現(xiàn)代電子測(cè)量(一)

1、現(xiàn)代電子測(cè)量現(xiàn)代電子測(cè)量本節(jié)課主要內(nèi)容本節(jié)課主要內(nèi)容 課程介紹課程介紹電子測(cè)量基本知識(shí)介紹，包括校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)的發(fā)展等電子測(cè)量基本知識(shí)介紹，包括校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)的發(fā)展等數(shù)字調(diào)制基礎(chǔ)知識(shí)介紹數(shù)字調(diào)制基礎(chǔ)知識(shí)介紹 教學(xué)教學(xué)目的目的 學(xué)習(xí)和了解電子測(cè)量的基本知識(shí)及其技術(shù)發(fā)展方向；學(xué)習(xí)和了解電子測(cè)量的基本知識(shí)及其技術(shù)發(fā)展方向；掌握主要電子測(cè)量?jī)x器的基本原理、功能與操作使用；掌握主要電子測(cè)量?jī)x器的基本原理、功能與操作使用；掌握一些基本電參量和系統(tǒng)參數(shù)的測(cè)量方法。掌握一些基本電參量和系統(tǒng)參數(shù)的測(cè)量方法。 參考資料參考資料電子測(cè)量電子測(cè)量 劉國(guó)林、殷貫西等編著，機(jī)械工業(yè)出版社劉國(guó)林、殷貫西等編著，機(jī)械工業(yè)出版

2、社現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù)現(xiàn)代電子測(cè)試技術(shù) 陳光禹主編，國(guó)防工業(yè)出版社陳光禹主編，國(guó)防工業(yè)出版社電子測(cè)量?jī)x器實(shí)用大全電子測(cè)量?jī)x器實(shí)用大全管致中主編，東南大學(xué)出版社管致中主編，東南大學(xué)出版社 TEKTEK、AgilentAgilent等儀器廠商的儀器使用說(shuō)明書和發(fā)布的資料等儀器廠商的儀器使用說(shuō)明書和發(fā)布的資料基本知識(shí)與電子測(cè)量技術(shù)的發(fā)展基本知識(shí)與電子測(cè)量技術(shù)的發(fā)展 一一. . 電子測(cè)量所涉及的范圍電子測(cè)量所涉及的范圍 電能量的測(cè)量，如電壓、電流和功率等電能量的測(cè)量，如電壓、電流和功率等元器件和電路參數(shù)的測(cè)量，如電阻、電感、品質(zhì)因數(shù)等元器件和電路參數(shù)的測(cè)量，如電阻、電感、品質(zhì)因數(shù)等電信號(hào)特性的測(cè)量，如信號(hào)

3、的波形、失真度等電信號(hào)特性的測(cè)量，如信號(hào)的波形、失真度等電子電路性能的測(cè)量，如增益、靈敏度和噪聲系數(shù)等電子電路性能的測(cè)量，如增益、靈敏度和噪聲系數(shù)等特性曲線的測(cè)試，如幅頻特性曲線、相頻特性曲線等特性曲線的測(cè)試，如幅頻特性曲線、相頻特性曲線等 二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類 基本分類基本分類 ：專用儀器專用儀器 為某一個(gè)和幾個(gè)專門目的而設(shè)計(jì)的儀器，如電為某一個(gè)和幾個(gè)專門目的而設(shè)計(jì)的儀器，如電視彩色信號(hào)發(fā)生器、網(wǎng)絡(luò)協(xié)議分析儀、光纖測(cè)試儀視彩色信號(hào)發(fā)生器、網(wǎng)絡(luò)協(xié)議分析儀、光纖測(cè)試儀器等；器等；通用儀器通用儀器 為某一個(gè)或幾個(gè)電參數(shù)測(cè)量而設(shè)計(jì)的測(cè)量?jī)x器，為某一個(gè)或幾個(gè)電參數(shù)測(cè)量而設(shè)計(jì)

4、的測(cè)量?jī)x器，如示波器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等；如示波器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等； 二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類 按工作頻段分：按工作頻段分： 超低頻、音頻、視頻、高頻和微波儀器超低頻、音頻、視頻、高頻和微波儀器按電路原理分：按電路原理分： 模擬式和數(shù)字式模擬式和數(shù)字式按使用條件分：按使用條件分： I I、IIII、IIIIII組儀器組儀器 二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類 I I組儀器為高精度儀器組儀器為高精度儀器 工作溫度為工作溫度為10 10 3030，濕度為，濕度為20207575RHRH（3030時(shí)），使用時(shí)只允許有輕微振動(dòng)；時(shí)），使用時(shí)只允許有

5、輕微振動(dòng)；二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類 IIII組儀器組儀器 工作環(huán)境為工作環(huán)境為0 04040，濕度為，濕度為202090%RH90%RH（4040時(shí)），使用中允許有一般的振動(dòng)和沖擊時(shí)），使用中允許有一般的振動(dòng)和沖擊 通用儀器符合該組要求；通用儀器符合該組要求；二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類 IIIIII組儀器組儀器 可工作在室外環(huán)境，要求溫度為可工作在室外環(huán)境，要求溫度為-10-105050，濕度為濕度為5 590%RH90%RH（5050時(shí)），在運(yùn)輸過(guò)程中允許時(shí)），在運(yùn)輸過(guò)程中允許受到振動(dòng)與沖擊。受到振動(dòng)與沖擊。 二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)

6、量?jī)x器的分類 按功能分：按功能分：信號(hào)發(fā)生器信號(hào)發(fā)生器 用來(lái)產(chǎn)生測(cè)量所需的各種波形的信號(hào)，如信號(hào)源、用來(lái)產(chǎn)生測(cè)量所需的各種波形的信號(hào)，如信號(hào)源、函數(shù)發(fā)生器等函數(shù)發(fā)生器等信號(hào)分析儀器信號(hào)分析儀器 用來(lái)觀測(cè)、分析和記錄各種電參量的變化，包括用來(lái)觀測(cè)、分析和記錄各種電參量的變化，包括時(shí)域、頻域、數(shù)字域及調(diào)制域的分析儀器，如示時(shí)域、頻域、數(shù)字域及調(diào)制域的分析儀器，如示波器、頻譜分析儀等波器、頻譜分析儀等頻率和相位測(cè)量?jī)x器頻率和相位測(cè)量?jī)x器 用來(lái)測(cè)量電信號(hào)的頻率、時(shí)間間隔和相位，如電用來(lái)測(cè)量電信號(hào)的頻率、時(shí)間間隔和相位，如電子計(jì)數(shù)器、頻率計(jì)等；子計(jì)數(shù)器、頻率計(jì)等； 二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量

7、儀器的分類 按功能分：按功能分：網(wǎng)絡(luò)特性測(cè)量?jī)x器網(wǎng)絡(luò)特性測(cè)量?jī)x器 用來(lái)測(cè)量電氣網(wǎng)絡(luò)的各種特性，如網(wǎng)絡(luò)分析儀用來(lái)測(cè)量電氣網(wǎng)絡(luò)的各種特性，如網(wǎng)絡(luò)分析儀等；等；電子元器件參數(shù)測(cè)試儀器電子元器件參數(shù)測(cè)試儀器 用來(lái)測(cè)量各種電子元器件的電參數(shù)或顯示特性用來(lái)測(cè)量各種電子元器件的電參數(shù)或顯示特性曲線，如晶體管參數(shù)測(cè)試儀等；曲線，如晶體管參數(shù)測(cè)試儀等；二二. . 電子測(cè)量?jī)x器的分類電子測(cè)量?jī)x器的分類按功能分：按功能分：電波特性測(cè)試儀器電波特性測(cè)試儀器 用來(lái)對(duì)電波傳播、電磁場(chǎng)強(qiáng)度、干擾強(qiáng)度用來(lái)對(duì)電波傳播、電磁場(chǎng)強(qiáng)度、干擾強(qiáng)度等參量進(jìn)行測(cè)量，如場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀和等參量進(jìn)行測(cè)量，如場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀和EMCEMC測(cè)試儀等；測(cè)試儀等

8、；輔助儀器輔助儀器 用于配合上述儀器的使用對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大、用于配合上述儀器的使用對(duì)信號(hào)進(jìn)行放大、檢波、隔離和衰減等，如放大器、衰減器、檢檢波、隔離和衰減等，如放大器、衰減器、檢波器、濾波器和各種交直流電源等。波器、濾波器和各種交直流電源等。 三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 校準(zhǔn)（計(jì)量）的定義校準(zhǔn)（計(jì)量）的定義 將一臺(tái)精度已知的儀器（標(biāo)準(zhǔn)儀器）與一將一臺(tái)精度已知的儀器（標(biāo)準(zhǔn)儀器）與一臺(tái)未知精度的儀器（被校準(zhǔn)儀器）進(jìn)行比較的臺(tái)未知精度的儀器（被校準(zhǔn)儀器）進(jìn)行比較的過(guò)程稱為儀器的校準(zhǔn)。過(guò)程稱為儀器的校準(zhǔn)。校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)方法 直接比較法和間接比較法。直接比較法和間接比較法。 三三. .

9、 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 直接比較法直接比較法 儀表和信號(hào)發(fā)生器都是測(cè)試儀器，它們可儀表和信號(hào)發(fā)生器都是測(cè)試儀器，它們可以互相比較，如偏離度超過(guò)允許范圍即認(rèn)為儀以互相比較，如偏離度超過(guò)允許范圍即認(rèn)為儀器超差。器超差。 即如校準(zhǔn)一臺(tái)儀表，則需要一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)即如校準(zhǔn)一臺(tái)儀表，則需要一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器，校準(zhǔn)發(fā)生器則需要一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)儀表。發(fā)生器，校準(zhǔn)發(fā)生器則需要一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)儀表。 三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 儀表儀表信號(hào)發(fā)生器信號(hào)發(fā)生器測(cè)試儀器測(cè)試儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器儀表校準(zhǔn)框圖儀表校準(zhǔn)框圖三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 信號(hào)發(fā)生器信號(hào)發(fā)生器儀表儀表測(cè)試儀

10、器測(cè)試儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器信號(hào)發(fā)生器校準(zhǔn)框圖信號(hào)發(fā)生器校準(zhǔn)框圖三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 信號(hào)發(fā)生器信號(hào)發(fā)生器儀表儀表標(biāo)準(zhǔn)儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器標(biāo)準(zhǔn)儀器信號(hào)變換器校準(zhǔn)信號(hào)變換器校準(zhǔn)信號(hào)變換器信號(hào)變換器三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 間接比較法間接比較法 標(biāo)準(zhǔn)儀表與測(cè)試儀表進(jìn)行比較標(biāo)準(zhǔn)儀表與測(cè)試儀表進(jìn)行比較標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器與測(cè)試信號(hào)發(fā)生器進(jìn)行比標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器與測(cè)試信號(hào)發(fā)生器進(jìn)行比較較標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)變換器與測(cè)試信號(hào)變換器進(jìn)行比標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)變換器與測(cè)試信號(hào)變換器進(jìn)行比較較 三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 測(cè)試儀表標(biāo)準(zhǔn)儀表信號(hào)發(fā)生器儀表校準(zhǔn)框圖儀表校準(zhǔn)框圖三

11、三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 測(cè)試信號(hào)發(fā)生器標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)發(fā)生器標(biāo)準(zhǔn)儀表信號(hào)發(fā)生器校準(zhǔn)框圖信號(hào)發(fā)生器校準(zhǔn)框圖三三. . 儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí)儀器校準(zhǔn)的基礎(chǔ)知識(shí) 信號(hào)發(fā)生器測(cè)試信號(hào)變換器標(biāo)準(zhǔn)儀表信號(hào)變換器校準(zhǔn)框圖信號(hào)變換器校準(zhǔn)框圖標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)變換器M1M2測(cè) 試 值 = 標(biāo) 準(zhǔn) 值M1/M2四四. . 測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展 第一階段：模擬儀器第一階段：模擬儀器 其基本結(jié)構(gòu)是由模擬電路或電磁機(jī)械式的，如指針式其基本結(jié)構(gòu)是由模擬電路或電磁機(jī)械式的，如指針式萬(wàn)用表，模擬示波器等。萬(wàn)用表，模擬示波器等。第二階段：數(shù)字化儀表第二階段：數(shù)字化儀表 將模擬信號(hào)的測(cè)量轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)測(cè)量

12、，并以數(shù)字方將模擬信號(hào)的測(cè)量轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)測(cè)量，并以數(shù)字方式輸出測(cè)量結(jié)果，適用于快速響應(yīng)和較高精度的測(cè)量，如式輸出測(cè)量結(jié)果，適用于快速響應(yīng)和較高精度的測(cè)量，如數(shù)字電壓表、數(shù)字示波器等。數(shù)字電壓表、數(shù)字示波器等。四四. . 測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展 第三階段：智能儀器第三階段：智能儀器 內(nèi)置微處理器，既能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試又具有一內(nèi)置微處理器，既能進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試又具有一定的數(shù)據(jù)處理能力。定的數(shù)據(jù)處理能力。 但它的功能塊全部都是以硬件或固化的軟件但它的功能塊全部都是以硬件或固化的軟件形式存在，因此無(wú)論開(kāi)發(fā)還是應(yīng)用，都缺乏靈活形式存在，因此無(wú)論開(kāi)發(fā)還是應(yīng)用，都缺乏靈活性。性。 目前大部數(shù)字化

13、儀器都屬于智能儀器。目前大部數(shù)字化儀器都屬于智能儀器。四四. . 測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展測(cè)試技術(shù)與儀器的發(fā)展 第四階段：虛擬儀器（第四階段：虛擬儀器（VI,Virtual Instruments） 虛擬儀器的概念（虛擬儀器的概念（VI,Virtual Instruments）是美國(guó)）是美國(guó)國(guó)家儀器國(guó)家儀器（NI,National Instruments）公司與公司與1986年提年提出的。出的。 虛擬儀器就是指在計(jì)算機(jī)上添加一層軟件和一些硬虛擬儀器就是指在計(jì)算機(jī)上添加一層軟件和一些硬件模塊，使用戶操作這臺(tái)通用計(jì)算機(jī)就像操作一臺(tái)真實(shí)的件模塊，使用戶操作這臺(tái)通用計(jì)算機(jī)就像操作一臺(tái)真實(shí)的儀器一樣，它強(qiáng)調(diào)

14、軟件的作用，提出了儀器一樣，它強(qiáng)調(diào)軟件的作用，提出了“軟件就是儀器軟件就是儀器”的概念。的概念。五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 定義定義 能自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量、數(shù)據(jù)處理和傳輸，并以能自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量、數(shù)據(jù)處理和傳輸，并以適當(dāng)方式顯示或輸出測(cè)試結(jié)果的系統(tǒng)稱為自動(dòng)適當(dāng)方式顯示或輸出測(cè)試結(jié)果的系統(tǒng)稱為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)（化測(cè)試系統(tǒng)（ATSATS） 在自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，所有測(cè)試工作都是在自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中，所有測(cè)試工作都是在預(yù)先編制好的測(cè)試程序統(tǒng)一控制下自動(dòng)完成在預(yù)先編制好的測(cè)試程序統(tǒng)一控制下自動(dòng)完成的。的。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 發(fā)展：發(fā)展： 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展階段大致可以按自動(dòng)化測(cè)

15、試系統(tǒng)的發(fā)展階段大致可以按構(gòu)成方式分為三代。構(gòu)成方式分為三代。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)多為第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)多為專用系統(tǒng)專用系統(tǒng)，通常，通常是針對(duì)某項(xiàng)具體的任務(wù)而設(shè)計(jì)的是針對(duì)某項(xiàng)具體的任務(wù)而設(shè)計(jì)的。 其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是采用比較簡(jiǎn)單的定時(shí)器或掃描其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是采用比較簡(jiǎn)單的定時(shí)器或掃描器作為控制器，其接口也是專用的器作為控制器，其接口也是專用的。 第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的通用性很差通用性很差。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)第一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 自動(dòng)駕駛儀校 準(zhǔn)信號(hào)轉(zhuǎn)臺(tái)

16、電源氣源脈沖源時(shí)控部分譯碼器顯示器打印機(jī)存儲(chǔ)器運(yùn)算器A/D變換器舵?zhèn)鞲衅鬓D(zhuǎn)換元件數(shù)字邏輯控制電路程序存儲(chǔ)器某導(dǎo)彈自動(dòng)駕駛儀自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)方框圖五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)：第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)： 第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)采用了了標(biāo)準(zhǔn)化的通用可程控標(biāo)準(zhǔn)化的通用可程控測(cè)量?jī)x器接口總線測(cè)量?jī)x器接口總線（GPIBGPIB）、可編程的儀器和測(cè)試控制、可編程的儀器和測(cè)試控制計(jì)算機(jī)計(jì)算機(jī). . 第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、使用和組裝都比較第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、使用和組裝都比較容易。容易。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

17、的基本結(jié)構(gòu)第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)： 接口總線（GPIB）測(cè)控計(jì)算機(jī)激勵(lì)信號(hào)源程控測(cè)試儀器顯示與記錄設(shè)備被測(cè)對(duì)象五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的集成步驟第二代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的集成步驟 ： 確定問(wèn)題，即提出測(cè)試任務(wù)和解決辦法；確定問(wèn)題，即提出測(cè)試任務(wù)和解決辦法；進(jìn)行測(cè)試儀器的選擇，選擇系統(tǒng)構(gòu)成所需的程控進(jìn)行測(cè)試儀器的選擇，選擇系統(tǒng)構(gòu)成所需的程控儀器；儀器；選擇控制器，即計(jì)算機(jī)；選擇控制器，即計(jì)算機(jī)；設(shè)計(jì)被測(cè)裝置的測(cè)試接口；設(shè)計(jì)被測(cè)裝置的測(cè)試接口；組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)；編寫測(cè)試程序和測(cè)試系統(tǒng)文件。編寫測(cè)試程序和測(cè)試系統(tǒng)文件。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)

18、試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第三代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)第三代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念是第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念是7070年代末提出年代末提出的，其設(shè)計(jì)的目標(biāo)是：的，其設(shè)計(jì)的目標(biāo)是： 充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的能力，取代電子設(shè)備的大充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的能力，取代電子設(shè)備的大部分功能，使之成為測(cè)量?jī)x器不可分割的組成部部分功能，使之成為測(cè)量?jī)x器不可分割的組成部分，與整個(gè)系統(tǒng)融為一體分，與整個(gè)系統(tǒng)融為一體； 整個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)化到僅由整個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)化到僅由計(jì)算機(jī)、通用計(jì)算機(jī)、通用硬件和應(yīng)用軟件硬件和應(yīng)用軟件三部分組成。三部分組成。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)第三代自動(dòng)

19、測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)計(jì)算機(jī)或測(cè)試工作站為核心；計(jì)算機(jī)或測(cè)試工作站為核心；系統(tǒng)中大多硬件是通用的，配備以不同的軟件可以完成系統(tǒng)中大多硬件是通用的，配備以不同的軟件可以完成不同的功能；不同的功能；計(jì)算機(jī)、取樣器、激勵(lì)器和測(cè)試儀相當(dāng)于四塊積木，軟計(jì)算機(jī)、取樣器、激勵(lì)器和測(cè)試儀相當(dāng)于四塊積木，軟件相當(dāng)于搭積木的方法，采用不同的軟件就可以搭出不件相當(dāng)于搭積木的方法，采用不同的軟件就可以搭出不同的效果。同的效果。 五五. . 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的組成第三代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的組成計(jì)算機(jī)激勵(lì)信號(hào)產(chǎn)生電路取樣器/接收器可編程接口適配器被測(cè)系統(tǒng)激勵(lì)信號(hào)激勵(lì)信號(hào)響應(yīng)信號(hào)響應(yīng)信號(hào)六六. . 在通信系統(tǒng)中的測(cè)量?jī)x器簡(jiǎn)述在通信系統(tǒng)中的測(cè)量?jī)x器簡(jiǎn)述 調(diào)制器本地振蕩器1本地振蕩器2PALN