JJF(皖) 149-2023 磁粉檢測用試片校準規(guī)范　

2023—01—09發(fā)布2023—03—01實施 JJF（皖）149—2023磁粉檢測用試片磁粉檢測用試片校準規(guī)范CalibrationSpecifiJJF（皖）149—2023I JJF（皖）149—2023表示》、JJF1071－2010《國家計量校準JJF(皖)149—20231GB/T23907—2009無損檢測磁粉檢測用試片凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。磁粉檢測用試片(也稱靈敏度試片)是一種用于驗證磁粉探傷機磁粉檢測綜合性能(綜合靈敏度)的標準試片。使用時，將有槽的一面面向被測工件一側，給工件通以電流即施加磁場后，在磁粉檢測用試片的凹槽處就會形成漏磁場，從而顯示出磁痕，用于驗證磁粉檢測綜合性能。其典型外形結構見圖1和圖2。JJF(皖)149—20232試片的表面粗糙度不大于Ra0.8μm。4.2幾何尺寸試片的幾何尺寸不超過表1和表2的規(guī)定。名稱試片厚度l?/μm試片邊長I?/mm圓形人工槽直徑I?/mm十字人工槽長度l?/mm人工槽深度l?/μm高靈敏度中靈敏度人工槽寬度l?/μmJJF（皖）149—20233表2C型試片的幾何尺寸名稱C型試片的幾何尺寸試片厚度l0/μm50±5試片長度l1/mm10±0.5試片寬度l2/mm50±0.5分割線間隔l3/mm5±0.5人工槽深度l4/μm高靈敏度8±1.0中靈敏度15±2.0低靈敏度30±4.0人工槽寬度l5/μm60～180注：校準工作不判斷合格與否，上述計量特性要求僅供參考。推薦使用表3所列測量標準及其他設備，允許使用滿足測量不確定度要求的其他測量表3測量標準及其他設備序號測量標準及其他設備名稱技術要求1表面粗糙度比較樣塊MPE：+12%～-17%2測長儀MPE：±（1μm+5×10-6L）3萬能工具顯微鏡或影像測量儀MPE：±（1μm+10-5L）或MPE：±（3μm+5×10-6L）4白光干涉輪廓儀MPE：±0.75%JJF（皖）149—20234校準前首先檢查外觀和各部分相互作用，確定沒有影響計量特性因素后再進行校準。用表面粗糙度比較樣塊進行比較測量。測量時選擇最接近被測表面粗糙度值的樣塊標6.2.1試片厚度用測長儀直接測量。選用球形測帽與Φ8mm平面測帽，在試片上至少選擇均勻分布的四個位置（要避開人工槽）進行測量。測量時先將測長儀的球形測帽與平面測帽接觸，讀取測長儀的數(shù)值作為相對零點A0，然后移動測長儀的測量軸使兩測帽離開，將試片放入兩測帽之間，使兩測帽與試片接觸，讀出數(shù)值Ai，各位置讀數(shù)值Ai與相對零點A06.2.2試片邊長、圓形人工槽直徑、十字人工槽長度、試片長度、試片寬度、分割線間隔和人工槽寬度用萬能工具顯微鏡測量。將試片放置在工作臺上，根據(jù)被測尺寸選擇適當倍數(shù)的物鏡，調(diào)整目鏡和焦距使米字線和試片影像清晰，移動縱向和模向滑板，分別測量上A型和D型試片的圓形人工槽直徑在相互垂直的兩個方向測量，取兩個方向測得值的C型試片的試片長度在試片寬度范圍內(nèi)選擇均勻分布的三個位置進行測量，取三次測C型試片的試片寬度在試片長度范圍內(nèi)選擇均勻分布的三個位置進行測量，取三次測A型和D型試片的圓形人工槽寬度在圓形范圍內(nèi)至少選擇均勻分布的四個位置進行測A型和D型試片的十字人工槽寬度在圖3所示的四個位置上進行測C型試片的直線人工槽寬度在圖4所示的十個位置上進行測量，取每個位置測得值作JJF(皖)149—20235為人工槽寬度。以上校準項目也可以使用影像測量儀測量，測量時優(yōu)先使用儀器自動尋邊的方式瞄準和選點。6.2.3人工槽深度用白光干涉輪廓儀校準。將試片置于干涉物鏡下方的工作臺上，調(diào)整焦距，使測量軟件界面顯示清晰的試片表面，微調(diào)工作臺使試片被測位置位于成像中心，設置合適的掃描行程后開始掃描，使試片表面3D形貌在測量軟件上清晰重建，評價線槽底部與試片上表面間的距離。A型和D型試片的圓形人工槽深度在圓形范圍內(nèi)至少選擇均勻分布的四個位置進行測A型和D型試片的十字人工槽深度在圖3所示的四個位置上進行測量。C型試片的直線人工槽深度在圖4所示的十個位置上進行測量。7校準結果表達校準后的磁粉檢測用試片出具校準證書。校準證書內(nèi)容及內(nèi)頁格式見附錄C。8復校時間間隔由于復校時間間隔的長短是由器具的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸多因素所決定的，因此委托方可根據(jù)實際使用情況自主決定復校時間間隔。建議不超過一年。JJF（皖）149—20236A.2測量模型L4Li（A.1）L4——人工槽深度，μm；A.3.2白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差u2(Li)A.4標準不確定度評定A.4.1測量重復性引入的標準不確定度u1(Li)表A.1重復性測量結果校準點/μm實測值/μms/μm12345678977.096.957.046.996.967.037.247.056.910.099A.4.2白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差引入的標準不確定度u2(Li)u2(Li)0.75%7/0.031μmA.5合成標準不確定度uc7標準不確定度代號u(x,)靈敏系數(shù)1白光干涉輪廓儀垂直方向示值誤差JJF(皖)149—20238試片厚度測量結果不確定度評定B.1測量方法試片厚度用測長儀直接測量。按規(guī)范正文6.2.1規(guī)定的方法，以D型試片為例，對其試片厚度測量結果不確定度進行評定。B.2測量模型B.3測量不確定度來源B.3.1測量重復性u(L)B.3.2測長儀示值誤差u?(L)B.3.3測力造成的壓陷變形u?(L)B.3.3測長儀測帽的平面度u?(L)B.4標準不確定度評定B.4.1測量重復性引入的標準不確定度u?(L)對D型試片的試片厚度重復測量10次，用貝塞爾公式計算實驗標準偏差，測得值見表12345689B.4.2測長儀示值誤差引入的標準不確定度u?(L)u?(L)=1.001√3=0.58μmB.4.3測力造成的壓陷變形引入的標準不確定度u?(L)測量時，試片的一面與平面測帽接觸，由于是平面對平面的接觸，變形量可以忽略不JJF（皖）149—2023計。另一面是球形測帽與試片的平面接觸，變形fK13（B.2）f——變形量，μm；p——測量力，N；d——球形測頭直徑，mm；K1——不同情況下的材料系數(shù)。弦分布保守估算，k，u3(Li)f/0.415/0.17μmB.4.4測長儀測帽的平面度引入的標準不確定度u4(Li)測長儀測帽的平面度為0.15μm，按反正弦分布保守估算，k，表B.2標準不確定度匯總表標準不確定度代號u(xi)不確定度來源標準不確定度值u(xi)靈敏系數(shù)c(xi)c(xi)u(xi)u1(Li)測量重復性0.07μm10.07μmu2(Li)測長儀示值誤差0.58μm0.58μmu3(Li)測力造成的壓陷變形0.17μm0.17μmu4(Li)測長儀測帽的平面度c u(Li)u(Li)u(Li)u(Li)取包含因子k2JJF（皖）149—2023），h）如果與校準結果的有效性和應用有關時，應對被校樣品的抽JJF（皖）149—2023表C.1校準證書內(nèi)頁格式證書編號：校準環(huán)境條件溫度：℃相對濕度：%地點：其他：序號校準項目校準值測量不確定度1表