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1、第3章 CMOS反相器的分析與設(shè)計(jì),第3章 CMOS反相器的分析與設(shè)計(jì),3.1 CMOS反相器的結(jié)構(gòu)和基本特性 3.2 CMOS反相器的直流特性 3.3 CMOS反相器的瞬態(tài)特性 3.4 CMOS反相器的設(shè)計(jì),2,3.1 CMOS反相器的結(jié)構(gòu)和基本特性,NMOS管的襯底接地,PMOS管的襯底接VDD。 輸入端柵極 輸出端?極 如何判斷分析器中NMOS和PMOS器件的源漏區(qū)? 是否有襯偏效應(yīng)?,3,4,CMOS Inverter,特點(diǎn): Vin作為PMOS和NMOS的共柵極; Vout作為共漏極; VDD作為PMOS的源極和體端; GND作為NMOS的源極和體端,反相器的邏輯符號(hào),3.1 CMO
2、S反相器的結(jié)構(gòu)和基本特性,若輸入為“1”(Vin= VDD): VGSN = VDD , VGSP = 0V NMOS導(dǎo)通,PMOS截止 輸出“0” (Vout = 0V),5,3.1 CMOS反相器的結(jié)構(gòu)和基本特性,若輸入為“0”(Vin = 0V): VGSN = 0V, VGSP=VDD NMOS截止,PMOS導(dǎo)通 輸出“1” (Vout = VDD),6,3.1 CMOS反相器的結(jié)構(gòu)和基本特性,無比電路 數(shù)字電路中作為開關(guān)使用(導(dǎo)通電阻、截止電阻) NMOS下拉開關(guān), PMOS上拉開關(guān),7,3.2 CMOS反相器的直流特性,3.2.1 直流電壓傳輸特性 3.2.2 直流轉(zhuǎn)移特性 3.2
3、.3 直流噪聲容限,8,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,輸出電平與輸入電平之間的關(guān)系:直流電壓傳輸特性(VTC) NMOS與PMOS可以同時(shí)導(dǎo)通: 并始終有如下關(guān)系:,9,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,Vin=VTN的垂直線:NMOS截止/導(dǎo)通 Vin=VDD+VTP的垂直線:PMOS導(dǎo)通/截止 VinVTN=Vout的斜線:NMOS飽和區(qū)/線性區(qū) VinVTP=Vout的斜線:PMOS線性區(qū)/飽和區(qū),10,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(1) 0VinVTN,NMOS截止, PMOS線性 Vin在一定范圍變化(0VTN),Vout始終保持VDD。
4、,11,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(2) VTNVinVout+VTP ,NMOS飽和, PMOS線性 Vout隨Vin的增加而非線性地下降, Kr=KN/KP為比例因子。,12,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(3) Vout+VTPVinVout+VTN,NMOS飽和, PMOS飽和,13,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(3) Vout+VTPVinVout+VTN,NMOS飽和, PMOS飽和 Vit:邏輯閾值電平(轉(zhuǎn)換電平), VTC垂直下降 如果VTN = -VTP,KN=KP, 則Vit=VDD/2, Vout/Vin趨向于無窮大。
5、,14,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(4) Vout+VTNVinVDD+VTP,NMOS線性, PMOS飽和 Vout隨Vin的增加而非線性地下降。,15,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,(5) VDDVinVDD+VTP,NMOS線性, PMOS截止 Vin在一定范圍變化(VDD+VTP VDD),Vout始終保持0。,16,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,Vin=VTN的垂直線:NMOS截止/導(dǎo)通 Vin=VDD+VTP的垂直線:PMOS導(dǎo)通/截止 VinVTN=Vout的斜線:NMOS飽和區(qū)/線性區(qū) VinVTP=Vout的斜線:PMOS線
6、性區(qū)/飽和區(qū),17,18,3區(qū)的高度為兩個(gè)閾值之和,Voltage Transfer Characteristic(VTC),Vout +VTP=Vin,Vout+VTN =Vin,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,理想VTC曲線: (1)為輸出高電平區(qū),(2)、(3)、(4)為轉(zhuǎn)變區(qū),(5)為輸出低電平區(qū)。其中(3)表現(xiàn)為垂線段。 實(shí)際VTC曲線: (3)不再是垂線段;偏移。,19,3.2.1 CMOS反相器的直流電壓傳輸特性,VTC的偏移:,20,3.2.2 CMOS反相器的直流轉(zhuǎn)移特性,直流轉(zhuǎn)移特性:直流導(dǎo)通電流Ion隨Vin的變化而發(fā)生的變化 VTC的輸出高/低電平區(qū): I
7、on = 0 VTC的轉(zhuǎn)變區(qū): Ion 0 Vin=Vit時(shí), Ion達(dá)到最大值:,21,3.2.3 CMOS反相器的直流噪聲容限,直流噪聲容限:允許的輸入電平變化范圍 由單位增益點(diǎn)確定噪聲容限: 在VTC的(2)區(qū)和(4)區(qū),分別可以找到增益為1的位置; 分別作為輸入低電平的最大值VILmax和輸入高電平的最小值VIHmin;,22,3.2.3 CMOS反相器的直流噪聲容限,如果Kr=1, VTN=VTP=VT,采用對(duì)稱設(shè)計(jì)的CMOS反相器有相同的輸入高電平和輸入低電平的噪聲容限。,23,3.2.3 CMOS反相器的直流噪聲容限,由邏輯閾值確定噪聲容限: 若Vit=VDD/2, VNHM =
8、VNLMVDD/2。 實(shí)際情況,VNHMVNLM,最大直流噪聲容限由 minVNHM,VNLM 決定。,24,25,例 題,一個(gè)CMOS反相器,Kr=1,設(shè)VDD = 5V,VTN = 0.8V,VTP = -1V,Cox = 4.610-8 F/cm2,n = 500 cm2/Vs、p = 200 cm2/Vs。由邏輯閾值點(diǎn)確定的最大噪聲容限為多少?,26,反相器的直流噪聲容限,數(shù)字電路中信號(hào)在VDD和Gnd之間轉(zhuǎn)換,各種干擾信號(hào),可能使得電路中某些結(jié)點(diǎn)的信號(hào)電平偏離理想電平(VDD,Gnd),產(chǎn)生所謂的噪聲 噪聲會(huì)對(duì)電路的可靠性造成影響,i,(,t,),Inductive coupling
9、,Capacitive coupling,Power and ground,noise,v,(,t,),V,DD,27,數(shù)字電路具有可恢復(fù)邏輯特性,可恢復(fù)邏輯特性,不可恢復(fù)邏輯特性,3.3 CMOS反相器的瞬態(tài)特性,3.3.1 負(fù)載電容 3.3.2 輸出電壓的上升時(shí)間和下降時(shí)間 3.3.3 傳輸延遲時(shí)間的計(jì)算 3.3.4 電路的最高工作頻率,28,3.3.1 CMOS反相器的負(fù)載電容,三部分: MOS管的漏-襯底pn結(jié)電容CDBN和CDBP ; 下級(jí)電路的輸入電容Cin; 互連線引起的寄生電容Cl。,29,3.3.1 CMOS反相器的負(fù)載電容,pn結(jié)電容用平均電容代替: 如果連線較短,連線寄生
10、電容Cl可以忽略。,30,31,0.25 mm CMOS Capacitances,W/L=0.36um/0.25um的NMOS(LD,S0.625um) 根據(jù)設(shè)計(jì)規(guī)則,計(jì)算出柵和漏端的電容 如果考慮反偏電壓和適當(dāng)?shù)陌鎴D優(yōu)化,二者基本相等,漏端電容甚至更小些,3.3.1 CMOS反相器的負(fù)載電容,Cin由下級(jí)電路全部NMOS和PMOS的柵電容構(gòu)成。,柵電容決定于柵面積(WL)和單位面積柵氧化層電容Cox。,32,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓的上升/下降時(shí)間,定義: 輸出上升時(shí)間(tr): V10%V90% 輸出下降時(shí)間(tf): V90%V10%,33,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓
11、的上升/下降時(shí)間,(1) 階躍輸入的上升時(shí)間 PMOS的導(dǎo)通電流是對(duì)負(fù)載電容充電的電流: VoutVTP時(shí),PMOS飽和: Vout從V10%上升到VTP的時(shí)間:,34,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓的上升/下降時(shí)間,(1) 階躍輸入的上升時(shí)間 VoutVTP時(shí),PMOS線性: Vout從VTP上升到V90%的時(shí)間: 總上升時(shí)間:,35,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓的上升/下降時(shí)間,(2) 階躍輸入的下降時(shí)間 NMOS的導(dǎo)通電流是對(duì)負(fù)載電容放電的電流: VoutVDDVTN時(shí),NMOS飽和: VoutVDDVTN時(shí),NMOS線性:,36,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓的上升/下降
12、時(shí)間,(2) 階躍輸入的下降時(shí)間 總的下降時(shí)間: 若參數(shù)對(duì)稱,則兩時(shí)間相等。 兩時(shí)間主要由負(fù)載電容和導(dǎo)電因子決定。,37,3.3.2 CMOS反相器輸出電壓的上升/下降時(shí)間,(3) 非階躍輸入情況 負(fù)載電容的充電或放電電流是NMOS和PMOS電流之差: 計(jì)算復(fù)雜,很難給出解析解。 上升/下降時(shí)間不僅與反相器的參數(shù)有關(guān),還與輸入信號(hào)的波形有關(guān)。,38,3.3.3 CMOS反相器傳輸延遲時(shí)間的計(jì)算,tPHL,tPLH,,39,3.3.3 CMOS反相器傳輸延遲時(shí)間的計(jì)算,近似認(rèn)為tPLH內(nèi)只有PMOS導(dǎo)通,tPHL內(nèi)只有NMOS導(dǎo)通: 用最大導(dǎo)通電流的一半作為平均電流: 對(duì)稱設(shè)計(jì)時(shí):,40,41,
13、提高反相器的速度,增加器件的寬長(zhǎng)比會(huì)同時(shí)增加導(dǎo)電因子和器件的柵電容和漏區(qū)電容 對(duì)于固定的大負(fù)載電容可以通過增加器件尺寸提高速度 對(duì)于小負(fù)載,反相器速度不會(huì)隨著尺寸出現(xiàn)明顯增加,42,瞬態(tài)響應(yīng):仿真波形,tpLH,tpHL,3.3.4 電路的最高工作頻率,必須維持輸入信號(hào)的時(shí)間大于電路的延遲時(shí)間。 若輸入信號(hào)的占空比為1:1,則其周期需要滿足: 對(duì)稱設(shè)計(jì)有利于提高電路的工作頻率。,43,3.3.4 電路的最高工作頻率,使用環(huán)形振蕩器測(cè)量電路的工作頻率及延遲時(shí)間: 普遍規(guī)律: 其中n是反相器的級(jí)數(shù), 應(yīng)為奇數(shù)。,44,45,3.4 CMOS反相器的設(shè)計(jì),完成能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)計(jì)要求的集成電路產(chǎn)品 設(shè)計(jì)要求
14、: 功能 可靠性 速度 面積 功耗,46,噪聲容限:邏輯閾值點(diǎn) 把Vit做為允許的輸入高電平和 低電平極限 VNLM=Vit VNHM=VDD-Vit VNLM與VNHM中較小的 決定最大直流噪聲容限,1、反相器的可靠性,47,可靠性:噪聲容限,面向可靠性最優(yōu)的設(shè)計(jì)目標(biāo),噪聲容限最大就是使得VitVDD/2 在反相器的設(shè)計(jì)中通過器件尺寸的設(shè)計(jì)保持電路滿足噪聲容限的要求 利用噪聲容限的設(shè)計(jì)要求可以得到Wp和Wn的一個(gè)方程,48,2、反相器的速度,一般用反相器的平均延遲時(shí)間表示速度 也可以分別用上升和下降延遲時(shí)間表示 利用速度的設(shè)計(jì)要求可以得到Wp和Wn的一個(gè)方程,49,3、反相器的面積,減小器件
15、的寬度可以減小面積 例如最小面積的要求可以采用最小尺寸的器件尺寸 利用面積的設(shè)計(jì)要求可以得到Wp和Wn的一個(gè)方程,50,4、反相器的功耗,增加器件寬長(zhǎng)比會(huì)增加電容 電路速度增加也會(huì)提高功耗 電源電壓的增加 功耗暫時(shí)不作為反相器設(shè)計(jì)的約束,51,反相器設(shè)計(jì):綜合,利用可靠性、速度和面積約束中的兩個(gè)就可以得到一組Wp和Wn 對(duì)稱反相器:對(duì)于NMOS和PMOS閾值基本相等的工藝,設(shè)計(jì)Kr1 對(duì)稱反相器具有最大的噪聲容限和相等的上升和下降延遲,在沒有具體設(shè)計(jì)要求情況下是相對(duì)優(yōu)化的設(shè)計(jì),例子,設(shè)計(jì)一個(gè)CMOS反相器,使 ( 1 ) 最大噪聲容限不小于0.44VDD, ( 2 ) 且驅(qū)動(dòng)1pF負(fù)載電容時(shí)上升、下降時(shí)間不大于10ns, 設(shè)VDD= 5V,VTN= 0.8V,VTP= -0.9V, K N=PCox=12010-6A/V2, K P=nCox=6010-6A/V2 問題:在給定工藝水平下, 如何選擇MOS管的尺寸來滿足2個(gè)要求,先考慮瞬態(tài)特性要求,根據(jù),得到:,同理:,取L=0.6m, 則Wn=6.9m, Wp=14.28m 考察直流特性,反相器的最大噪音容限均滿足要求。,思考題,如果根據(jù)瞬態(tài)特性設(shè)計(jì),使Vit=2.1V, 應(yīng)如何調(diào)整器件尺寸滿足噪聲容限要求? 如果根據(jù)瞬態(tài)特性設(shè)計(jì),使Vit=2.9V, 應(yīng)如何調(diào)整器件尺寸滿足噪聲容限要求?,此時(shí),VNHM小于2.
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