第7章光電信息變換

1、第7章 光電信息變換,光電器件可以將光信號轉(zhuǎn)換成電信號，通過對電信號的測量可以檢測那些物理量呢？,物體溫度、表面的反射率、物理運動速度、位移、 地質(zhì)地貌？,7.l 光電信息變換的分類,1. 信息載荷于光源的方式,光源的溫度信息，光源的頻譜信息，光源的強度信息等。根據(jù)這些信息可以進行鋼水溫度的探測、光譜分析、火災報警、武器制導、夜視觀察、地形地貌普查和成像測量等的應用。,全輻射測溫為例討論信息存在于光源中這類問題的處理方法。在全輻射測溫應用中溫度信息存在于光源的輻射出射度Me, ，由第1章中的式（1-42）可知物體的全輻射出射度Me, 與物體溫度的關系為,Me, =Me, ，s= T4,式中Me

2、, ，s為同溫度黑體的輻射出射度，為物體的發(fā)射系數(shù)，與物體的性質(zhì)、溫度及表面狀況有關。T為被測體的溫度，即測量的信息量。,光電傳感器的變換電路輸出的電壓信號為,US= mSGKMe, =Me, ,式中，m為光學系統(tǒng)的調(diào)制度，為光學系統(tǒng)的透過濾，S為光電器件的靈敏度，G為變換電路的變換系數(shù)，K為放大器的放大倍數(shù)，= mSGK稱為系統(tǒng)的光電變換系數(shù)。綜合兩式可得 US=T4 上式表明變換電路輸出的電壓信號US是溫度T的函數(shù)，溫度變化必然引起電壓的變化。因此，通過測量輸出電壓，可測得溫度。,2. 信息載荷于透明體的方式,在這種情況下，信息可為透明體的透明度，透明體密度的分布，透明體的厚度，透明體介質(zhì)

3、材料對光的吸收系數(shù)等都為載荷信息的方式。,檢測信息的方法常用光通過透明介質(zhì)時光通量的損耗與入射通量及材料對光吸收的規(guī)律求解。即,式中為透明介質(zhì)對光的吸收系數(shù)，它與介質(zhì)的濃度C成正比，即=C。顯然，為與介質(zhì)性質(zhì)有關的系數(shù)。上式可改寫為,當透明介質(zhì)的系數(shù)為常數(shù)時，光通量的損耗與介質(zhì)的濃度C與介質(zhì)的厚度l有關,光電檢測變換電路的輸出信號電壓Us與介質(zhì)的濃度C與介質(zhì)的厚度l 有關信號。,兩邊取自然對數(shù)后,lnUs=lnU0Cl,利用此信號可以方便地得到介質(zhì)的濃度C（在介質(zhì)的厚度l確定的情況下），或得到介質(zhì)的厚度l（在介質(zhì)的濃度C確定的情況下）。 還可以測量液體或氣體的透明度（或混濁度），檢測透明薄膜的

4、厚度、均勻度及雜質(zhì)含量等質(zhì)量問題。,3. 信息載荷于反射光的方式,反射有鏡面發(fā)射與漫反射兩種，各具有不同的物理性質(zhì)和特點。利用這些性質(zhì)和特點將載荷于反射光的信息檢測出來實現(xiàn)光電檢測的目的.,漫反射則不同，物體的漫反射本身載荷物體表面性質(zhì)的信息，例如反射系數(shù)載荷表面粗糙度及表面疵病的信息，通過檢測漫反射系數(shù)可以檢測物體表面的粗糙度及表面疵病的性質(zhì)。,鏡面反射在光電技術中常用作合作目標，用它來判斷光信號的有無等信息的檢測。例如，在光電準直儀中利用反射回來的十字叉絲圖像與原十字叉絲圖像的重疊狀況判斷準直系統(tǒng)的狀況，直接檢測物理量的較少。,根據(jù)漫反射原理，用這種方式可以對光滑零件表面的外觀質(zhì)量進行自動

5、檢測。,在檢測產(chǎn)品外觀質(zhì)量時，變換電路輸出的疵病信號電壓 US=E(r1-r2)B 式中E為被測表面的照度，r1為正品（無疵?。┍砻娴姆瓷湎禂?shù)，r2為疵病表面的反射系數(shù)，B為光電器件有效視場內(nèi)疵病所占的面積，為光電變換系數(shù)。由上式可知，當E，r1和已知時，輸出電壓US是r2和B的函數(shù)，因此，可以通過輸出信號電壓US的幅度判斷表面疵病的程度和面積。,4. 信息載荷于遮擋光的方式,物體部分或全部遮擋入射光束，或以一定的速度掃過光電器件的視場，投射光入射到探測器上轉(zhuǎn)換成光電信息。,例如，設光電器件光敏面的寬度為b，高度為h，當被測物體的寬度大于光敏面的寬度b時，物體沿光敏面高度方向運動的位移量為l，

6、則物體遮擋入射到光敏面上的面積變化為 A=bl 變換電路輸出的面積變化信號電壓為 U=EA=E bl,用這種方式即可以檢測被測物體的位移量l、運動速度v和加速度等參數(shù)，又可以測量物體的寬度b,5. 信息載荷于光學量化器的方式,光學量化是指通過光學的方法將連續(xù)變化的信息變換成有限個離散量的方法。光學量化器包含有光柵摩爾條紋量化器、各種干涉量化器和光學碼盤量化器等。 光信息量化的變換方式在位移量（長度、寬度和角度）的光電測量系統(tǒng)中得到廣泛的應用。,6. 光通訊方式的信息變換,信息首先對光源進行調(diào)制，發(fā)出載有各種信息的光信號，通過光導顯微傳送到遠方的目的地，再通過解調(diào)器將信息還原。,7.1.2 光電

7、信息變換的類型,1. 模擬光電變換,被測的非電量信息（如溫度、介質(zhì)厚度、均勻度、溶液濃度、位移量、工件尺寸等）載荷于光信息量時，常為光度量（通量、照度和出射度等）,光電器件,模擬信號,為保證光電變換電路輸出信號與被測信息量Q的函數(shù)關系，載體光度量必須穩(wěn)定。否則，載體光度量的變化直接影響被測信息量。,被測信息量Q通過光學變換量化為數(shù)字信息（包括光脈沖、條紋信號和數(shù)字代碼等）,光電器件,0和1高低脈沖,2. 模-數(shù)光電變換,脈沖的頻率、間隔、寬度、相位等都可以載荷信息。因此，這類光電變換電路的輸出信號不再是電流或電壓，而是數(shù)字信息量F,數(shù)字信息量F只取決于光通量變化的頻率、周期、相位和時間間隔等信

8、息參數(shù)，而與光的強度無關，也不受電源、光學系統(tǒng)及機械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性等外界因素的影響,7.2 光電變換電路的分類,7.2.1 模擬光電變換電路,1. 簡單變換電路,2. 具有溫度補償功能的變換電路,3. 差分式光電變換電路,圖7-6所示為光電比色計的原理圖，是一種典型的差分式光電變換電路,雙光路差分式光電變換器的原理結(jié)構(gòu)圖,由于雙光路雙器件光電變換電路的輸出信號與測量系統(tǒng)和參考系統(tǒng)輸出信號的差成正比，因此，測量系統(tǒng)和參考系統(tǒng)隨溫度與光源的影響將被消除。,雙光路單光電器件的光電檢測系統(tǒng)中光源發(fā)出的光經(jīng)反射鏡分為兩路經(jīng)調(diào)制盤的轉(zhuǎn)動，使參考光與測量光分時進入系統(tǒng)，并分時由光電器件D接收。光電器件D分時接收

9、到參考光信號和測量光信號后輸出如圖7-12所示的信號波形，輸出的信號差即為被測信號。,4. 光外差式光電變換電路,概念：光外差是指兩相干光束的光波頻率產(chǎn)生一個小的頻率差，引起干涉場中干涉條紋，經(jīng)光電探測器將干涉場中的光信號轉(zhuǎn)換為電信號。,圖7-13所示為光外差式光電變換電路的原理示意圖。設被測信號與本機振蕩信號光束均為簡譜函數(shù)，并分別表示，,其中Es和EL為光束的振幅，且差頻s。,那么，入射到檢測器上的總光場為：,光檢測器的響應與光電場的平方成正比，所以光檢測器的光電流為：,式中第一、二項為余弦函數(shù)平方的平均值，等于1/2。第三項為和頻項，頻率太高，光混頻器不響應，可略去，第四項為差頻項，頻率

10、低得多，當差頻信號C/2低于光檢測器的上限截止頻率時，檢測器就有頻率為C/2的光電流輸出。,如果把信號的測量限制在差頻的通常范圍內(nèi)，則可以得到通過以C為中心頻率的帶通濾波器的瞬時中頻電流為：,中頻濾波器輸出端，瞬時中頻信號電壓為：,中頻輸出有效信號功率就是瞬時中頻功率在中頻周期內(nèi)的平均值，即：,當=0，即信號光頻率等于本振光頻率時，則瞬時中頻電流為：,這是外差探測的一種特殊形式，稱為零差探測。,一、光外差檢測可獲得全部信息,外差檢測不僅可檢測振幅和強度調(diào)制的光信號，還可檢測頻率調(diào)制及相位調(diào)制的光信號。在直接檢測系統(tǒng)是不可能的。,二、光外差檢測轉(zhuǎn)換增益G高,光外差檢測中頻輸出有效信號功率為：,在

11、直接檢測中，檢測器輸出電功率為：,兩種方法得到的信號功率比G為：,可知，在微弱光信號下，外差檢測更有用。,三 良好的濾波性能,光外差檢測中，取信號處理器通頻帶為f=fL-fs，則只有此頻帶內(nèi)的雜光可進入系統(tǒng)，對系統(tǒng)造成影響，而其它的雜光噪聲被濾掉。因此外差檢測系統(tǒng)不需濾光片，其效果也遠優(yōu)于直接檢測系統(tǒng)。,比較式（7-30）和式（7-32），可見光外差式的S/N提高了一倍。如果考慮背景噪聲，光外差式的S/N提高得更高。,例：目標沿光束方向運動速度=0-15m/s，對于CO2激光信號，多普勒頻率fs為：,通頻帶f1取為：,而直接檢測加光譜濾光片時，設濾光片帶寬為1nm，所對應的帶寬，即通頻帶f2=

12、3000MHz。 可見，外差檢測對背景光有強抑制作用。 另：速度越快，多普勒頻率越大，通頻帶越寬。,7.2.2 模-數(shù)光電變換電路,模-數(shù)光電變換系統(tǒng)對光源和光電器件的要求不象模擬 光電變換那樣嚴格，只要能使光電變換電路輸出穩(wěn)定的“0”和“1”兩個狀態(tài)即可。因此，模-數(shù)光電變換電路的設計要比模擬光電變換電路簡單得多。,1. 激光干涉測位移,如圖7-14所示為激光單路干涉測位移的原理圖。He-Ne激光器發(fā)出的光入射到反射鏡M1（分光器）上分成兩束，一束為參考光束，另一束為測量光。兩束光分別經(jīng)全反射鏡M2與M3回到M1，并在M1處產(chǎn)生干涉。,1. 激光干涉測位移,干涉條紋被光電器件接收，形成脈沖信

13、號。,顯然，參考光束與測量光束的光程不相等。當光程差是波長的整數(shù)倍時，即K入(K=0，1，2，3)時，兩束光波的相位相同， M1處的光強度最大(出現(xiàn)亮點)，光電器件輸出高電平；當光程差(K十1/2) 時，兩束光波的位相差為， M1處的光強度為零(出現(xiàn)暗點) ，光電器件輸出低電平。,當M3沿著測量光束的光軸移動時，在M1上將出現(xiàn)亮暗交替的干涉條紋，其光強度的變化規(guī)律為,Iv=Iov+IovKIcos(2/),從上式可知，光程差每變化波長時，干涉條紋暗亮變化一次，當干涉條紋變化n次時，光程差n。對于圖7-14所示結(jié)構(gòu)，光程差是動鏡M3位移量L的二倍。因此，被測位移量 L=n/2,只要計量干涉條紋的

14、個數(shù)n，便可測出測量頭移動的長度。這種結(jié)構(gòu)的量化單位為/2,2. 莫爾條紋測位移,兩塊光柵以微小角度重疊時，在與光柵大致垂直的方向上，將看到明暗相間的粗條紋，稱為莫爾條紋(moire fringe)。 如圖7-16所示為兩種計量光柵示意圖。其中圖（a）為刻劃光柵。,圖7-16(b)為用臘腐蝕或照相腐蝕的方法制成的黑白光柵。計量光柵的黑白線條等寬，光柵的節(jié)距（光柵常數(shù)）為等間隔的。,當兩快光柵接近重疊時便產(chǎn)生如圖7-17所示的莫爾條紋。圖7-17中的aa線透光面積最大，形成條紋的亮帶，在bb線上，光線被暗條相互遮擋，形成暗帶。,從條紋的形狀可以看出，莫爾條紋的位置在兩光柵刻線夾角的補角平分線上。

15、當兩光柵相對移動時，莫爾條紋就在移動的垂直方向即角的平分線上移動。,假設光柵的節(jié)距為d，兩光柵的柵線夾角為，則條紋的間隔（寬度）m與d和的關系為,一般角很小，上式可簡化為,（7-36）,（7-37）,光柵每移一個柵距，莫爾條紋移過一個間隔（即一個條紋）。因此，只要計測條紋移過的個數(shù)n，便可計算出光柵的位移量L，即 L=nq (7-38) 式中q=d為量化單位，表示每條紋的長度量。,圖7-18所示為光柵測長的原理圖。它先將長度量變換成莫爾條紋,信號，然后再用光電器件讀取長度信息，這種光柵又稱為長光柵或長光柵付。它包含指示光柵與標尺光柵，指示光柵固定，標尺光柵的長度由位移量決定，一般較長。,莫爾條紋信號通過狹逢入射到光電器件上，它輸出的光電信號近似于正弦波。用兩個光電器件輸出的信號可以判斷光柵移動的方向。兩路光電信號的相位差為/2，即一路為sin，另一路為cos。,圖7-19所示為測角度用的圓光柵的原理圖。圓光柵付包括指示光柵與圓光柵盤。圓光柵盤是在玻璃圓盤上等間隔地刻線制成。圓盤光柵與指示光柵重疊產(chǎn)生莫爾條紋。圓盤光柵固定在轉(zhuǎn)軸上，可以轉(zhuǎn)動。指示光柵、光源、透鏡、與,光電器件構(gòu)成固定的光電探測頭。 當光柵轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)時，指示光柵與圓盤光柵產(chǎn)生的莫爾條紋將沿圓盤徑向移動，光