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ZeemanEffect

——F-P標準具的校準原理A10倪文鶯06300300092實驗背景實驗目的實驗內容實驗感想F-P標準具的介紹F-P標準具的校準方法F-P標準具的校準原理注意事項實驗背景1896年，荷蘭著名的實驗物理學家Zeeman，在研究磁場對譜線的影響，結果發(fā)現(xiàn)當鈉雙線D1和D2都有增寬的現(xiàn)象。光源放在足夠強的磁場中時，原來的鈉雙線分裂成幾條光譜線。實際上每一條光譜線都是由幾條單獨組成的，這一現(xiàn)象稱為塞曼效應。塞曼效應也有力地證明了能級的分裂是由于電子的軌道與磁矩與自旋磁矩互相作用的結果。實驗內容調節(jié)F-P標準具的平行度，掃描記錄不加磁場時的曲線——KEY加上磁場，掃描記錄汞5461?譜線的zeeman

分裂曲線（９條），測量zeeman分裂的波數差，計算電子荷質比，與理論值比較．加上偏振片，掃描記錄zeeman分裂的π成分和σ成分F-P標準具的介紹法布里-珀羅干涉儀是一種應用廣泛的高分辨率分光儀器,由兩塊鍍有高反射率的平行玻璃（或石英）板和端面相互平行的隔圈組成.它的應用范圍大，在長度計量中也被采用，成為長度基準傳遞的工具，因此又稱為法布里珀卜羅標準具（簡稱F-P標準具）。本實驗中,采用改變氣壓實現(xiàn)F-P干涉儀的掃描.

F-P標準具的校準方法標準具靠三個壓緊的彈簧螺絲來調整兩個內表面的平行度。在光具座上適當調整標準具、透鏡對光源的位置，使得在標準具反射片中心找到干涉環(huán)。如果標準具兩個內表面嚴格平行，上下左右移動眼睛觀察，花紋不隨眼睛移動而變化。若眼睛移動過程中有冒出環(huán)及吸入環(huán)現(xiàn)象，表示標準具兩內表面不平行；眼睛如果沿d增大的方向移動，則有干涉環(huán)冒出，那么便擰緊該方向的螺絲旋鈕，或旋松另一側的旋鈕。水平和豎直兩個方向反復調節(jié)后，即可看到細銳均勻的干涉環(huán)。

WHY？F-P標準具的校準原理

設A、B兩平面間的距離為d，空氣折射率近似為n=1，則相鄰兩光束的光程差為

。產生干涉極大的條件為式中為整數，稱為干涉序,滿足角的光線，在幕上顯示的干涉條紋為一圓環(huán)

。注意事項F-P標準具調整時要注意，通過螺釘施加壓力只是微調，因此不能用力過猛，以免損害

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