焊縫超聲波作業(yè)指導(dǎo)書(shū).doc

超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書(shū)1適用范圍 本作業(yè)指導(dǎo)書(shū)母材厚度在6mm200mm的風(fēng)力發(fā)電機(jī)組塔架全熔化焊對(duì)接 焊接接頭的超聲檢測(cè)。2引用標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-第3部分：超聲檢測(cè)NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)-第1部分：通用要求GB/T11259-2008 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214-2010A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10061-1999A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062-1999超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法3試驗(yàn)項(xiàng)目及質(zhì)量要求3.1試驗(yàn)項(xiàng)目： 風(fēng)力發(fā)電機(jī)塔筒，塔架焊縫6mm-200mm內(nèi)部缺陷超聲波探傷。3.2質(zhì)量要求 3.2.1檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí)焊縫質(zhì)量分級(jí)：評(píng)定指標(biāo)根據(jù)由缺陷引起的反射波幅（所在區(qū)域區(qū)、區(qū)、區(qū)）、單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、多個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度L；根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分、三個(gè)級(jí)，I級(jí)最高。 3.2.2 焊縫質(zhì)量等級(jí)及缺陷分級(jí)如下表所示： 3.2.3探傷比例 探傷比例按GB/T 19072-2003技術(shù)規(guī)范要求執(zhí)行 3.2.4 檢驗(yàn)區(qū)域的選擇 3.2.4.1 焊縫的超聲波檢測(cè)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格后方可進(jìn) 行，應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)域，標(biāo)出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)。 3.2.4.2 檢驗(yàn)區(qū)由焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度焊接接頭檢測(cè)區(qū)厚度表征。 3.2.4.3 焊接接頭檢測(cè)寬度應(yīng)是焊縫本身加上焊縫熔合線(xiàn)兩側(cè)各10mm確定。V型坡口對(duì)接接頭檢測(cè)區(qū)示意圖如下： 3.2.4.4 對(duì)接接頭檢測(cè)區(qū)厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高 3.2.4.5超聲波檢測(cè)應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)域。若增加檢測(cè)探頭的數(shù)量或者增 加檢測(cè)面(側(cè))還不能完全覆蓋，應(yīng)增加輔助檢測(cè)，包括其他無(wú)損檢測(cè)方法。3.2.5 焊接接頭檢測(cè)面的準(zhǔn)備 3.2.5.1 探頭移動(dòng)區(qū)寬度 a、探頭移動(dòng)區(qū)域?qū)挾葢?yīng)能滿(mǎn)足檢測(cè)到整個(gè)區(qū)域。如圖所示 b、采用一次反射法掃查探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于等于1.25P: “ P=2KT ”或“ 2Ttan ”， 式中： P-跨距，mm； T-母材厚度，mm； K-探頭K值； -探頭折射角（） c、采用直射法探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)域應(yīng)大于0.75P。 3.2.5.2 檢測(cè)面應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢、油漆及其它外部雜質(zhì)，以免影響超聲波耦合。檢測(cè)面表面應(yīng)平整光滑，檢測(cè)面與探頭楔塊底面或保護(hù)膜間隙 不應(yīng)大于0.5mm，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于25m 3.2.5.3 去除余高的焊接，應(yīng)將余高打磨到與臨鄰近母材平齊。保留余高焊縫，如焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)修磨，并做圓滑過(guò)渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。3.2.6 檢測(cè)頻率與K值的選用 3.2.6.1 焊縫對(duì)接接頭檢驗(yàn)頻率：一般在2-5MHZ的范圍內(nèi)選擇，特殊情況下，可選用低于2MHZ區(qū)或高于2.5MHZ的檢驗(yàn)頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求。頻率選定如圖所示： 3.2.6.2 K值的選用 a、一般情況可參照表中規(guī)定選擇，在條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值 b、采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，K值的選取應(yīng)盡可能使主聲束與檢測(cè)面向?qū)Φ牡酌娣ň€(xiàn)夾角在3570之間，當(dāng)選用兩種以上K值探頭檢測(cè)時(shí)，應(yīng)至少有一個(gè)探頭滿(mǎn)足要求。 4儀器、試塊、耦合劑、探頭4.1 探傷儀4.1.1探傷儀性能 采用A型脈沖反射式超聲波型探傷儀，其工作頻率范圍為0.510MHz儀器至少在熒光屏滿(mǎn)刻度的80%的范圍內(nèi)呈線(xiàn)性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB的誤差在1dB以?xún)?nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。水平線(xiàn)性誤差不大于1%，垂直線(xiàn)性誤差不大于5%。本公司采用的是TUD9100超聲波探傷儀4.1.2 數(shù)字式超聲波探傷儀TUD9100主要技術(shù)參數(shù)： 檢測(cè)范圍 025000mm、聲速范圍 40020000m/s、增益范圍 0dB110dB 顯示延遲 -20s+3400s、探頭零偏 0s99.99s 工作頻率 0.515MHz、電噪聲水平 10 探頭阻尼 100、150、200、500、重復(fù)頻率 102000Hz 靈敏度余量 62dB（深200mm，2 平底孔）、分 辨 力 40dB（5P14） 線(xiàn)性抑制 080%（數(shù)字抑制）、垂直線(xiàn)性誤差 3% 水平線(xiàn)性誤差 0.1%、動(dòng)態(tài)范圍 32dB 脈沖類(lèi)型 方波、脈沖強(qiáng)度 多級(jí)可調(diào)、脈沖寬度 自動(dòng)匹配/ 501000ns4.1.3 TUD9100超聲波探傷儀操作方法將儀器探頭線(xiàn)連接在探傷儀上，使用單探頭時(shí)，探頭線(xiàn)可以直接到儀器頂部任何一個(gè)探頭插座上。開(kāi)機(jī)啟動(dòng)儀器。按“基本”鍵進(jìn)入到基本功能組主菜單，并調(diào)節(jié)“儀器檢測(cè)范圍等參數(shù)在“調(diào)?！辨I，進(jìn)入到調(diào)校功能主菜單。調(diào)節(jié)“探頭類(lèi)型”、“探頭頻率”、“探頭前沿”、“晶片尺寸”，等參數(shù)在校準(zhǔn)中調(diào)節(jié)“材料聲速”、探頭零偏、一點(diǎn)聲程、二點(diǎn)聲程，等參數(shù)。待各參數(shù)調(diào)節(jié)，調(diào)校準(zhǔn)確無(wú)誤后即可進(jìn)行檢測(cè)工作。4.1.4 超聲波設(shè)備的使用與保養(yǎng)4.1.4.1 超聲波設(shè)備時(shí)用注意事項(xiàng) a、一起關(guān)機(jī)后必須挺5秒以上方可再次開(kāi)機(jī)，不可重復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī) b、避免強(qiáng)力震動(dòng)、沖擊和強(qiáng)磁場(chǎng)干擾 c、不要長(zhǎng)期放置于高溫、高濕、有腐蝕氣體的環(huán)境中 d、按鍵操作不宜用力過(guò)猛，不宜用沾有油污、泥水的手直接操 按鍵 e、儀器出現(xiàn)故障時(shí)，不要輕易拆卸，應(yīng)以設(shè)備廠家及時(shí)聯(lián)系4.1.4.2 超聲波設(shè)備的保養(yǎng)與維護(hù) a、設(shè)備使用完畢，應(yīng)對(duì)設(shè)備的外表進(jìn)行清潔，然后放置與室內(nèi)干 燥通風(fēng)處。 b、探頭連接接線(xiàn)切忌扭曲重壓，在插撥連接線(xiàn)時(shí)應(yīng)抓住插頭根部 c、為保護(hù)設(shè)備及電池，每個(gè)月至少開(kāi)機(jī)通電1.5h，并給電池充電 以免設(shè)備中重要元件受潮、電池過(guò)放電影響電池的使用壽命。 d、設(shè)備在搬動(dòng)過(guò)程中，應(yīng)避免摔跌，強(qiáng)烈震動(dòng)、強(qiáng)烈撞擊和雨、 雪等淋濕。 e、禁止用具有溶解性的物質(zhì)擦拭設(shè)備外殼。4.2 試塊4.2.1標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或相近的材料制成，制作時(shí)應(yīng)確認(rèn)材質(zhì)均勻,無(wú)雜質(zhì)，無(wú)影響使用的缺陷。 標(biāo)準(zhǔn)試塊外形加工的平行度，垂直度與尺寸精度均應(yīng)經(jīng)過(guò)嚴(yán)格檢驗(yàn)并符合JB/T7913-1995超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法中的相關(guān)規(guī)定。本條采用的標(biāo)準(zhǔn)是試塊為CSK-A。4.2.1.2標(biāo)準(zhǔn)試塊的用途a、校驗(yàn)超聲波探傷儀的水平線(xiàn)性，垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍：用25mm或100mm尺寸b、調(diào)節(jié)基線(xiàn)比例和探測(cè)范圍：用25mm和100mm尺寸c、測(cè)定直探頭與超聲波探傷儀組合的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)分辨力：用85mm，91mm，100mm 尺寸。d、測(cè)定直探頭與超聲波探傷組合的盲區(qū)：用50mm有機(jī)玻璃圓弧至兩側(cè)的距離5mm和10mm的位置測(cè)定。e、測(cè)定直探頭與超聲波探傷儀組合的最大穿透能力：用50mm有機(jī)玻璃底面的多次反射波測(cè)定f、測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)：用R50，R100圓弧面g、測(cè)定斜探頭的折射角度或K值：用50mm或1.5mm孔測(cè)h、測(cè)定斜探頭的聲束偏斜角：用直角棱邊測(cè)定i、測(cè)定斜探頭在深度方向的分辨力，用40mm，44mm，50mm臺(tái)階園柱孔。4.2.2 對(duì)比試塊4.2.2.1 對(duì)比試塊的基本要求 在不同的標(biāo)準(zhǔn)下選擇相應(yīng)的對(duì)比試塊，其制作與標(biāo)準(zhǔn)試塊的要求保持一致。本條采用的對(duì)比試塊為CSK-A和CSK-A試塊。4.2.3試塊使用原則4.2.3.1 CSK-A，CSK-A和CSK-A試塊適用于檢測(cè)面曲率半徑大于等于 250mm的焊接接頭超聲波檢測(cè)。4.2.3.2 CSK-A，CSK-A試塊試用工件壁厚范圍6mm200mm的焊接接頭4.2.3.3 對(duì)于工件厚度范圍在8mm120mm的焊接接頭超聲波檢測(cè)可采用 CSK-A試塊，但應(yīng)對(duì)靈敏度進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整予以CSK-A試塊保 持一致。4.2.3.4 對(duì)于不同工件厚度的對(duì)接接頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，試塊厚度的懸著應(yīng) 有較大工件厚度確定，掃查靈敏度和質(zhì)量分級(jí)由薄側(cè)工件厚度確定。 4.2.4 試塊的維護(hù)4.2.4.1 相同型號(hào)的試塊應(yīng)有適當(dāng)?shù)牟课痪幪?hào)，以防混淆。4.2.4.2 試塊在使用和搬運(yùn)過(guò)程中注意保護(hù)，防止測(cè)試面損傷。4.2.4.3 使用試塊應(yīng)注意清除反射體內(nèi)的油污和銹蝕。常用沾油布將銹蝕部位 拋光，或用適合的去銹劑處理。4.2.4.4 注意防止試塊銹蝕，使用后停放時(shí)間較長(zhǎng)是，要涂適當(dāng)?shù)姆冷P劑。4.2.4.5 注意防止試塊變形，避免火烤，較薄的試塊防止重壓4.3.耦合劑 4.3.1 耦合劑的作用 應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或模糊狀物作耦合劑。耦合劑應(yīng)具備有良好透聲性和適宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)材料和人體有損傷作用。同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理。 4.3.2 典型耦合劑 典型耦合劑為水、機(jī)油、甘油和化學(xué)漿糊。在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑。 4.3.3 耦合劑滿(mǎn)足的要求 4.3.3.1 能潤(rùn)濕工件和探頭表面，流動(dòng)性，黏度和附著力適當(dāng)，不難清洗 4.3.3.2 聲阻抗高，透聲性能好。 4.3.3.3 來(lái)源廣，價(jià)格便宜。 4.3.3.4 對(duì)工件無(wú)腐蝕，對(duì)人體無(wú)害，不污染環(huán)境。 4.3.3.5 性能穩(wěn)定，不易變質(zhì)，保質(zhì)期長(zhǎng)。4.4 探頭 4.4.1 對(duì)接接頭焊縫檢測(cè)時(shí)采用單晶橫波斜探頭其頻率和K值應(yīng)滿(mǎn)足3.2.6.1和 3.2.6.2中的要求，其基本性能應(yīng)滿(mǎn)足下表要求，列表如下：4.4.2 探頭K值選用原則4.4.2.1 使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面4.4.2.2 使聲束中心線(xiàn)盡量與主要缺陷垂直4.4.2.3 保證有足夠的檢測(cè)靈敏度5 儀器、探頭、曲線(xiàn)的調(diào)校5.1 儀器與探頭的調(diào)節(jié)5.1.1 垂直線(xiàn)性 儀器的垂直線(xiàn)性是指儀器顯示屏上的波幅與探頭接收的信號(hào)之間成 正比的程度。垂直線(xiàn)性的好壞影響缺陷定量的精度。垂直線(xiàn)性好壞常以 垂直線(xiàn)性誤差來(lái)判斷。5.1.2 垂直線(xiàn)性誤差測(cè)試步驟 1 將超聲波探傷儀的“抑制”調(diào)節(jié)到“0”，“衰減器”保留一定 余量（30db） 2 直探頭置于CSK-A試塊上，對(duì)準(zhǔn)25mm底面，并用壓塊恒定壓力 3 調(diào)節(jié)儀器室試塊上某次底波位于顯示屏中間位置，并達(dá)到滿(mǎn)波幅 100%，但不飽和，記為“0”db 4 調(diào)節(jié)“衰減器”，每次衰減2db，并記下相應(yīng)波高，知道底波消失 5 運(yùn)用公式計(jì)算垂直線(xiàn)性誤差，公式如下： D=（|d1|+|d2|）% 式中 d1：實(shí)測(cè)值與理想值得最大正偏差 d2: 實(shí)測(cè)值與理想值得最大負(fù)偏差 6 將說(shuō)的數(shù)值填入下表，衰減量db024681012141618202224反射波高度實(shí)測(cè)絕對(duì)H相對(duì)%理想波高%10079.463.150.139.831.625.119.915.812.6107.96.3 偏差% 注：表中 1.絕對(duì)H : 絕對(duì)波高H 2.相對(duì)%：相對(duì)波高% ，其計(jì)算公式為： 實(shí)測(cè)相對(duì)波高=Hi(衰減db后波高)/Ho(衰減0db是波高)100% 3.理想相對(duì)波高計(jì)算公式：理想相對(duì)波高%=10-20lg（Hi(衰減db后波高)/Ho(衰減0db是波高)）100% 5.1.3 水平線(xiàn)性 儀器的水平線(xiàn)性是指儀器顯示屏上時(shí)基線(xiàn)顯示的水平刻度與實(shí)際聲程 之間成正比的程度，或者說(shuō)是顯示屏上多次底波等距離的程度。水平線(xiàn)性主要取決掃描鋸齒波的線(xiàn)性。水平線(xiàn)性好壞直接影響定位準(zhǔn)確性。水平線(xiàn)性的好壞常用水平線(xiàn)性誤差來(lái)表示。 5.1.4 水平線(xiàn)性誤差測(cè)試 1 將直探頭置于CSK-A上，對(duì)準(zhǔn)25mm厚的大平底面 2 調(diào)“微調(diào)”，“水平”，“脈沖位移”旋鈕，是顯示屏出現(xiàn)五次 底波，B1-B5，且是B1前沿對(duì)準(zhǔn)屏幕2.0基線(xiàn)，B5前沿對(duì)準(zhǔn)10.0基 線(xiàn)。 3 記錄B2,B3,B4與水平刻度基線(xiàn)4.0，6.0，8.0的偏差值a2，a3，a4 4 運(yùn)用公式計(jì)算水平線(xiàn)性誤差 =|amax|/0.8b100% 式中： amax a2，a3，a4 中的最大值 b 顯示屏水平滿(mǎn)刻度值5.1.5 衰減器精度調(diào)節(jié) 衰減器精度影響著缺陷定量的準(zhǔn)確性，準(zhǔn)確測(cè)定衰減器精度應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)衰減器進(jìn)行比較，但是現(xiàn)場(chǎng)難以實(shí)現(xiàn)，檢測(cè)人員可以用簡(jiǎn)易方法，大致測(cè)出衰減器的精度。5.1.6 衰減器精度測(cè)試 1 使2平底孔的最大反射波高為適當(dāng)高度（如：80%），記為H1 2 使同聲程的4的平底孔的最大反射波出現(xiàn)在屏幕上，衰減12db， 記為H2. 3 運(yùn)用公式估算衰減器誤差,公式如下： N（db）=20lg（H1/H2） JB/T9214-1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法中規(guī)定，任意相鄰12db誤差小于等于1db。 5.2 橫波探頭的校準(zhǔn)5.2.1 橫波斜探頭入射點(diǎn)L0的校準(zhǔn) 1 在CSK-A試塊25mm寬的檢測(cè)面上涂上耦合劑，然后再R100弧面的圓心附近前后平穩(wěn)移動(dòng)，找到圓弧面的最高反射波。用尺測(cè)量探頭段部至R100端面的距離L，則入射點(diǎn)至探頭前端的距離L0 2 運(yùn)用公式 L0=100-L 計(jì)算求得3 入射點(diǎn)測(cè)量應(yīng)進(jìn)行三次，取平均值，誤差小于0.5mm5.2.2 橫波斜探頭K值的校準(zhǔn) a、 將探頭對(duì)準(zhǔn)50，1.5孔的圓弧面平穩(wěn)的前后移動(dòng)，當(dāng)主聲束掃查至 圓弧面且其延長(zhǎng)線(xiàn)通過(guò)圓心時(shí)，找到50，1.5孔的圓弧面的最高反 射波，此時(shí)測(cè)量探頭前端部至試塊段部距離L。 b、 運(yùn)用公式 K= (L+ L0 -35)/30 計(jì)算求得 c、不同折射角（K值）選取測(cè)量面 當(dāng)折射角為3466時(shí)，探頭放在距50遠(yuǎn)面處，使用 50mm孔進(jìn)行測(cè)定。 當(dāng)折射角為6075時(shí)，探頭放在距50近面處，使用 50mm孔進(jìn)行測(cè)定。 當(dāng)折射角為7480時(shí)，探頭放在距1.5近面處，使用 1.5mm孔進(jìn)行測(cè)定。5.3 基線(xiàn)掃描的確定 5.3 掃描基線(xiàn) 熒光屏?xí)r基線(xiàn)刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離，深度 h或聲程S。5.3.2 基線(xiàn)掃描的調(diào)節(jié)根據(jù)下列方法調(diào)節(jié) 1 探傷面為平面時(shí)，可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié)，掃描比例依據(jù)工作厚度和選用的探頭角度來(lái)確定，最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)到時(shí)基線(xiàn)滿(mǎn)刻度的23以上。 2 探傷面曲率半徑RW2 4時(shí)，可在平面對(duì)比試塊上或探傷面曲率相近的曲面對(duì)比試塊上，進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié)。 3 探傷面曲面半徑RW24時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合，按NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)要求在對(duì)比試塊上作時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié)。5.4 距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn))的繪制 5.4.1 距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)）應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線(xiàn)族由評(píng)定線(xiàn)、定量線(xiàn)和判廢線(xiàn)組成。評(píng)定線(xiàn)與定量線(xiàn)（包括平定線(xiàn)）為區(qū)，定量線(xiàn)與判廢線(xiàn)之間（包含定量線(xiàn)）為區(qū)，判廢線(xiàn)及以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)如下圖所示： 5.4.2 距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)）靈敏度選擇 5.4.2.1工件厚度為6mm-200mm的焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測(cè)時(shí)， 用CSK-A試塊制作距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)）的靈敏度如下 表所示： 5.4.1.2 工件厚度為8mm-120mm的焊接接頭，斜探頭檢測(cè)時(shí)，用CSK-A 試塊制作距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)）的靈敏度如下表所示： 5.4.1.3 CSK-A與CSK-A 試塊之間靈敏度轉(zhuǎn)化 5.4.3 距離-波幅曲線(xiàn)（DAC曲線(xiàn)）的繪制 按照5.2.1，5.2.2，5.2.3，5.2.4調(diào)校好儀器和探頭的參數(shù)后，就可以制作DAC曲線(xiàn)。依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.3-2015選取試塊CSK-A或者CSK-A。 5.4.1.1 選擇儀器制作DAC按鈕，激活DAC曲線(xiàn)制作功能。 5.4.1.2 依據(jù)探傷需要選取試塊上深度10mm的240孔或者16孔，雙手移動(dòng) 探頭找到其最高反射波，調(diào)節(jié)增益按鈕使波高穩(wěn)定于屏幕80高度 ，按確定按鈕（凍結(jié)鍵），這時(shí)就選好了第一點(diǎn)。 5.4.1.3按照步驟1的方法，依次選擇不同深度其他兩點(diǎn)的，找到最高波確定各點(diǎn)。 5.4.1.4 最后選擇確定鍵（回車(chē)鍵），激活DAC母線(xiàn)曲線(xiàn)。按照5.2.2.2或5.2.2.3中列表分別確定判廢線(xiàn)、定量線(xiàn)、評(píng)定線(xiàn)。 5.4.4 探測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線(xiàn)靈敏度均提高6dB。 5.4.5 探傷面曲率半徑R小于等于W*W 4時(shí)，距離一波幅曲線(xiàn)的繪制應(yīng)在曲線(xiàn)面對(duì)比試塊上進(jìn)行。 5.4.6 受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整，在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損差在2dB以?xún)?nèi)可不進(jìn)行修整。5.5 儀器調(diào)整的校驗(yàn) 5.5.1 每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上對(duì)時(shí)基線(xiàn)掃描比例和距離一波幅曲線(xiàn)靈 敏度進(jìn)行調(diào)整或校驗(yàn)。校驗(yàn)點(diǎn)不少于兩點(diǎn)。 5.5.2 在檢驗(yàn)過(guò)程中每4h之內(nèi)檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線(xiàn)掃描和靈敏度進(jìn) 行校驗(yàn)，校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他等效試塊上進(jìn)行。 5.5.3 掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí)，如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線(xiàn)上偏移超過(guò)原校 驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的10或滿(mǎn)刻度5(兩者取較小值)，則掃描比例應(yīng) 重新調(diào)整，前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺點(diǎn)，位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定，并 予以更正。 5.5.4 靈敏度校驗(yàn)時(shí)，如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離一波幅曲線(xiàn)降低20 或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，而前次校驗(yàn)后，已經(jīng)記錄 的缺陷，應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定。 6 焊縫的檢驗(yàn)6.1 檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)要求6.1.1 超聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí) 超聲波檢測(cè)的技術(shù)等級(jí)分為A、B、C級(jí)，對(duì)于實(shí)際檢測(cè)檢測(cè)項(xiàng)目， 選取A或者B級(jí)，一般采用B級(jí)超聲波檢測(cè)。6.1.2 超聲波檢測(cè)等級(jí)的要求 6.1.2.1 A級(jí)檢測(cè)：適用于工件厚度為6mm-40mm焊接接頭的檢測(cè)?？捎?一種折射角（K值）斜探頭采用那個(gè)直射波法和一次 反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。如果條 件限制，也可以選擇雙面單側(cè)或者單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。 一般不對(duì)橫向缺陷進(jìn)行檢測(cè)。 6.1.2.2 B級(jí)檢測(cè): a、B級(jí)檢測(cè)適用于工件厚度6mm-200mm焊接接頭檢測(cè) b、一般焊接接頭進(jìn)行橫向檢測(cè) c、對(duì)于要求進(jìn)行栓面雙側(cè)的焊接接頭，如受幾何限 制只能采用單面雙側(cè)檢測(cè)時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作 近表面缺陷檢測(cè)。要求如下表所示：6.2 檢測(cè)面要求 6.2.1 超聲波檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢驗(yàn)合格并滿(mǎn)足3.2.5.2 和3.2.5.3要求檢驗(yàn)前探傷人員應(yīng)了解受檢工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲 率、厚度、焊接方法、焊縫種類(lèi)、坡口形式、焊縫余高及背面襯 墊、溝槽等情況。 6.3 平板焊縫掃查 6.3.1 縱向焊縫的掃查 6.3.1.1 探測(cè)縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線(xiàn)放置在探傷面上, 作鋸齒型掃查。掃查速度不應(yīng)大于150mmS，相鄰兩次探 頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10的重疊。 6.3.1.2 探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū) 。在保持垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作1015左 右移動(dòng)。 為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜 平行掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài) 波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、 環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式.如下圖所示: 6.3.2 橫向缺陷的掃查 6.3.2.1 檢測(cè)焊接接頭的橫向缺陷時(shí),可在焊接接頭的兩側(cè)邊緣時(shí)斜探 頭與焊接接頭中心線(xiàn)成不大于10作兩個(gè)方向的斜平行掃查 如下圖所示： 6.3.2.2 如果焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作 兩個(gè)方向的平行掃查，如下圖所示： 6.4 曲面焊縫掃查 6.4.1 探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.3.1條的 方法進(jìn)行檢驗(yàn)。受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法 實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。 6.4.2 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍 的對(duì)比試塊，均可采用，對(duì)比試塊的采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí) 按6.3.3條的方法進(jìn)行。 6.4.3 縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差 應(yīng)小于10。 6.4.3.1 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考 慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊 縫厚度；條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度 不應(yīng)超過(guò)70。 6.4.3.2 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射點(diǎn)角 或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。7 焊縫的缺陷的評(píng)定 7.1 缺陷的位置 7.1.1 缺陷的位置應(yīng)以獲得缺陷的最大長(zhǎng)度為準(zhǔn). 7.1.2 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線(xiàn)的缺陷，均應(yīng)確定其位置，最大反 射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度并作記錄。 7.2 缺陷的指示長(zhǎng)度 7.2.1 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn),且位于區(qū)或者區(qū)以上時(shí),用-6db 法(半波高度法)量其指示長(zhǎng)度. 7.2.2 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn),且均位于區(qū)或者區(qū) 以上時(shí),應(yīng)采用斷點(diǎn)-6db法量其指示長(zhǎng)度. 7.2.3 當(dāng)缺陷最大反射波幅位于區(qū),將探頭左右移動(dòng),使波幅降到評(píng)定線(xiàn) ,用評(píng)定線(xiàn)絕對(duì)靈敏度法測(cè)量其指示長(zhǎng)度.7.3 缺陷定量 7.3.1 缺陷當(dāng)量，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢驗(yàn)，可 采用公式計(jì)算，DGS曲線(xiàn)，試塊對(duì)比或當(dāng)量計(jì)算尺確定缺陷當(dāng)量尺 寸。 7.3.2 檢測(cè)時(shí)應(yīng)對(duì)反射波幅在評(píng)定線(xiàn)或者評(píng)定線(xiàn)以上的缺陷進(jìn)行定量,除 了按7.1和7.2確定缺陷的位置、波幅和指示長(zhǎng)度外，還應(yīng)包括對(duì) 缺陷自身高度，缺陷類(lèi)型進(jìn)行可能的估判。7.4 缺陷類(lèi)型確定（定性） 7.4.1 缺陷類(lèi)型度確定應(yīng)主要考慮焊接方法、缺陷的位置、缺陷的指示 長(zhǎng)度、自身高度、缺陷波幅、缺陷指向性,再結(jié)合缺陷靜態(tài)波形和 動(dòng)態(tài)波形.通常用確定點(diǎn)狀缺陷、線(xiàn)狀缺陷或面狀缺陷。 7.4.2 缺陷類(lèi)型確定的方法 7.4.2.1 缺陷類(lèi)型確定應(yīng)按一下順序依次進(jìn)行： a、缺陷波幅 b、缺陷指向性 c、靜態(tài)波形 d、動(dòng)態(tài)波形7.5 缺陷的評(píng)定 7.5.1 缺陷的判定應(yīng)遵循3.2.2表中要求確定 7.5.2 超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋,未熔合未焊透等類(lèi)型 缺陷的特征,如有懷疑時(shí),應(yīng)采取改變探頭折射角度(K值),增加 檢測(cè)面,觀察動(dòng)態(tài)波形并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征判定,如波形不能準(zhǔn) 確判定,應(yīng)輔以其他檢測(cè)方法作綜合判定. 7.5.3 沿缺陷長(zhǎng)度方