射線檢測通用工藝作業(yè)指導(dǎo)書

1、 射線檢測通用工藝作業(yè)指導(dǎo)書編制: 審核: 批準(zhǔn):科恩馬特殊過程裝備(常熟有限公司KNM SPECIAL PROCESS EQUIPMENT (CHANGSHU CO.,LTD.目錄1 范圍2 引用文件3 一般要求4 具體要求5 承壓設(shè)備熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級6 承壓設(shè)備管子壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級7 射線檢測報告附錄A 工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)附錄B 黑度計(光學(xué)密度計定期校驗方法附錄C 典型透照方式示意圖附錄D 環(huán)向?qū)雍附咏宇^透照次數(shù)確定方法附錄E 焦點尺寸計算方法附錄F 暗室處理規(guī)定附錄G 搭接標(biāo)記的擺放位置附錄H 對比試塊的型式和規(guī)格附錄J 焊縫射線檢

2、測分號、布片及示意圖標(biāo)注規(guī)定承壓設(shè)備射線檢測通用工藝1范圍本射線檢測通用工藝規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊對接接頭的X射線檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。適用于承壓設(shè)備受壓元件的制造檢測中對接焊接接頭的射線檢測。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鎳及鎳合金。本通用工藝規(guī)定的射線檢測技術(shù)為:AB級中靈敏度技術(shù)。承壓設(shè)備的有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的對接焊接接頭的射線檢測,也可使用。2規(guī)范性引用文件GB 115331989 標(biāo)準(zhǔn)對數(shù)視力表GB 163571996 工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護標(biāo)準(zhǔn)GB 188712002 電離輻射防護與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19384.12003

3、無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類GB/T 19384.22003 無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分:用參考值方法控制膠片處理HB 76842000 射線照相用線型像質(zhì)計JB/T 4730. 1 承壓設(shè)備無損檢測第1部分:通用要求JB/T 79021999 線型像質(zhì)計JB/T 79031999 工業(yè)射線照相底片觀片燈3一般要求3.1 射線檢測人員從事射線檢測的人員上崗前應(yīng)進行輻射安全知識的培訓(xùn),并取得放射工作人員證。射線檢測人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近(距視力和遠(距視力應(yīng)不低于5.0(小數(shù)記錄值為1.0,測試方法應(yīng)符合GB 11533的規(guī)定。從事評片的人員應(yīng)每年檢查一次視力

4、。3.2 射線膠片3.2.1 膠片系統(tǒng)按照GB/T 19384.12003分為四類,即T1、T2、T3和T4四類。膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)見附錄A。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按照GB/T 19384.12003的規(guī)定,用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測試片進行測試和控制。3.2.2 AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片,膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。3.3 觀片燈3.3.1 觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T 7903有關(guān)規(guī)定。3.3.1 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評片的要求。3.4 黑度計(光學(xué)密度計3.4.1黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于4.5,測量值的誤差應(yīng)不超過±0.05。3

5、.4.2黑度計至少每6個月校驗一次。校驗方法可參照附錄B的規(guī)定進行。3.5 增感屏射線檢測一般應(yīng)使用金屬增感屏或不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1增感屏的材料和厚度 3.6 像質(zhì)計3.6.1底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計測定。線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合JB/T 7902的規(guī)定,JB/T 7902中未包含的絲徑、線號等內(nèi)容,應(yīng)符合HB 7684的有關(guān)規(guī)定。3.6.2 像質(zhì)計的材料、材料代號和不同材料的像質(zhì)計適用的工件材料范圍應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2 不同材料的像質(zhì)計適用的材料范圍 3.7 表面要求和射線檢測時機3.7.1 在射線檢測之前,對接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則

6、狀態(tài)在底片上影像不得掩蓋或干擾缺陷影像,否則應(yīng)對表面作適當(dāng)修整。3.7.2除非另有規(guī)定,射線檢測應(yīng)在焊后進行。對有延遲裂紋向的材料,至少應(yīng)在焊接完成24h后進行射線檢測。3.8.1 射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測,一般應(yīng)采用AB級射線檢測技術(shù)進行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭,可采用B級技術(shù)進行檢測,并在工藝卡上注明。3.8.2由于結(jié)構(gòu)環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制,檢測的某些條件不能滿足AB射線檢測技術(shù)的要求時,經(jīng)技術(shù)負責(zé)人在工藝卡上批準(zhǔn)簽字后,在采取有效補償措施(例如a選用更高類別的

7、膠片;b提高底片黑度;c改換更好的射線源;d改換成更好的透照布置;e采取減少散射線的措施的前提下,若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了AB級射線檢測技術(shù)的規(guī)定,則可認為按AB級射線檢測技術(shù)進行了檢測。3.9 輻射防護3.9.1 放射衛(wèi)生防護應(yīng)符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有關(guān)規(guī)定。3.9.2 現(xiàn)場進行X射線檢測時,應(yīng)按GB 16357規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計,并攜帶劑量報警儀4 具體要求4.1 透照布置4.1.1 透照方式應(yīng)根據(jù)工件特點和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實施時才允許

8、采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄C。4.1.2 透照方向透照時射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心,需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。4.1.3 一次透照長度一次透照長度應(yīng)以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄D的曲線圖確定。表3允許的透照厚度比K 4.1.4 外直徑D0 100mm管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置外直徑D0 100mm管環(huán)向?qū)雍附咏宇^采用雙壁雙影透照布置,當(dāng)同時滿足下列兩條件時應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像:aT(壁厚8mm;bg(焊縫寬度D0 /4。橢圓成像時,應(yīng)控制

9、影像的開口寬度(上下焊縫投影最大間距在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。4.1.5 外直徑D0 100mm管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù)外直徑D0 100mm管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測的透照次數(shù):采用傾斜透照橢圓成像時,當(dāng)T/D0 0.12時,相隔90°透照2次。當(dāng)T/D0>0.12時,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時,一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時,可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次(應(yīng)在工藝卡上注明并經(jīng)技術(shù)負責(zé)人簽字。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊

10、縫全長的100%檢測,此時應(yīng)采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍,并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。4.2 射線能量4.2.1 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊D1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高X射線管電壓。對截面厚度變化大承壓設(shè)備,在保證靈敏度要求前提下,允許采用超過圖1規(guī)定的規(guī)定的X射線管電壓。但對鋼材料,管電壓增量不應(yīng)超過50kV。4.3 射線源至工件表面的最小距離4.3.1 所選用的射線源至工件表面的距離應(yīng)滿足下述要求:A B級射線檢測技術(shù): 10d·b2/3,圖2是AB級射線檢測技術(shù)確定的諾模圖。有效焦點尺寸d按附錄E

11、的規(guī)定計算。4.3.2 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求,值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。4.3.3 采用源在內(nèi)單壁透照方式時,只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求,值可以減小,但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%。4.4 曝光量4.4.1 X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級射線檢測技術(shù)不小于15mA·min;當(dāng)焦距改變時可按平方比定律對曝光量的推薦值進行換算。4.5 曝光曲線4.5.1 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)作出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線,依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。4.5.2 制作曝

12、光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本通用工藝的規(guī)定。4.5.3 對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作并作記錄。4.6 無用射線和散射線屏蔽4.6.1 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準(zhǔn)直器等適當(dāng)措施,屏蔽散射線和無用射線,限制照射場范圍。4.6.2 對初次制定的檢測工藝,或使用中檢測工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變時,應(yīng)進行背散射防護檢查。檢查背散射防護方法是:在暗盒背面貼附“B”鉛字標(biāo)記,一般“B”鉛字的高度為13mm、厚度影像,則說明背散射防護不夠,應(yīng)增大背散射防護鉛板的厚

13、度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像,則說明背散射防護符合要求。4.7 像質(zhì)計的使用4.7.1 像質(zhì)計一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長度的1/4左右位置,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫,細絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。4.7.2 像質(zhì)計放置原則a單壁透照規(guī)定像質(zhì)計放置在源側(cè)。雙壁單影透照、雙壁雙影透照規(guī)定像質(zhì)計放置在膠片側(cè)。b單壁透照中,如果像質(zhì)計無法放置在源側(cè),允許放置在膠片側(cè)。c單壁透照中像質(zhì)計旋轉(zhuǎn)在膠片側(cè)時,應(yīng)進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計,用與工件相同的條件透照,測定

14、出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異,以此修正應(yīng)識別像質(zhì)計絲號,以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。d當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明。4.7.3 原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時,使用的像質(zhì)計數(shù)量允許減少但應(yīng)符合以下要求:a環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時,至少在圓周上等間隔地放置3個像質(zhì)計。b球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時,至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個像質(zhì)計,在南、北極的極板拼縫上各放置1個像質(zhì)計。

15、c一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時,至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質(zhì)計。4.7.4 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。4.7.5如底片黑度均勻部位(一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時,則認為該絲是可識別的。專用像質(zhì)計至少應(yīng)能識別兩根金屬絲。4.8 標(biāo)記4.8.1 透照部位的標(biāo)記由識別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛(或其他適宜的重金屬制數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。4.8.2 識別標(biāo)記包括:產(chǎn)品/工件編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記R及返修次數(shù)(1,2,3,擴大檢測比例的透照

16、應(yīng)有擴大檢測的K標(biāo)記。4.8.3 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向,一般用十字箭頭“”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測時透照分段標(biāo)記,可用符號“A,B,C”表示。4.8.4 標(biāo)記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位,搭接標(biāo)記放置的部位還應(yīng)符合附錄G的規(guī)定。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評定范圍的影像。4.9 膠片處理4.9.1 采用手工沖洗方式處理。4.9.2 膠片處理按附錄F暗室處理規(guī)定進行。4.10 評片要求4.10.1 評片在評片室內(nèi)進行。評片室應(yīng)整潔、安靜,溫度適宜,光線應(yīng)暗且柔和。4.10.2 評片人員在評片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗

17、適應(yīng)時間。從陽光下進入評片的暗適應(yīng)時一般為5min10min;從一般的室內(nèi)進入評片的暗適應(yīng)時間應(yīng)不少于30s。4.10.3 評片時,底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符合下列規(guī)定:a當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2。b當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度D>2.5時,透過底片評定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。4.10.4 底片上,定位標(biāo)記和識別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。4.11 底片質(zhì)量4.11.1 底片上,定位和識別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。4.11.2 底片評定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定:AB級:2.0D4.0;用X射線透照外直徑D100mm管或

18、其他截面厚度變化大的工件時,AB級最低黑度允許降至1.5。單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表5的規(guī)定;雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè)時應(yīng)符合表6的規(guī)定。4.11.4底片評定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。表5 像質(zhì)計靈敏度值-單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè) 表6像質(zhì)計靈敏度值-雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè) 5承壓設(shè)備熔化焊對接焊接接頭射線檢測質(zhì)量分級5.1 鋼、鎳制承壓設(shè)備熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級5.1.1 范圍本條規(guī)定適用于厚度為2mm60mm的碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鎳及鎳合金制承壓設(shè)備的熔化焊對接接頭射線檢測的質(zhì)量分級。5.1.2 缺

19、陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷共五類。5.1.3 質(zhì)量分級依據(jù)根據(jù)對接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度,其質(zhì)量等級可劃分為、級。5.1.4.1 質(zhì)量分級一般規(guī)定5.1.4.1 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。5.1.4.2 級和級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。5.1.4.3 對接焊接接頭中缺陷超過級者為級。5.1.4.4 當(dāng)各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。5.1.5 圓形缺陷的質(zhì)量分級5.1.5.1 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質(zhì)量分級評定,圓形缺陷評定區(qū)為一

20、個與焊縫平行的矩形,其尺寸見表7。圓形缺陷評定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的區(qū)域。表7 缺陷評定區(qū) 5.1.5.2 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評定區(qū)內(nèi)。將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按表8的規(guī)定換算為點數(shù),按表9的規(guī)定評定對接焊接接頭的質(zhì)量級別。表8缺陷點數(shù)換算表 表9各級別允許的圓形缺陷點數(shù) 5.1.5.3 由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因,進行返修可能會產(chǎn)生不利后果的對接焊接接頭,各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬12點。5.1.5.4 對致密性要求高的對接焊接接頭,底片評定人員應(yīng)考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據(jù)。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,當(dāng)對接焊接接頭存在深孔缺陷時,其質(zhì)量級別應(yīng)評為

21、級。5.1.5.5 當(dāng)缺陷的尺寸小于表10的規(guī)定時,分級評定時不計缺陷的點數(shù)。質(zhì)量等級為級的對接焊接接頭和母材公稱厚度T5mm的級對接焊接接頭,不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10個,超過時對接焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級。表10不計點數(shù)缺陷尺寸mm 5.1.6 條形缺陷的質(zhì)量分級條形缺陷按表11的規(guī)定進行分級評定。表11各級別對接焊接接頭允許的條形缺陷長度mm 5.1.7 綜合評級5.1.7.1 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在圓形缺陷和條形缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。5.1.7.2 綜合評級的級別如下確定:對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別,將兩者級別之和減一作為綜合評級的質(zhì)量級別。6承壓設(shè)備管

22、子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線6.1 鋼、鎳制承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級6.1.1 范圍本條適用于壁厚2mmT50 mm的碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鎳及鎳合金制承壓設(shè)備管子及壓力管道的熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測的質(zhì)量分級。6.1.2 缺陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊共七類。6.1.3 質(zhì)量分級依據(jù)根據(jù)對接焊接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度,其質(zhì)量等級可劃分為、級。6.1.4 質(zhì)量分級的一般規(guī)定6.1.4.1 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內(nèi)凹、根

23、部咬邊。6.1.4.2 級和級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、雙面焊以及加墊板單面焊中的未焊透。6.1.4.3 對接焊接頭中缺陷超過級者為級。6.1.4.4 當(dāng)各類缺陷評定的質(zhì)量級別不同時,以質(zhì)量最差的級別作為對接焊接接頭的質(zhì)量級別。6.1.5 圓形缺陷的分級評定按5.1.5的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。但對小徑管缺陷評定區(qū)取10mm×10mm。6.1.6 條形缺陷的分級評定6.1.7 不加墊板單面焊的未焊透缺陷的分級評定管外徑D0>100mm時,不加墊板單面焊的未焊透缺陷按表16的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑D0100mm的小徑管不加墊單面焊的未焊透的未焊透缺陷按表17的規(guī)定

24、進行質(zhì)量分級評定。管外徑D0>100mm 的管子未焊透深度可采用附錄H規(guī)定的一般對比試塊(型進行測定。管外徑D0100mm的小徑管的未焊透深度可采用附錄H規(guī)定的小徑管專用對比試塊(A型或B型進行測定,進行測定,測定時,對比試塊應(yīng)置于靠近被測未焊透缺陷附近部位。表16管外徑D0>100mm時不加墊板單面焊未焊透的分級 表17管外徑D0>100mm(小徑管時不加墊板單面焊未焊透的分級 6.1.8 根部內(nèi)凹的根部咬邊的分級評定管外徑D0>100mm時,不加墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷按表18的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑D0100mm的小徑管不加墊板單面焊的根部內(nèi)凹和根

25、部咬邊缺陷按表19的規(guī)定進行質(zhì)量分級評定。管外徑D0>100mm的管子和容器根部內(nèi)凹和要挾部咬邊深度可采用附錄H規(guī)定的一般對比試塊(型進行測定。管外徑D0100mm的小徑管的根部內(nèi)凹的根部咬邊深度右采用附錄H規(guī)定的小徑管專用對比試塊(A型或B型進行測定,測定時,對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面、靠近被測根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位。表18外徑D0>100mm時根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級 表19外徑D0100mm時根部內(nèi)凹和根部咬邊的分級 6.1.8 綜合評級本條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時,應(yīng)進行綜合評級。對各類缺陷分別評定級別,取質(zhì)量級別最低的級別作為綜合評級的級別;當(dāng)各類缺陷的級

26、別相同時,則降低一級作為綜合評級的級別。7 射線檢測報告檢測報告至少應(yīng)包括下述內(nèi)容:a委托單位;b被檢工件:名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、焊接方法和熱處理狀況;c檢測設(shè)備:名稱、型號和焦點尺寸;d檢測標(biāo)準(zhǔn)和驗收等級;e檢測規(guī)范:技術(shù)等級、透照布置、膠片、增感屏、射線能量、曝光量、焦距、暗室處理方式和條件等;f工件檢測部位及布片草圖;g檢測結(jié)果及質(zhì)量分級;h檢測人員和責(zé)任人員簽字其技術(shù)資格;i 檢測日期。8 資料整理8.1 每臺產(chǎn)品焊接接頭檢驗合格后,評片人員應(yīng)按焊接接頭布片圖整理該產(chǎn)品的所有底片,底片應(yīng)按順序擺放,當(dāng)有返修片時,返修片應(yīng)與原片放在一起,相鄰兩片之間應(yīng)用紙隔開。8.2 報告及記錄的內(nèi)容

27、應(yīng)包括:工程編號、委托單號、產(chǎn)品名稱、產(chǎn)品編號、圖號、工藝卡號、評定等級、檢測標(biāo)準(zhǔn)、檢測比例、缺陷及返修情況、透照日期、設(shè)備型號、曝光條件、透照方式、膠片牌號、顯影條件等,還應(yīng)有檢測人員、評片人員、審核人員的簽名及其資格,無損檢測責(zé)任工程師的簽名及無損檢測專用章。8.3 無損檢測資料管理由NDE室負責(zé),具體細則參照無損檢測工作管理標(biāo)準(zhǔn)第3.10條執(zhí)行。工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的特性指標(biāo)A.1 膠片系統(tǒng)的主要特性指標(biāo)工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的主要特性指標(biāo)見表A.1。表A.1 膠片系統(tǒng)的主要特性指標(biāo) 黑度計(光學(xué)密度計定期校驗方法B.1 黑度計校驗的一般規(guī)定黑度計可按B.2規(guī)定的方法校驗。B.2 黑度計校驗步驟B

28、.2.1 接通黑度計外電源測量開關(guān),預(yù)熱10min左右。B.2.2 用標(biāo)準(zhǔn)黑度片(密度片的零黑度點(區(qū)校準(zhǔn)黑度計零點,校準(zhǔn)后順次測量黑度片上不同黑度的各點的黑度,記錄測量值。B.2.3 按B.2.2的規(guī)定反復(fù)測量3次。B.2.4 計算出各點測量值的平均值,以平均值與黑度片該點的黑度值之作為黑度計的測量誤差。B.2.5 對黑度不大于4.5的各點的測量誤差均應(yīng)不超過±0.05,否則黑度計應(yīng)校準(zhǔn)、修理或報廢。B.2.6 所使用的標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)每2年送計量單位檢定一次。B.3 黑度計校驗記錄黑白密度計校驗記錄黑白密度計校驗記錄 Densimeter Verify RecordNDE-17-

29、097 黑白密度計校驗記錄 Densimeter Verify Record 科恩馬特殊過程裝備(常熟有限公司KNM SPECIAL PROCESS EQUIPMENT (CHANGSHU CO.,LTD.科恩馬特殊過程裝備(常熟有限公司KNM SPECIAL PROCESS EQUIPMENT (CHANGSHU CO.,LTD.附 錄 D 環(huán)向?qū)雍附咏宇^透照次數(shù)確定方法 D.1 透照次數(shù)曲線圖 對外徑 D0100mm 的環(huán)向?qū)雍附咏宇^進行 100%檢測， 所需的最少透照次數(shù)次數(shù)與透照方式和透照 厚度比有關(guān)，這一數(shù)值可從圖 D.1圖 D.6 中直接查出。 a） 圖 D.1 為源在外單壁透

30、照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.06 的透照次數(shù)曲線圖。 b） 圖 D.2 為用其他方式（偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.06 的透照次數(shù)曲線圖。 c）圖 D.3 為源在外單壁透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.1 的透照次數(shù)曲線圖。 d）圖 D.4 為用其他方式（偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.1 的 透照次數(shù)曲線圖。 e）圖 D.5 為源在外單壁透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.2 的透照次數(shù)曲線圖。 f）圖 D.6 為用其他方式（偏心內(nèi)透法和雙壁單影法）透照環(huán)向?qū)雍附咏宇^，透照厚度比 K=1.2

31、的 透照次數(shù)曲線圖。 D.2 由圖確定透照次數(shù)的方法 從圖中確定透照次數(shù)的步驟是：計算出 T/ D0、D0/ ，在橫坐標(biāo)上找到 T/ D0 值對應(yīng)的點，過此點畫 一垂直于橫坐標(biāo)的直線；在縱坐標(biāo)上找到 D0/ 對應(yīng)的點，過此點畫一垂直于縱坐標(biāo)的直線；從兩直線交點 所在區(qū)域確定所需的透照次數(shù)；當(dāng)交點在兩區(qū)域的分界線上時，應(yīng)取較大數(shù)值作為所需的最少透照次數(shù)。 附 錄 F 暗室處理規(guī)定 F、暗室處理 F1 暗室條件 暗室是用來裝片和處理已攝片的地方，所以，在暗室設(shè)計時必須充分考慮以下幾點 a） 要有適當(dāng)?shù)目臻g，有干室和潮室之分，且室內(nèi)器具、用品布置恰當(dāng)，操作方便。 b） 要充分遮光，出入安全、方便。

32、c） 要有通風(fēng)設(shè)備，使室內(nèi)通風(fēng)良好，環(huán)境衛(wèi)生清潔。 d） 應(yīng)使溫度、濕度保持在一定范圍內(nèi)，溫度在 20左右,相對濕度 50-65% e） 靠近射線攝片場時,須考慮射線的遮蔽事項。此外，暗室附近不得有使用對膠片有影響的氣體環(huán)境。 f） 暗室內(nèi)須有紅色安全燈。 F2 膠片的顯影 原則：顯影過程中要嚴(yán)格控制顯影時間和溫度，顯影液配方要與膠片的種類相適應(yīng)。 F21 顯影時間一般控制在 5-8 分鐘，時間過長會使灰霧度增大，解象力降低，時間過短又會使黑度反 差不足。 F22 顯影溫度一般控制在 20±2，溫度高時會使反差增大，且灰霧度增高，銀粒變粗，此時藥膜松 軟，易碰傷或脫落。溫度低時，顯影作用減弱，對比度會降低。 F23 顯影時，必須對顯影液進行攪動，使新鮮的顯影液經(jīng)常接觸感光藥膜，以保證顯影作用均勻，否 則可能