無接觸及連續(xù)的金屬涂層薄片光密度測量系統(tǒng)

1、OD-10無接觸及連續(xù)的金屬涂層薄片光密度測量系統(tǒng)一. 概況本系統(tǒng)通過測量薄片光學(xué)密度來測量絕緣材料（如塑料薄膜、紙張、玻璃等）上金屬涂層的厚度和涂層均勻性。測量功能通過光學(xué)方式實現(xiàn)，所測得結(jié)果不是直接顯示納米厚度，而是顯示為材料的光學(xué)密度。測量區(qū)域為直徑約為5mm的圓形?？梢圆⑴虐惭b多個測量傳感器，每個之間的間距約為70mm。每對探測頭之間的距離是27mm。測量范圍為0-4.00 OD，可擴展至5.00 OD。二. 技術(shù)特點1. 功能發(fā)射器發(fā)射的紅外線束穿過材料。材料上的金屬涂層根據(jù)不同的光學(xué)密度吸收了相應(yīng)的輻射能量。接收器能夠監(jiān)測穿過材料的紅外強度。通過接口，信號可以從傳感器處傳出。材料的

2、光學(xué)密度由紅外強度計算得出。整個測量系統(tǒng)可包含多達99對發(fā)射器-接收器，接口適配器和電源模塊。發(fā)射器和接收器安裝在鋁制框架上，它們之間的距離是27mm。接口單元包含了微處理器控制，接口電源以及對串口的電絕緣功能。探測傳感器可以安裝在真空環(huán)境中，而接口單元則安裝在真空室外。2. 機械構(gòu)造發(fā)射器和接收器安裝在鋁制框架上。系統(tǒng)在發(fā)貨前已經(jīng)完成安裝、連接和校準的工作。在框架的末端有一根線纜用于連接接口?？蚣艿拈L度根據(jù)實際應(yīng)用情況專門設(shè)計定制。該構(gòu)造使得更換傳感器對非常簡單，連接外部接口的線纜也包含在內(nèi)。3. 安裝我方需要知道框架長度和所需要的探測頭數(shù)量。我方負責(zé)產(chǎn)品的制造和組裝工作?？蛻糁恍枰獙⑾到y(tǒng)固

3、定到設(shè)備上面。4. 維護系統(tǒng)的構(gòu)架使得拆卸某些部件如傳感器、接口單元等非常簡單，不需要拆開整個系統(tǒng)。而且整個系統(tǒng)的性能不會因為其中某個傳感器失效而受到很大影響。5. 可選復(fù)合工作方式本光學(xué)探測系統(tǒng)可以和我司另一高頻（渦流）測量系統(tǒng)配合使用。兩個系統(tǒng)可以獨立或者配合工作。高頻（渦流）探測頭和光學(xué)探測頭可安裝在同一個鋁制框架上，信號將會傳送到同一個接口進行處理。這樣的符合工作方式可以很好的平衡空間、成本和性能等方面的需求。6. 軟件配套提供一個具有基本的校準和數(shù)據(jù)采集功能的軟件。如果客戶需要，可以提供包含更多功能的軟件。7. 校準系統(tǒng)在交貨時已經(jīng)校準。如果需要重新校準，可通過軟件輕易實現(xiàn)。8. 可選件和升級為提供更好服務(wù)，我方可以提供工業(yè)計算機、監(jiān)視器、打印機、控制箱等配件。三. 技術(shù)參數(shù)l 測量原理：LEDl 波長：約0.875nml 測量范圍：0-4.00 OD 可選5.00 ODl 測量速度：約10 信道/秒l 精度：+/- 0.1%量程l 接口：RS-232，可選RS-485或Profibus l 操作溫度：5-50度l 信道數(shù)量：0-99l 間距：相鄰探測頭：最小70mm