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文檔簡介

1、一、單項選擇,請在題中空格處填寫正確答案。1. 圖中 段位錯線為刃型位錯,且額外半排原子面處于垂直于紙面朝上的位置。DCB CBC BAD ADA.晶界B.亞晶界C.空位D.位錯3.方法不能獲得過飽和點缺陷。A高溫淬火B(yǎng) 冷變形C輻照D退火4.不屬于面缺陷。A相界面B 位錯C堆垛層錯D 亞晶界5.不屬于點缺陷。A空位B孿晶界C置換原子D間隙原子6.屬于線缺陷。A堆垛層錯B孿晶界C位錯D間隙原子實際晶體強度遠遠低于理論強度的原因,是由于實際晶體中存在大量的2.7.利用觀察位錯有一定的局限性,它只能觀察在表面露頭的位錯,而在晶體內部的位錯則無法顯示。A 綴飾法C蝕坑B透射電鏡D場離子顯微鏡觀測方法

2、8.圖中晶面上有一位錯環(huán),其柏氏矢量b垂直于滑移面,該位錯環(huán)在切應力作用下的運動特征為。A在位錯環(huán)平面上攀移B在位錯環(huán)平面上滑移C沿通過位錯環(huán)的圓柱面滑移D 不能確定9. 如圖所示垂直于紙面的位錯,位錯正向朝紙面外,在圖示切應力作用下向左運動。其柏氏矢量方向朝A 上10. 由派-納力的公式可知, 。A 滑移阻力隨柏氏矢量的大小呈直線上升C 滑移阻力隨柏氏矢量的大小呈指數(shù)下降B滑移阻力隨滑移面的面間距呈指數(shù)下降D滑移阻力隨滑移面的面間距呈指數(shù)上升二、判斷正誤,正確在括號內打,錯誤在括號內打X。(每題1分,共10分)1. 任何一條位錯線,不論其形狀如何,位錯線各點的柏氏矢量都相同。V2. 晶體中非

3、密排面的表面能最低,故晶體力求以非密排面作為晶體的外表面。X3. 共格界面的界面能最低。V4. 共格界面的應變能最低。X。5. 肖脫基空位是晶體中的原子遷移到晶體點陣的間隙位置,在原位置形成的空位。X。弗蘭克空位是晶體中的原子離開平衡位置,遷移到表面或其它界面而在原位置形成的空位。X。點缺陷的平衡濃度與化學反應速率一樣,隨溫度升高呈指數(shù)關系增加。V點缺陷可以造成金屬物理性能與力學性能的變化,最明顯的是引起電阻的增加。V滑移是上、下兩部分晶體作整體性的剛性移動實現(xiàn)的。x空位的數(shù)量取決于材料的溫度,其平衡濃度隨溫度升高呈直線關系上升。X。位錯線的方向t與柏氏矢量b平行,為刃型位錯。 X。位錯線的方

4、向t與柏氏矢量b垂直,為螺型位錯。 X。不論是刃型位錯或螺型位錯,位錯線的運動方向總是與位錯線垂直的。V形成柯氏氣團。X。在位錯應力場作用下,溶質原于與螺型位錯能發(fā)生強烈的交互作用,一根不分岔的位錯線,無論其形狀如何變化,它只有一個恒定的柏氏矢量。V位錯線不能終止在晶體內部,只能終止在表面或界面,或與其它位錯線連成結點。V使刃型位錯運動的切應力方向與位錯線垂直;V使螺型位錯運動的切應力方向與螺型位錯垂直;X。不論是刃或螺型位錯,使位錯滑移的切應力方向和柏氏矢量b都是一致的;V滑移阻力隨柏氏矢量的大小呈指數(shù)上升。金屬和合金的密排方向就是滑移方向。V滑移阻力隨滑移面的面間距呈指數(shù)下降。滑移面應為原子的面密度大,面間距大的密排面。所以說,滑移最容易沿著晶體中最密晶面上的最密晶向進行。V刃型位錯和螺型位錯均能發(fā)生攀移運動。X。蝕坑觀察位錯只適合于位錯密度很高的晶體。X。表面的曲率越小,則表面能越大。X。大角度晶界的遷移速率較小角度晶界小。X。奧氏體不銹鋼的層錯能小,層錯出現(xiàn)的幾率大,可以看到大量的層錯。V鋁的層錯能小,層錯出現(xiàn)的幾率大,可以看到大量的層錯。X。6.7.8.9.10.11.12.13.14

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