《儲液式防護存儲器試驗方法 耐久性》

ICS43.040.10

CCSK04

團體標準

T/CIETXXXX—2023

儲液式防護存儲器試驗方法耐久性

Testmethodforwaterboxprotectivememory—Durability

2023-XX-XX發(fā)布2023-XX-XX實施

中國國際經(jīng)濟技術(shù)合作促進會發(fā)布

T/CIETXXXX—2023

儲液式防護存儲器試驗方法耐久性

1范圍

本文件規(guī)定了儲液式防護存儲器（以下簡稱“防護存儲器”）密封性能的術(shù)語和定義、試驗目的、

試驗儀器設(shè)備、試驗條件、試驗過程、試驗結(jié)果與評定、試驗報告。

本文件適用于汽車行駛記錄儀中的儲液式防護存儲器產(chǎn)品耐久性測試，其他類型防護存儲器產(chǎn)品

可參考使用。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T19056—2021汽車行駛記錄儀

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法B：高溫

GB/T2423.5-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊

GB/T2423.10-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動（正弦）

GB/T2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化

GB/T2423.25-2008的試驗程序Z/AM電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫

/低氣壓綜合試驗

GB/T2423.26-2008的試驗程序Z/AM電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：高溫

/低氣壓綜合試驗

3術(shù)語和定義

GB/T19056—2021界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。

儲液式防護存儲器waterboxprotectivememory

由金屬外殼、隔熱材料、內(nèi)置儲液（或含水相變體）盒、內(nèi)置電路板的密閉體等構(gòu)成，可集成于主

機內(nèi)，具備一定的防火、抗壓、抗震、防水等防護能力，用于存儲數(shù)據(jù)記錄和音視頻記錄的存儲單元。

4試驗目的

通過將儲液式防護存儲器置于溫度變化、振動、低氣壓應力條件下，驗證儲液式防護存儲器在嚴酷

環(huán)境下的長期有效性。

5試驗儀器設(shè)備

用于試驗儀器設(shè)備應經(jīng)檢定或校準并在有效期內(nèi)，試驗設(shè)備能達到試驗的控制要求和允差要求，測

量儀器應符合數(shù)據(jù)測量、記錄、分析和顯示的要求。各項試驗所使用的儀器設(shè)備與測量儀器還應符合該

項試驗程序?qū)獦藴实南嚓P(guān)要求。

6試驗環(huán)境要求

除本文件另有規(guī)定外，試驗應在下列條件下進行：

溫度：15℃-35℃

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相對濕度：25%-75%

大氣壓：86kPa-106kPa

7試驗要求

防護存儲器應能經(jīng)受按照表1順序進行的2次循環(huán)試驗。

表1耐久性試驗條件

持續(xù)時

序號試驗名稱試驗參數(shù)試驗程序

間

低溫-46℃±2℃，

高溫95℃±2℃，GB/T2423.22-2012的試驗程序

1溫度沖擊120h

溫變速率(1±0.2)K/min，Nb

暴露持續(xù)時間3h，循環(huán)10次。

掃頻范圍5Hz-300Hz,

掃頻速度1oct/min，

三個軸向每軸向8h，GB/T2423.10-2019的試驗程序

2振動24h

振幅：5Hz-11Hz時10mm（峰Fc

值）

加速度：11Hz-300Hz時50m/s2

三個軸向每軸向各3次，

GB/T2423.5-2019的試驗程序

3沖擊峰值加速度：490m/s2，2h

Ea

脈沖持續(xù)時間11ms

GB/T2423.26-2008的試驗程序

4高溫低氣壓85℃±2℃，55kPa24h

Z/BM

GB/T2423.25-2008的試驗程序

5低溫低氣壓-46±2℃，55kPa24h

Z/AM

GB/T2423.2-2008的試驗程序

6高溫高溫95℃±2℃24h

Bb

8試驗過程

試驗準備

a）選取10臺防護存儲器作為被試品并編號。

b）根據(jù)產(chǎn)品特性，對每個被試品進行預處理，以檢驗密封失效情況?？稍谛箟嚎谒诒砻嬲迟N水

敏試紙，在存儲芯片表面粘貼測溫試紙，在存儲芯片板背面粘貼水敏試紙，測試時應做適當處理，防止

冷凝水等因素影響水敏敏紙顯示結(jié)果。

c）采用電子天平對全部被試品進行稱重并記錄稱重結(jié)果；

d）讀取防護存儲器內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，記錄數(shù)據(jù)文件數(shù)量、文件名、大小等信息并計算每個文件的MD5

值。

耐久性試驗

按照表1要求對全部被試品依次進行試驗，完成表中全部試驗記為一個循環(huán)。

中間檢測

每項試驗結(jié)束后應進行中間檢測。計算防護存儲器內(nèi)的數(shù)據(jù)文件MD5值，與試驗前的數(shù)據(jù)文件的MD5

值進行比較，應保持一致，無數(shù)據(jù)丟失或內(nèi)容改變。

最終檢測

a）在經(jīng)過2次試驗循環(huán)之后，用電子天平對全部被試品稱重；

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b）選取試驗前后重量變化最大的8個被試品，檢查其密封情況，應無失效現(xiàn)象。當采用水敏試紙時

時，通過觀察其變色情況，確認是否存在密封失效。

c）對其余2個被試品按GB/T19056-2021中附錄E.1.2及E.1.3進行余燼保護性能試驗和浸水保護試

驗。

d）通過防護存儲器的接口或備用數(shù)據(jù)讀取接口讀取所有被試品內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，計算每個文件的MD5

值，與試驗前的數(shù)據(jù)文件MD5值進行比較，應保持一致，無數(shù)據(jù)丟失或內(nèi)容改變。

e）測溫試紙顯示最高溫度應小于130℃±5℃。

9試驗結(jié)果評定

a）任一次中間檢測的任一被試品出現(xiàn)不符合情況，終止后續(xù)項目試驗，判定為產(chǎn)品不合格。

b）最終檢測中，若8個進行密封性檢驗的被試品中任一被試品出現(xiàn)不符合情況，判定為產(chǎn)品不合

格。

c）最終檢測中數(shù)據(jù)文件檢查，任一被試品出現(xiàn)數(shù)據(jù)文件MD5值不一致情況，判定為產(chǎn)品不合格。

d）被試品通過中間檢測和最終檢測，判定為產(chǎn)品合格。

10試驗報告

除另有規(guī)定外，試驗報告應至少包括以下內(nèi)容：

a)被試品型號、名稱、委托單位的信息；

b)試驗依據(jù)；

c)試驗條件；

d)試驗日期、試驗地點、試驗人員、試驗設(shè)備；

e)被試品的照片；

f)試驗結(jié)果。

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參考文獻

[1]ISO16750.4：2010公路車輛電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗第四部分氣候負荷

（Roadvehicl