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文檔簡介

理想MOS電容器理想MOS電容器

教學(xué)要求

2..了解電荷QI的產(chǎn)生機(jī)制

3.了解積累區(qū)、耗盡區(qū)、反型區(qū)和強(qiáng)反型情況下,MOS電容的變化規(guī)律及影響MOS電容的主要因素

1.導(dǎo)出公式MOS中無直流電流流過,所以MOS電容中最重要的特性就是C-V特性,把理想C-V特性曲線和實(shí)測C-V曲線比較,可以判斷實(shí)際MOS電容與理想情況的偏差。而且在MOS器件制備中,MOS電容的C-V特性檢測也常作為一種常規(guī)的工藝檢測手段。理想MOS電容器

理想MOS電容器MOS系統(tǒng)單位面積的微分電容微分電容C與外加偏壓VG

的關(guān)系稱為MOS系統(tǒng)的電容—電壓特性。

(6-2-1)(6-2-2)若令(6-2-3)(6-2-4)則

(6-2-5)C0絕緣層單位面積上的電容,Cs半導(dǎo)體表面空間電荷區(qū)單位面積電容。

理想MOS電容器

理想MOS電容器

(6-2-6)(6-2-7)對(duì)于理想MOS系統(tǒng),絕緣層單位面積電容:

理想MOS電容器

半導(dǎo)體的表面電容Cs是表面勢

s的函數(shù),因而也是外加?xùn)烹妷篤G的函數(shù)理想MOS電容器

將電容隨偏壓的變化分成幾個(gè)區(qū)域,變化大致情況如圖6-7所示。

圖6-7P型半導(dǎo)體MOS的C-V特性n型MOS電容高、低頻C-V特性理想MOS電容器

積累區(qū)(VG>0)(以n襯底為例)直流O-S界面積累多子,多子在10-10-10-13秒的時(shí)間內(nèi)達(dá)到平衡。加交變信號(hào),積累電荷的改變量ΔQ,只在界面附近變化,因此MOS電容相當(dāng)于平板電容器

MOS系統(tǒng)的電容C基本上等于絕緣體電容C0。當(dāng)負(fù)偏壓的數(shù)值逐漸減少時(shí),空間電荷區(qū)積累的電子數(shù)隨之減少,并且Qs隨

s的變化也逐漸減慢,Cs變小??傠娙軨也就變小。理想MOS電容器

平帶情況(VG=0)由摻雜濃度和氧化層厚度確定

理想MOS電容器

理想MOS電容器

耗盡區(qū)(VG<0)(以n襯底為例)柵上有-Q電荷,半導(dǎo)體中有+Q的受主雜質(zhì)ND+,ND+的出現(xiàn)是由于多子被排斥,因此器件工作與多子有關(guān),仍能在10-10

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