次制定檢測工藝，或使用中檢測工藝條件、環(huán)境發(fā)生變化時(shí)，應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。對86.按照J(rèn)B/T4730.1-原則規(guī)定，當(dāng)應(yīng)用γ射線照時(shí)，宜采用高梯度噪聲比膠片；當(dāng)應(yīng)用X射線對Rm≥540MPa高強(qiáng)鋼材料對接焊接接頭檢測時(shí)，也應(yīng)采用高梯度噪聲比膠片。對87.JB/T4730.2-原則規(guī)定，擬定圓形缺陷評估區(qū)尺寸和條形缺陷評估區(qū)尺寸均與被檢工件公稱厚度關(guān)于。對88.JB/T4730.2-原則規(guī)定，外徑DO≤100mm管對接接頭，對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊評估時(shí)，以根部內(nèi)凹和根部咬邊自身長度累加計(jì)算總長度。對89.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，在圓形缺陷評估區(qū)內(nèi)，如果圓形缺陷長徑不不大于10mm時(shí)，該焊接接頭應(yīng)評為Ⅳ級。錯(cuò)90.JB/T4730.2-原則規(guī)定，像質(zhì)計(jì)放于膠片一側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對比實(shí)驗(yàn)。錯(cuò)專業(yè)理論知識（91～290）91.原子序數(shù)Z等于原子核中質(zhì)子數(shù)。對92.當(dāng)原子核內(nèi)中子數(shù)變化時(shí)，它就會變?yōu)榱硪环N元素。錯(cuò)93.當(dāng)一種原子增長一種質(zhì)子時(shí)，仍可保持元素種類不變。錯(cuò)94.原子序數(shù)相似而原子量不同元素，咱們稱它為同位素。對95.不穩(wěn)定同位素在衰變過程中始終要輻射γ射線。錯(cuò)96.原子是元素詳細(xì)存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)最小微粒。對97.放射性同位素半衰期是其能量減小到一半所需時(shí)間。錯(cuò)98.各種γ源產(chǎn)生射線都單能輻射。錯(cuò)99.在化學(xué)反映中，原子種類和性質(zhì)都會發(fā)生變化。錯(cuò)100.不穩(wěn)定核素會自發(fā)蛻變，變成另一種元素，同步放出各種射線，這種現(xiàn)象稱為放射性衰變。對101.射線能量越高，其傳播速度就越快，因而γ射線傳播速度要比X射線快。錯(cuò)102.當(dāng)X射線穿過2個(gè)半價(jià)層后，其能量僅剰下最初1/4。錯(cuò)103.γ射線是原子核由低能級躍遷到高能級而產(chǎn)生。錯(cuò)104.標(biāo)記X射線具備高能量，那是由于高速電子與靶原子核相碰撞成果。錯(cuò)105.X射線和γ射線是以光速傳播微小物質(zhì)粒子。錯(cuò)106.持續(xù)X射線是高速電子與靶原子軌道電子相碰撞而產(chǎn)生。錯(cuò)107.標(biāo)記X射線是高速電子同靶原子核外殼層電子相碰撞成果。對108.持續(xù)X射線能量與管電壓關(guān)于，與管電流無關(guān)。對109.X射線產(chǎn)生效率與管電壓和靶材料原子序數(shù)成正比。對110.同能量γ射線和X射線具備完全相似性質(zhì)。對111.X射線強(qiáng)度不但取決于管電流，并且取決于管電壓。對112.光電效應(yīng)中光子被完全吸取，而康普頓效應(yīng)中光子未被完全吸取。對113.光電效應(yīng)發(fā)生幾率隨光子能量增大而減小。對114.光電效應(yīng)發(fā)生幾率隨原子序數(shù)增大而增長。對115.光電子又稱反沖電子。錯(cuò)116.光子能量必要不不大于電子結(jié)合能是發(fā)生光電效應(yīng)前提條件。對117.持續(xù)X射線穿透物質(zhì)后，強(qiáng)度削弱，線質(zhì)不變。錯(cuò)118.當(dāng)射線穿過三個(gè)半價(jià)層后，其強(qiáng)度剰下最初1/8。對119.所有γ射線能量都是相似。錯(cuò)120.放射性同位素衰變常數(shù)λ越大，該同位素越穩(wěn)定。錯(cuò)121.X射線和γ射線都是電磁輻射，而中子射線不是電磁輻射。對122.X射線與可見光區(qū)別是波長和產(chǎn)生方式不同。對123.高速電子與靶原子軌道電子相撞擊產(chǎn)生X射線過程稱為韌致輻射。錯(cuò)124.持續(xù)X射線強(qiáng)度與管電流關(guān)于，與管電壓無關(guān)。錯(cuò)125.標(biāo)記X射線能量與管電壓、管電流均無關(guān)，僅取決于靶材料。對126.放射性同位素衰變常數(shù)λ越小，該同位素半衰期越長。對127.在管電壓、管電流不變前提下，將X射線管靶材由鉬改為鎢，所發(fā)生射線強(qiáng)度將會增大。錯(cuò)128.在工業(yè)X射線探傷中，使膠片感光重要是持續(xù)X射線，標(biāo)記X射線不起什么作用。對129.持續(xù)X射線透過物質(zhì)后，強(qiáng)度削弱，平均波長變短。對130.不涉及散射線成分射線束稱為窄束射線。對131.單一波長電磁波構(gòu)成射線稱為“單色”射線，又稱為“單能輻射”。對132.原子由一種原子核和若干個(gè)核外電子構(gòu)成。對133.原子核核外電子帶正電荷，在原子核周邊高速運(yùn)動。錯(cuò)134.原子序數(shù)=硋外電子數(shù)=質(zhì)子數(shù)=核電荷數(shù)。對135.原子質(zhì)量數(shù)=質(zhì)子數(shù)+中子數(shù)。對136.不穩(wěn)定同位素又稱放射性同位素。對137.當(dāng)前射線檢測所用同位素均為人工放射性同位素。對138.X射線譜中波長持續(xù)變化某些，稱為“持續(xù)”譜。對139.只有入射光子能量不不大于1.02MeV時(shí)才干發(fā)生電子對效應(yīng)。對140.光電效應(yīng)和電子對效應(yīng)引起吸取有助于提高射線照相對比度。對141.康普頓效應(yīng)產(chǎn)生散射線會減少射線照相對比度。對142.射線照相法適合于各種熔化焊接辦法對接接頭和鋼板、鋼管檢測。錯(cuò)143.X射線管有效焦點(diǎn)總是不大于其實(shí)際焦點(diǎn)。對144.X射線機(jī)中焦點(diǎn)尺寸應(yīng)盡量大，這樣發(fā)射X射線能量大，同步也可防止靶過度受熱。錯(cuò)145.X射線管中電子速度越小，則所發(fā)生X射線能量也就越小。對146.移動式X射線機(jī)只能在窒內(nèi)小范疇移動，不適合到野外作業(yè)。對147.移動式X射線機(jī)有油冷和氣冷兩種冷卻方式。錯(cuò)148.同千伏值金屬陶瓷管和玻璃管，前者體積和重量不大于后者。對149.變頻是減小X射線機(jī)重量有效辦法之一。對150.各種放射同位素源活度越大，其輻射強(qiáng)度也就越大。錯(cuò)151.底片黑度D=1，即意味著透射光強(qiáng)為入射光強(qiáng)十分之一。對152.用來闡明管電壓、管電流和透照厚度之間關(guān)系曲線稱為膠片特性曲線。錯(cuò)153.膠片灰霧度涉及片基固有密度和化學(xué)灰霧密度兩某些。對154.在慣用100～400KV范疇內(nèi)，鉛增感屏增感系數(shù)隨其厚度增大而減小。對155.對X射線機(jī)進(jìn)行“訓(xùn)練”目是為了排出絕緣油中氣泡。錯(cuò)156.X和γ射線本質(zhì)是相似，但γ射線來自同位素，而X射線來自于一種以高壓加速電子裝置。對157.對于某一同位素放射源，其活度越大，則所發(fā)出射線強(qiáng)度就越大。對158.周向X射線機(jī)產(chǎn)生X射線束向270°方向輻射。錯(cuò)159.相似標(biāo)稱千伏值和毫安值X射線機(jī)所產(chǎn)生射線強(qiáng)度和能量必然相似。錯(cuò)160.所謂“管電流”是指通過X射線管燈絲電流。錯(cuò)161.放射源活度越大，其半衰期就越短。錯(cuò)162.膠片對比度與射線能量關(guān)于，射線能量越高，膠片對比度就越小。錯(cuò)163.膠片特性曲線斜率用來度量膠片梯度。對164.寬容度大膠片，其梯度必然低。對165.膠片特性曲線在座標(biāo)上位置左移，意味著膠片感光速度減小。錯(cuò)166.“潛影”是指在沒有強(qiáng)光燈條件下不能看到影像。錯(cuò)167.鉛增感屏除有增感作用外，尚有減少散射線作用，因而在射線測穿透前提下，應(yīng)盡量選用較厚鉛屏。錯(cuò)168.透照不銹鋼焊縫，可使用碳素鋼絲像質(zhì)計(jì)。對169.透照鈦焊縫，應(yīng)使用鈦金屬絲像質(zhì)計(jì)。對170.透照鎳基合金焊縫時(shí)使用碳素鋼絲像質(zhì)計(jì)，如果底片上顯示線徑編號剛剛達(dá)到原則規(guī)定，則該底片實(shí)際敏捷度必定達(dá)不到原則規(guī)定規(guī)定。錯(cuò)171.由于鉛增感屏增感系數(shù)高于熒光增感屏，因此得到廣泛使用。錯(cuò)172.膠片中鹵化銀粒度與膠片感光速度無關(guān)。錯(cuò)173.梯燥比高膠片成像質(zhì)量好。對174.像質(zhì)計(jì)普通擺放在射線透照區(qū)內(nèi)顯示敏捷度較低部位。對175.X射線管陰極是產(chǎn)生X射線某些。錯(cuò)176.X射線管陽極是由陽極靶、陽極體和陽極罩三個(gè)某些構(gòu)成。對177.攜帶式X射線機(jī)散熱形式多采用輻射散熱式。對178.普通陽極體采用導(dǎo)熱率大無氧銅制成。對179.X射線管陽極特性就是X射線管管電壓和管電流關(guān)系。對180.在換γ射線源操作過程中，必要使用γ射線劑量儀及音響報(bào)警儀進(jìn)行監(jiān)測。對181.射線膠片由片基、結(jié)合層、感光乳劑層和保護(hù)層構(gòu)成。對182.膠片感光后產(chǎn)生眼睛看不見影像叫“潛影”。對183.射線膠片感光特性可在曝光曲線上定量表達(dá)。錯(cuò)184.射線底片上產(chǎn)生一定黑度所用曝光量倒數(shù)定義為感光度。對185.未經(jīng)曝光膠片經(jīng)暗窒解決后產(chǎn)生一定黑度稱為本底灰霧度。對186.膠片對不同曝光量在底片上顯示不同黑度差固有能力稱為梯度。對187.膠片有效黑度范疇相相應(yīng)曝光量變動范疇稱為寬容度。對188.膠片特性指標(biāo)只與膠片關(guān)于，與增感屏和沖洗條件無關(guān)。錯(cuò)189.黑度計(jì)和光學(xué)密度計(jì)是兩種不同類型測量儀器。錯(cuò)190.增感系數(shù)Q是指不用增感屏曝光量E0與使用增感屏曝光量E之間比值，即：Q=E0/E。對191.由于增感系數(shù)高，熒光增感屏多用于承壓設(shè)備焊縫射線照相。錯(cuò)192.金屬增感屏具備增感效應(yīng)和吸取效應(yīng)兩個(gè)基本效應(yīng)。對193.使用金屬增感屏所得底片質(zhì)量最佳，其增感系數(shù)也最大。錯(cuò)194.像質(zhì)計(jì)是用來檢查和評估射線底片影像質(zhì)量工具。對195.像質(zhì)計(jì)通慣用與被檢工件材質(zhì)相似或?qū)ι渚€吸取性能相似材料制作。對196.普通來說，射線照相像質(zhì)計(jì)敏捷度等于自然缺陷敏捷度。錯(cuò)197.使用較低能量可得到較高主因?qū)Ρ榷?。?06.射線照相時(shí)，若千伏值提高，將會使膠片對比度減少。錯(cuò)207.增大曝光量可提高主因?qū)Ρ榷?。錯(cuò)208.普通來說，對厚度差較大工件，應(yīng)使用較高能量射線透照，其目是減少對比度增大寬容度。對209.射線照相對比度?D只與主因?qū)Ρ榷汝P(guān)于，與膠片對比度無關(guān)。錯(cuò)210.射線照相主因?qū)Ρ榷扰c入射線能譜關(guān)于，與強(qiáng)度無關(guān)。對211.用增大射源到膠片距離辦法可減少射線照相固有不清晰度。錯(cuò)212.減小幾何不清晰度途徑之一，就是使膠片盡量地接近工件。對213.運(yùn)用陽極側(cè)射線照相所得究竟片幾何不清晰度比陰極側(cè)好。對214.膠片顆粒越粗，引起幾何不清晰度越大，錯(cuò)215.使用γ射線源可以消除幾何不清晰度。錯(cuò)216.增長源到膠片距離可減小幾何不清晰度，但會引起固有不清晰度增大。錯(cuò)217.膠片成像顆粒性會隨著射線能量提高而變差。對218.對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相敏捷度三個(gè)重要因素。對219.使用較低能量可提高主因?qū)Ρ榷龋綍p少膠片對比度。錯(cuò)220.可以采用增大焦距辦法使尺寸較大源照相幾何不清晰度與尺寸較小源完全同樣。對221.膠片對比度與膠片類型或梯度G關(guān)于。對222.底片黑度只影響膠片對比度，與主因?qū)Ρ榷葻o關(guān)。對223.底片黑度只影響對比度，不影響清晰度。對224.散射線只影響主因?qū)Ρ榷龋挥绊懩z片對比度。對235.射線能量同步影響射線照相對比度、清晰度和顆粒度。對236.射線照相對比度就是缺陷影像與其周邊背景黑度差。對237.固有不清晰度是由于使溴化銀感光電子在乳劑層中有一定穿越行程而導(dǎo)致。對238.對有余高縫，應(yīng)盡量選取較低能量射線，以保證焊縫區(qū)有較高對比度。錯(cuò)239.底片可以記錄影像細(xì)節(jié)最小尺取決于顆粒度。對240.射線照相不清晰度就是影像輪廓邊沿黑度過渡區(qū)寬度。對241.射線照相顆粒度表達(dá)影像黑度不均勻限度。對242.射線照相不清晰度包括幾何不清晰度和固有不清晰度兩某些。對243.射線照相固有不清晰度與增感屏種類無關(guān)。錯(cuò)244.焦點(diǎn)至工件距離是影響幾何不清晰度因素之一。對245.幾何不清晰度與焦點(diǎn)尺寸和工件厚度成正比，與焦點(diǎn)至工件表面距離成反比。對246.焦點(diǎn)尺寸大小與幾何不清晰度沒關(guān)于系。錯(cuò)247.增感屏與膠片未貼緊會增大固有不清晰度。對248.選取較小射源尺寸df，或增大焦距值F，都可使照相Ug值減小。對249.環(huán)焊縫各種透照方式中，以源在內(nèi)中心透照周向曝光法為最隹方式。對250.欲提高球缺罐內(nèi)壁表面小裂紋檢出率，采用源在外透照方式比源在內(nèi)透照方式好。對251.無論采用何種透照方式，一次透照長度都隨著焦距增大而增大。錯(cuò)252.無論采用何種透照布置，為防止漏檢，搭接標(biāo)記均就放在射線源一側(cè)。錯(cuò)253.源在內(nèi)透照時(shí)，搭接標(biāo)記必要放在射線側(cè)。錯(cuò)254.由于“互易定律”失效，采用熒光增感時(shí)，依照曝光因子選取透照參數(shù)也許會產(chǎn)生較大誤差。對255.對有余高焊縫進(jìn)行透照，熱影響區(qū)散射比要比焊縫中心部位大得多。錯(cuò)256.背散射存在會影響底片對比度，普通可在工件和膠片之間放置一種鉛字B來驗(yàn)證背散射線與否存在。錯(cuò)257.當(dāng)被檢工件厚度差較大時(shí)，就會有“邊蝕散射”發(fā)生。對258.使用濾板可增大射線照相寬容度，但濾板最佳放置在工件和膠片之間。錯(cuò)259.在源和工件之間放置濾板來減小散射線辦法對于平板工件照相并不合用。對260.采用平靶X射線機(jī)對環(huán)焊縫作內(nèi)透中心周向曝光時(shí)，有利檢出橫向裂紋，但不利于檢出縱向裂紋。對261.用單壁法透照環(huán)焊縫時(shí)，所用搭接標(biāo)記均應(yīng)放在射線側(cè)工件表面，以免端部缺陷漏檢。錯(cuò)262.采用源在外單壁透照方式，如K值不變，則焦距越大，一次透照長度L3就越大。對263.采用雙壁單影法透照時(shí)，如K值不變，則焦距越大，一次透照長度L3就越大。錯(cuò)264.某一曝光曲線，應(yīng)使用同一類型膠片，但可更換不同X射線機(jī)。錯(cuò)265.用γ射線曝光曲線時(shí)，一方面應(yīng)懂得射源在給定期間活度。對266.常規(guī)射線照相檢查中，散射線是無法避免。對267.增大透照厚度寬容度最慣用辦法是恰當(dāng)提高射線能量。對268.環(huán)縫雙壁單影照相，搭接標(biāo)記應(yīng)放在膠片側(cè)，底片有效評估長度是底片上兩搭接標(biāo)記之間長度。對269.縱焊縫雙壁單影照相，搭接標(biāo)記應(yīng)放在膠片側(cè)，底片有效評估長度是兩搭接標(biāo)記之間長度。錯(cuò)270.在小徑管透照中，影像各處幾何不清晰度都是同樣。錯(cuò)271.小徑管雙壁透照要點(diǎn)是選用較高管電壓、較低曝光量，其目是減小底片對比度，擴(kuò)大檢出區(qū)域。對272.小徑管射線照相采用垂直透照法比傾斜透照法更有助于檢出根部未熔合。對273.對于散射源來說，往往最大散射源來自于試件自身。對274.使用鉛增感屏對減少散射線幾乎不起作用。錯(cuò)275.從射線照相敏捷度角度考慮，在保證穿透力前提下，應(yīng)僅量選取能量較低X射線。對276.膠片在顯影液中顯影時(shí)，如果不進(jìn)行任何攪動，則使反映產(chǎn)生溴化物無法擴(kuò)散。對277.對曝光局限性膠片，可采用增長顯影時(shí)間或提高顯影溫度辦法來增長底片黑度，從而獲得符合規(guī)定底片。錯(cuò)278.定影液有兩個(gè)作用，即溶解未曝光溴化銀和堅(jiān)膜作用。對279.減少底片上水跡辦法是使膠片迅速干燥。錯(cuò)280.所謂“通透時(shí)間”是指從膠片放入定影液到乳劑層變?yōu)橥该鬟@段時(shí)間。對281.沖洗膠片時(shí)，只要使用安全燈，膠片上就不會浮現(xiàn)灰霧。錯(cuò)282.如果顯影時(shí)間過長，有些未曝光溴化銀也會被溶解，從而增大了底片灰霧。對283.定影液老化會導(dǎo)致底片長期保存后浮現(xiàn)泛黃現(xiàn)象。對284.水洗是膠片手工解決過程中重要環(huán)節(jié)，水洗不充分底片長期保存后會發(fā)生變色現(xiàn)象。對285.顯影液中抑制劑重要作用是抑制灰霧。對286.顯影液中保護(hù)劑作用是制止顯影劑不被氧化，延長顯影液使用壽命。對287.暗窒內(nèi)工作人員在沖洗膠片過程中，會受到膠片上衍生射線照射，因而白血球也會減少。錯(cuò)288.當(dāng)X或γ射線移去后工件不再受輻射作用，但工件自身仍殘留極低輻射。錯(cuò)289.X射線比γ射線更容易被人體吸取，因此X射線對人體危害比γ射線大。錯(cuò)290.輻射源一定，當(dāng)距離增長一倍時(shí)，其劑量或劑量率減少到本來1/2。錯(cuò)二.選取題材料、焊接、熱解決知識（1～30）1.下列各項(xiàng)指標(biāo)中，哪一項(xiàng)不屬于材料力學(xué)性能？。A.強(qiáng)度/B.塑性/C.韌性/D.熱穩(wěn)定性/答案D2.衡量材料抵抗沖擊載荷作用時(shí)斷裂力學(xué)性能指標(biāo)是。A.強(qiáng)度/B.塑性/C.韌性/D.硬度/答案C3.在金屬材料拉伸實(shí)驗(yàn)過程中，下列哪一階段材料所受應(yīng)力不再增長而應(yīng)變卻在繼續(xù)增長？A.彈性階段/B.屈服階段/C.強(qiáng)化階段/D.頸縮階段/答案B4.長期承受交變應(yīng)力構(gòu)件，最也許發(fā)生破壞形式是。A.脆性斷裂破壞/B.失穩(wěn)破壞/C.疲勞破壞/D.蠕變破壞/答案C5.影響試件沖擊韌度值因素是。A.試樣尺寸/B.試樣缺口形式/C.實(shí)驗(yàn)溫度/D.以上都是/答案D6.下列哪一種組織不是鐵碳合金基本組織？A.鐵素體/B.珠光體/C.滲碳體/D.奧氏體/答案B7.淬火加高溫回火熱解決稱為。A.退火/B.正火/C.消氫解決/D.調(diào)質(zhì)/答案D8.將工件加熱到Ac3或Ac3以上30～50℃，保持一定期間后在空氣中冷卻熱解決辦法稱為。A.正火/B.不完全退火/C.退火/D.調(diào)質(zhì)/答案A9.含碳量不大于或等于多少碳素鋼稱為低碳鋼？A.0.15%/B.0.20%/C.0.25%/D.0.20%/答案C10.如欲減少鍛件超聲探傷聲能衰減，提高信噪比，應(yīng)采用熱解決辦法是。A.退火/B.不完全退火/C.正火/D.調(diào)質(zhì)/答案C11.下列材料中屬于不銹鋼是。A.Q235A/B.20g/C.16MnR/D.1Cr17/答案D12.下列材料中屬于碳素鋼是。A.16Mng/B.20g/C.16MnR/D.1Cr18Ni9Ti/答案B13.用于制造低溫壓力容器15Mn26Al4屬于。A.奧氏體鋼/B.鐵素體鋼/C.馬氏體鋼/D.貝氏體鋼/答案A14.如下哪一種辦法不屬于熔化焊？A.激光焊/B.電渣焊/C.等離子弧焊/D.摩擦焊/答案D15.如下哪一條不屬于堿性焊條長處？A.抗裂性好/B.接頭沖擊韌性高/C.脫硫、脫磷能力強(qiáng)/D.不易產(chǎn)氣憤孔/答案D16.下列焊接辦法中，生產(chǎn)效率高、沒有熔渣、成本低是。A.氬弧焊/B.二氧化碳?xì)怏w保護(hù)焊/C.手工電弧焊/D.埋弧焊/答案B17.下列焊接接頭中，承載后應(yīng)力分布比較均勻接頭是。A.對接接頭/B.搭接接頭/C.角接接頭/D.T型接頭/答案A18.焊接接頭薄弱環(huán)節(jié)是。A.焊縫/B.熔合區(qū)和過熱粗晶區(qū)/C.正火區(qū)/D.某些相變區(qū)/答案B19.如下哪些材料焊接時(shí)易浮現(xiàn)熱裂紋？A.低溫鋼/B.低合金鋼/C.鉻鎳奧氏體不銹鋼/D.以上都是/答案C20.焊接接頭使用性能可通過哪種辦法評價(jià)？A.計(jì)算碳當(dāng)量/B.焊接性實(shí)驗(yàn)/C.焊接工藝評估實(shí)驗(yàn)/D.以上都是/答案C21.焊接工藝評估實(shí)驗(yàn)焊接接頭需進(jìn)行哪些項(xiàng)目檢測實(shí)驗(yàn)？A.外觀檢查/B.無損檢測/C.力學(xué)性能實(shí)驗(yàn)/D.以上都是/答案D22.坡口不清潔，有水、油、銹，最有也許導(dǎo)致焊接缺陷是。A.氣孔/B.夾渣/C.未熔合/D.裂紋/答案A23.低合金鋼焊接時(shí)減少熱影響區(qū)淬硬傾向有效辦法是。A.烘烤焊條/B.預(yù)熱焊件/C.提高焊速/D.焊后熱解決/答案B24.焊接接頭冷卻到多少溫度如下所產(chǎn)生裂紋稱為冷裂紋？A.大概1100℃如下時(shí)/B.大概800℃如下時(shí)/C.大概300℃如下時(shí)/D.大概－20℃如下時(shí)/答案C25.下列哪一因素不是導(dǎo)致冷裂紋產(chǎn)生因素？A.焊縫和熱影響區(qū)含氫量/B.熱影響區(qū)淬硬限度/C.焊接應(yīng)力大小/D.焊縫中低熔點(diǎn)共晶物含量/答案D26.電渣焊焊縫進(jìn)行超聲檢測應(yīng)在。A.焊接36小時(shí)后來/B.焊接24小時(shí)后/C.消除應(yīng)力熱解決后/D.正火解決后/答案D27.如下哪一條不是產(chǎn)生未焊透因素？A.接電流過大/B.坡口鈍邊過大/C.組對間隙過小/D.焊根清理不好/答案A28.下列焊接缺陷中屬于面積型缺陷是。A.氣孔/B.夾渣/C.裂紋/D.夾鎢/答案C29.下列哪一種缺陷危害性最大？A.圓形氣孔/B.未焊透/C.未熔合/D.裂紋/答案D30.結(jié)晶裂紋普通發(fā)生在。A.焊縫中間/B.熔合區(qū)/C.過熱粗晶區(qū)/D.某些相變區(qū)/答案A有關(guān)法規(guī)、規(guī)范知識（31～60）31.《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》規(guī)定，如下哪些單位應(yīng)當(dāng)接受特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門安全監(jiān)察？A.特種設(shè)備生產(chǎn)單位/B.特種設(shè)備使用單位/C.特種設(shè)備檢查檢測機(jī)構(gòu)/D.以上都是/答案D32.如下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對于特種設(shè)備事故分類說法中，對的是。A.分為特別重大事故、特大事故、重大事故、嚴(yán)重事故和普通事故五類/B.分為特別重大事故、重大事故、較大事故和普通事故四類/C.分為特大事故、重大事故、嚴(yán)重事故和普通事故四類/D.以上都不對/答案B33.如下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對壓力容器合用范疇說法中，錯(cuò)誤是。A.盛裝氣體或者液體，承載一定壓力所有密閉設(shè)備/B.盛裝最高工作壓力不不大于或者等于0.1MPa（表壓），且壓力與容積乘積不不大于或者等于2.5MPa.L氣體、液化氣體和最高工作溫度高于或者等于原則沸點(diǎn)液體固定式移動式容器/C.盛裝公稱工作壓力不不大于或者等于0.2MPa（表壓）,且壓力與容積乘積不不大于或者等于1.0MPa.L氣體、液化氣體和原則沸點(diǎn)等于或者低于60℃液體氣瓶/D.氧艙/答案A34.如下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對鍋爐合用范疇說法中，錯(cuò)誤是。A.容積不不大于或者等于30L承壓蒸汽鍋爐/B.出口水壓不不大于或者等于0.1MPa（表壓），且額定功率不不大于或者等于0.1MW承壓熱水鍋爐/C.有機(jī)載體鍋爐/D.運(yùn)用各種能源，將所承裝液體加熱到一定參數(shù)，并承載一定壓力所有密閉設(shè)備/答案D35.如下關(guān)于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》對壓力管道合用范疇說法中，錯(cuò)誤是。A.最高工作壓力不不大于或者等于0.1MPa（表壓）/B.介質(zhì)為氣體、液化氣體、蒸汽介質(zhì)或者可燃、易爆、有毒、有腐蝕性、最高工作溫度高于或者等于原則沸點(diǎn)液體介質(zhì)/C.公稱直徑不不大于25mm/D.運(yùn)用一定壓力輸送氣體或者液體所有管狀設(shè)備/答案D36.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定超聲檢測辦法項(xiàng)目為。A.脈沖反射法超聲檢測/B.衍射時(shí)差法超聲檢測/C.超聲檢測（自動）/D.以上都是/答案D37.如下哪一條不是《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定對Ⅱ級人員能力規(guī)定？A.調(diào)試和校準(zhǔn)檢測儀器/B.編制或者審核無損檢測報(bào)告/C.編制和審核無損檢測工藝規(guī)程/D.編制針對詳細(xì)工件作業(yè)指引書或工藝卡/答案C38.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，可以直接報(bào)考Ⅱ級持證項(xiàng)目學(xué)歷條件是。A.理工類研究生和本科生/B.無損檢測大專生/C.非理工本科和理工科大專生/D.無損檢測中專生/答案A39.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，考試成績未達(dá)到合格原則容許補(bǔ)考，考試單科合格成績有效期為。A.Ⅰ級一年/B.Ⅱ級二年/Ⅲ級三年/D.二年/答案D40.《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定，持證人員證件到期后，需要繼續(xù)從事持證項(xiàng)目無損檢測工作，應(yīng)在有效期屆滿，按照規(guī)定向具備相應(yīng)項(xiàng)目考試考試機(jī)構(gòu)提出換證申請。A.當(dāng)年2月底前/B.前6個(gè)月/C.前3個(gè)月/D.當(dāng)年年終/答案C41.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，用于焊接構(gòu)造壓力容器重要受壓力元件碳素鋼和低合金鋼，其含碳量應(yīng)不大于或等于。A.0.20%/B.0.25%/C.0.20%/D.0.40%/答案B42.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定：壓力容器對接焊接接頭無損檢測比例，普通分為所有（100%）和局部（不不大于等于20%）兩.種。對鐵素體鋼制低溫容器，局部無損檢測比例應(yīng)不不大于等于__。A.10%/B.20%/C.50%/D.60%/答案C43.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定：壓力容器無損檢測按JB/T4730《承壓設(shè)備無損檢測》執(zhí)行。對壓力容器對接接頭進(jìn)行局部（20%）無損檢測時(shí)，如采用射線檢測，其透照質(zhì)量不應(yīng)低于AB級，其合格級別為級。A.Ⅰ/B.Ⅱ/C.Ⅲ/D.Ⅳ/答案C44.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，壓力容器焊接接頭超聲檢測辦法涉及。A.衍射時(shí)差法超聲檢測（TOFD）/B.可記錄脈沖反射法超聲檢測/C.不可記錄脈沖反射法超聲檢測/D.以上都是/答案D45.如下是《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測時(shí)機(jī)論述，錯(cuò)誤是。A.焊接接頭應(yīng)當(dāng)通過形狀、尺寸及外觀檢查，合格后再進(jìn)行無損檢測/B.拼接封頭應(yīng)當(dāng)在成型邁進(jìn)行無損檢測/C.有延遲裂紋傾向材料應(yīng)當(dāng)至少在焊接完畢24小時(shí)后進(jìn)行無損檢測/D.低合金高強(qiáng)鋼制壓力容器在耐壓實(shí)驗(yàn)后還應(yīng)當(dāng)對焊接接頭進(jìn)行表面無損檢測/答案B46.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，厚度不不大于或等于12mm碳素鋼和低合金鋼板，用于制造壓力容器殼體時(shí)，在哪些狀況下需逐張進(jìn)行超聲檢測？。A.盛裝介質(zhì)毒性限度為極度、高度危害介質(zhì)/B.在濕H2S腐蝕環(huán)境中使用/C.設(shè)計(jì)壓力不不大于或等于10MPa/D.以上都是/答案D47.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》合用移動式容器不涉及。A.鐵路罐車和汽車罐車/B.長管拖車/C.罐式集裝箱和管束式集裝箱/D.氣瓶/答案D48.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，用于制作罐體碳素鋼和低合金鋼板，在哪些狀況下需逐張進(jìn)行超聲檢測？。A.厚度不不大于或者等于20mm/B.厚度不不大于或者等于12mm，且充裝介質(zhì)毒性限度為極度、高度危害/C.引用原則中規(guī)定逐張進(jìn)行超聲檢測/D.以上都是/答案D49.《移動式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，需進(jìn)行所有射線或超聲檢測對接接頭有。A.罐體對接接頭/B.與罐體連接接管、管路對接接頭/C.A和B/D.夾套殼體A、B類對接接頭/答案C50.《超高壓容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》對于筒體及重要受壓元件無損檢測沒有規(guī)定采用無損檢測辦法是。A.超聲檢測/B.射線檢測/C.磁粉檢測/D.滲入檢測/答案B51.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》合用于《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》范疇內(nèi)。A.固定式承壓蒸汽鍋爐和承壓熱水鍋爐/B.有機(jī)熱載體鍋爐/C.以運(yùn)用余熱為重要目煙道式或煙道與管殼組合式余熱鍋爐/D.以上都是/答案D52.《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》不合用于。A.設(shè)計(jì)正常水位水容積不大于30L蒸汽鍋爐/B.額定出水壓力不大于0.1Mpa熱水鍋爐/C.額定熱功率不大于0.1MW熱水鍋爐/D.以上都是/答案D53.下面關(guān)于《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》對鍋爐分類論述哪一條是錯(cuò)誤？A.A級鍋爐是額定工作壓力不不大于3.8MPa鍋爐/B.B級鍋爐涉及蒸汽鍋爐、熱水鍋爐和有機(jī)熱載體鍋爐/C.C級鍋爐涉及蒸汽鍋爐、熱水鍋爐和有機(jī)熱載體鍋爐D/D級鍋爐不涉及有機(jī)熱載體鍋爐/答案D54．如下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測時(shí)機(jī)論述，錯(cuò)誤是。A.有延遲裂紋傾向材料應(yīng)當(dāng)在焊接完畢24h后進(jìn)行無損檢測/B.有再熱裂紋傾向焊接接頭，應(yīng)當(dāng)在最后熱解決后再進(jìn)行一次相似無損檢測/C.封頭（管板）、波形爐膽、下腳圈拼接接頭無損檢測應(yīng)當(dāng)在成形后進(jìn)行/D.電渣焊焊接接頭應(yīng)當(dāng)在正火后進(jìn)行超聲檢測/答案B55.如下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于無損檢測技術(shù)級別和焊接接頭質(zhì)量級別論述，錯(cuò)誤是。A.鍋爐受壓部件焊接接頭射線檢測技術(shù)級別不低于AB級，焊接接頭質(zhì)量級別所有檢測不低于Ⅱ級，局部檢測不低于Ⅲ級/B.鍋爐受壓部件焊接接頭超聲檢測技術(shù)級別不低于B級，焊接接頭質(zhì)量級別不低于Ⅰ級/C.表面檢測焊接接頭質(zhì)量級別不低于Ⅰ級/D.以上都對/答案A56.依照《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》規(guī)定，判斷下述關(guān)于無損探傷規(guī)定哪些合用于有機(jī)熱載體爐？A.鍋筒縱環(huán)焊縫和封頭拼接焊縫：氣相100%RT,液相50%RT/B.鍋筒縱環(huán)焊縫和封頭拼接焊縫進(jìn)行100%UT加至少25%RT/C.鍋筒縱環(huán)焊縫、封頭拼接焊縫進(jìn)行不不大于等于20%RT/D.受熱面管對接焊縫進(jìn)行100%UT/答案A57.如下是《鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》關(guān)于B級鍋爐無損檢測辦法選取和檢測比例論述，錯(cuò)誤是。：A.鍋筒（鍋殼）、啟動（汽水）分離器縱、環(huán)向?qū)咏宇^、封頭（管板）、下腳圈拼接接頭、集箱縱向?qū)咏宇^100%RT或100%UT/B.壁厚t<20mm時(shí)應(yīng)采用RT/C.壁厚t≥20mm可可采用UT/D.UT宜采用數(shù)字式可記錄儀器，也可采用模仿式超聲儀/答案D58.如下是《壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程－工業(yè)管道》關(guān)于管道受壓元件焊接接頭檢測辦法和檢測數(shù)量規(guī)定論述，錯(cuò)誤是。A.名義厚度不大于或者等于30mm管道，對接接頭采用射線檢測，不能用超聲檢測代替/B.名義厚度不不大于30mm管道，對接接頭可以采用超聲檢測代替射線檢測/C.公稱直徑不不大于或者等于500mm管道，對每個(gè)環(huán)向?qū)咏宇^進(jìn)行局部檢測，公稱直徑不大于500mm管道，可以依照環(huán)向焊接接頭數(shù)量按照規(guī)定檢測比例進(jìn)行抽樣檢測/D.抽樣檢測中，固定焊焊接接頭檢測數(shù)量不得不大于其數(shù)量40%/答案A59.依照GB12337-1998《鋼制球形儲罐》規(guī)定，下面關(guān)于局部射線或超聲檢測球罐，需要所有檢測部位論述中，錯(cuò)誤是。A.焊縫交叉部位/B.嵌入式接管與球殼板連接對接接頭/C.公稱直徑不大于250mm接管與長頸法蘭、接管與接管對接連接焊接接頭/D.凡被補(bǔ)強(qiáng)圈、支柱、墊板、內(nèi)件等所覆蓋焊接接頭/答案C60.JB/T4732－1995《鋼制壓力容器-分析設(shè)計(jì)原則》規(guī)定,需進(jìn)行百分之百射線或超聲檢測受壓部件焊接接頭涉及。A.A類或B類焊接接頭/B.筒體或封頭名義厚度不不大于65mmC類焊接接頭/C.開孔直徑不不大于100mm，且筒體或封頭名義厚度不不大于65mmD類焊接接頭/D.以上都是/答案DJB/T4730,3-原則（61～90）61.JB/T4730.2-原則規(guī)定，采用多膠片法時(shí)，AB級、A級檢測技術(shù)不容許雙片疊加觀測，這一規(guī)定重要理由是。A.雙片疊加觀測時(shí)，底片黑度達(dá)不到原則關(guān)于規(guī)定/B.雙片疊加觀測時(shí)，底片敏捷度達(dá)不到原則關(guān)于規(guī)定/C.雙片疊加觀測時(shí)，由于單片黑度較低。底片對比度小，易導(dǎo)致缺陷漏檢/D.雙片疊加觀測時(shí)，由于底片黑度較大，缺陷不容易觀測/答案C62.按照J(rèn)B/T4730.2-原則，下面哪些規(guī)定不涉及檢測技術(shù)級別？A.采用源在內(nèi)中心透照方式，容許γ射線最小透照厚度規(guī)定/B.對100mm＜DO≤400mm環(huán)向?qū)雍附咏宇^容許采用K值規(guī)定/C.采用源在內(nèi)中心透照方式，容許f值可以減小規(guī)定/D.采用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大工件時(shí)，容許減少底片黑度值規(guī)定/答案C63.下面是關(guān)于射線透照時(shí)選取膠片論述，不符合JB/T4730.2-原則規(guī)定是。A.A級、AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別膠片/B.B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別膠片/C.使用γ射線對裂紋敏感性大材料進(jìn)行檢測時(shí)，應(yīng)采用T2類或更高類別膠片/D.對于Rm≥540MPa高強(qiáng)度材料對接焊接接頭射線檢測時(shí)，應(yīng)采用T3類或更高類別膠片/答案D64.JB/T4730.2-原則中規(guī)定采用γ射線透照時(shí)，總曝光時(shí)間應(yīng)不少于輸送源來回所需時(shí)間10倍。這一規(guī)定重要目是。A.盡量提高底片黑度/B.盡量提高底片對比度和減小照相不清晰度/C.盡量減少底片顆粒度/D.以上都是/答案B65.在下列論述中，與JB/T4730.2-原則規(guī)定不相符合是。;A.底片黑度均勻部位可以清晰地看到長度不不大于10mm持續(xù)金屬絲影像時(shí)，則以為該絲是可辨認(rèn)/B.單壁透照時(shí)容許象質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，且無需進(jìn)行對比實(shí)驗(yàn)/C.當(dāng)象質(zhì)計(jì)放于膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在象質(zhì)計(jì)上恰當(dāng)位置放置鉛字“F”標(biāo)記/D.小徑管雙壁雙影透照，象質(zhì)計(jì)可放在源側(cè)，也可放在膠片側(cè)/答案B66.下面是對JB/T4730.2-原則選用增感屏規(guī)定理解，錯(cuò)誤是。A.500KV如下X射線照相，選取增感屏厚度僅與X射線能量關(guān)于B.γ射線照相，選取增感屏厚度與檢測技術(shù)級別關(guān)于，與源種類無關(guān)/C.采用高能X射線（＞12MeV）照相,選取增感屏厚度與檢測技術(shù)級別無關(guān)/D.100KV如下X射線照如使用增感屏，則增感屏厚度應(yīng)≤0.03mm/答案B67.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，當(dāng)觀測底片黑度為2.2時(shí)，觀片燈亮度應(yīng)不低于。A.220cd/m2/B.2200cd/m2/C.4800cd/m2/D.6600cd/m2/答案C68.下面是對JB/T4730.2-原則中關(guān)于射線能量理解，不對的是。A.應(yīng)按公稱厚度擬定容許最高管電壓/B.當(dāng)透照區(qū)截面厚度變化較大時(shí)，原則容許采用超過圖1規(guī)定值/C.在普通射線照相中所采用透照電壓應(yīng)低于原則中圖1規(guī)定值/D.原則中圖1規(guī)定重要局限性是容許最高透照管電壓未與所使用膠片類別有關(guān)聯(lián)/答案A69.下面是對JB/T4730.2-原則關(guān)于標(biāo)記規(guī)定論述，錯(cuò)誤是。A.透照部位標(biāo)記由辨認(rèn)標(biāo)記和定位標(biāo)記構(gòu)成/B.標(biāo)記普通放置在距焊縫邊沿至少5mm以外部位/C.搭接標(biāo)記也是持續(xù)檢測時(shí)透照分段標(biāo)記/D.所有標(biāo)記影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾缺陷評估區(qū)內(nèi)影像/答案D70.下面是對JB/T4730.2-原則質(zhì)量分級內(nèi)容理解，不對的是。A.質(zhì)量分級中給出缺陷類型與缺陷性質(zhì)不一定完全相似/B.缺陷評估區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重部位/C.在進(jìn)行質(zhì)量分級評估中，各類缺陷都應(yīng)在缺陷評估區(qū)中評估/D.圓形缺陷按點(diǎn)數(shù)在缺陷評估區(qū)內(nèi)評估，事實(shí)上是對缺陷容許尺寸、數(shù)量、密集限度等進(jìn)行評估/答案C71.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，在下列焊接接頭射線照相中。不能使用鐵（Fe）象質(zhì)計(jì)是。A.鎳、鎳合金/B.銅、銅合金/C.不銹鋼/D.鈦、鈦合金/答案D72.下列關(guān)于對無損檢測人員規(guī)定論述中，不符JB/T4730.2-原則規(guī)定是。A.從事承壓設(shè)備無損檢測人員，應(yīng)按《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》規(guī)定獲得相應(yīng)無損檢測資格/B.獲得無損檢測辦法各資格級別人員，只能從事與該辦法和級別相應(yīng)無損檢測工作，并承擔(dān)相應(yīng)責(zé)任/C.僅從事γ射線檢測人員上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識培訓(xùn)并獲得放射工作人員證/D.射線檢測人員未經(jīng)校正或經(jīng)校正近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0，測試辦法應(yīng)符合GB11533規(guī)定，從事評片人員應(yīng)每年檢查一次視力/答案C73.JB/T4730.2-原則規(guī)定，應(yīng)依照工件特點(diǎn)和技術(shù)條件選取適當(dāng)透照方式。在可以實(shí)行狀況下應(yīng)選用單壁透照方式，在單壁透照不能實(shí)行時(shí)才容許采用雙壁透照方式。這一規(guī)定重要目是。A.單壁透照最有助于缺陷檢出/B.單壁透照在實(shí)際工作中最容易實(shí)行/C.單壁透照所用管電壓低，可延長X射線機(jī)使用壽命/D.以上都是/答案A74.JB/T4730.2-原則中與檢測技術(shù)級別無關(guān)規(guī)定是。A.一次透照長度規(guī)定/B.用X射線透照小徑管和其他截面厚度變化大工件時(shí)，底片黑度值容許減少規(guī)定/C.增感屏選用規(guī)定/D.小徑管使用對比試塊規(guī)定/答案D75.下面關(guān)于象質(zhì)計(jì)使用論述中，不符合JB/T4730.2-原則規(guī)定是。A.當(dāng)一張膠片上同步透照多條焊接接頭時(shí)，應(yīng)在透照區(qū)中間和最邊沿焊縫處各放置一種象質(zhì)計(jì)/B.單壁透照中象質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對比實(shí)驗(yàn)/C.當(dāng)象質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在象質(zhì)計(jì)恰當(dāng)位置放置鉛字“F”標(biāo)記/D.小徑管雙壁雙影透照，象質(zhì)計(jì)可放于源側(cè)，也可放于膠片側(cè)/答案A76.下面是對JB/T4730.2-原則中關(guān)于曝光量規(guī)定解釋，錯(cuò)誤是。A.曝光量與焦距關(guān)于，與技術(shù)級別關(guān)于/B.曝光量與焦距關(guān)于，與技術(shù)級別無關(guān)/C.采用γ射線源透照時(shí)，總曝光時(shí)間與檢測技術(shù)級別無關(guān)/D.當(dāng)焦距變化時(shí)，可按平方反比定律對曝光量推薦值進(jìn)行換算/答案B77.JB/T4730.2-原則規(guī)定，對小徑管對接接頭透照時(shí)，當(dāng)g（焊縫寬度）＞DO/4時(shí)，應(yīng)采用垂直透照重疊成像。這一規(guī)定目是。當(dāng)g＞DO/4時(shí)垂直透照可減少透照次數(shù)/B.當(dāng)g＞DO/4時(shí)橢圓開口寬度不好控制/C.當(dāng)g＞DO/4時(shí)垂直透照有助于未部未熔合檢出/D.以上都是/答案C在下列論述中，與JB/T4730.2-原則規(guī)定相符合是。A.對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過30KV/B.有延遲裂紋傾向材料，至少應(yīng)在焊接完畢36h后進(jìn)行射線檢測/C.制作對比試塊材料應(yīng)與被檢工件材料射線吸取系數(shù)相似或相近/D.對使用中曝光曲線，每年只需校驗(yàn)一次/答案C79.JB/T4730.2-原則在質(zhì)量分級中，對不同材質(zhì)焊接接頭容許圓形缺陷評級重要差別是。A.對深孔缺陷規(guī)定不同/B.對各級別圓形缺陷放寬點(diǎn)數(shù)規(guī)定不同/C.對圓形缺陷定義不同/D.對鋁和鋁合金、鈦和鈦合金焊接接頭所容許圓形缺陷點(diǎn)數(shù)與鋼焊接接頭容許點(diǎn)數(shù)不同/答案D80.下面是對JB/T4730.2-原則中關(guān)于小徑管環(huán)向?qū)咏宇^100%透照次數(shù)規(guī)定理解，錯(cuò)誤是。A.按壁厚與直徑之比規(guī)定透照次數(shù)，其目是控制透照厚度比/B.按壁厚與直徑之比規(guī)定透照次數(shù)，其目是增大透照厚度寬容度/C.理論上相隔120°比相隔60°透照3次更有助于不同部位缺陷檢出/D.在特殊條件下容許透照一次，盡管采用有效辦法擴(kuò)大缺陷可檢出范疇，但不能保證明現(xiàn)焊縫全長100%檢測/答案B81.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，下列各因素中與底片像質(zhì)計(jì)敏捷度無關(guān)是。A.透照方式/B.像質(zhì)計(jì)擺放位置/C.射線源種類/D.透照厚度/答案C82.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，當(dāng)被檢工件材料為低合金鋼時(shí)，不可以使用材料制做像質(zhì)計(jì)。A.銅/B.低碳鋼/C.奧氏體不銹鋼/D.以上都可以/答案A83.在下列論述中，與JB/T4730.2-原則規(guī)定不相符合是。A.評片人員從陽光下進(jìn)入評片窒暗適應(yīng)時(shí)間普通為5～10min/B.如底片黑度均勻部位可以清晰地看到長度不不大于10mm持續(xù)金屬絲影像時(shí)，則以為該絲是可辨認(rèn)/C.若底片上浮現(xiàn)黑度高于周邊背景黑度“B”字影像，則闡明背散射防護(hù)不夠/D.對評估范疇內(nèi)黑度D＞4.0底片，如有計(jì)量檢定報(bào)告證明評估范疇內(nèi)亮度可以滿足4.10.3規(guī)定，容許進(jìn)行評估/答案C84.JB/T4730.2-原則規(guī)定，由于構(gòu)造因素不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫100%檢測，此時(shí)應(yīng)采用有效辦法擴(kuò)大可檢出范疇。這里有效辦法是指。A.恰當(dāng)提高管電壓/B.雙膠片技術(shù)/C.窗口加濾波板/D.以上都是/答案D85.下列論述中，與JB/T4730.2-原則規(guī)定相符合是。A.底片評估范疇內(nèi)黑度是指不涉及灰霧并凈黑度/B.經(jīng)合同各方批準(zhǔn)，各級別圓形缺陷容許點(diǎn)數(shù)可以放寬1～2點(diǎn)/C.采用其他透照方式，在采用有效補(bǔ)償辦法并保證像質(zhì)計(jì)敏捷度達(dá)到規(guī)定前提下，A級、AB級技術(shù)Ir192源最小透照厚度可降至10mm，Se75源最小透照厚度可降至5mm/D.采用雙膠片技術(shù)，如以單片觀測，AB級單片黑度應(yīng)在2.0～4.0范疇內(nèi)/答案D86.JB/T4730.2-原則規(guī)定，由于材質(zhì)或構(gòu)造等因素，進(jìn)行返修也許會產(chǎn)生不利后果對接接頭，各級別圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1～2點(diǎn)。下列哪種材料不存在上述狀況？A.奧氏體不銹鋼/B.16MnR/C.鈦合金及其復(fù)合材料/D.鎳基合金及其復(fù)合材料/答案B87.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，下列關(guān)于評片時(shí)底片評估范疇內(nèi)亮度規(guī)定論述，對的是。A.當(dāng)?shù)灼u估范疇內(nèi)黑度D≤2.5時(shí)，透過底片評估范疇內(nèi)亮度應(yīng)不低于30cd/m2/B.當(dāng)?shù)灼u估范疇內(nèi)黑度D＞2.5時(shí)，透過底片評估范疇內(nèi)亮度應(yīng)不低于10cd/m2/C.對評估范疇內(nèi)黑度D＞4.0底片，如有計(jì)量檢定報(bào)告證明所用觀片燈能滿足4.10.3規(guī)定，容許進(jìn)行評估/D.以上都對/答案D88.按照J(rèn)B/T4730.2-原則規(guī)定，φ133管子環(huán)形對接接頭射線照應(yīng)采用辦法是。A.單壁單影/B.雙壁單影/C.雙壁雙影/D.A或B/答案D89.JB/T4730.2-原則規(guī)定，采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得究竟片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3規(guī)定，f值可以減小。但減小值不得超過規(guī)定值。A.50%/B.405/C.20%/D.10%/答案A90.JB/T4730.2-原則規(guī)定，小徑管環(huán)向?qū)咏宇^透照時(shí)，若使用專用像質(zhì)計(jì)（等徑金屬絲），則應(yīng)至少能辨認(rèn)根金屬絲。A.1/B.2/C.3/D.4/答案B專業(yè)理論知識（91～290）91.原子重要構(gòu)成某些是。A.質(zhì)子、電子、光子/B.質(zhì)子、重子、電子/C.光子、電子、X射線/D.質(zhì)子、中子、電子/答案D92.原子核質(zhì)子數(shù)等于。A.中子數(shù)/B.原子序數(shù)/C.光子數(shù)/D.原子量/答案B93.質(zhì)子和中子區(qū)別是中子沒有。A.電荷/B.質(zhì)量/C.自旋/D.半衰期/答案A94.原子核外電子能量最高是。A.外殼層/B.中間殼層/C.內(nèi)殼層/D.以上均不是/答案A95.同位素是指。A.質(zhì)量數(shù)相似而中子數(shù)不同元素/B.質(zhì)量數(shù)相似而質(zhì)子數(shù)不同元素/C.中子數(shù)相似而質(zhì)子數(shù)不同元素/D.質(zhì)子數(shù)相似而質(zhì)量數(shù)不同元素/答案D96.電磁波頻率（ν）、速度（c）和波長（λ）關(guān)系是。A.ν=λ·c/B.λ=c/ν/C.λ=ν·c/D.λ=ν/c/答案B97.X射線、γ射線和α粒子有一種共同點(diǎn)，即它們都是。A.粒子輻射/B.電磁輻射/C.微波輻射/D.電離輻射/答案D98.射線探傷中應(yīng)用最多三種射線是。A.X射線、γ射線和中子射線/B.α射線、β射線和γ射線/B.X射線、γ射線和β射線/C.X射線、γ射線和α射線/答案A99.單色射線是指。A.標(biāo)記X射線/B.γ射線源產(chǎn)生射線/C.用來產(chǎn)生高對比度窄束射線/D.由單一波長電磁波構(gòu)成射線/答案D100.在普通工業(yè)射線探傷中，射線與物質(zhì)互相作用時(shí)，重要產(chǎn)生二個(gè)效應(yīng)是。A.光電效應(yīng)和電子對效應(yīng)/B.光電效應(yīng)和康普頓效應(yīng)/C.康頓效應(yīng)和電子對效應(yīng)/D.康普頓散射和電離/答案B101.當(dāng)光子與物質(zhì)互相作用時(shí)，光子波長增長，方向變化，這是由于成果。A.光電效應(yīng)/B.康普頓效應(yīng)/C.電子對效應(yīng)/D.電離/答案B102.康普頓效應(yīng)特性是。A.產(chǎn)生光電子/B.產(chǎn)生歇電子/C.產(chǎn)生反沖電子/D.產(chǎn)生正負(fù)電子對/答案C103.光電效應(yīng)特性是。A.產(chǎn)生光電子/B.發(fā)射標(biāo)記X射線/C.發(fā)射二次電子/D.以上都是/答案A104.已知某單能射線在鋼中半價(jià)層為3mm，則該射線在鋼中吸取系數(shù)為。A.0.231cm/B.2.31cm-1/C.2.079cm/D.0.00231mm-1/答案B105.射線通過物質(zhì)時(shí)衰減取決于。A.物質(zhì)原子序數(shù)、密度和厚度/B.物質(zhì)楊氏模量/C.物質(zhì)泊松比/D.物質(zhì)晶粒度/答案A106.窄束和寬束區(qū)別是。Ａ.窄束是指散射和未散射射線均到達(dá)檢測器，而寬束是指只有未散射射線到達(dá)檢測器/B.窄束是指只有未散射射線到達(dá)檢測器，而寬束是指散射未散射射線均到達(dá)檢測器/C.窄束和寬束區(qū)別在于源尺寸大小不同/D.窄束和寬束區(qū)別在于照射場大小不同/答案B107.散射線重要成分是低能電磁輻射，它是由光子在哪一過程中削弱而產(chǎn)生？A.光電效應(yīng)/B.康普頓效應(yīng)/C.電子對效應(yīng)/D.電離作用/答案B108.從X射線管中發(fā)出射線涉及。A.持續(xù)X射線/B.標(biāo)記X射線/C.β射線/D.A和B/答案D109.持續(xù)X射線穿透厚工件時(shí)，有何特點(diǎn)？A.第二個(gè)半價(jià)層不大于第一種半價(jià)層/B.第二個(gè)半價(jià)層等于第一種半價(jià)層/C.第二個(gè)半價(jià)層不不大于第一種半價(jià)層/D.第二個(gè)半價(jià)層與第一種半價(jià)層關(guān)系不擬定/答案C110.當(dāng)射線波長一定期，下列哪種物質(zhì)μ最大？A.Fe/B.Al/C.Ti/D.Cu/答案D111.產(chǎn)生X射線普通辦法是在高速電子運(yùn)動方向上設(shè)立一種障礙物，使高速電子在這個(gè)障礙物上突然減速。這個(gè)障礙物被叫做。A.陽極/B.陰極/C.靶/D.燈絲/答案C112.X射線穿透能力取決于。A.管電流/B.管電壓/C.曝光時(shí)間/D.焦點(diǎn)尺寸/答案B113.γ射線穿透能力取決于。A.源尺寸/B.源種類/C.曝光時(shí)間/D.焦點(diǎn)尺寸/答案B114.當(dāng)施加于X射線管兩端管電壓不變，而管電流增長時(shí)，。A.產(chǎn)生X射線波長不變，強(qiáng)度不變/B.產(chǎn)生X射線波長不變，強(qiáng)度增長/C.產(chǎn)生X射線波長不變，強(qiáng)度減小/D.產(chǎn)生X射線波長增長，強(qiáng)度不變/答案B115.X射線機(jī)管電流不變，管電壓減小時(shí)，則X射線將會。A.強(qiáng)度不變，波長減小/B.強(qiáng)度不變，波長增大/C.波長減小，強(qiáng)度減小/D.波長增大，強(qiáng)度減小/答案D116.X射線管產(chǎn)生持續(xù)X射線強(qiáng)度與管電壓關(guān)系是。A.強(qiáng)度與管電壓成正比/B.強(qiáng)度與管電壓成反比/C.強(qiáng)度與管電壓平方成正比/D.強(qiáng)度與管電壓平方成反比/答案C117.活度為80Ci、平均能量為1.66MeV同位素源，通過三個(gè)半衰期后，其平均能量變?yōu)?。A.0.008MeV/B.0.22MeV/C.0.23MeV/D.1.66MeV/答案D118.某放射性同位素衰變常數(shù)為0.005371天-1，則其半衰期為。A.186天/B.129天/C.53天/D.537天/答案B119.下列幾種材料中，射線衰減系數(shù)最大是。A.銅/B.鋁/C.鐵/D.碳/答案A120.射線照相難以檢出缺陷是。A.未焊透和裂紋/B.氣孔和未熔合/C.夾渣和咬邊/D.分層和折迭/答案D121.射線照相法對哪一種焊接辦法不合用？A.氣焊、電渣焊/B.氣體保護(hù)焊、埋弧自動焊/C.手工電弧焊、等離子弧焊/D.磨擦焊、釬焊/答案D122.如下關(guān)于射線照相法特點(diǎn)論述，哪些是錯(cuò)誤？A.鑒定缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸比較精確/B.檢測敏捷度受到材料晶粒度影響/C.成本較高，檢測速度慢/D.射線對人體有傷害/答案B123.γ射線光譜稱為。A.線狀譜/B.持續(xù)譜/C.標(biāo)記譜/D.以上都是/答案A124.衰變常數(shù)λ反映了放射性物質(zhì)固有屬性，。A.λ值越小，闡明該物質(zhì)越不穩(wěn)定，衰變得越慢/B.λ值越大，闡明該物質(zhì)越不穩(wěn)定，衰變得越快/C.λ值越大，闡明該物質(zhì)越穩(wěn)定，衰變得越慢/D.λ值越大，闡明該物質(zhì)越穩(wěn)定，衰變得越快/答案B125.射線與物質(zhì)互相作用導(dǎo)致強(qiáng)度削弱，其原由于。A.吸取和散射/B.衰變和吸取/C.衰變和散射/D.以上都是/答案A126.各種效應(yīng)對射線照相質(zhì)量產(chǎn)生影響是。A.光電效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有助于提高照相對比度/B.電子對效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有助于提高照相對比度/C.光電效應(yīng)和電子對效應(yīng)有助于提高照相對比度/D.光電效應(yīng)和電子對效應(yīng)會減少照相對比度/答案C127.管電壓、管電流不變，將X射線管陽極靶由銅換成鉬，產(chǎn)生持續(xù)X射線線質(zhì)如何變化？。A.變硬/B.變軟/C.不變/D.不一定/答案C128.X射線管陽極靶最慣用材料是。A.銅/B.鎢/C.鈹/D.銀/答案B129.軟X射線管窗口材料普通是。A.銅/B.鎢/C.鈹/D.銀/答案C130.在條件容許狀況下，焦點(diǎn)尺寸應(yīng)盡量小，其目是。A.減小設(shè)備體積/B.提高清晰度/C.增長能量密度/D.節(jié)約合金材料/答案B131.X射線管中轟擊靶產(chǎn)生X射線高速電子數(shù)量取決于。A.陽極靶材料原子序數(shù)/B.陰極靶材料原子序數(shù)/C.燈絲材料原子序數(shù)/D.燈絲加熱溫度/答案D132.下列哪一特性不是X射線管靶材料所規(guī)定？。A.高原子序數(shù)/B.高熔點(diǎn)/C.高熱傳導(dǎo)/D.高質(zhì)量吸取系數(shù)/答案D133.高壓變壓器直接與X射線管直接相連接X射線機(jī)叫做。A.全波整流X射線機(jī)/B.自整流X射線機(jī)/C.交流X射線機(jī)/D.恒電壓X射線機(jī)/答案B134.當(dāng)兩臺相似型號X射線機(jī)千伏值和毫安值均相時(shí)，。A.產(chǎn)生X射線強(qiáng)度和波長一定相似/B.產(chǎn)生X射線波長相似，強(qiáng)度不同/C.產(chǎn)生X射線強(qiáng)度相似，波長不同/D.產(chǎn)生X射線強(qiáng)度和波長不一定相似/答案D135.X射線管對真空度規(guī)定較高，其因素是。A.防止電極材料氧化/B.使陰極與陽極之間絕緣/C.使電子束不電離氣體而容易通過/D.以上三者均是/答案D136.決定X射線機(jī)工作時(shí)間長短重要因素是。A.工作電壓KV大小/B.工作電流mA大小/C.工件厚度大小/D.陽極冷卻速度大小/答案D137.X射線機(jī)中循環(huán)油作用是。A.吸取散射線/B.濾去一次射線中波長較長射線/C.散熱/D.增強(qiáng)一次射線/答案C138.大焦點(diǎn)X射線機(jī)與小焦點(diǎn)X射線機(jī)相比，其缺陷是。A.射線能量低，穿透力小/B.射線不集中，強(qiáng)度小/C.照相黑度不易控制/D.照相清晰度差/答案D139.大功率X射線管陽極冷卻慣用辦法是。A.輻射冷卻/B.對流冷卻/C.傳導(dǎo)冷卻/D.液體強(qiáng)制循環(huán)冷卻/答案D140.γ射線探傷機(jī)與X射線探傷機(jī)相比，其長處是。A.設(shè)備簡樸/B.不需外部電源/C.射源體積小/D.以上三者都是/答案B141.γ射線探傷機(jī)所用放射性同位素都是。A.天然同位素/B.人工放射性同位素/C.穩(wěn)定同位素/D.以上三者都是/答案B142.放射性同位素輻射強(qiáng)度與時(shí)間關(guān)系是。A.隨時(shí)間增大/B.與時(shí)間無關(guān)/C.隨時(shí)間減小/D.三者都不對/答案C143.運(yùn)用γ射線探傷時(shí)，若要增長射線強(qiáng)度可以采用。A.增長焦距/B.減小焦距/C.減少曝光時(shí)間/D.三者均可/答案B144.下列四種放射性同位素中，半價(jià)層最大是。A.Co60/B.Cs137/C.Ir192/D.Tm170/答案A145.下列四種放射性同位素中，半衰期最長是。A.Co60/B.Cs137/C.Ir192/D.Tm170/答案B146.厚度為180mm鋼試件射線照相可采用γ射線源是。A.鈷60/B.銩170/C.銥192/D.硒75/答案A147.銥192源可透照厚度范疇是。A.100-200mm/B.8-60mm/C.銥4-15mm/D.20-100mm/答案D可用來檢測壁厚5-10mm鋼管環(huán)焊縫放射性同位是。A.Ir192/B.Cs137/C.Co60/D.Se75/答案D149.決定X射線管靶材合用性兩個(gè)因素是。A.拉伸強(qiáng)度和屈服強(qiáng)度/B.硬度和磁導(dǎo)率/C.電阻和抗氧化性能/D.原子序數(shù)和熔點(diǎn)/答案D150.如下關(guān)于攜帶式X射線機(jī)操作使用論述，哪條是錯(cuò)誤？。A.X射線機(jī)停用超過3天才需要訓(xùn)機(jī)/B.送高壓前應(yīng)預(yù)熱燈絲/C.機(jī)內(nèi)SF6壓力過低，將影響絕緣性能/D.應(yīng)保持工作和間歇時(shí)間1比1/答案A151.X射線管中，電子轟擊靶時(shí)能量轉(zhuǎn)換重要形式是產(chǎn)生。A.持續(xù)X射線/B.標(biāo)記X射線/C.短波長X射線/D.熱/答案D152.X射線管管電流大小重要取決于。A.靶材料/B.燈絲電流/C.陽極到陰極距離/D.以上都是/答案B153.X射線管中轟擊靶電子運(yùn)動速度取決于。A.靶材料原子序數(shù)/B.管電壓/C.管電流/D.燈絲電壓/答案B154.在管電壓和管電流相似狀況下，焦點(diǎn)尺寸越小，焦點(diǎn)溫度。A.越低/B.越高/C.不變/D.不一定/答案B155.表達(dá)膠片受到一定量X射線照射，顯影后底片黑度是多少曲線叫做。A.曝光曲線/B.敏捷度曲線/C.膠片特性曲線/D.膠片吸取曲線/答案C156.X射線膠片片基慣用材料是。A.聚氯乙烯薄膜/B.聚氨脂薄膜/C.滌綸薄膜/D.聚乙烯薄膜/答案C157.膠片特性曲線上，過兩個(gè)特定黑度點(diǎn)之間直線斜度叫做。A.膠片寬容度/B.梯度/C.平均梯度/D.感光度/答案C158.由膠片特性曲線可以得到膠片技術(shù)參數(shù)是。A.膠片反差系數(shù)/B.膠片本底灰霧度/C.正常曝光范疇/D.三者均是/答案D159.哪一因素變化會使膠片特性曲線形狀發(fā)生明顯變化？A.變化管電壓/B.變化管電流/C.變化焦距/D.變化顯影條件/答案D160.下面關(guān)于膠片四種論述中，唯一對的是。A.膠片粒度大，感光速度快，底片圖像清晰/B.膠片粒度小，感光速度快，底片圖像模糊/C.膠片粒度大，感光速度快，底片圖像模糊/D.膠片粒度小，感光速度快，底片圖像清晰/答案C161.底片黑度范疇限制在膠片特性曲線直線區(qū)域內(nèi)，這是由于在此區(qū)域透照出來底片。A.黑度大/B.感光度高/C.本底灰霧度小/D.對比度高/答案D162.已曝光過X射線膠片，不能在高溫高濕環(huán)境中保持時(shí)間過長，否則會引起。A.藥膜自動脫落/B.產(chǎn)生白色斑點(diǎn)/C.產(chǎn)生靜電感光/D.潛影衰退，黑度下降/答案D163.X射線膠片乳劑中與射線作用產(chǎn)生光化學(xué)作用成分是。A.AgBr/B.AgO2/C.AgS/D.AgBr2/答案A16