主板檢測卡代碼大全

1、主板檢測卡代碼人全 一般來說代碼：FF、00、CO、DO、CF、F1或什么也沒有表示CPU沒通過C1、 C6、C3、D3、D4、D6、D8、BO、A7、E1 表示內(nèi)存不過 24、25V 26X 01V 0A、OB、2A、2B、31 表示顯卡不過 某些集成顯卡主板23、24x 25表示可以正常點(diǎn)亮，某些VIA芯片組顯示13則 表示 可以點(diǎn)亮，某些品牌機(jī)里的主板顯示0B則表示正常，某些主板顯示4E表示正常 點(diǎn)亮，某些INTEL芯片組的主板顯示26或16則表示可以正常點(diǎn)亮。 C1、C6、C3、01、02這個(gè)組合循環(huán)跳變大部分是I/O壞或刷BIOS 如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 已顯示

2、系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引 導(dǎo)裝 入。 01處理器測試1,處理器狀態(tài)核實(shí)，如果測試失敗，循環(huán)是無限的。處理器寄存器 的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。 02確定診斷的類型（正常或者制造）。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會(huì)失效。停用不 可屏蔽中斷；通過延遲開始。CMOS寫入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。 03清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH ）通電延遲已完成。ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。 04使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRDo鍵盤控制器軟復(fù)位/通電測 試?？?編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。 05如果不斷重復(fù)制

3、造測試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復(fù)位/通 電；即 將啟動(dòng)ROMo DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。 06使電路片作初始準(zhǔn)備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路 片，所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。已啟動(dòng)ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總 和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。DMA初始頁面寄存器讀/寫測試 正在進(jìn)行或失靈。 07處理器測試乙 核實(shí)CPU寄存器的工作。ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖 器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT （基本保證測試）命令。. 08使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備，正常的更新計(jì)時(shí)器的循壞。已向鍵盤發(fā)出BAT命 令，即將寫入BAT命令。RAM更新檢

4、驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。 09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。核實(shí)鍵盤的基本保證測試，接著核實(shí) 鍵盤命令字節(jié)。第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。 0A使視頻接口作初始準(zhǔn)備。發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。 0B測試8254通道0。寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的 封鎖/ 解鎖命令。第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈。 0C測試8254通道1。鍵盤控制器引腳23、24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAN的地址線故障。 0DK檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否 符合 初設(shè)置。

5、3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。已處理NOP命令；接 著測試CMOS停開寄存器。第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈 0E測試CMOS停機(jī)字節(jié)。CMOS停開寄存器讀/寫測試；將計(jì)算CMOS檢 查總 和。初始化輸入/輸出端口地址。 0F測試擴(kuò)展的CMOS。已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始 初始準(zhǔn) 備。 10測試DMA通道0。CMOS已作初始準(zhǔn)備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期 和時(shí)間 作初始準(zhǔn)備。第一個(gè)64K RAM第0位故障。 11測試DMA通道1。CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備，即將停用DMA和中斷控 制器。第一個(gè)64DK RAM第1位故障。 12測試DMA頁面寄存器。停用D

6、MA控制器1以及中斷控制器1和2 ；即將視頻 顯示器并使端口 B作初始準(zhǔn)備。第一個(gè)64DK RAM第2位故障。 13測試8741鍵盤控制器接口。視頻顯示器已停用，端口 B已作初始準(zhǔn)備；即將 開始電路片初始化/存儲(chǔ)器自動(dòng)檢測。第一個(gè)64DK RAM第3位故障。 14測試存儲(chǔ)器更新觸發(fā)電路。電路片初始化/存儲(chǔ)器處自動(dòng)檢測結(jié)束；8254 計(jì)時(shí)器測試即將開始。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。 15測試開頭64K的系統(tǒng)存儲(chǔ)器。第2通道計(jì)時(shí)器測試了一半；8254第2通 道計(jì)時(shí) 器即將完成測試。第一個(gè)64DK RAM第5位故障。 16建立8259所用的中斷矢量表。第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束；8254第1通道

7、計(jì)時(shí) 器即將完成測試。第一個(gè)64DK RAM第6位故障。 17調(diào)準(zhǔn)視頻輸入/輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。第1通道計(jì)時(shí)器測試 結(jié)束； 8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。第一個(gè)64DK RAM第7位故障。 18測試視頻存儲(chǔ)器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。第0通道計(jì) 時(shí)器測試結(jié)束；即將開始更新存儲(chǔ)器。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。 19測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。已開始更新存儲(chǔ)器，接著將 完成 存儲(chǔ)器的更新。第一個(gè)64DK RAM第9位故障。 1A測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲(chǔ)器更新線路, 即將 Word專業(yè)資料 檢查15微秒

8、通/斷時(shí)間。第一個(gè)64DK RAM第10位故障。 1B測試CMOS電池電平。完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間30微秒測試；即將開始基本的 64K存儲(chǔ)器測試。第一個(gè)64DK RAM第11位故障。 1C測試CMOS檢查總和。第一個(gè)64DK RAM第12位故障。 1D調(diào)定CMOS配置。第一個(gè)64DK RAM第13位故障。 1E測定系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小，并且把它和CMOS值比較。第一個(gè)64DK RAM第14 位故障。 仆測試64K存儲(chǔ)器至最高640K。第一個(gè)64DK RAM第15位故障。 20測量固定的8259中斷位。開始基本的64K存儲(chǔ)器測試；即將測試地址線。從屬 DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 21維持不可屏蔽中

9、斷（NMI ）位（奇偶性或輸入/輸出通道的檢查）。通過 地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 22測試8259的中斷功能。結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。主中斷 屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。 23測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式?；镜?4K串行數(shù)據(jù)讀/寫測試 正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器 測試正在進(jìn)行或失靈O 24測定1 MB以上的擴(kuò)展存儲(chǔ)器。矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷 矢量的初始準(zhǔn)備。設(shè)置ES段地址寄存器注冊(cè)表到內(nèi)存高端。 25測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲(chǔ)器。完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為

10、旋轉(zhuǎn) 式斷 續(xù)開始讀出8042的輸入/輸出端口。裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。 26測試保護(hù)方式的例外情況。讀出8042的輸入/輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始 使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。開啟A20地址線；使之參入尋址。 27確定超高速緩沖存儲(chǔ)器的控制或屏蔽RAMo全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著將進(jìn) 行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。 CMOS電源故障/檢查總和計(jì)算正在進(jìn) 28確定超高速緩沖存儲(chǔ)器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。完成中斷矢量 之后 的初始準(zhǔn)備；即將調(diào)定單色方式。 行。 29 已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。 2A使鍵盤控制器

11、作初始準(zhǔn)備。已調(diào)定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測試前的觸 發(fā)奇偶性。置空64K基本內(nèi)存。 2B使磁碟驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視 頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。屏幕存儲(chǔ)器測試正在進(jìn)行或失靈。 2C檢查串行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。完成視頻ROM控制之前的處理；即 將查看任選的視頻ROM并加以控制。屏幕初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。 2D檢測并行端口，并使之作初始準(zhǔn)備。已完成任選的視頻ROM控制，即將 進(jìn)行視 頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。 2E使硬磁盤驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原；如果 沒有發(fā)現(xiàn)EGA/VGA就

12、要進(jìn)行顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。檢測視頻ROM正在進(jìn)行。 2F檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準(zhǔn)備。沒發(fā)現(xiàn)EGA/VGA ;即將開始顯 示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。 30建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。通過顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試；即將進(jìn)行掃描 檢查。認(rèn)為屏幕是可以工作的。 31檢測從C800 : 0至EFFF: 0的選用ROM,并使之作初始準(zhǔn)備。顯示器存儲(chǔ)器 讀/寫測試或掃描檢查失敗，即將進(jìn)行另一種顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。單色監(jiān)視器是 可以工作的。 32對(duì)主板上COM / LTP/FDD /聲音設(shè)備等1/0芯片編程使之適合設(shè)置值。通過另 一種顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試；卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。彩色 監(jiān)視器（4

13、0列）是可以工作的。 33 視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實(shí)際插卡檢驗(yàn)顯示器的關(guān)型。彩 色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。 34 已檢驗(yàn)顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。計(jì)時(shí)器滴答聲中斷測試正在 進(jìn)行或失靈。 35 完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。停機(jī)測試正在進(jìn)行或失 靈。 36 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標(biāo)。門電路中A 20 失靈。 37 識(shí)別通電信息的游標(biāo)調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。保護(hù)方式中的意外 中斷。 38 完成顯示通電信息；即將讀出新的游標(biāo)位置。RAM測試正在進(jìn)行或者地 址故障FFFFHo 39 已讀出保存游標(biāo)位置，即將顯示引用

14、信息串。 3A.引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。間隔計(jì)時(shí)器通道2測試或失靈。3B 用OPTI電路片（只是486 ）使輔助超高速緩沖存儲(chǔ)器作初始準(zhǔn)備。已顯示 發(fā)現(xiàn)vESC信息；虛擬方式，存儲(chǔ)器測試即將開始。按日計(jì)算的日歷時(shí)鐘測 試正在進(jìn)行或失靈。 3C建立允許進(jìn)入CMOS設(shè)置的標(biāo)志。串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。 3D初始化鍵盤/ PS2鼠標(biāo)/ PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點(diǎn)。并行端口測試正在進(jìn)行或失 靈。 3E嘗試打開L2高速緩存。數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。 40 已開始準(zhǔn)備虛擬方式的測試；即將從視頻存儲(chǔ)器來檢驗(yàn)。調(diào)整CPU速度， 使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。 41中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于

15、0: 0檢測內(nèi)存變換（中斷控制器或內(nèi)存 不 良）從視頻存儲(chǔ)器檢驗(yàn)之后復(fù)原；即將準(zhǔn)備描述符表。系統(tǒng)插件板選擇失靈。 42顯示窗口進(jìn)入SETUPo描述符表已準(zhǔn)備好；即將進(jìn)行虛擬方式作存儲(chǔ)器測 試。 擴(kuò)展CMOS RAM故障。 43若是即插即用BIOS,則串口、并口初始化。進(jìn)入虛擬方式；即將為診斷方 式實(shí) 現(xiàn)中斷。 44 已實(shí)現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備以檢查存儲(chǔ)器在0: 0 返轉(zhuǎn)。）BIOS中斷進(jìn)行初始化。 45初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。數(shù)據(jù)已作初始準(zhǔn)備；即將檢查存儲(chǔ)器在0: 0返轉(zhuǎn)以及找 出系統(tǒng)存儲(chǔ)器的規(guī)模。 46 測試存儲(chǔ)器已返回；存儲(chǔ)器大小計(jì)算完畢，即將寫入頁面來測試存儲(chǔ)器。檢查

16、 只讀存儲(chǔ)器ROM版本。 47 即將在擴(kuò)展的存儲(chǔ)器試寫頁面；即將基本640K存儲(chǔ)器寫入頁面。. 48 已將基本存儲(chǔ)器寫入頁面；即將確定1MB以上的存儲(chǔ)器。視頻檢查， CMOS重新配置。 49 找出1BM以下的存儲(chǔ)器并檢驗(yàn)；即將確定1MB以上的存儲(chǔ)器。. 4A.找出1MB以上的存儲(chǔ)器并檢驗(yàn)；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。進(jìn)行視頻的初始 化。 4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗(yàn)結(jié)束，即將檢查v ESC和為軟復(fù)位清除1 MB以 上 的存儲(chǔ)器。 4C.清除1MB以上的存儲(chǔ)器（軟復(fù)位）即將清除1 MB以上的存儲(chǔ)器屏蔽視頻 BIOS ROM o . 4D已清除1MB以上的存儲(chǔ)器（軟復(fù)位）；將保存存儲(chǔ)

17、器的大小。 4E若檢測到有錯(cuò)誤；在顯示器上顯示錯(cuò)誤信息，并等待客戶按vF1鍵繼續(xù)。 開始存儲(chǔ)器的測試：（無軟復(fù)位）；即將顯示第一個(gè)64K存儲(chǔ)器的測試。顯示版權(quán) 信息。 4F讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進(jìn)行DOS引導(dǎo)。開始顯示存儲(chǔ)器的大小，正在測試存儲(chǔ)器 將使之更新；將進(jìn)行串行和隨機(jī)的存儲(chǔ)器測試。 50將當(dāng)前BIOS監(jiān)時(shí)區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。完成1MB以下的存儲(chǔ) 器測 試；即將高速存儲(chǔ)器的大小以便再定位和掩蔽。將CPU類型和速度送到屏幕。 51 測試1 MB以上的存儲(chǔ)器。. 52所有ISA只讀存儲(chǔ)器ROM進(jìn)行初始化，最終給PCI分配IRQ號(hào)等初始化工 作。 已完成1 MB以上的存儲(chǔ)器測試；即將準(zhǔn)

18、備回到實(shí)址方式。進(jìn)入鍵盤檢測。 53如果不是即插即用BIOS,貝U初始化串口、并口和設(shè)置時(shí)種值。保存CPU 寄存器和存儲(chǔ)器的大小，將進(jìn)入實(shí)址方式。 54 成功地開啟實(shí)址方式；即將復(fù)原準(zhǔn)備停機(jī)時(shí)保存的寄存器。掃描“打擊鍵乃 55 寄存器已復(fù)原，將停用門電路A 20的地址線。. 56 成功地停用A 20的地址線；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。鍵盤測試結(jié) 束。 57BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半；繼續(xù)進(jìn)行。. 58 BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將清除發(fā)現(xiàn)v ESC信息。非設(shè)置中斷測 試。 59 已清除vESC信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。. 5A 顯示按u F2 鍵進(jìn)

19、行設(shè)置。 5B 測試基本內(nèi)存地址。 5C 測試640K基本內(nèi)存。 60設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護(hù)功能。通過DMA頁面寄存器的測試；即將檢 驗(yàn)視頻存儲(chǔ)器。測試擴(kuò)展內(nèi)存。 61顯示系統(tǒng)配置表。視頻存儲(chǔ)器檢驗(yàn)結(jié)束；即將進(jìn)行DMA# 1基本寄存器的測 試。 62開始用中斷19H進(jìn)行系統(tǒng)引導(dǎo)。通過DMA# 1基本寄存器的測試；即將 進(jìn)行 DMA# 2寄存器的測試。測試擴(kuò)展內(nèi)存地址線。 63 通過DMA# 2基本寄存器的測試；即將檢查BIOS RO M數(shù)據(jù)區(qū)。. 64BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進(jìn)行。. 65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將把DMA裝置1和2編程。. 66 . DMA裝置1

20、和2編程結(jié)束；即將使用59號(hào)中斷控制器作初始準(zhǔn)備。Cache注 冊(cè)表進(jìn)行優(yōu)化配置。 67.8259初始準(zhǔn)備已結(jié)束；即將開始鍵盤測試。 68 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。 6A 測試并顯示外部Cache值。 6C 顯示被屏蔽內(nèi)容。 6E 顯示附屬配置信息。 70 檢測到的錯(cuò)誤代碼送到屏幕顯示。 72 檢測配置有否錯(cuò)誤。 74 測試實(shí)時(shí)時(shí)鐘。 76 掃查鍵盤錯(cuò)誤。 7A 鎖鍵盤。 7C.設(shè)置硬件中斷矢量。 7E 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。 80 鍵盤測試開始，正在清除和檢查有沒有鍵卡住，即將使鍵盤復(fù)原。關(guān)閉可 編程輸入/輸出設(shè)備。 81 找出鍵盤復(fù)原的錯(cuò)誤卡住的鍵；即將發(fā)出鍵盤控制

21、端口的測試命令。 82 鍵盤控制器接口測試結(jié)束，即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準(zhǔn)備。檢 測和安裝固定RS232接口（串口）。 83 已寫入命令字節(jié)，已完成全局?jǐn)?shù)據(jù)的初始準(zhǔn)備；即將檢查有沒有鍵鎖住。 84 已檢查有沒有鎖住的鍵，即將檢查存儲(chǔ)器是否與CMOS失配。檢測和安 裝固定并行口。 85 已檢查存儲(chǔ)器的大小；即將顯示軟錯(cuò)誤和口令或旁通安排。 86 已檢查口令；即將進(jìn)行旁通安排前的編程。重新打開可編程I/O設(shè)備和 檢測固定I/O是否有沖突。 87 完成安排前的編程；將進(jìn)行CMOS安排的編程。. 88 從CMOS安排程序復(fù)原清除屏幕；即將進(jìn)行后面的編程。初始化BIOS 數(shù)據(jù)區(qū)。 89 完成

22、安排后的編程；即將顯示通電屏幕信息。 8A 顯示頭一個(gè)屏幕信息。進(jìn)行擴(kuò)展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。 8B.顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOSo . 進(jìn)行軟 8C 成功地屏蔽主要和視頻BIOS,將開始CMOS后的安排任選項(xiàng)的編程。 驅(qū)控制器初始化。 8D 已經(jīng)安排任選項(xiàng)編程，接著檢查滑了鼠和進(jìn)行初始準(zhǔn)備。 8E.檢測了滑鼠以及完成初始準(zhǔn)備；即將把硬、軟磁盤復(fù)位。 8F.軟磁盤已檢查，該磁碟將作初始準(zhǔn)備，隨后配備軟磁碟。 90 軟磁碟配置結(jié)束；將測試硬磁碟的存在。硬盤控制器進(jìn)行初始化。 91 硬磁碟存在測試結(jié)束；隨后配置硬磁碟。局部總線硬盤控制器初始化。 92 硬磁碟配置完成；即將檢查BIOS R

23、OM的數(shù)據(jù)區(qū)。跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。 93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半；繼續(xù)進(jìn)行。. 94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢，即調(diào)定基本和擴(kuò)展存儲(chǔ)器的大小。關(guān)閉A 20地址線。 95.因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲(chǔ)器的大??；即將檢驗(yàn)顯示存儲(chǔ) 器 檢驗(yàn)顯示存儲(chǔ)器后復(fù)原；即將進(jìn)行C800 : 0任選ROM控制之前的初始準(zhǔn) 96 “ ES段注冊(cè)表清除。 97. C800 : 0任選ROM控制之前的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束，接著進(jìn)行任選ROM的 檢查及控制。 98 任選ROM的控制完成；即將進(jìn)行任選ROM回復(fù)控制之后所需的任何處理。查 找ROM選擇。 99 任選ROM測試之后所需的任何初始

24、準(zhǔn)備結(jié)束；即將建立計(jì)時(shí)器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印 機(jī)基本地址。. 9A.調(diào)定計(jì)時(shí)器和打印機(jī)基本地址后的返回操作；即調(diào)定RS- 232基本地址 屏蔽ROM選擇。 9B 在RS-232基本地址之后返回；即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之初始準(zhǔn)備。 9C 協(xié)處理器測試之前所需初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著使協(xié)處理器作初始準(zhǔn)備。建立 電源節(jié)能管理。 9D 協(xié)處理器作好初始準(zhǔn)備，即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之后的任何初始準(zhǔn)備。 9E .完成協(xié)處理器之后的初始準(zhǔn)備，將檢查擴(kuò)展鍵盤，鍵盤識(shí)別符，以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。 9F.已檢查擴(kuò)展鍵盤，調(diào)定識(shí)別標(biāo)志，數(shù)字鎖接通或斷開，將發(fā)出鍵盤識(shí)別命 令。 A0 發(fā)出鍵盤識(shí)別命令；即將使鍵盤識(shí)別標(biāo)志復(fù)原

25、。設(shè)置時(shí)間和日期。 A1 鍵盤識(shí)別標(biāo)志復(fù)原；接著進(jìn)行高速緩沖存儲(chǔ)器的測試。 A2 高速緩沖存儲(chǔ)器測試結(jié)束；即將顯示任何軟錯(cuò)誤。檢查鍵盤鎖。 A3 軟錯(cuò)誤顯示完畢；即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 A4 調(diào)好鍵盤的打擊速率，即將制訂存儲(chǔ)器的等待狀態(tài)。鍵盤重復(fù)輸入速率的 初始化。 A5 存儲(chǔ)器等候狀態(tài)制定完畢；接著將清除屏幕。 A6 屏幕已清除；即將啟動(dòng)奇偶性和不可屏蔽中斷。 A7 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性；即將進(jìn)行控制任選的ROM在E000 : 0之 所需的任何初始準(zhǔn)備。 A8 控制ROM在E000 : 0之前的初始準(zhǔn)備結(jié)束，接著將控制E000 : 0之后所需 的任何初始準(zhǔn)備。清除“ F2鍵提示。 A

26、9 從控制E000 : ORO M返回，即將進(jìn)行控制E000 : 0任選ROM之后所需 的任 何初始準(zhǔn)備。 AA 在E000: 0控制任選ROM之后的初始準(zhǔn)備結(jié)束；即將顯示系統(tǒng)的配置。掃描 F2 ”鍵打擊。 AC 進(jìn)入設(shè)置 AE 清除通電自檢標(biāo)志。 B0 檢查非關(guān)鍵性錯(cuò)誤。 B2 通電自檢完成準(zhǔn)備進(jìn)入操作系統(tǒng)引導(dǎo)。 B4 蜂鳴器響一聲。 B6 檢測密碼設(shè)置（可選） B8 清除全部描述表。 BC 清除校驗(yàn)檢查值。 BE程序缺省值進(jìn)入控制芯片，符合可調(diào)制二進(jìn)制缺省值表。清除屏幕（可選） BF測試CMOS建立值。.檢測病毒，提示做資料備份。 CO初始化高速緩存。用中斷19試引導(dǎo)。 C1內(nèi)存自檢。查找

27、引導(dǎo)扇區(qū)中的u 55 uAAn標(biāo)記。 C3第一個(gè)256K內(nèi)存測試。 C5從ROM內(nèi)復(fù)制BIOS進(jìn)行快速自檢。 C6高速緩存自檢。 CA檢測Micronies超速緩沖存儲(chǔ)器（如果存在）,并使之作初始準(zhǔn)備。 CC關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。 顯示FF或00, CPU沒有工作ATX電源損壞 CPU腳焊點(diǎn)因?yàn)殚L時(shí)間的熱脹冷縮，脫焊 CPU附近的電解電容爆裂 CPU附近的功率三極管燒毀 代碼：FF、00、CO、DO、CF、F1或什么也沒有表示CPU沒通過 C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、BO、A7、E1 表示內(nèi)存不過 24、25、26 X 01、0A、0B、2A、2B、31 表示顯卡不過 某些集成

28、顯卡主板23、24x 25表示可以正常點(diǎn)亮，某些VIA芯片組顯示13則表示 可以點(diǎn)亮，某些品牌機(jī)里的主板顯示0B則表示正常，某些主板顯示4E表示正常 點(diǎn)亮，某些INTEL芯片組的主板顯示26或16則表示可以正常點(diǎn)亮。 CK C6、C3、01、02這個(gè)組合循環(huán)跳變大部分是1/0壞或刷BIOS 如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 、主板檢測卡各指示燈說明 BIOS燈:為BIOS運(yùn)行燈、正常工作時(shí)應(yīng)不停閃動(dòng) CLK燈：為時(shí)鐘燈、正常為常亮 OSC燈：為基準(zhǔn)時(shí)鐘燈、正常為常亮 RESET燈：為復(fù)位燈、正常為開機(jī)瞬間閃一下，然后熄滅 RUN燈：為運(yùn)行燈、工作時(shí)應(yīng)不停閃動(dòng) +12V、-12Vx +5V

29、、+3.3V 燈正常為常亮 二、常見代碼檢修 1、00、CO、CF、FF 或 D1 測BIOS芯片CS有無片選： (1) 、有片選：換BIOS、測BIOS的OE是否有效、測PCI的AD線、測CPU 復(fù)位有無1.5V-0 V跳變 (2) 、無片選:測PCI的F RAM Ex測CPU的DBSY ADS#,如不正常則北橋 壞、若幀周期信號(hào)不正常則南橋壞 2、C0 CPU插槽臟、針腳壞、接觸不好 換電源、換CPU、換轉(zhuǎn)接卡有時(shí)可解決問題 刷BIOS、檢查BIOS座 I/O壞、北橋虛焊、南弱橋壞 PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物 3、C1、C3、C6、A7 或 E1 內(nèi)存接觸不良(用鑲子劃內(nèi)存槽) 測內(nèi)存工作

30、電壓 SDRAM ( 3.3V) , DDR (2.5 和 1.25V) 測時(shí)鐘(CLK0-CLK3) CPU旁排阻是否損壞 測CPU地址線和數(shù)據(jù)線 測DDR的負(fù)載排阻和數(shù)據(jù)排阻 北橋壞 4、C1-05循環(huán)跳變 測32.768MHZ是否正常 BIOS損壞 I/O或南橋損壞 5、C1、C3、C6 刷BIOS、檢查BIOS座 換電源、換CPU,換轉(zhuǎn)接卡有時(shí)可解決問題 PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物 換內(nèi)存條，PC100、PC133,或速度更快更穩(wěn)定的內(nèi)存 換內(nèi)存插槽，有些主板的內(nèi)存條插槽要先插最靠里面或最靠外面的槽才可工作目測 內(nèi)存槽是否有短路等機(jī)械類損壞現(xiàn)象 沒內(nèi)存的CLKO、CLK1、CLK2、C

31、LK3、CLK4,內(nèi)存主供電 打阻值檢查是否有斷路現(xiàn)象 換I/O芯片、北橋虛焊或北橋壞 6、循環(huán)顯示C1-C3或C1C5 刷 BIOS 換I/O有時(shí)可解決問題、檢查I/O外圍電路 PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物 換電源、換CPU、換內(nèi)存 南橋壞 7、其它代碼 刷 BIOS 換電源、CPU、內(nèi)存 檢查I/O外圍電路、換I/O芯片 PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物、南橋壞 8、bO代碼 測內(nèi)存的數(shù)據(jù)負(fù)載電壓1.25V、2.5V ( DDR) 清 CMOS 測北橋供電或北橋壞 9、25代碼 測 AGP 核心供電 4X( 1.5V )、8X (0.8V )、2X ( 3.3V) 北橋供電、北橋壞 10走od后不

32、殼 測PCI插槽之間電阻和排阻 外頻、倍頻跳線 1K若顯示Ob顯示器仍不亮 換顯卡，有時(shí)主板與顯卡不兼容 換電源、換CPU、換內(nèi)存 換顯卡插槽、PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物 刷 BIOS 換I/O 查北橋供電或南北橋壞 查PCI、AGP槽附近的排阻和電容 12x顯2d代碼 測AGP的AD線 初始化INTR信號(hào) 北橋供電不正?；虮睒驂?13、顯2d代碼后不變 刷 BIOS 時(shí)鐘發(fā)生器不良 清除CMOS 北橋供電不正常或北橋壞 14、顯示50代碼 I/O供電或I/O芯片壞 南橋供電或南橋壞 BIOS壞、北橋壞 15、顯示41 刷 BIOS A18跳線 PCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物 I/O壞、南橋壞 錯(cuò)誤代碼:OO(FF) 代碼含義：主板沒有正常自檢 解決方法：這種故障較麻煩，原因可能是主板或 CPU沒有正常工作。一般遇到 這種情況，可首先將電腦上除CPU外的所有部件全部取下，并檢查主板電壓、倍 頻和外頻設(shè)置是否正確，然后再對(duì)CMOS進(jìn)行放電處理，再開機(jī)檢測故障是否排 除。如故障依舊，還可將CPU從主板上的插座上取下，仔細(xì)清理插座及其周圍的 灰塵，然后再將CPU安裝好，并加以一定的壓