超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書

1、河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 1 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日 作業(yè)指導(dǎo)書批 準(zhǔn) 人：頒布日期： 實施日期：審 核：編 寫：河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 2 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日目 錄一 適用范圍4二 超聲波工作原理4三 檢測目的4四 檢測依據(jù)4五 檢測設(shè)備5六 試塊5七 抽檢數(shù)量5八 檢驗等級的分級6九 探傷面6十 檢驗區(qū)域的選擇7十一 檢驗頻率8十二 儀器的調(diào)整8十三 距離一波幅（DAC） 曲線的繪制11

2、十四 儀器的校驗14十五 初始檢測15十六 規(guī)定檢驗16十七 缺陷評定和檢驗結(jié)果18河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 3 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日十八 記錄與報告20河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 4 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日超聲波探傷一 適用范圍本作業(yè)指導(dǎo)書適用于母材厚度不小于4mm 的碳素結(jié)構(gòu)鋼和低合金高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)鋼的全焊透熔化焊對接焊縫超聲波檢驗。不適用于外徑小于159mm的鋼管對接焊縫；內(nèi)徑小于等于200mm

3、的管座角焊縫及外徑小于250mm和內(nèi)外徑之比小于80%的縱向焊縫。 二 超聲波工作原理聲源產(chǎn)生超聲波，采用一定的方式使超聲波進(jìn)入工件；超聲波在工件中傳播并與工件材料以及其中的缺陷相互作用，使其傳播方向或特征被改變，改變后的超聲波通過檢測設(shè)備被接受，并可對其進(jìn)行處理和分析，根據(jù)接受的超聲波的特征，評價工件本身及其內(nèi)部是否存在缺陷及缺陷的特性。三 檢測目的超聲波探傷的目的是為了發(fā)現(xiàn)材料或制件中影響其使用的缺陷或特性，從而對其應(yīng)用于特定目的的適用性進(jìn)行評價。四 檢測依據(jù)鋼結(jié)構(gòu)超聲探傷及質(zhì)量分級法JG/T 203-2007；鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級GB 11345-89；河 北 博 瑞

4、建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 5 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日鋼結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范GB 50205-2001；建筑結(jié)構(gòu)檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 50344-2004。五 檢測設(shè)備 DUD930數(shù)字超聲波檢測儀，探頭（直探頭和斜探頭），耦合劑選用適當(dāng)?shù)囊后w或糊狀物作耦合劑。耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動性，不應(yīng)對材料和人體有損傷作用。同時應(yīng)便于檢驗后清理。典型耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊。在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗應(yīng)采用相同的耦合劑。等。六 試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊：IIW試塊，CSK-A 試塊，CSK -IIA 試塊，CSK-I

5、IIA 試塊等。七 抽檢數(shù)量對設(shè)計上要求全焊透的一、二級焊縫和設(shè)計上沒有要求的鋼材等強(qiáng)對焊拼接焊縫的質(zhì)量采用超聲波探傷的方法檢測時的檢測數(shù)量符合下列規(guī)定：1 對鋼結(jié)構(gòu)工程質(zhì)量，應(yīng)按鋼結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范GB 50205的規(guī)定進(jìn)行檢測，即對一級焊縫探傷比例為100%，二級焊縫探傷比例 探傷比例的計算方法按以下原則確定：（1）對工廠制作焊縫，應(yīng)按每條焊縫計算百分比，且探傷長度應(yīng)不小于200mm,當(dāng)焊縫長度不足200mm時，應(yīng)對整條焊縫進(jìn)行探傷；（2）對現(xiàn)場安裝焊縫，應(yīng)按同一類型、同一施焊條件的焊縫條數(shù)計算百分比，探傷長度應(yīng)不小于200mm,并應(yīng)不少于1條焊縫。為20%。2 對既有鋼結(jié)構(gòu)性能采取

6、抽樣超聲波探傷檢測，抽樣數(shù)量不應(yīng)少于建筑結(jié)構(gòu)檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 50344-2004中規(guī)定的樣本河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 6 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日最小容量限定值抽檢。如下表1：表1 建筑結(jié)構(gòu)抽樣檢測的最小樣本容量檢測批 的容量檢測類別和樣 本最小容量檢測批 的容量檢測類別和樣 本最小容量ABCABC28223501120032801259152351201320050125200162535832011000080200315265058131000135000125315500519051

7、3203500115000020050080091150820321500015000003158001250151280133250>50000050012502000281500205080-八 檢驗等級的分級根據(jù)質(zhì)量要求檢驗等級分A、B 、C 三級，檢驗的完善程度A級最低，B 級一般。C 級最高檢驗工作的難度系數(shù)按A、B 、C 順序逐級增高，應(yīng)按照工種的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法，使用條件及承受荷載的不同。合理的選用檢驗級別。檢驗等級應(yīng)按產(chǎn)品的技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定。一般情況下，檢測類別A適用于一般施工質(zhì)量的檢測，檢測類別B適用于結(jié)構(gòu)質(zhì)量或性能的檢測，檢測類別C適用于

8、結(jié)構(gòu)或性能的嚴(yán)格檢測或復(fù)檢。九 探傷面河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 7 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日對不同檢驗等級要求和不同板厚，推薦的探傷面，探頭角度和探頭數(shù)量見下表2：表2 探傷面及使用折射角板厚 mm探傷面探傷法使用折射角或K值A(chǔ)BC25單面單側(cè)單面雙側(cè)直射法及一次反射法700（K2.5,K2.0）2550700或600（K2.5,K2.0，K1.5）50100直射法450 或600；450和600，450和700并用（K1或K1.5；K1和K1.5，K1和K2.0并用）100雙面雙側(cè)450和600

9、并用（K1和K1.5或K2.0并用）十 檢驗區(qū)域的選擇超聲波檢測應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格后方可進(jìn)行，應(yīng)劃好檢驗區(qū)域，標(biāo)出檢驗區(qū)段編號； 檢驗區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30% 的一段區(qū)域，這段區(qū)域最小10mm ，最大20mm ；探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它外部雜質(zhì)。探傷區(qū)域表面應(yīng)平整光滑，便于探頭的自由掃查，其表面粗糙度不應(yīng)超過6.3µm，必要時進(jìn)行打磨。去除余高的焊接，應(yīng)將余高打磨到與臨鄰近母材平齊。保留余高焊縫，如焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)修磨，并做圓滑過渡以免影響檢驗結(jié)果的評定。河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有

10、 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 8 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日a、采用一次反射法或串列式掃查探傷時，探頭移動區(qū)應(yīng)大于1.25P:P=2tg或P=2K式中: P為跨距；為母材厚度；K為探頭K值。b 、采用直射法探傷時，探頭移動區(qū)應(yīng)大于0.75P。十一 檢驗頻率檢驗頻率f 一般在25MHZ范圍內(nèi)選擇，推薦選用22. 5MHZ公稱頻率檢驗，特殊情況下，可選用低于2MHZ或高于2.5MHZ的檢驗頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求。十二 儀器的調(diào)整工作開始前，需要根據(jù)探頭和被測工件的情況來校準(zhǔn)儀器的聲速，聲程以及探頭零點，以適應(yīng)探傷條件。其中，聲速和

11、探頭零點的校準(zhǔn)是因為狀態(tài)行所顯示參數(shù)的計算都是與聲速和探頭零點相關(guān)，聲程校準(zhǔn)是為了使屏幕上顯示適當(dāng)聲程范圍內(nèi)的波形，以便更好的判斷，評價缺陷。DUD930數(shù)字超聲波探傷儀提供自動校準(zhǔn)功能，具體操作如下：1、 直探頭校準(zhǔn)直探頭校準(zhǔn)功能位于高級功能菜單中。以DUD930標(biāo)配的直探頭為例說明具體操作。DUD930標(biāo)配的直探頭是頻率為2.5MHz，直徑20mm的單晶探頭，校準(zhǔn)需要兩個與測量物體同材質(zhì)且厚度已知的試塊。假設(shè)以兩個厚度分別為50mm和100mm的試塊對該探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，步驟如下：河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 9 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲

12、波探傷頒布日期：2008年06月01日Ø 先初步設(shè)定以大概的聲速值如5290m/s,將探頭零點值設(shè)置為0.00µs；調(diào)節(jié)閘門邏輯為單閘門方式，即閘門邏輯為正或負(fù)；調(diào)節(jié)探測范圍使得屏幕顯示區(qū)域能顯示100mm以上的回波，如150mm;Ø 將探頭耦合到較薄的試塊上（50mm），移動閘門A的起點到 回波并與之相交；Ø 選擇高級功能組中的直探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)聲程值，此時系統(tǒng)自動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80%的位置上，同時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上反射體實際聲程相同，即50mm;Ø

13、將探頭耦合到較厚的試塊上（100mm），移動閘門A的起點到回波并與之相交；Ø 選擇高級功能組中的直探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)聲程值，此時系統(tǒng)自動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80%的位置上，同時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上反射體實際聲程相同，即100mm;Ø 再按<確認(rèn)鍵>完成自動校準(zhǔn)，此時儀器的材料聲速和探頭零點將被自動調(diào)整為準(zhǔn)確數(shù)值。注：在單個已知厚度的試塊上也可以使用自動校準(zhǔn)功能，即利用多次回波而無須將探頭分別放在厚度不同的試塊上，分別移動閘門A 到各個回波，并輸入正確的厚度值即可。2、斜探頭校準(zhǔn)河

14、北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 10 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日斜探頭校準(zhǔn)功能同樣位于高級功能菜單中。利用此功能可完成斜探頭角度、前沿、零點及材料聲速的校準(zhǔn)。以DUD930標(biāo)配的斜探頭為例說明具體操作。DUD930標(biāo)配的斜探頭是頻率為5MHz，晶片為8mm×9mm,角度為K2的單晶探頭，利用CSK-IIIA 試塊對其進(jìn)行校準(zhǔn)。假設(shè)以深度為20mm和40mm的兩個孔對該探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，步驟如下：Ø 首先必須將探頭零點值設(shè)置為0.00µs，探頭前沿設(shè)置為0mm;Ø 先初步設(shè)定

15、一個大概的聲速值如3230m/s,探頭K值設(shè)置為2（或者探頭角度設(shè)置為63.40）；Ø 調(diào)節(jié)閘門邏輯為單閘門方式，即閘門邏輯為正或負(fù)；Ø 調(diào)節(jié)探測范圍使得屏幕顯示區(qū)域能顯示100mm以上的回波，如150mm;Ø 將探頭耦合到試塊上找到20mm深度孔的回波，移動探頭使得回波幅值最大，移動閘門A的起點到回波并與之相交；Ø 選擇高級功能組中的斜探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)深度值，此時系統(tǒng)自動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80%的位置上，同時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上反射體實際聲程相同，即20mm;

16、6; 測量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測量結(jié)果約為29mm，再按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)水平投影值，此時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與上述測量的數(shù)值相同；河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 11 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日Ø 移動探頭找到40mm深度孔的回波，并使得波幅值最大，移動閘門A的起點到回波并與之相交；Ø 選擇高級功能組中的斜探頭校準(zhǔn)功能菜單，按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)深度值，此時系統(tǒng)自動調(diào)整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80%的位置上，

17、同時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與試塊上反射體實際聲程相同，即40mm;Ø 測量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測量結(jié)果約為69mm，再按<確認(rèn)鍵>確認(rèn)水平投影值，此時探頭校準(zhǔn)菜單內(nèi)出現(xiàn)一個數(shù)字，調(diào)整該數(shù)字使之與上述測量的數(shù)值相同；Ø 再按<確認(rèn)鍵>完成自動校準(zhǔn)，此時儀器的角度、前沿、材料聲速和探頭零點將被自動調(diào)整為準(zhǔn)確數(shù)值。十三 距離一波幅（DAC） 曲線的繪制距離波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對比試塊上實測數(shù)據(jù)繪制，曲線由判廢線、定量線、評定線組成，不同驗收級別各線靈敏度見下表3，表中DAC是以3mm標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距

18、離一波幅曲線，即DAC基準(zhǔn)線評定線以上至定量線以下為區(qū)，定量線至判廢線以下的 區(qū)，判廢線及以上區(qū)域為區(qū)（判廢區(qū)）。正常情況下，在繪制好DAC曲線后，不管試件中反射體的位置如何，同樣大小的反射體產(chǎn)生的回波峰值均在同一條曲線上，比試件中反射體較小的反射體產(chǎn)生的回波會落在該曲線下面，而較大一些的回落在該曲線上面。河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 12 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日表3 距離-波幅曲線的靈敏度級別板厚DACABC8 mm50mm8mm300mm8mm300mm判廢線DACDAC-4 dBDAC-2 d

19、B定量線DAC-10dBDAC-10 dBDAC-8 dB評定線DAC-16 dBDAC-16 dBDAC-14 dB探測橫向缺陷時，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB 。探傷面曲率半徑小于等于W2/4時，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲線面對比試塊上進(jìn)行。受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整，在1 跨距聲程內(nèi)最大傳輸損差在2dB 以內(nèi)可不進(jìn)行修整。距離一波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上，也可直接繪制在熒光屏刻板上。但在整個檢驗范圍內(nèi)，曲線應(yīng)處于熒光屏滿幅度的20%以上。DAC曲線的繪制方法：Ø 選擇探傷通道，通過<翻頁鍵>及功能鍵<F4>選擇通道功

20、能組，調(diào)節(jié)探傷通道號，選擇一個通道作為當(dāng)前探傷條件下儀器設(shè)Ø 置的通道。（注：每個通道下可保存一組DAC曲線標(biāo)定點，這些標(biāo)定點不需要進(jìn)行保存操作，當(dāng)標(biāo)定點被標(biāo)定后將直接保存在當(dāng)前通道下，如果希望在該通道下同時保存儀器當(dāng)前參數(shù)設(shè)置，則需要通過“通道”->“設(shè)置保存”操作來完成。）Ø 打開DAC曲線功能，通過<翻頁鍵>及功能鍵<F2>選擇DAC1功河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 13 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日能組，再用上下鍵選擇DAC曲線功能菜單，然后通過按

21、左右鍵來設(shè)置DAC曲線開關(guān)。Ø 制作DAC曲線，通過<翻頁鍵>及功能鍵<F2>選擇DAC1功能組，添加標(biāo)定點（標(biāo)定點的添加方法：將探頭置于CSK-IIIA試塊上，調(diào)增益旋鈕使深度為10mm的1×6橫孔的最高波達(dá)基準(zhǔn)80%高，記錄相應(yīng)的dB值和孔深。每次標(biāo)定前，先將A閘門移至所需參考回波處，并使參考回波落在閘門內(nèi)，然后用右鍵來添加標(biāo)定點，重復(fù)相同的操作可以繼續(xù)添加標(biāo)定點，通過左鍵可以刪除上一個標(biāo)定點。添加兩個標(biāo)定點后，將會在儀器屏幕上自動繪制DAC曲線。（注：沿探測范圍由小到大標(biāo)定數(shù)據(jù)，即后標(biāo)定的點要在前一個標(biāo)定點的后面，且其回波高度不應(yīng)高于前一標(biāo)定點

22、，如后點回波高度高于前點，DAC曲線將會被繪制為直線）。Ø 調(diào)節(jié)三條偏置曲線的偏置值，通過<翻頁鍵>及功能鍵<F3>選擇DAC2功能組，按檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定調(diào)整三條偏置曲線的偏置量，即調(diào)節(jié)DAC評定線、DAC定量線、DAC判廢線的偏置值到需要的設(shè)置。Ø 回波曲線幅度補(bǔ)償，通過<翻頁鍵>及功能鍵<F3>選擇DAC2功能組，調(diào)節(jié)表面補(bǔ)償值，此時DAC曲線不會隨之浮動，只是回波曲線的幅度在相應(yīng)的變化，表面補(bǔ)償后三條DAC曲線保持不變，系統(tǒng)增益值增加的值。Ø DAC曲線繪制完畢，此時三條DAC曲線顯示在儀器屏幕上，三條DAC曲線將

23、屏幕劃分為、三個區(qū)域，現(xiàn)場探時可根據(jù)反射體回波高度所在的區(qū)域來直接確定缺陷的性質(zhì)。河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 14 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日Ø 現(xiàn)場應(yīng)用，實際應(yīng)用時先選擇上述制作的DAC 曲線所在的通道號，此時該通道下的DAC曲線將被繪制到屏幕上，（如DAC曲線沒有被繪制，請檢查DAC曲線功能菜單是否設(shè)置為開），如還希望使用該通道下的參數(shù)設(shè)置（包括三條DAC曲線的偏置設(shè)置以及表面補(bǔ)償值）時，可進(jìn)行“通道”->“設(shè)置調(diào)出”操作。若被檢測桿件壁厚小于8mm。按下列方法測繪DAC曲線：將5

24、mm直徑3mm的通孔回波高度調(diào)節(jié)到垂直度的80%，畫一條直線，用于直射波探傷；然后下降4dB再畫一條直線，用于一次反射波探傷。十四 儀器的校驗每次檢驗前應(yīng)在對比試塊上，對時基線掃描比例和距離一波幅曲線（靈敏度）進(jìn)行調(diào)整或校驗。校驗點不少于兩點。在檢驗過程中每4h 之內(nèi)或檢驗工作結(jié)束后應(yīng)對時基線掃描和靈敏度進(jìn)行校驗，校驗可在對比試塊或其他等效試塊上進(jìn)行。掃描調(diào)節(jié)校驗時，如發(fā)現(xiàn)校驗點反射波在掃描線上偏移超過原校驗點刻度讀數(shù)的10% 或滿刻度5% （兩者取較小值）, 則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整，前次校驗后已經(jīng)記錄的缺陷，位置參數(shù)應(yīng)重新測定，并予以更正。靈敏度校驗時，如校驗點的反射波幅比距離-波幅曲線降低2

25、0% 或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，而前次校驗后，己經(jīng)記錄的缺陷，應(yīng)對缺陷尺寸參數(shù)重新測定并予以評定。河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 15 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日十五 初始檢測1.一般要求超聲檢驗應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格并保證探頭移動區(qū)滿足要求后方可進(jìn)行。 檢驗前，探傷人員應(yīng)了解受檢工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接方法、焊縫種類、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況。探傷靈敏度應(yīng)不低于評定線靈敏度。掃查速度不應(yīng)大于150mmS ，相鄰兩次探頭移動間隔保證至少有探頭寬度10%的重疊

26、。對波幅超過評定線的反射波，根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置等情況，判斷其是否為缺陷，判斷缺陷的部位在焊縫表面作出標(biāo)記。 2.平板對接焊縫的檢驗為探測縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷面上作鋸齒型掃查。探頭前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)。在保持垂直焊縫作前后移動的同時，還應(yīng)作100150的左右移動。為探測焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。B 級檢驗時，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成100200作斜平行掃查C級檢驗時，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩方向的平行掃查，焊縫母材厚度超過100mm時，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度探頭（450和6

27、00或450和700并用）作單面兩個方向的平行掃查，亦可用兩個450探頭作串列式平行掃查。對電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線450的斜向掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動態(tài)波形或區(qū)分缺陷訊號與偽訊號，可采用前后、左右、河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 16 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。3 曲面工件對接焊縫的檢驗探傷面為曲面時，按規(guī)定選用對比試塊，并采用平板對接焊縫的檢驗方法進(jìn)行檢驗。C 級檢驗時，受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測無法實施時，應(yīng)在檢驗記錄中予以注明；環(huán)縫

28、檢驗時，對比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍的對比試塊均可采用。探測橫向缺陷時按縱縫檢驗的方法進(jìn)行。縱縫檢驗時，對比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個焊縫厚度；條件允許時，聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過700。探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點和折射角或K 值的變化，并用曲面試塊作實際測定。當(dāng)R 大于W2/4 采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時，檢驗中應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差異，必要時應(yīng)進(jìn)行修正。4 其它結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗盡可能采用平板焊縫檢驗中

29、己經(jīng)行之有效的各種方法。在選擇探傷面和探頭時應(yīng)考慮到檢測各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該結(jié)構(gòu)悍縫中的主要缺陷。十六 規(guī)定檢驗1. 一般要求規(guī)定檢驗只對初始檢驗中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗。對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置，最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長度。河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 17 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日2. 最大反射波幅的測定對判定為缺陷的部位，采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，增加探傷面、改變探頭折射角度進(jìn)行探測，測出最大反射波幅并與距離-波幅曲線作

30、比較。確定波幅所在區(qū)域，波幅測定的允許誤差為2 dB。最大反射波幅A與定量線SL 的dB 差值記為SL 士dB。3.位置參數(shù)的測定缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來表示，根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來確定如下全部或部分參數(shù)。a、縱坐標(biāo)L 代表缺陷沿焊縫方向的位置。以檢驗區(qū)段編號為標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)點（既原點）建立坐標(biāo)坐標(biāo)正方向距離L表示缺陷到原點的距離。b、深度坐標(biāo)h 代表缺陷位置到探傷面的垂直距離(mm)。以缺陷最大反射波位置的深度值表示。c、橫坐標(biāo)q 代表缺陷位置離開焊縫中心線的垂直距離，可由缺陷最大反射波位置的水平距離或簡化水平距離求得。缺陷的深度和水平距離（或簡化水平距離 兩數(shù)值

31、中的一個可由缺陷最大反射波在熒光屏上的位置直接讀出，另一個數(shù)值可采用計算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出。根據(jù)上述方法確定缺陷的位置后，還要考慮缺陷是否在焊縫中。4.尺寸參數(shù)的測定 根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值或測定缺陷指示長度L。缺陷當(dāng)量，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢驗，可采用公式計算，DGS 曲線，試塊對比或當(dāng)量計算尺確定缺陷當(dāng)量尺河 北 博 瑞 建 工 技 術(shù) 有 限 公 司作業(yè)指導(dǎo)書第 18 頁 共 20 頁第A版 第 0 次 修訂主題：超聲波探傷頒布日期：2008年06月01日寸。缺陷指示長度L的測定推薦采用如下二種方法：a、當(dāng)缺陷反射波只有一個高點時，用降低6dB 相對靈敏度法測長。b 、在測長掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個高點，則采用端點峰值法，即缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動長度確定為缺陷指示長度。6dB相對靈敏度法 端點峰值法十七 缺陷評定和檢驗結(jié)果 1 缺陷評定超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征