開關電源可靠度測試規(guī)范

1、可靠度測試規(guī)范可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01頁次P age3發(fā)行日期Release Date90.11.121.5溫度 Derating 率NO組件名稱溫度判定標準備注1電阻電阻最咼耐溫之8 0%2電容電容最咼耐溫減5C3半導體1.Schotty Diode 取 Tj 之 9 0%2.其它半導體(晶體管 MOSFE取Tj 之8 0%)熱暴走高溫短路測試Ta :55 C Load :100 %Ta :65 C Load :70 %Input :85V/265V

2、 時(Tj*80 %) +5C為判定基 礎4基板1. FR-4 : 115 C2. CEM-3 : 110 C3. CEM-1 : 100 C4. XPC-FR : 100 C5. 判疋：PCB最大耐溫減10C與基板板厚無關5變壓器 （含電 感）絕緣區(qū)分：A種E種 B種標準溫度：105C120C130C熱偶式：90 C105C110CAbnormal :150 C165C175C精品文檔19編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n90.11.12發(fā)行日期

3、Release Date2 Component temp erature rise2.122適用：所有機種適用。2.3a.b.c.d.e.測試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、額定、最大。負載：規(guī)格范圍之最大。輸出電壓：額定。周圍溫度：常溫。接線圖：組件溫度上升：目的：確保待測物之可靠度，確認各組件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用。2.4b.測試方法：a. 依測試條件設定，當溫度達到熱平衡后，以熱電偶測定組件溫度，基板上之元 件焊點需測量溫度。參考溫度Derating計算出最大溫升規(guī)格值 t.（i.e. Derating Curve在 100% Load 100% 下最高至 50C，則以附表 ADeratin

4、g率之溫度減去 50 得 100%之 LOADT之 t. ; 60 C 時，Derating 率為 70%則減去60得到70% t.）實際負載在100%寸依減50C之 t.為規(guī)格值。c. 組件之選擇以R-1溫度分布測得之發(fā)熱較多組件做測定。d. 組件實際溫升不能超過計算得出之 t.。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁次Versio nP age5發(fā)行日期Release Date90.11.123. P arts derat ing3.1組件余裕度：目的：確保待測物之可靠度，確

5、認組件實際使用時能在絕對最大額定下之Derati ng3.2適用：所有機種適用。率范圍內(nèi)。3.3b.c.定額輸入和輸出.低壓起動.短路開機.開機后短路測試條件：a. 測試待測物在下列條件下一次測和二次測主回路波形（電流波形和電壓波形）12345 .滿載關機（不做記錄）各回路波形和組件耐壓請參考組件Derating接線圖：編號WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁次P ageVersio n6發(fā)行日期Release Date90.11.123.4 組件 DeratingNO組件名稱溫度

6、判定標準備注電阻80%電阻最咼耐壓之90%Surge取耐壓之95%電容電容最高耐壓之85%（AC輸入電容取耐壓之95%）Ri ppie 電流取 100%鉭質(zhì)電容取耐壓之80%二極管(Diode)VRMvRSMI sFMSurgeSCR80%95%90%90TRIAC80%95%90%90Bridge-Diode 80%95%90%90Diode80%95%90%90Scotty Diode 90%95%90%90Zener Diode90%90LED80%95%90%90Surge： l2t晶體管MOSFETVDsSVce :取規(guī)格之VGsSV be :取規(guī)格之ID/I C :取規(guī)格之I B

7、:取規(guī)格之95%95%95%95%Fuse取額定電流之70%Surge : 65 %編號WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范No.版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁次P ageVersio n7發(fā)行日期Release Date90.11.124. Thermal run away4.14.2適用：所有機種適用。4.3a.b.c.d.e.測試條件：輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最小、最大值，（例 負載：100% 及 70%（例 55r 為 100%, 65 C為 70% ）。周圍溫度：最高動作溫度+ 5C,輸出Deratin

8、g Curve 100%下溫度上限+ 5C。 輸出電壓：額定。接線圖：85V/265V）。INPUTSOURCE待測負載則物!電流 1.電壓1:溫度記錄器恒溫槽熱暴走：目的：確認過負載、出力短路下，保護之余裕度。4.1.4.4測試方法：a.參照部品溫度上升結果確定待測部品，以熱電偶量測。b. 電源輸入后，連續(xù)觀測繪出溫度上升值，確認飽和點。c. 若有FAN裝置于待測物，需實際仿真安裝于系統(tǒng)之情形進行測試。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁次Versio nP age8發(fā)行日期

9、Release Date90.11.125. High temp erature shoty circuit5.15.2適用：除未加短路保護機種外所有機種適用。5.3a.b.d.測試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最大輸入電壓。（實測取最大，例265V） 輸出電壓：額定值。c.周圍溫度：動作溫度上限+ 5C （例65C）。接線圖：4.1.5.4a.b.c.測試方法：待測物在設定測試條件下，輸出短路 2小時以上。記錄溫度上升之情形，參照溫度 Derating，不能超過規(guī)定溫度。 解除短路狀態(tài)后確認輸出仍正常，部品不能有損壞。高溫短路： 目的：確認輸出短路放置后，待測物之可靠度。編號WI7308修訂日期

10、Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁次P ageVersio n9發(fā)行日期Release Date90.11.126. Life of electrolytic cap acitor6.16.2適用：所有機種適用。6.3a.b.c.d.e.測試條件：輸入電壓：額定值。 輸出電壓：額定值。 負載：額定。周圍溫度：40C。 接線圖：6.4a.測試方法：額定之輸出、輸入時，在規(guī)定之周圍溫度下，依下式計算:T1 -T2101=Ls. 2LLTT實際之有效壽命部品使用溫度范圍上限下之有效壽命 部品之使用溫度范圍

11、上限實際使用溫度。b.算出之壽命時間應三規(guī)格所示。電解電容算出壽命: 目的：推定待測物之壽命，并確認其可靠度。編號WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁次P ageVersio n10發(fā)行日期Release Date90.11.127. Noise Immuuity7.17.2適用：所有機種。7.3a.b.c.d.測試條件：規(guī)格上有規(guī)定者，依規(guī)格實施。周圍溫度：輸入電壓：輸出電壓：e. 負載電流：常溫、常濕。115V額定。100%噪聲免疫力：目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認輸入對加入

12、脈沖之耐受程度。f. 脈沖規(guī)格：規(guī)格書所列值*110%(50Q Termination) 如規(guī)格為 2.2KV則脈沖以 2.2KV*110%= 2.2KV施加脈波寬為。100nS,500nS,1000nS，時間五分鐘。g.接線圖：7.4測試方法：a.依條件施加脈沖于輸入一輸入間，輸入一 Ground間，應無動作異常(含突入電流限 制回路、異常振蕩等)保護回路誤動作及組件損壞發(fā)生，測試時，輸出電壓之安定 度應在總和變動規(guī)格范圍內(nèi)。編號1No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁次Versi

13、o nP age11發(fā)行日期Release Date90.11.128. Electro static discharge8.18.2適用：規(guī)格書上規(guī)定之機種。8.3a.b.c.d.測試條件：周圍環(huán)境：輸入電壓：輸出電壓：常溫、常濕。額定（實測AC115V）額定e.100f.負載：額定100%施加電壓：規(guī)格書之數(shù)值 X 110% Charge Cap acitor 500pF-Series Resistor Q ，時間三10 sec .接線圖：靜電破壞：目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認產(chǎn)品對靜電氣之耐受程度。4.1.8.4測試方法：a.待測物Ground部位，依條件施加脈沖電壓分接觸外殼及隔離

14、放電實施；不能有保 護回路誤動作，組件破損之異常發(fā)生。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁次Versio nP age12發(fā)行日期Release Date90.11.129. Light ning Surge9.19.2適用：規(guī)格有規(guī)定之機種。9.3a.b.c.d.e.f.g.測試條件：規(guī)格書有規(guī)定依規(guī)格條件。輸入電壓：額定（實測AC115V）輸出電壓：額定負載：額定周圍環(huán)境：常溫、常濕施加波形：JEC 212規(guī)定，波頭長1.2 g,波尾長50pS之電壓，波形3KV*110%（

15、 限流電阻100Q）。接線圖：雷擊：目的：確認輸入端加入Lightning Surge 之耐受能力。4.1.9.4測試方法：a.依規(guī)定測試條件，施加Surge電壓于 輸入一輸入，輸入一Ground 極各3回 確認組件無破損，無絕緣破壞，F(xiàn)lashover Arc及保護回路誤動作情形發(fā)生。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁次Versio nP age13發(fā)行日期Release Date90.11.12高溫輸入ON/OFF :目的：高溫時輸入電壓 ON/OFF重復施加，確認產(chǎn)品之

16、信賴性。10.2適用：所有機種適用。10.3a.b.c.d.e.測試條件：輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最大值（例：265V）。負載：額定100% LOAD輸出電壓：額定周圍溫度：動作可能溫度范圍+ 5C （例：65r）。接線圖：10. I nput ON/OFF at high temp erature10.14.1.10.4測試方法：a.待測物置于恒溫槽內(nèi)，依條件之溫度設定，到達設定溫度后放置12小時，同時電源ON/OFF至少500 cycle于輸入端，結束后確認組件無破損，輸出電壓與機 能正常（ON 5S OFF 30S。編號WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)

17、范Reliability Test Sp ecificati onNo.版本V.01頁次P ageVersio n14發(fā)行日期Release Date90.11.1211. Low temp erature op erati on11.111.2適用：所有機種適用。11.3a.b.c.d.e.測試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、最大值（實測最小值）。 輸出電壓：額定。負載：最小、最大值（實測最大值）。 周圍溫度：動作可能溫度下限一10C。 接線圖：低溫動作確認：目的：為確保待測產(chǎn)品可靠度，確認周圍溫度下限之動作余裕度。11.4測試方法：a.待測物在測試溫度條件下設定為關機狀態(tài)充份放置 （至少1

18、小時）關機狀態(tài)，重新 加入電源，確定可激活。編號WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范No.版本V.01Reliability Test Sp ecificati on頁次P ageVersio n15發(fā)行日期Release Date90.11.1212. Dyn amic source effect12.1動的輸入變動：目的：確認待測產(chǎn)品在動的輸入變動下能正常動作。12.2適用：交流輸入之所有機種。12.3a.b.c.d.e.測試條件：規(guī)格書有規(guī)定者，依規(guī)格條件。負荷：額定100%周圍溫度：常溫。輸出電壓：額定。輸入變動條件：額定-最小，額定-最大。 最大電壓額定

19、電壓最小電壓頻率：60HzJ t Ttt=0.5sec12.4a.b.c.100%Load,測定輸出電測試方法：在基準動作狀態(tài)下（額定輸入電壓 壓值VS。計算電壓變動率：V H -Vs X 100% VVSVL -VsX100%計算之變動率，應在總和變動之規(guī)格范圍內(nèi)?？煽慷葴y試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號No.WI7308修訂日期Ame ndme nt Date頁次P age版本Versio n發(fā)行日期Release DateV.0190.11.1216精品文檔2113. Fan abno rmal op erati on FAN13.1異常動作：目

20、的：待測產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下，確認 FAN停止運轉，轉數(shù)變慢時，保護 機能正常運作。精品文檔2413.2適用：產(chǎn)品因需風扇冷卻而裝設之機種。13.3a.b.c.測試條件：輸入電壓：規(guī)格范圍內(nèi)之最小、最大值。負載：最大100%。周圍溫度：感熱組件部份，依動作可能溫度范圍上限+ 5C, 25r及下限5C共 3點實施測試。其它部份則以動作可能溫度范圍上限+5C,下限-5 r實施量測。輸出電壓：額定。d.13.4測試方法：a.主要晶體管、變壓器、CHOK等重要組件，以熱電藕量測記錄其結果。Fan異常動作發(fā)生時觀測組件溫度上升應記錄其結果。b. O pen Frame之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測試。編號N

21、o.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date90.11.12c. 確定在測試條件下，無保護回路之誤動作發(fā)生，組件上升溫度不能超過規(guī)格值。14.1目的：為確保產(chǎn)品之信賴性，產(chǎn)品在制造時及運送時對振動之耐受程度需加以確認。14.2適用：所有機種適用。14.3測試條件：a.周圍溫度：常溫。b.動作狀態(tài)：Non-Op erat ingc.振動頻率：5 - 10 Hz 全振幅 10 mm10 - 200Hz2加速度 21.6m/sec (2.

22、2G)14. Vibration振動:1.Swee P Time:10 Min振動方向:沖擊試驗程序：試驗系統(tǒng)圖依對數(shù)變化。X,Y,Z軸各1小時。供試電源試驗方向試驗方向4.1.14.4a.測試方法：依測試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進行測試。b. 測試完成后，以目視檢查（必要時用顯微鏡）待測物之外殼、基板 有無異常；確認后，通電并確認輸出電壓及電氣特性有無異常。編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age18修訂日期Ame ndme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date90.11.1215.

23、 Shock15.1沖擊：目的：為確保待測物之可靠度，在制造時及運送時對沖擊之耐受程度需予以確認。15.2適用：所有機種適用。15.3a.b.測試條件：沖擊加速度：588m/sec2(60G)沖擊時間：11 5m sec 半波正弦波。振動方向：X(X),Y(Y ),Z,5方向，各3回。周圍溫度：常溫。c.d.e. N on Op erat ing15.4a.b.1.測試方法：依測試條件進行測試。測試完成后，以目視檢查(必要時用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有 無異常;確認后通電并確認輸出電壓及電氣特性有無異常。沖擊測試程序：測試系統(tǒng)圖：供試電源試驗方向Z 廿ZYY試驗方向試驗方向a.b

24、.c.d.待測物需設計治具以固定之。(電木板及鋁板) 依測試條件施加予待測物。加速度588m/sec2(60G)各方向3回。記錄試驗條件及結果。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on版本V.01頁次Versio nP age19發(fā)行日期Release Date90.11.1216. Abnormal Ripple異常 Ripple 確認:16.1目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度；由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下 ，確認其動作之安定性。16.2適用：所有機種適用。16.3測試條件：a.負載

25、：0% - 100% （連續(xù)）。b.周圍溫度：動作溫度范圍（i.e.720r 60C T 20 r /25 r /60 r）。c.輸入電壓：規(guī)格范圍最小最大（連續(xù)）。d.輸出電壓：額定。e.接線圖：精品文檔424.1.16.4a.b.編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2090.11.12測試方法：待測物在不通電之狀態(tài)下，依測試之組合條件，在設定之溫度下放置1小時。連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負載電流，并觀察有無異常Ripple

26、之發(fā)生，如振蕩、間歇振蕩、AC Ripple導致之微小異常振蕩。17. High Temp erature Test17.117.2適用：所有機種適用。17.3測試條件:a.溫度：高溫測試：目的：確認產(chǎn)品在高溫置放后，維持正常功能之特性。Temp(deg C)70250 1 274 75 76H產(chǎn)品規(guī)格所列之儲存溫度上限b.c.d.e.輸入電壓: 輸入頻率: 負 載: 接線圖：額定。50H。100% LOADfunctional ins pectionTime (hour)17.4測試方法：a.產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之條件進行測試。b.溫度在達到預定之高溫Th前后一小時之前于常溫下，須先進行

27、功能測試，確認產(chǎn) 品之功能；測試后產(chǎn)品須無任何損傷。編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2190.11.1218. Low Temp erature Test18.118.2適用：所有機種適用。18.3測試條件:a.溫度：Temp(deg C)25-40L74 75 76+ functional ins pectionTime (hour)0 1 2低溫測試：目的：確認產(chǎn)品在低溫置放后，維持正常功能之特性。b.c.d.

28、e. Tf.負載：100% LOAD輸入電壓：額定。頻率：50H。L :規(guī)格所列之儲存溫度下限。接線圖：18.4a.b.測試方法：產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之溫度設定及接線圖進行測試。溫度到達預訂之低溫，前后一小時前須進行功能測試，確認產(chǎn)品能正常動作；且無 任何損傷。可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on編號No.WI7308頁次P age22修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01發(fā)行日期Release Date90.11.1219. Temp erature/Humidity Test溫、濕度循環(huán)測試:19.1目的：確認產(chǎn)品

29、對周圍溫、濕度之適應能力。19.2適用：所有機種適用。19.3測試條件:Time (hour)b. 負載：100% LOADc. 輸入電壓：額定。d. 頻率：e.接線圖：4.1.19.4a.b.測試方法：依上所列之測試條件及接線方式，執(zhí)行測試。 測試結束后，待測物需功能正常，零件無損壞情形。編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本Versio nV.01發(fā)行日期Release Date2320. Strife Test20.1目的:極限測試：確認待測產(chǎn)品的耐受高溫之極限。20.

30、2適用:依需求規(guī)格列出之機種。20.3a.d.測試條件：輸入電壓：額定。(110V/220V)e. 負載：額定100% LOADf. 溫度：70r (1hr) 80r (1hr) 90C (1hr) 100C (1hr)至產(chǎn)品失效。 接線圖：20.4a.b.c.d.測試方法： 產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依接線圖及條件設定。 當溫度到達默認值后，停留一小時，開始執(zhí)行功能測試。 產(chǎn)品若功能正常，將溫度每次升高10C，進行測試，至產(chǎn)品失效為止，記錄失效 之溫度。產(chǎn)品失效時，不能發(fā)生冒煙、起火等狀況。編號No.WI7308修訂日期Amen dme nt Date可靠度測試規(guī)范Reliability Test

31、Sp ecificati on版本V.01頁次Versio nP age24發(fā)行日期Release Date21. PLD test(輸入瞬斷測試)：A. A n un dervoltage of 25% below the minimum inputvoltage, app lied for two sec on ds,re peated 10 times : error free with a 10% duty cycle.B. A n un dervoltage of 35% below the minimum nominalinput voltage, but not less tha

32、 n 68V,a pp lied for 30 : error free cycles of the input freque ncy,rep eated 10 times with a 10% duty cycle.C. An un dervoltage of 100% below the minimum nominal input voltage,a pp lied for 20 milli-sec onds rep eated 10 times : error free with a 10% duty cycle.D. A n overvoltage of 20% above the m

33、aximum nominal input voltage app lied for two sec on ds,re peated 10 times with : error free a 10% duty cycle.E. Whe n either of the followi ng waveforms are app lied to either p olarity p eak of the input voltage waveform.The waveforms shall con sist of 400Hz 50hZ or800Hz 100H exponen tially decay

34、ing sinu soid with ap eak voltage equal to the p eak nomin al li ne volage : error free and decay time con sta nt such that the fifth half-cycle of the disturba nee is betwee n 15 and 25% of the first half-cycle. The total durati on of the disturba nee shall not exceed one cycle of the line voltage.

35、This test shall be rep eated 320 times (80 p ositive ringsand 80 n egative rings at 400Hz；80 po sitive rings and80 n egative rings at 800Hz) a three(3) sec ond in tervals.F. Differe ntial mode(li ne-to-li ne) and com mon mode(li ne-to-gro und) voltage surges with open circuit voltages of 2.5KV p eak

36、 10% and 2KV peak 10% resp ectively.The source imp eda nee of the surge gen erator shall be : error free2 ohm 20%.The surge wave shall be defi ned in ANSI/IEEEC62.41(1980) and lEC 60-2(1973).three p ositive and three n egative surges shall be app liedat 0,90,180, and 270 degrees(24 total). The timei

37、n terval betwee n surges shall be 18 sec on ds.編號No.WI7308可靠度測試規(guī)范Reliability Test Sp ecificati on頁次P age修訂日期Amen dme nt Date版本V.01Versio n發(fā)行日期Release Date2590.11.12G. A 100 nano sec ond pu Ise with an amp litude of 400volts shall be superimp osed on the p eak of the: error freenominal input voltage

38、and rep eated at the line freque ncy for ten (10) minu tes.H. The po wer supply shall suffer no p hysical damage un der the follow ing disurba nces in AC line voltage.Rep eat each test five times,retu rning the po wer supply : damage free to its no rmal running con diti ons betwee n tests.A comp lete line outage for any durati on.I. The po wer supply shall suffer no p hysical damage un der the follow ing disturba nces in AC line voltage.damage freeRep eat each test five times,retu rning the po wer supply : to