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文檔簡介

第五章

集成電路設計集成電路設計與制造的主要流程框架設計芯片檢測單晶、外延材料掩膜版芯片制造過程封裝測試系統(tǒng)需求集成電路的設計過程:

設計創(chuàng)意+仿真驗證集成電路芯片設計過程框架From吉利久教授是功能要求行為設計(VHDL)行為仿真綜合、優(yōu)化——網表時序仿真布局布線——版圖后仿真否是否否是Singoff—設計業(yè)—引言半導體器件物理基礎:包括PN結的物理機制、雙極管、MOS管的工作原理等器件小規(guī)模電路大規(guī)模電路超大規(guī)模電路甚大規(guī)模電路電路的制備工藝:光刻、刻蝕、氧化、離子注入、擴散、化學氣相淀積、金屬蒸發(fā)或濺射、封裝等工序集成電路設計:另一重要環(huán)節(jié),最能反映人的能動性結合具體的電路,具體的系統(tǒng),設計出各種各樣的電路掌握正確的設計方法,可以以不變應萬變,隨著電路規(guī)模的增大,計算機輔助設計手段在集成電路設計中起著越來越重要的作用

什么是集成電路?(相對分立器件組成的電路而言)把組成電路的元件、器件以及相互間的連線放在單個芯片上,整個電路就在這個芯片上,把這個芯片放到管殼中進行封裝,電路與外部的連接靠引腳完成。什么是集成電路設計?根據電路功能和性能的要求,在正確選擇系統(tǒng)配置、電路形式、器件結構、工藝方案和設計規(guī)則的情況下,盡量減小芯片面積,降低設計成本,縮短設計周期,以保證全局優(yōu)化,設計出滿足要求的集成電路。

設計的基本過程(舉例)功能設計邏輯和電路設計版圖設計集成電路設計的最終輸出是掩膜版圖,通過制版和工藝流片可以得到所需的集成電路。設計與制備之間的接口:版圖主要內容

IC設計特點及設計信息描述典型設計流程典型的布圖設計方法及可測性設計技術5.1設計特點和設計信息描述一、設計特點(與分立電路相比)1.對設計正確性提出更為嚴格的要求

設計的正確性是IC設計中最基本的要求。IC設計一旦完成并送交制造廠生產后,再發(fā)現有錯誤,就需要重新制版、重新流片,這會造成巨大的損失。因此,要保證100%的設計正確性。2.測試問題

集成電路外引出端的數目不可能與芯片內器件的數目同步增加,這就增加了從外引出端檢測內部電路功能的困難,兼之內部功能的復雜性,在進行集成電路設計時,必須采用便于檢測的電路結構,并需要對電路的自檢功能進行考慮。

3.版圖設計:布局布線

布局、布線等版圖設計過程是集成電路設計中所特有的。只有最終生成設計版圖,通過制作掩膜版、工藝流片,才能真正實現集成電路的各種功能。而布局、布線也是決定電路性能與芯片面積的主要因素之一,對高速電路和低功耗電路尤為如此。

4.分層分級設計(Hierarchicaldesign)和模塊化設計

高度復雜電路系統(tǒng)的要求什么是分層分級設計?

集成電路在一個芯片上集成了數以萬計的器件,這些器件既要求相互隔離又要求按一定功能相互連接,而且,還需要考慮設計提出、設計驗證及設計實現過程中所包含的各方面因素。因此,無論是功能設計、邏輯與電路設計還是版圖設計,都不可能把幾十萬個以上的器件作為一個層次來處理,必須采用分層分級設計和模塊化設計.將一個復雜的集成電路系統(tǒng)的設計問題分解為復雜性較低的設計級別,這個級別可以再分解到復雜性更低的設計級別;這樣的分解一直繼續(xù)到使最終的設計級別的復雜性足夠低,也就是說,能相當容易地由這一級設計出的單元逐級組織起復雜的系統(tǒng)。一般來說,級別越高,抽象程度越高;級別越低,細節(jié)越具體。從層次和域表示分層分級設計思想域:行為域:集成電路的功能結構域:集成電路的邏輯和電路組成物理域:集成電路掩膜版的幾何特性和物理特性的具體實現層次:系統(tǒng)級、算法級、寄存器傳輸級(也稱RTL級)、邏輯級與電路級從層次和域方面表示的電路的分層分級設計系統(tǒng)級行為、性能描述CPU、存儲器、控制器等芯片、電路板、子系統(tǒng)算法級I/O算法硬件模塊、數據結構部件間的物理連接RTL級狀態(tài)表ALU、寄存器、MUX微存儲器芯片、宏單元邏輯級布爾方程門、觸發(fā)器單元布圖電路級微分方程晶體管、電阻、電容管子布圖設計層次行為設計結構設計物理設計5.設計過程計算機化

計算機在集成電路設計中的作用是不可取代的。如果說集成電路在最初發(fā)展階段可以用手工進行設計的話。那麼,隨著電路規(guī)模和電路復雜度的增大,如今集成電路設計離開計算機輔助設計是無法實現的。目前,實際上計算機輔助設計軟件及工具幾乎滲透了VLSI設計的各個步驟中,這些軟件除了工藝和器件模擬軟件外,通常我們稱之為EDA軟件:工藝模擬(TSUPREM-IV)、器件模擬(Medici)、電路模擬(HSPICE/PSPICE/SMARTSPICE)、邏輯驗證(Verilog/VHDL、formalCheck)、版圖驗證及參數提取(Dracula/Diva、Calibre、Herculesa、StarRCXT)、布局/布線工具(SiliconEnsemble、Apollo、Astro)、綜合工具(DesignCompiler、Ambit、Synplicicy、LEONARDO)、計算機輔助設計(CadenceIC、Synopsys、MentorGraphic)、版圖編輯生成(Virtuso、Ledit)、......。EDA軟件除了IC設計軟件外,還包括系統(tǒng)設計和PCB設計的軟件。二、設計信息描述

分類內容語言描述(如VHDL語言、Verilog語言等)功能描述與邏輯描述功能設計功能圖邏輯設計邏輯圖電路設計電路圖圖形描述版圖設計符號式版圖,版圖舉例:x=a’b+ab’;CMOS與非門;CMOS反相器版圖集成電路設計信息的描述主要有圖形描述和語言描述等方式。見下表什么是版圖?一組相互套合的圖形,各層版圖相應于不同的工藝步驟,每一層版圖用不同的圖案來表示。版圖與所采用的制備工藝緊密相關層次化、結構化設計假設要設計一個4位加法器,不同的設計域和不同的設計層次有不同的設計描述1。行為描述:行為描述可以用布爾方程,輸入輸出值表,也可用標準的高級計算機語言或特殊的硬件描述語言(HDL)寫成算法,后者包括VHDL、Verilog。在行為域中有許多抽象的級別,包括算法、RTL和布爾方程式等。隨著這些級別的降低,越來越多的有關具體實現的信息變得明顯起來。算法級:

s<=a+b;RTL級:

Si=(ai⊕bi)⊕ci Ci+1=aibi+ci(ai+bi)i=0,1,2,3使用verilog語言:moduleadd4(a,b,c,s,co);input[3:0]a,b;inputc;output[3:0]s;reg[3:0]s;outputco;reg[1:0]i;reg[4:0]carry;

always@(aorborcarry)begin carry[0]=c;

for(i=0;i<=3;i=i+1)begin

s[i]=a[i]^b[i]^carry[i];carry[i+1]=a[i]&b[i]|(carry[i]&(a[i]|b[i]));endendassignco=carry[4];endmodule

2。結構描述:一個結構描述說明的是元件是如何連接起來完成某一功能(或指定的行為)。通常這種描述就是模塊的列表和它們的連接關系。在結構域,抽象層次包括模塊級、門級、開關級和電路級,從高到低逐級展示更多的實現細節(jié)。4位加法器的結構描述:adderadderadderadderS(0)carry(1)S(1)S(2)S(3)carry(2)carry(3)coca(0)b(0)

a(1)b(1)

a(3)b(3)

a(2)b(2)四位加法器結構圖(4個一位加法器構成)一位加法器結構圖與非門的晶體管級結構圖結構描述的層次關系:Adder4adderadderadderadderandgorgxorgandgorgxorgandgorgxorgandgorgxorgPMOSNMOSPMOSNMOS······四位加法器的描述層次

adder4b[3:0]a[3:0]s[3:0]cococ+basc物理描述:一個電路的物理描述是用來說明怎樣構造詳細的元件來產生所要求的結構,完成所要求的功能的。在IC工藝中,物理描述的最低層次是光刻的掩膜信息,也就是各種不同層的版圖,它是制造過程中各種工藝步驟所需要的。4位加法器的物理描述AOutVDDGNDBInOutVDDGND2輸入與非門版圖反相器版圖4位加法器的物理描述一位全加器標準單元版圖4位加法器的物理描述s[3]a[3]b[3]a3s[2]a[2]b[2]a2s[1]a[1]b[1]a1s[0]a[0]b[0]a0C4cadder4(100,400)(100,300)(100,200)(100,100)(100,50)(50,0)(0,75)(0,25)(0,0)(50,100)(100,100)(0,0)ccosbaadderadder4位加法器的物理描述的抽象模塊圖5.2設計流程

理想的設計流程(自頂向下:TOP-DOWN)主要包括三個階段:系統(tǒng)功能設計,邏輯和電路設計,版圖設計

邏輯和電路描述系統(tǒng)性能編譯器系統(tǒng)性能指標性能和功能描述邏輯和電路編譯器幾何版圖描述版圖編譯器制版及流片統(tǒng)一數據庫理想的集成電路設計流程如圖是一種理想情況的設計流程圖,由于缺少有效的EDA(ElectronicDesignAutomatic)工具,這種技術至今難以真正付諸實現。目前的硅編譯器(siliconcompiler)是設計自動化程度較高的一種設計技術。

(可從算法級、RTL級向下,直接得到掩膜版圖),但真正實用的硅編譯器還很少??傮w要求系統(tǒng)功能設計寄存器傳輸級描述寄存器傳輸級模擬與驗證子系統(tǒng)/功能塊綜合門級邏輯網表邏輯模擬與驗證電路模擬與驗證版圖生成邏輯圖電路圖最終版圖數據與測試向量制版與工藝流片計算機輔助測試(ICCAT)生產定型工藝模擬版圖幾何設計規(guī)則和電學規(guī)則檢查網表一致性檢查和后仿真實際的分層分級設計流程典型的實際設計流程需要較多的人工干預某些設計階段無自動設計軟件,通過模擬分析軟件來完成設計各級設計需要驗證1、系統(tǒng)功能設計(最高層級設計)目標:實現系統(tǒng)功能,滿足基本性能要求過程:功能塊劃分,RTL級描述,行為仿真

功能塊劃分(人為,極富經驗性)

RTL(寄存器傳輸級)描述(RTL級VHDL、Verilog、C/C++、Matlab、Verilog-AMS、SystemC等)

RTL級行為仿真:總體功能和時序是否正確(各種語言仿真器、SPW、CoCentric等)功能塊劃分原則:既要使功能塊之間的連線盡可能地少,接口清晰,又要求功能塊規(guī)模合理,便于各個功能塊各自獨立設計。同時在功能塊最大規(guī)模的選擇時要考慮設計軟件可處理的設計級別

算法級:包含算法級綜合:將算法級描述轉換到

RTL級描述綜合:通過附加一定的約束條件從高一級設計層次直接轉換到低一級設計層次的過程邏輯級:較小規(guī)模電路實際設計流程系統(tǒng)功能設計輸出:語言或功能圖軟件支持:多目標多約束條件優(yōu)化問題無自動設計軟件仿真軟件:VHDL/Verilog仿真器,SystemC仿真器,C/C++,Matlab2、邏輯和電路設計概念:確定滿足一定邏輯或電路功能的由邏輯或電路單元組成的邏輯或電路結構;輸出:RTL描述、邏輯電路圖、網表等;一般分數字電路和模擬電路設計;不同的電路、不同的工藝條件所采用的設計流程會各不相同;過程:A.數字電路:RTL級描述

邏輯綜合(Synopsys,Ambit)

邏輯網表

邏輯模擬與驗證,時序分析和優(yōu)化難以綜合的:人工設計后進行原理圖輸入,再進行 邏輯模擬數字電路

設計流程:Verilog-XLNC-VerilogModelsimActiveHDLVCSVSSDesignCompiler、Ambit、Leonardo、Synplicity、PhysicalCompilerSTA(StaticTimingAnalyze)電路實現(包括滿足電路性能要求的電路結構和元件參數):調用單元庫完成;沒有單元庫支持:對各單元進行電路設計,通過電路模擬與分析,預測電路的直流、交流、瞬態(tài)等特性,之后再根據模擬結果反復修改器件參數,直到獲得滿意的結果。由此可形成用戶自己的單元庫;單元庫:一組單元電路的集合;經過優(yōu)化設計、并通過設計規(guī)則檢查和反復工藝驗證,能正確反映所需的邏輯和電路功能以及性能,適合于工藝制備,可達到最大的成品率。單元庫由廠家(Foundary)提供,也可由用戶自行建立。

B.模擬電路:尚無良好的綜合軟件

RTL級仿真通過后,根據設計經驗進行電路設計原理圖輸入電路模擬與驗證模擬單元庫原理圖輸入工具:Composer(Cadence)、ViewDraw(ViewLogic)、Sedit(Tanner)、

電路模擬工具:Hspice(Avanti/Synopsys)、Spectre/Pspice(Cadence)、SmartSpice(Silvaco)、StarSim/Nanosim(Synopsys)

邏輯和電路設計的輸出:網表(元件及其連接關系)或邏輯圖、電路圖。軟件支持:原理圖軟件、邏輯綜合、邏輯模擬、電路模擬、時序分析等軟件(EDA軟件系統(tǒng)中已集成)。全球著名的EDA軟件Vender:

Cadence

Synopsys(Avanti)MentorGraphic(Innoveda)Magma、Synplify、Aldec、Silvaco、Tanner、Novas等國內EDA軟件:Panda(華大)、北理工的VHDL仿真器;FPGA廠商提供的EDA軟件:

Xilinx公司:ISE系列

Altera公司:QuartusII系列

3.版圖設計概念:根據邏輯與電路功能和性能要求以及工藝水平要求來設計光刻用的掩膜版圖,IC設計的最終輸出。什么是版圖?一組相互套合的圖形,各層版圖相應于不同的工藝步驟,每一層版圖用不同的圖案來表示,對應于光刻的掩膜版。版圖與所采用的制備工藝緊密相關

版圖設計過程:由底向上過程主要是布局布線過程

布局:將模塊安置在芯片的適當位置,滿足一定目標函數。對級別最低的功能塊,是指根據連接關系,確定各單元的位置,級別高一些的,是分配較低級別功能塊的位置,使芯片面積盡量小。

布線:根據電路的連接關系(連接表)在指定區(qū)域(面積、形狀、層次)百分之百完成連線。布線均勻,優(yōu)化連線長度、保證布通率。

版圖設計過程:大多數基于單元庫實現(1)軟件自動轉換到版圖,可人工調整(規(guī)則芯片)(2)布圖規(guī)劃(floorplanning)工具布局布線工具(place&route)

布圖規(guī)劃:在一定約束條件下對設計進行物理劃分,并初步確定芯片面積和形狀、單元區(qū)位置、功能塊的面積形狀和相對位置、I/O位置,產生布線網格,還可以規(guī)劃電源、地線以及數據通道分布(3)全人工版圖設計:人工布圖規(guī)劃,提取單元,人工布局布線(由底向上:小功能塊到大功能塊)標準單元版圖示例[Brodersen92]標準單元庫版圖示例AOutVDDGNDBInOutVDDGNDnand2版圖inv版圖單元庫中基本單元較小的功能塊總體版圖版圖檢查與驗證布局布線布局布線較大的功能塊布局布線布圖規(guī)劃人工版圖設計典型過程

Full-Custom,全人工版圖設計:人工布圖規(guī)劃,設計單元,人工布局布線(由底向上:從小功能塊到大功能塊)單元庫中基本單元較小的功能塊總體版圖版圖檢查與驗證布局布線布局布線較大的功能塊布局布線布圖規(guī)劃人工版圖設計典型過程Full-Custom版圖示例(1)Full-Custom版圖示例(2)

版圖驗證與檢查DRC(DesignRuleCheck):幾何設計規(guī)則檢查;對IC的版圖做幾何空間檢查,保證能在特定的工藝條件下實現所設計的電路,并保證一定的成品率;

ERC(ElectricalRuleCheck):電學規(guī)則檢查;檢查電源(power)/地(ground)的短路,浮空的器件和浮空的連線等指定的電氣特性;

LVS(LoyoutversusSchematic):網表一致性檢查;將版圖提出的網表和原理圖的網表進行比較,檢查電路連接關系是否正確,MOS晶體管的長/寬尺寸是否匹配,電阻/電容值是否正確等;LPE(LayoutParameterExtraction):版圖寄生參數提??;從版圖中提取晶體管的尺寸、結點的寄生電容、連線的寄生電阻等參數,并產生SPICE格式的網表,用于后仿真驗證;

POSTSIM:后仿真,檢查版圖寄生參數對設計的影響;提取實際版圖參數、電阻、電容,生成帶寄生量的器件級網表,進行開關級邏輯模擬或電路模擬,以驗證設計出的電路功能的正確性和時序性能等,并產生測試向量。軟件支持:成熟的CAD工具用于版圖編輯、人機交互式布局布線、自動布局布線以及版圖檢查和驗證版圖編輯軟件:Vertuso、TannerLedit、Panda標準單元自動布局布線軟件:

SiliconEnsamble、Apollo、Astro版圖驗證:Dracula/Diva、Calibre、Hercules、TannerLVS

5.3設計規(guī)則一、設計規(guī)則

IC設計與工藝制備之間的接口制定目的:使芯片尺寸在盡可能小的前提下,避免線條寬度的偏差和不同層版套準偏差可能帶來的問題,盡可能地提高電路制備的成品率什么是設計規(guī)則?考慮器件在正常工作的條件下,根據實際工藝水平(包括光刻特性、刻蝕能力、對準容差等)和成品率要求,給出的一組同一工藝層及不同工藝層之間幾何尺寸的限制,主要包括線寬、間距、覆蓋、露頭、凹口、面積等規(guī)則,分別給出它們的最小值,以防止掩膜圖形的斷裂、連接和一些不良物理效應的出現。芯片上每個器件以及互連線都占有有限的面積。它們的幾何圖形由電路設計者來確定。設計者在確定幾何圖形時,要受到兩個因素的影響:光刻精度和電學參數。從圖形如何精確地光刻到芯片上出發(fā),可以確定一些對幾何圖形的最小尺寸限制規(guī)則,這些規(guī)則被稱為設計規(guī)則。芯片上每個器件以及互連線都占有有限的面積。它們的幾何圖形由電路設計者來確定。設計規(guī)則是IC工程師和工藝工程師之間相互制約的手段,兩者溝通的橋梁,通過設計規(guī)則,電路工程師不必了解工藝細節(jié)就可以成功的設計出電路;而工藝工程師也不需要了解電路內容就可以成功的制造出電路。設計規(guī)則是電路性能和成品率之間的折中,設計規(guī)則保守則成品率高,但電路面積大、性能差一些;設計規(guī)則激進,則電路性能好、面積小,但成品率低。IC制造中造成工藝偏差的因素主要包括:掩膜版的對準偏差;塵埃顆粒;工藝參數(例如:橫向擴散、橫向腐蝕等);表面不平整;設計規(guī)則的內容DesignRule通常包括相同層和不同層之間的下列規(guī)定:最小線寬MinimumWidth

最小間距MinimumSpacing

最小延伸MinimumExtension

最小包圍

MinimumEnclosure

最小覆蓋MinimumOverlay設計規(guī)則的兩種表示方法以為單位:把大多數尺寸(覆蓋,出頭等等)約定為

的倍數

與工藝線所具有的工藝分辨率有關,線寬偏離理想特征尺寸的上限以及掩膜版之間的最大套準偏差,一般等于柵長度的一半。優(yōu)點:版圖設計獨立于工藝和實際尺寸舉例:見書P135以微米為單位:每個尺寸之間沒有必然的比例關系,提高每一尺寸的合理度;簡化度不高舉例:見書P137

IC設計流程視具體系統(tǒng)而定隨著ICCAD系統(tǒng)的發(fā)展,IC設計更側重系統(tǒng)設計正向設計,逆向設計

SoC:IP(IntelligentProprietary)庫(優(yōu)化設計)軟核:行為級描述firmIP:門級

hardIP:版圖級,

D/AA/DDRAM,優(yōu)化的深亞微米電路等

IC設計與電路制備相對獨立的新模式

Foundry的出現VDSM(VeryDeepSubMicrometer)超深亞微米電路設計對設計流程的影響VDSM電路設計對設計流程的影響時序問題突出,互連延遲超過門延遲,邏輯設計用的互連延遲模型與實際互連延遲特性不一致,通過邏輯設計的時序在布局布線后不符合要求。在邏輯設計階段加入物理設計的數據綜合優(yōu)化中的關鍵路徑以SDF(StandardDelayFormat)格式傳給布圖規(guī)劃,初步的連線延遲再傳給綜合優(yōu)化工具(以PDEF格式)布局后將更精確的互連信息通過FLOORPLANTOOL傳給綜合優(yōu)化工具,進行布局迭代時延驅動布線,完成后進行延遲計算和時序分析,布線迭代VDSM電路設計對設計流程的影響布圖時面向互連,先布互連網,再布模塊集成度提高:可重用(REUSE)模塊

IP(IntellectualProperty)(知識產權)模塊針對各IP模塊和其他模塊進行布圖規(guī)劃,如何對IP模塊等已設計好的模塊進行處理功耗問題,尤其高層次設計中考慮布圖中寄生參數提取變成三維問題二、布圖設計方法(布圖風格劃分)全定制設計方法、半定制設計方法、可編程邏輯器件以及基于這些方法的兼容設計方法設計方法選取的主要依據:設計周期、設計成本、芯片成本、芯片尺寸、設計靈活性、保密性和可靠性等最主要的:設計成本在芯片成本中所占比例芯片成本CT:小批量的產品:減小設計費用;大批量的產品:提高工藝水平,減小芯片尺寸,增大圓片面積CD為設計開發(fā)費用,CP為每片硅片的工藝費用;V為生產數量,y為成品率;n為每個硅片上的芯片數目。三、全定制設計版圖設計時采用人工設計,對每個器件進行優(yōu)化,芯片性能獲得最佳,芯片尺寸最小設計周期長,設計成本高,適用于性能要求極高或批量很大的產品,如CPU、RAM等模擬電路由于設計軟件的限制,通常也采用全定制設計;早期電路全部采用全定制方法;符號式版圖設計:用一組事先定義好的符號來表示版圖中不同層版之間的信息,通過自動轉換程序轉換舉例:棍圖:棍形符號、不同顏色不必考慮設計規(guī)則的要求;設計靈活性大符號間距不固定,進行版圖壓縮,減小芯片面積微米設計規(guī)則舉例范例:1P3M雙阱CMOS工藝設計規(guī)則棍圖轉換成版圖5.4專用集成電路的設計方法專用集成電路(ASIC:Application-SpecificIntegratedCircuit)(相對通用電路而言)針對某一應用或某一客戶的特殊要求設計的集成電路批量小、單片功能強:降低設計開發(fā)費用主要的ASIC設計方法:門陣列設計方法:半定制標準單元設計方法:定制掩膜版方法積木塊設計方法:定制可編程邏輯器件設計方法一、門陣列設計方法(GA方法)概念:形狀和尺寸完全相同的單元排列成陣列,每個單元內部含有若干器件,單元之間留有布線通道,通道寬度和位置固定,并預先完成接觸孔和連線以外的芯片加工步驟,形成母片根據不同的應用,設計出不同的接觸孔版和金屬連線版,單元內部連線及單元間連線實現所需電路功能

采用母片半定制技術1.門陣列結構單元區(qū)結構:(見下頁圖)

輸入/輸出單元:芯片四周舉例:(見下頁圖)輸入、輸出、電源輸入保護(防止柵擊穿):嵌位二極管、保護電阻輸出驅動:寬長比大的器件(梳狀或馬蹄狀)未使用的單元已經使用的單元

(4-輸入NOR)門陣列單元邏輯單元行布線通道門陣列母片I/O及壓焊塊門陣列基本單元(4管單元)2.門陣列設計流程寄存器傳輸級行為描述邏輯網表邏輯模擬制版/流片/測試/封裝設計中心Foundry向Foundry提供網表布局布線掩膜版圖版圖檢查/網表和參數提取/網表一致性檢查后仿真產生測試向量行為仿真邏輯圖綜合生成延遲文件單元庫3.門陣列方法的設計特點門陣列方法的設計特點:設計周期短,設計成本低,適合設計適當規(guī)模、中等性能、要求設計時間短、數量相對較少的電路不足:設計靈活性較低;門利用率低;芯片面積浪費;速度較低;功耗較大。4.門海技術門海設計技術:一對不共柵的P管和N管組成的基本單元鋪滿整個芯片,布線通道不確定(可將基本單元鏈改成無用器件區(qū)走線),宏單元連線在無用器件區(qū)上進行提出了“無通道”概念的門海結構,單元四周均可布線,而且布線通道可調門利用率高,集成密度大,布線靈活,保證布線布通率仍有布線通道,增加通道是單元高度的整數倍,布線通道下的晶體管不可用門海(Sea-of-Gate)隨機邏輯MemorySubsystemLSILogicLEA300K(0.6mmCMOS)PMOSNMOS基本單元5.設計方法激光掃描陣列:特殊的門陣列設計方法對于一個特殊結構的門陣列母片,片上晶體管和邏輯門之間都有電學連接,用專門的激光掃描光刻設備切斷不需要連接處的連線,實現ASIC(專用途集成電路)功能。只需一步刻鋁工藝,加工周期短;采用激光掃描曝光,省去了常規(guī)門陣列方法中的制版工藝。但制備時間較長。一般用于小批量(200~2000塊)ASIC的制造二、標準單元設計方法(SC方法)

1.標準單元設計方法一種庫單元設計方法,屬基于單元的布圖方法需要全套掩膜版:定制方法概念:從標準單元庫中調用事先經過精心設計的邏輯單元,并排列成行,行間留有可調整的布線通道,再按功能要求將各內部單元以及輸入/輸出單元連接起來,形成所需的專用電路芯片布局:芯片中心是單元區(qū),輸入/輸出單元和壓焊塊在芯片四周,基本單元具有等高不等寬的結構,布線通道區(qū)沒有寬度的限制,利于實現優(yōu)化布線。一種典型的標準單元陣列的版圖布局標準單元庫:標準單元庫中的單元是用人工優(yōu)化設計的,力求達到最小的面積和最好的性能,完成設計規(guī)則檢查和電學驗證描述電路單元在不同層級的屬性的一組數據邏輯符號(L):單元名稱與符號、I/O端:用于邏輯圖功能描述電路結構、電學指標拓撲版圖(O):拓撲單元名、單元寬度高度、I/O位置及名稱掩膜版圖(A)舉例:不同設計階段調用不同描述

單元名稱與符號、I/O端拓撲單元名、單元寬度高度、I/O位置及名稱

標準單元庫主要包括與非門、或非門、觸發(fā)器、鎖存器、移位寄存器加法器、乘法器、除法器、算術運算單元、FIFO等較大規(guī)模單元模擬單元模塊:振蕩器、比較器等

同一功能的單元有幾種不同的類型,視應用不同選擇。例如,反相器可以有輸出級、輸入級、緩沖級,輸出級的反相器需要考慮驅動,而輸入級則不需要作此考慮。2.標準單元設計基本排列形式:雙邊I/O、單邊I/O、連線單元(單層布線中用得較多、跨單元連線)走線:電源和地線一般要求從單元左右邊進出,信號端從上下進出??梢栽趩卧獌炔炕騿卧吔珉娫淳€可以放在單元外,在布線通道內,便于根據單元功率要求調整寬度,從各單元引出端口電源線水平金屬線,信號線用第二層金屬或垂直多晶硅線,單元內部連線用第一層金屬和多晶硅,單元之間連線在走線通道內單元拼接

保證阱區(qū)能連接上單元高度:器件寬度,(考慮最小延遲,最省面積,足夠高度以保證電源線、地線、單元內部連線)

SC方法設計流程與門陣列類似

SC方法設計流程與門陣列類似

SC方法特點:需要全套掩膜版,屬于定制設計方法門陣列方法:合適的母片,固定的單元數、壓焊塊數和通道間距標準單元方法:可變的單元數、壓焊塊數、通道間距,布局布線的自由度增大較高的芯片利用率和連線布通率依賴于標準單元庫,SC庫建立需較長的周期和較高的成本,尤其工藝更新時適用于中批量或者小批量但是性能要求較高的芯片設計SC方法目前已經成為當今ASIC設計應用最廣泛的設計方法;Why?1.

SC方法可以100%充分利用硅片的面積,100%的利用I/OPad;2.SC方法可以兼顧電路的性能,布局布線的自由度很大;3.由于Foundry可以為其客戶提供高質量的標準單元庫,因此建庫對于設計者來說已經不是一個很大的問題。3.積木塊設計方法:BBL方法

(通用單元設計方法)布圖特點:任意形狀的單元(一般為矩形或“L”型)、任意位置、無布線通道(根據需要分配)BBL單元:單元規(guī)模一般比SC單元大,如較大規(guī)模的功能塊(如ROM、RAM、ALU或模擬電路單元等),單元可以用GA、SC、PLD或全定制方法設計,設計好的單元存入庫內設計過程:可以基于Foundry提供的單元庫,更提倡用自己的單元庫

平面布置:影響延遲的單元靠近安放

軟件預估性能

詳細布圖

后仿真

BBL方法特點:較大的設計自由度,可以在版圖和性能上得到最佳的優(yōu)化布圖算法發(fā)展中:通道不規(guī)則,連線端口在單元四周,位置不規(guī)則積木塊設計方法:BBL方法標準單元設計的功能塊模擬電路功能塊其他功能塊,如RAM、ROM等三、可編程邏輯器件設計方法(PLD方法)概念:用戶通過生產商提供的通用器件自行進行現場編程和制造,或者通過對與或矩陣進行掩膜編程,得到所需的專用集成電路編程方式:現場編程:采用熔斷絲、電寫入等方法對已制備好的PLD器件實現編程,不需要微電子工藝,利用相應的開發(fā)工具就可完成設計,有些PLD可多次擦除,易于系統(tǒng)和電路設計。掩膜編程:通過設計掩膜版圖來實現所需的電路功能,但由于可編程邏輯器件的規(guī)則結構,設計及驗證比較容易實現??删幊踢壿嬈骷诸?/p>

ROM、EPROM、EEPROM、PLA、PAL、GAL1??删幊踢壿嬯嚵校≒LA):實現數字邏輯基本思想:組合邏輯可以轉換成與-或邏輯,由輸入變量組成“與”矩陣,并將其輸出饋入到“或”矩陣,設計人員通過對與—或矩陣進行編程處理,得到所需要的邏輯功能?;窘Y構:PLA基本結構將“與”矩陣或“或”矩陣的格點上是否有晶體管作為選擇,編程出任意邏輯。采用不規(guī)則的晶體管位置實現一定的邏輯,但晶體管可能的位置是規(guī)則的,晶體管的選擇可以通過對PLA器件的電編程實現,如:如果PLA格點上MOS管的柵極用熔絲連接,對不需要MOS管的位置通以較大的脈沖電流,將熔絲熔斷,則該格點不連通,從而實現編程。PLA結構PLA的內部結構在簡單PLD中有最高的靈活性。PLA處理邏輯功能較靈活,但比較浪費,編程工具花費也大舉例:盡量采用“或非”門2X4X2PLA的電路結構(其中箭頭代表接地)2.可編程陣列邏輯(PAL)和通用陣列邏輯(GAL)

PAL:固定或矩陣(饋入“或”門八個輸入端即可滿足邏輯組合要求),可編與矩陣(輸入項可增多)結構簡化、工藝簡單現場編程,一次編程(熔絲工藝)不同輸出結構選用不同的PAL器件,例如可編程I/O組合型、有寄存器反饋的寄存器型GAL:邏輯陣列結構與PAL類似,固定或矩陣:浮柵工藝:控制柵上施加足夠高的電壓且漏端接地時,浮柵上將存儲負電荷,當控制柵接地而漏端加適當的正電壓時,浮柵將放電,實現了電編程;具有不揮發(fā)性,掉電后不用重新編程提高可編程速度和器件速度電擦寫,可重復編程,不需要窗口式的封裝輸出邏輯單元有一些考慮:可編程可重新配置,可適應不同系統(tǒng)需要具有安全保護單元,外界無法從器件中讀出二進制編程編碼編程方式:現場編程PLA、PAL、GAL的設計流程:

功能、邏輯設計網表編程文件

PLD器件設計周期短,設計效率高,有些可多次擦除,適合新產品開發(fā)編程軟件硬件編程器

PAL和GAL的器件密度較低,幾百門近年來出現高密度可編程邏輯器件HDPLD、

系統(tǒng)內編程邏輯器件IS-PLDLattice的pLSI1000,2000,3000系列,14000門

HDPLD:集總布線區(qū)(GRP:globalroutingpool):用于內部邏輯連接四周通用邏輯塊(GLB)、輸出布線區(qū)(ORP:GLB輸出與管腳之間互連)輸入總線IB

可實現高速控制器等,DSP、數據加密等子系統(tǒng)系統(tǒng)內編程邏輯器件IS-PLD(insystem-programmablelogicdevice):帶串行接口及使能端(用作串口或正常信號端)串行口:數據輸入、數據輸出、時鐘、模式選擇具有GAL和HDPLD的可編程、再配置功能可編程、再配置在系統(tǒng)內或PCB板上進行消除管腳多次彎曲易于進行電路版級測試一塊電路板有不同功能:硬件軟件化四、現場可編程門陣列(FPGA)

(邏輯單元陣列)集成度高,使用靈活,引腳數多(可多達100多條),可以實現更為復雜的邏輯功能不是與或結構,以可配置邏輯功能塊(configurablelogicblock)排成陣列,功能塊間為互連區(qū),輸入/輸出功能塊IOB可編程的內部連線:特殊設計的通導晶體管和可編程的開關矩陣

CLB、IOB的配置及內連編程通過存儲器單元陣列實現結構邏輯單元陣列結構(LCA)

可配置的邏輯塊(CLB)、I/O功能塊(IOB)、互連區(qū)

復合PLD結構(CPLD):PLD邏輯塊和互連區(qū)FPGA結構原理圖內部結構稱為LCA(LogicCellArray)由三個部分組成:可編程邏輯塊(CLB)可編程輸入輸出模塊(IOB)可編程內部連線(PIC)CLB包含多個邏輯單元PICIOB不是與或結構,以可配置邏輯功能塊(configurablelogicblock)排成陣列,功能塊間為互連區(qū),四周為輸入/輸出功能塊IOB可編程的內部連線:特殊設計的通導晶體管和可編程的開關矩陣LCA結構示意圖CLB、IOB的配置及內連編程通過存儲器單元陣列實現邏輯單元內部結構查找表的基本原理實際邏輯電路LUT的實現方式

a,b,c,d輸入邏輯輸出地址RAM中存儲的內容00000000000001000010....0...01111111111N個輸入的邏輯函數需要2的N次方的容量的SRAM來實現,一般多個輸入的查找表采用多個邏輯塊級連的方式查找表的基本原理N個輸入的邏輯函數需要2的N次方的容量的SRAM來實現,一般多于輸入的查找表采用多個邏輯塊級連的方式CPLD內部結構(Altera的MAX7000S系列)邏輯陣列模塊I/O單元連線資源邏輯陣列模塊中包含多個宏單元宏單元內部結構乘積項邏輯陣列乘積項選擇矩陣可編程觸發(fā)器如何實現功能?存儲器單元陣列中裝入配置程序

存儲器單元陣列中各單元狀態(tài)

控制CLB的可選配置端、多路選擇端

控制IOB的可選配置端

控制通導晶體管的狀態(tài)和開關矩陣的連接關系被控制端或互連點與存儲器單元一一對應

LCA結構FPGA的設計流程:軟件開發(fā)系統(tǒng)XACT

現場編程XILINX:用SRAM存儲內容控制互連:允許修改

配置程序——存儲器單元陣列中各單元狀態(tài)——控制CLB的可選配置端、多路選擇端

控制IOB的可選配置端

控制通導晶體管的狀態(tài)和開關矩陣的連接關系ACTEL:可熔通的點,不可逆,易于保密適用:200塊以下的原型設計

PLD和FPGA設計方法的特點現場編程:功能、邏輯設計網表編程文件

PLD器件掩膜編程:PLA版圖自動生成系統(tǒng),可以從網表直接得到掩膜版圖設計周期短,設計效率高,有些可多次擦除,適合新產品開發(fā)編程軟件硬件編程器FPGA與CPLD的區(qū)別(1)CPLDFPGA內部結構Product-termLook-upTable程序存儲內部EEPROMSRAM,外掛EEPROM資源類型組合電路資源豐富觸發(fā)器資源豐富集成度低高使用場合完成控制邏輯能完成比較復雜的算法速度慢快其他資源-EAB,鎖相環(huán)保密性可加密一般不能保密FPGA與CPLD的區(qū)別(2)FPGA采用SRAM進行功能配置,可重復編程,但系統(tǒng)掉電后,SRAM中的數據丟失。因此,需在FPGA外加EPROM,將配置數據寫入其中,系統(tǒng)每次上電自動將數據引入SRAM中。CPLD器件一般采用EEPROM存儲技術,可重復編程,并且系統(tǒng)掉電后,EEPROM中的數據不會丟失,適于數據的保密。FPGA與CPLD的區(qū)別(3)FPGA器件含有豐富的觸發(fā)器資源,易于實現時序邏輯,如果要求實現較復雜的組合電路則需要幾個CLB結合起來實現。CPLD的與或陣列結構,使其適于實現大規(guī)模的組合功能,但觸發(fā)器資源相對較少。FPGA與CPLD的區(qū)別(4)FPGA為細粒度結構,CPLD為粗粒度結構。FPGA內部有豐富連線資源,CLB分塊較小,芯片的利用率較高。CPLD的宏單元的與或陣列較大,通常不能完全被應用,且宏單元之間主要通過高速數據通道連接,其容量有限,限制了器件的靈活布線,因此CPLD利用率較FPGA器件低。FPGA與CPLD的區(qū)別(5)FPGA為非連續(xù)式布線,CPLD為連續(xù)式布線。FPGA器件在每次編程時實現的邏輯功能一樣,但走的路線不同,因此延時不易控制,要求開發(fā)

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